JPH0320613A - 測距装置 - Google Patents

測距装置

Info

Publication number
JPH0320613A
JPH0320613A JP15518789A JP15518789A JPH0320613A JP H0320613 A JPH0320613 A JP H0320613A JP 15518789 A JP15518789 A JP 15518789A JP 15518789 A JP15518789 A JP 15518789A JP H0320613 A JPH0320613 A JP H0320613A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
images
amount
pupil
optical system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15518789A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasunobu Otsuka
大塚 康信
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP15518789A priority Critical patent/JPH0320613A/ja
Publication of JPH0320613A publication Critical patent/JPH0320613A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、たとえばオートフォーカス(AF)カメラ
などに用いられるaIr 矩装置に関する。
〔従来の技術] 従来より、第11図に示すような、たとえば結像光学系
1の近傍に光軸に対して偏心した位置に複数の瞳を有す
る瞳マスク2を配置してなる結像系(このような結像系
を特に多重像結像光学系という〉を用いると、フィルム
共役面にあるセンサ3上において、被写体4からの像が
デフォーカス量(レンズの焦点位置からのずれ量)に応
じて2重にずれて結像されることが知られている。また
、このようなデフォーカス量に応じて2像(多重像)I
l.I2のずれ量が変化される光学系を用いて像1,,
I2相互のずれ量を検出し、この像ずれ量からデフォー
カス量を測定する測距装置が提案されている(たとえば
、特願平1−116992号参照)。
第12図は、2像の像ずれ量からデフォーカス量を検出
する測距装置に用いられる多重像結像光学系の一例を示
すものである。この光学系は、結像光学系1によりコン
デンサレンズ5の近傍に像を粘像させ、さらにコンデン
サレンズ5を通った像光(光束)を第1,第2のリレー
レンズ6,7によりセンサ3上に再結像させる構或とさ
れている。この場合、第1,第2のリレーレンズ6.7
の相互間に配置された、光学系の瞳上に置かれた瞳マス
ク2により再結像のための光束が2つに分割されるよう
になっている。このため、第11図に示した多重像結像
光学系の場合と同様に、上記センサ3上にデフォーカス
量に応じた2像が形或される。
しかし、このような構成の光学系を用いた場合、測距装
置として検出できるのは像のずれ量だけであり、ピント
のずれ方向(前ビンか後ビンか)、つまりレンズが黒点
位置からフィルム側にずれているのか、被写体4側にず
れているのかを区別できないものとなっていた。すなわ
ち、この種の光学系では、センサ3がフィルム共役面に
ある。このため、デフォーカス量と2像の像ずれ量とが
、第13図に示す如く、デフォーカス量−0の付近を基
準とした線対称の関係となっている。したがって、ピン
トのずれ方向までは判別できないものであった。
そこで、センサ3の位置をフィルム共役面からずらすこ
とにより、ピントのずれ方向を判別できるようにするこ
とが考えられる。センサ3の位置をフィルム共役面から
ずらした場合、デフォーカス量と2像の像ずれ量との関
係は、第14図に示すように、デフォーカス量の負の領
域から正の領域にかけて、デフォーカス量に対応して2
像の像ずれ量が変化されるようになる。したがって、2
像の像ずれ量から前ピンか後ビンか(ピントのずれ方向
)が検出できるものである。
[発明が解決しようとする課題] 上記したように、2像の像ずれ量により被写体までの距
離を測距する従来の装置において、前ビンか後ビンかを
検出できるようにするためにセンサの位置をフィルム共
役面からずらした場合、センサ上でピントが合っている
面とフィルム共役面とが異なっている。このため、全体
的に錯乱円径が大きくなるばかりでなく、一番重要なデ
フォーカス量一〇の付近における錯乱円径の大きな広が
りにより像がぼけてしまい、像を識別し難くなる。
また、像のぼけの増大により、検出できるデフォーカス
量の範囲が一方に片寄るために狭くなる。
さらに、像のぼけを小さくし、デフォーカス検出の範囲
を広げるために瞳の開口を小さくした場合、光量の減少
により、低輝度検出の限界が悪化するなどの欠点があっ
た。
そこで、この発明は、デフォーカス検出の範囲を広くす
ることができるとともに、一番重要なデフォーカス量一
〇の付近における検出精度を向上することが可能な測距
装置を提供することを目的としている。
[課題を解決するための手段] 上記の目的を達成するために、この発明のill距装置
にあっては、被写体距離に応じて相対位置の異なる像を
結像させるとともに、前記像の重なる点と各像のぼけ量
が最小になる点とをずらす光学的オフセット手段を有す
る多−me結像光学系と、この多重像結像光学系によっ
て粘像された多重像を光電変換するイメージセンサと、
このイメージセンサの出力にもとづいて前記多重像の相
対位置を演算する演算手段とから構成されている。
[作用] この発明は、上記した手段により、デフォーカス量と2
像のずれ量との関係を維持したままの状態で、各像の錯
乱円径がデフォーカスffi−0の近傍において最小と
されるようになるため、センサの位置をフィルム共役面
からずらしても、各々の像の錯乱内径を小さくでき、ぼ
けのない像の形成が可能となるものである。
[実施例] 以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。
第1図は、この発明の第1の実施例を概略的に示す多重
像結像光学系の構或図である。すなわち、第1図に示す
如く、結像光学系1、コンデンサレンズ5、第1のリレ
ーレンズ6、瞳マスク(絞り)2、第2のリレーレンズ
7、およびイメージセンサ3が図示しない被写体側より
順に配置されている。
上記瞳マスク2は、結像光学系1の瞳をコンデンサレン
ズ5および第1のリレーレンズ6により再結像した@像
の近傍に2つの@(開口部)を有している。それぞれの
瞳には、像のずれ量に関する光学的オフセットを発生さ
せるためのプリズム(光学的オフセット手段)8a,8
bが装着されている。これにより、各瞳により結像され
るそれぞれの像の重なり合う点と、各像のぼけ量が最小
になる点とがずらせるようになっている。
今、被写体からの光は、結像光学系1によりコンデンサ
レンズ5の近傍に結像される。上記結像光学系1によっ
て結像された像光束は、箇1のリレーレンズ6、瞳マス
ク2、および第2のリレーレンズ7によりセンサ3上に
2つの像として再結像される。このとき、瞳位置にある
瞳マスク2により光束は2つに分けられ、さらにプリズ
ム8a8bによりそれぞれ角度変化をともなって第2の
リレーレンズ7に入射される。したがって、センサ3に
おける2像は、そのずれ量が変化されている。この結果
、2つの光束が交わるところより離れたところに各光束
による像の一番鮮明になる面ができる。
第2図は、上記した多重像結像光学系によるデフォーカ
ス量と2像の像ずれ量との関係を示すものである。上記
構成の光学系によれば、デフォーカス量の負の領域から
正の領域にかけて、デフォーカス量に対応して2像の像
ずれ量が変化されるようになるとともに、フィルム面の
デフォーカス量一〇の付近において錯乱固の大きさが最
小となっている。
この図からも明らかなように、2像の像ずれ量により被
写体までの距離を側距する装置において、前ピンか後ビ
ンかを区別できるようにするためにセンサの位置をフィ
ルム共役面からずらした場合においても、各々の像の錯
乱円の大きさを小さくでき、鮮鋭な像が作れるようにな
る。また、デフォーカス量と2像のずれ量との関係を維
持したままの状態で、各像の錯乱円の大きさをデフォー
カスta−Oの近傍において最小とすることができる。
よって、デフォーカス検出の範囲を広くすることができ
るとともに、一番重要なデフォーカス量−0の付近にお
ける検出精度を向上することが可能となるものである。
また、上記実施例によれば、瞳マスクの瞳開口部にプリ
ズムを入れるだけの簡単な構成により、本発明の目的を
達成し得るものである。
第3図は、この発明にかかる第2の実施例を示すもので
ある。
第2の実施例は、それぞれの瞳に対応する光軸の異なっ
た1組のリレーレンズを用いて、像のずれ量に関する光
学的オフセットを発生するよう、前記多重像結像光学系
を構或した場合を例に示している。すなわち、図示しな
い被写体からの光は、結像光学系1によりコンデンサレ
ンズ5の近傍に結像される。上記結像光学系1によって
結像された像光束は、瞳マスク2により2光束に分割さ
れる。この瞳マスク2によって分割されたそれぞれの瞳
光束は、リレーレンズ9によりセンサ3上に2つの像と
して再結像される。
この場合、上記リレーレンズ9は、光軸の異なる2つの
レンズにより構成されている。したがつて、瞳マスク2
によって分割された2つの瞳光束は、それぞれ少し離れ
たところに再結像される。
このため、センサ3上の像は、ピントのあった状態にお
いても2像として検出されるようになる。
なお、光軸の異りが大きくて実質像の重なり合う部分が
無い場合でも、像間距離を検出可能なことはいうまでも
ない。
上記第2の実施例によれば、部品点数が少なくて済むた
め、安価に本発明の目的を達或し得るものである。
第4図,第5図は、この発明にかかる第3,第4の実施
例を示すものである。これら第3,第4の実施例は、上
記第2の実施例に示した多重像結像光学系を用い、光学
的オフセット手段として像を2回リレーするように構或
した場合を例に示している。
第3の実施例では、第4図に示す如く、リレーレンズ9
a,9bにより、瞳マスク2によって分割されたそれぞ
れの瞳光束が第2のコンデンサレンズ10a,10b上
にリレー結像される。この第2のコンデンサレンズ10
a,10b上にリレー結像された2像は、それぞれリレ
ーレンズ1 1 a,  1 1 bによりセンサ3上
に21象として再々結像されるようになっている。
この場合、上記センサ3は、デフォーカス量一〇のとき
に、瞳マスク2によって分割された2光束が交わる点と
異なる位置に配置されている。
また、上記リレーレンズ11a.llbは、そのときの
センサ3上の像が鮮明となるように配置されている。し
たがって、フィルム共役面より少し前に配置されるセン
サ3上には、デフォーカス.*−0のときでも、鮮明な
2像が形成されるようになる。
第4の実施例では、第5図に示す如く、上記センサ3が
、第3の実施例における2光束が交わる位置に配置され
ている。また、リレーレンズ9a,9bとコンデンサレ
ンズ10a,10bとは同じ光軸上に、そしてリレーレ
ンズlla,llbはリレーレンズ9a,9bの光軸と
異ならせて配置されている。したがって、リレーレンズ
9a,9bとリレーレンズlla,llbとの光軸が異
なる分だけ像の形或位置がずれるため、センサ3上には
、デフォーカス量−0のときでも、鮮明な2像が形或さ
れるようになる。
上記した第3,第4の実施例によっても、第2図に示す
デフォーカス量と2像の像ずれ量との関係が得られるも
のである。
また、第3.第4の実施例によれば、2光束の間隔を瞳
マスク2により分割された2つの瞳光束の間隔よりも広
げることができるばかりか、2回のリレーにより縮小/
拡大の倍率を大きくできる。
さらに、像の移動方向を打ち消すような構成とされてい
るため、温度などの外部からの影響を受け難いという利
点がある。
第6図は、この発明にかかる第5の実施例を概略的に示
すものである。この第5の実施例は、上記した第3,第
4の実施例における多重像結像光学系の一部を、コリメ
ータレンズと光ファイバ束とからなる2組の移送系(光
学的オフセット手段)により構成した場合を例に示して
いる。すなわち、瞳マスク2によって分割されたそれぞ
れの瞳光束は、それぞれに冗なる光軸をもつコリメータ
レンズ12a,12bにより平行光に変換される。これ
らのコリメータレンズ12a.12bによって変換され
た平行光は、光の位相関係を維持したままの状態で移送
できる光ファイバ束14a,14bにそれぞれ入射され
る。上記光ファイバ束14a,14bにそれぞれ入射さ
れた光は、瞳マスク2によって分割されたときとは対称
となる位置に導かれる。そして、コリメータレンズ13
a,13bにより、光の位相関係を維持したままの状態
での出力光がセンサ3上に結像される。
ここで、第7図に示すように、平行に置かれた単モード
光ファイバのような光の位相関係まで伝送することがで
きる光ファイバ15a,15bの両端に略平行光を作る
レンズ16.17を置くと、物点Aから広がって伝わる
光の波は、レンズ16により平行に伝わる波となり、物
点Aの位置による位相差をもって2本の光ファイバ15
a,15bに入射される。この光ファイバ15a,15
bでは光の位相関係が保存されるので、光の波はそのま
まの位相差で出射される。光ファイバ15a,15bよ
り出射された光の波は、レンズ17により曲げられる。
そして、物点Aと光軸に対して対称位置に集められ、像
点Bに結像される。
なお、第8図に示す如く、複数本の光ファイバ15,・
・・を束ねて用いる場合にも同じことがいえる。また、
ここで用いられているレンズ1617は、光ファイバ1
5に対して、なるべくファイバ15と平行に光を出し入
れするためのものである。
このような性質をもったレンズとファイバ束とを用いる
ことにより、第6図に示す如《、前記瞳マスク2によっ
て分割されたそれぞれの瞳光束は、コリメータレンズ1
2a,12bにより平行光に変換された後、光ファイバ
束14a,14bにそれぞれ人射される。そして、上記
光ファイバ東1.4a,14b内を導かれ、コリメータ
レンズ13a,13bによりセンサ3上に像として結像
される。この場合、上記瞳マスク2によって分割された
2つの光束は交差され、分割されたときとは対称の位置
に出力される。このため、2つの光束による2つの像は
重なり合う向きに結像される。
また、光ファイバ束14aの入射口と出射口との位置が
、オフセット量に応じてずらして配置されている。これ
により、上述の第1〜第4の実施例と同様に、第2図に
示すような錯乱円の大きさとデフォーカス量、および像
ずれ量の関係が実現される。
この第5の実施例によれば、簡単な構成により本発明の
目的を達戊できるものであり、また比較的、自由な大き
さにオフセット量を設定できるとともに、温度変化によ
る影響を受け難いという利点がある。
さらに、光ファイバ束はある程度まで曲げることが可能
なため、実装上の自由度が向上される。
しかも、上記実施例のような光ファイバ束の用い方の場
合、原理的には、解像度はファイバ束の径によって決定
され、本数により明るさが左右される。したがって、光
ファイバによる欠陥は、主に明るさのみに影響するもの
である。
なお、低輝度時の検出をより向上させるために、光ファ
イバの途中にレーザのような光の位相が保存される光増
幅器を入れ、光増幅を行わせることも可能である。
第9図は、この発明にかかる第6の実施例を示すもので
ある。
第6の実施例では、多重像結像光学系が従来の多重像結
像光学系(第12図参照)と同様な構成とされていると
ともに、この光学系がたとえば主に球面収差による瞳マ
スク2により分割される瞳光束の交わる点と各瞳光束に
よる像の解像ベスト面とからずれるように構成されてい
る。すなわち、被写体からの光は、結像光学系1により
コンデンサレンズ5の近傍に結像された後、第1のリレ
ーレンズ6、瞳マスク2、および第2のリレーレンズ7
を通ることによって2つの光束に分けられ、センサ3上
に2つの像として再結像される。このとき、上記光学系
には、たとえば第10図に示すような、主に球面収差に
よる光線の瞳の高さでの結像位置の変化(これを、結像
に関する光学的オフセットという)を持たせている。し
たがって、2つの光束が交わるところより離れたところ
に各光束による像の一番鮮明になる面ができる。この結
果、第2図に示すような錯乱円の大きさとデフォーカス
量、および像ずれ量との関係が実現される。
上記第6の実施例によれば、特に部材を増やすことなく
、簡単な構或により本発明の目的が達成できる。
また、積極的に収差を利用できるため、光学設計が楽に
行えるようになるとともに、小型化、軽量化、および低
コスト化が図れる。
さらに、各像の一番鮮明になる面の位置精度はあまり測
距に影響しないので、簡車に製造できるものである。
上記したように、2つの像のずれ正により測距を行う装
置の、前ビンか後ビンかの区別を可能とするためにセン
サ面をフィルム共役面からずらした場合においても、各
々の像の錯乱円径が小さく、鮮鋭な像が形成されるよう
になるため、検出できるフォーカス範囲を広くでき、一
番重要なデフォーカス量一〇の付近の検出精度を向上す
ることが可能となるものである。
また、瞳マスクにより分割される光束の径を小さくする
ことによって像の鮮鋭度をかせいでいた従来に比して、
錯乱円径を小さくできるので、光束の径を太くして光量
を多くすることにより、より暗いところ、また方式によ
ってはより速い側距が可能となる。
なお、上記実施例においては、2つの像のずれ量により
測距を行う場合を例に説明したが、これに限らず、たと
えば上下方向と左右方向とにずれる4つの像(2組の2
像)などを用いて測距を行うものにも適用できる。
また、2つの光束が交わる点より被写体側にセンサを配
置するものに限らず、フィルム側に配置することも可能
である。この場合、無限遠で像ずれ量が「0」に近づく
ように設計できる。
その他、この発明の要旨を変えない範囲において、種々
変型実施可能なことは勿論である。
[発明の効果] 以上、詳述したようにこの発明によれば、像のずれ量に
より測距を行う装置の、前ピンか後ビンかの区別を可能
とするためにセンサ面をフィルム共役面からずらした場
合においても、デフォーカス検出の範囲を広くすること
ができるとともに、一番重要なデフォーカス量一〇の付
近における検出精度を向上することが可能な測距装置を
提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す多重像結像光学系の
構成図、第2図はデフォーカス量と2像の像ずれ量との
関係および錯乱円の大きさを説明するために示す図、第
3図はこの発明の第2の実施例を説明するために示す図
、第4図はこの発明の第3の実施例を説明するために示
す図、第5図はこの発明の第4の実施例を説明するため
に示す図、第6図はこの発明の第5の実施例を説明する
ために示す図、第7図は第5の実施例における動作を補
足するために示す図、第8図は移送系の他の構或例を示
す図、第9図はこの発明の第6の実施例を説明するため
に示す図、第10図は光線の瞳の高さと結像位置との関
係を説明するために示す図であり、第11図乃至第14
図はいずれも従来技術とその問題点を示す図である。 1・・・結像光学系、2・・・瞳マスク、3・・・イメ
ージセンサ、4・・・被写体、5,10a,10b・・
・コンデンサレンズ、6,7,9,9a,9b.11a
,llb−リレーレンズ、8a,8b−・・プリズム、
12a,12b,13a,13b−:7リメータレンズ
、14a.+14b・・・光ファイバ束。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 被写体距離に応じて相対位置の異なる像を結像させると
    ともに、前記像の重なる点と各像のぼけ量が最小になる
    点とをずらす光学的オフセット手段を有する多重像結像
    光学系と、 この多重像結像光学系によって結像された多重像を光電
    変換するイメージセンサと、 このイメージセンサの出力にもとづいて前記多重像の相
    対位置を演算する演算手段と を具備したことを特徴とする測距装置。
JP15518789A 1989-06-17 1989-06-17 測距装置 Pending JPH0320613A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15518789A JPH0320613A (ja) 1989-06-17 1989-06-17 測距装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15518789A JPH0320613A (ja) 1989-06-17 1989-06-17 測距装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0320613A true JPH0320613A (ja) 1991-01-29

Family

ID=15600389

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15518789A Pending JPH0320613A (ja) 1989-06-17 1989-06-17 測距装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0320613A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8050536B2 (en) 1996-09-05 2011-11-01 Sony Corporation Digital recording apparatus and copyright protection method thereof
US9282280B2 (en) 1996-09-05 2016-03-08 Sony Corporation Digital recording apparatus and copyright protection method thereof

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8050536B2 (en) 1996-09-05 2011-11-01 Sony Corporation Digital recording apparatus and copyright protection method thereof
US9282280B2 (en) 1996-09-05 2016-03-08 Sony Corporation Digital recording apparatus and copyright protection method thereof

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5832424B2 (ja) 撮像装置及び距離計測方法
US5925874A (en) Microscope with an autofocus arrangement having a variable magnification system
JPH0251165B2 (ja)
US4318585A (en) Optical system with an afocal focusing group
CA2290575C (en) High resolution confocal microscope
JP2001218230A (ja) 立体撮像装置
JPH09138181A (ja) 光学系の屈折力および曲率半径の測定装置
US6346694B1 (en) Focus detecting device and a method for the focus detection
JPH0320613A (ja) 測距装置
KR0133445B1 (ko) 광학 뷰 파인더를 일체화한 리어 포커스방식 줌렌즈
JPS58199317A (ja) 一眼レフカメラ用アタツチメント光学系
JP2018180135A (ja) 撮像装置
JPH0258012A (ja) 焦点検出装置
JPS6129813A (ja) 合焦検出装置におけるサンプリング補正装置
US4593188A (en) Apparatus and method for detecting focus condition of an imaging optical system
US5166718A (en) Finder optical system
JPH02296107A (ja) 測距装置
JP2001083422A (ja) 光学素子及びそれを用いた光学装置
JPH05232370A (ja) 顕微鏡の合焦検出装置
JPH04165318A (ja) 合焦位置検出装置
JP3645625B2 (ja) 顕微鏡自動焦点検出方法及び顕微鏡自動焦点検出装置及びそれを用いた顕微鏡
JP2001083423A (ja) 光学系及びそれを用いた光学装置
JPH06186472A (ja) 焦点位置検出装置
JPH11271597A (ja) 焦点位置検出装置
JPH10221592A (ja) 焦点位置検出装置