JPH0320993A - 薄膜el素子 - Google Patents
薄膜el素子Info
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- JPH0320993A JPH0320993A JP1153421A JP15342189A JPH0320993A JP H0320993 A JPH0320993 A JP H0320993A JP 1153421 A JP1153421 A JP 1153421A JP 15342189 A JP15342189 A JP 15342189A JP H0320993 A JPH0320993 A JP H0320993A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は薄膜EL素子に関するもので、画像表示装置や
インテリア・ランプ等の表示機器に用いることができる
。
インテリア・ランプ等の表示機器に用いることができる
。
従来の技術
薄膜EL素子は自己発光素子であり、また、薄型の面状
発光素子である等の優れた利点を生かして、モノクロデ
ィスプレイパネルの分野を中心に応用が進んでいる。
発光素子である等の優れた利点を生かして、モノクロデ
ィスプレイパネルの分野を中心に応用が進んでいる。
以下、図面を参照しながら、上述したような従来の薄膜
EL素子について説明する。
EL素子について説明する。
第3図は、従来の薄膜EL素子の一部断面図を示すもの
である。
である。
図において、31は透光性基板、32は透明電極、34
は第1誘電体層、35はEL発光体層、36は第2誘電
体層、37は背面電極である。
は第1誘電体層、35はEL発光体層、36は第2誘電
体層、37は背面電極である。
第3図に示すように、まず、ガラスあるいは石英等から
なる透光性基板31上に、ITO( Indium T
in Oxide :以下ITOと記す。〉等の透明導
電層を形成し、フォトリソグラフィーによりストライプ
状に透明電極32を形成する。
なる透光性基板31上に、ITO( Indium T
in Oxide :以下ITOと記す。〉等の透明導
電層を形成し、フォトリソグラフィーによりストライプ
状に透明電極32を形成する。
次に、透光性基板31上に、Si(h等からなる第1誘
電体層34,ZnS iMn等からなるEL発光体層3
5 T A 2 2 0 3等からなる第2誘電体層
36を順次形成する。
電体層34,ZnS iMn等からなるEL発光体層3
5 T A 2 2 0 3等からなる第2誘電体層
36を順次形成する。
そして、透光基板31上に、AQ等の金属導電層を形成
し、フォトリソグラフィーにより、透明電極32と互い
に交差するようにストライプ状に背面電極37を形成す
る。
し、フォトリソグラフィーにより、透明電極32と互い
に交差するようにストライプ状に背面電極37を形成す
る。
以上のようにして、薄膜EL素子が製造される。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、上記のような構成では、薄膜EL素子が
薄型化,高解像度化して、特に、透明電極と背面電極と
で挟まれた画素か小さくなると、透明電極のバターニン
グによる段差が顕著に形成されるため、透明電極と背面
電極の2つの電極間距離が場所によって異なる。すなわ
ち、透明電極の両エッジ近傍上の電極間距離が短くなる
。
薄型化,高解像度化して、特に、透明電極と背面電極と
で挟まれた画素か小さくなると、透明電極のバターニン
グによる段差が顕著に形成されるため、透明電極と背面
電極の2つの電極間距離が場所によって異なる。すなわ
ち、透明電極の両エッジ近傍上の電極間距離が短くなる
。
このために、薄115IEL素子の駆動時に交流電圧を
2つの電極間に印加して、電界を加える際に、上記の電
極間距離が短くなった場所に電界が集中していた。
2つの電極間に印加して、電界を加える際に、上記の電
極間距離が短くなった場所に電界が集中していた。
その結果として、段差近傍上の誘電体層やEL発光体層
が絶縁破壊することがあり、このため、画素欠陥等の表
示品質が悪くなるという欠点を有していた。
が絶縁破壊することがあり、このため、画素欠陥等の表
示品質が悪くなるという欠点を有していた。
本発明は上記欠点に鑑み、透明電極のパターニングによ
り段差が形成されるために起こる、画素の絶縁破壊を阻
止し、信頼性の高い薄膜EL素子を提供するものである
。
り段差が形成されるために起こる、画素の絶縁破壊を阻
止し、信頼性の高い薄膜EL素子を提供するものである
。
課題を解決するための手段
上記課題を解決するために、本発明の薄膜EL素子は、
透光性基板上に、透明電極,第1誘電体層,EL発光体
層,第2誘電体層,背面電極が順次積層され、かつ、前
記透明電極と前記背面電極とがストライプ状に形成され
、互いに交差するようにマトリックス状に配置された薄
膜EL素子において、前記透明電極により形成された段
差を平滑化するためのスピンオングラス( Spin
onglass;以下SOGと記す。)による塗布平滑
化層が形成されていることから構戒されている。
透光性基板上に、透明電極,第1誘電体層,EL発光体
層,第2誘電体層,背面電極が順次積層され、かつ、前
記透明電極と前記背面電極とがストライプ状に形成され
、互いに交差するようにマトリックス状に配置された薄
膜EL素子において、前記透明電極により形成された段
差を平滑化するためのスピンオングラス( Spin
onglass;以下SOGと記す。)による塗布平滑
化層が形成されていることから構戒されている。
作用
この構成によって、透明電極のパターニングにより形成
された段差が撞布平滑化層により平滑化されるため、透
明電極と背面電極の2つの電極間距離が一様になる。こ
のため、薄膜EL素子の画素に電界を一様に印加するこ
とができる。
された段差が撞布平滑化層により平滑化されるため、透
明電極と背面電極の2つの電極間距離が一様になる。こ
のため、薄膜EL素子の画素に電界を一様に印加するこ
とができる。
その結果、画素欠陥のない、信頼性の高い、薄膜EL素
子が製造できる。
子が製造できる。
実施例
以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。
明する。
第2図は本発明の一実施例における薄膜EL素子の平面
図を示し、第1図は第2図のA−Bにおける断面図であ
る。
図を示し、第1図は第2図のA−Bにおける断面図であ
る。
第I図,第2図において、11は透光性基板、12は透
明電極、13は黴布平滑化層、14は第1誘電体層、1
5はEL発光体層、16は第2誘電体層、17は背面電
極である。
明電極、13は黴布平滑化層、14は第1誘電体層、1
5はEL発光体層、16は第2誘電体層、17は背面電
極である。
第1図に示すように、まず、ガラスあるいは石英等から
なる透光性基板11上に、直流バイアススパッタ法によ
り厚さ0.1μm程度のITO等の透明導電層を形成し
た後、フォトレジストをマスクとしてウェットエッチン
グにより、ストライプ状に透明電極12を形成する。
なる透光性基板11上に、直流バイアススパッタ法によ
り厚さ0.1μm程度のITO等の透明導電層を形成し
た後、フォトレジストをマスクとしてウェットエッチン
グにより、ストライプ状に透明電極12を形成する。
そして、スビンコート法により、例えば、Si( O
H ) < 等のSOGを、厚さ0.2μm程度回転
塗布後、300℃程度の温度で焼成し、溶剤の揮発及び
脱水縮合反応を進行させ、Si02化することにより、
塗布平滑化層13を誘電体層をかねて形成する。
H ) < 等のSOGを、厚さ0.2μm程度回転
塗布後、300℃程度の温度で焼成し、溶剤の揮発及び
脱水縮合反応を進行させ、Si02化することにより、
塗布平滑化層13を誘電体層をかねて形成する。
この後、透光性基板11上に高周波マグネトロンスバッ
タ法により厚さ0.2μm程度のTa205からなる第
1誘電体層14を形成した上に、電子線蒸着法で厚さl
μm程度のSrS:Ce,K.SmからなるEL発光体
層15を形成する。このとき、透光性基板11は蒸着時
600℃程度に保持し、かつ、さらにイオウの再蒸発を
補うために、イオウの蒸発を同時に別のるつぼから行な
うことに注意する。
タ法により厚さ0.2μm程度のTa205からなる第
1誘電体層14を形成した上に、電子線蒸着法で厚さl
μm程度のSrS:Ce,K.SmからなるEL発光体
層15を形成する。このとき、透光性基板11は蒸着時
600℃程度に保持し、かつ、さらにイオウの再蒸発を
補うために、イオウの蒸発を同時に別のるつぼから行な
うことに注意する。
そして、高周波マグネトロンスパッタ法により厚さ0.
2μm程度のAe203からなる第2誘電体層16を形
成する。
2μm程度のAe203からなる第2誘電体層16を形
成する。
最後に、直流バイアススパッタ法により、厚さ0.1μ
m程度のAe−Si等からなる金属導電層を形成し、フ
ォトリソグラフィーにより、透明電極12と互いに交差
するようにストライプ状にウェットエッチングにより、
背面電極17を形成する。
m程度のAe−Si等からなる金属導電層を形成し、フ
ォトリソグラフィーにより、透明電極12と互いに交差
するようにストライプ状にウェットエッチングにより、
背面電極17を形成する。
以上のようにして、第■図に示すように、薄膜EL素子
が製造される。
が製造される。
以上のように本実施例によれば、SOGを用いることに
より、作製方法も簡単に画素の絶縁破壊を阻止できる。
より、作製方法も簡単に画素の絶縁破壊を阻止できる。
なお、本実施例においてはSOGとして、Si( O
H ) 4を用いたが特別に限定されたものではない。
H ) 4を用いたが特別に限定されたものではない。
また、本実施例では誘電体層として、2つの第1の誘電
体層と第2誘電体層とを用いたが、EL発光体層の少な
くとも片側に誘電体層があればよい。
体層と第2誘電体層とを用いたが、EL発光体層の少な
くとも片側に誘電体層があればよい。
さらに、本実施例ではEL発光体層としてSrSHCe
,K,Smを、誘電体層としてTa205とAe203
とを用いたが、EL発光体層としてはZnS:Muでも
CaS : Euでもよいし、誘電体層としてはS i
02 ,S i3N4 r BaTi○3でもよい、す
なわち、EL発光体層や誘電体層の構造や材料に対して
特別に限定されたものではない。
,K,Smを、誘電体層としてTa205とAe203
とを用いたが、EL発光体層としてはZnS:Muでも
CaS : Euでもよいし、誘電体層としてはS i
02 ,S i3N4 r BaTi○3でもよい、す
なわち、EL発光体層や誘電体層の構造や材料に対して
特別に限定されたものではない。
発明の効果
以上のように本発明は、透光性基板上に、透明電極,第
1誘電体層,EL発光体層,第2誘電体層,背面電極が
順次積層され、かつ、前記透明電極と前記背面電極とが
ストライプ状に形成され、互いに交差するようにマトリ
ックス状に配置された薄膜EL素子において、前記透明
電極により形成された段差を平滑化するためのSOGに
よる塗布平滑化層が形成されることからなる構成により
、前記透明電極のパターニングにより形成された段差が
前記塗布平滑化層により平滑化されるため、前記透明電
極と前記背面電極の、2つの電極間距離が一様になる。
1誘電体層,EL発光体層,第2誘電体層,背面電極が
順次積層され、かつ、前記透明電極と前記背面電極とが
ストライプ状に形成され、互いに交差するようにマトリ
ックス状に配置された薄膜EL素子において、前記透明
電極により形成された段差を平滑化するためのSOGに
よる塗布平滑化層が形成されることからなる構成により
、前記透明電極のパターニングにより形成された段差が
前記塗布平滑化層により平滑化されるため、前記透明電
極と前記背面電極の、2つの電極間距離が一様になる。
このため、前記薄膜EL素子の画素に電界を一様に印加
することができる。
することができる。
その結果、画素欠陥のない、信頼性の高い、薄膜EL素
子が製造でき、なおかつ、作製方法も簡単であり、この
実用的効果は大なるものがある。
子が製造でき、なおかつ、作製方法も簡単であり、この
実用的効果は大なるものがある。
第1図は本発明の一実施例における薄膜EL素子の一部
断面図、第2図は本発明の一実施例における薄膜EL素
子の平面図、第3図は従来の薄膜EL素子の一部断面図
である。 11・・・・・・透光性基板、12・・・・・・透明電
極、13・・・・・・塗布平滑化層、14・・・・・・
第1誘電体層、15・・・・・・EL発光体層、16・
・・・・・第2誘電体層、17・・・・・・背面電極。
断面図、第2図は本発明の一実施例における薄膜EL素
子の平面図、第3図は従来の薄膜EL素子の一部断面図
である。 11・・・・・・透光性基板、12・・・・・・透明電
極、13・・・・・・塗布平滑化層、14・・・・・・
第1誘電体層、15・・・・・・EL発光体層、16・
・・・・・第2誘電体層、17・・・・・・背面電極。
Claims (2)
- (1) 透光性基板上に、透明電極,第1誘電体層,
EL発光体層,第2誘電体層,背面電極が順次積層され
、かつ、前記透明電極と前記背面電極とがストライプ状
に形成され、互いに交差するようにマトリックス状に配
置された薄膜EL素子において、前記透明電極により形
成された段差を平滑化するための塗布平滑化層が形成さ
れていることを特徴とする薄膜EL素子。 - (2) 塗布平滑化層がスピンオングラスで形成されて
いることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜
EL素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1153421A JPH0320993A (ja) | 1989-06-15 | 1989-06-15 | 薄膜el素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1153421A JPH0320993A (ja) | 1989-06-15 | 1989-06-15 | 薄膜el素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0320993A true JPH0320993A (ja) | 1991-01-29 |
Family
ID=15562139
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1153421A Pending JPH0320993A (ja) | 1989-06-15 | 1989-06-15 | 薄膜el素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0320993A (ja) |
-
1989
- 1989-06-15 JP JP1153421A patent/JPH0320993A/ja active Pending
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