JPH03192817A - パワーアップパルス発生回路 - Google Patents

パワーアップパルス発生回路

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JPH03192817A
JPH03192817A JP2264929A JP26492990A JPH03192817A JP H03192817 A JPH03192817 A JP H03192817A JP 2264929 A JP2264929 A JP 2264929A JP 26492990 A JP26492990 A JP 26492990A JP H03192817 A JPH03192817 A JP H03192817A
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circuit
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JP2264929A
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Andrew M Love
アンドリュー エム.ラブ
Roger D Norwood
ロジャー ディー.ノーウッド
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • H03K17/223Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied in field-effect transistor switches

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の背景) この発明は、集積回路が電源によって励起される毎にパ
ルス出力信号を発生する回路に関するものである。
多くの場合、集積回路装置は、外部電源によって励起さ
れている間、プリセットされているかあるいは抑止され
ているような論11!回路あるいはその他の回路を含む
。パワーアップ回路論理回路あるいはその他の回路をプ
リセットしあるいは抑制するための内部信号を発生する
ために使用され、またさらにチップ上の自己テスト機能
をトリガするような、他の目的に対しても使用される。
このパワーアップ回路は、励起が急速であるか否かにか
かわらず、チップへの電圧の印加を高い信頼性で検出し
なければならない。
単純なRC微分回路に外部電源を印加することによって
、パワーアップ信号機能を遂行することができる。しか
しながら多くの事例では、Vdd起動時間は数秒か数ミ
リ秒のオーダーであり、その結果微分回路では充分な大
きさのパルス信号を発生することが出来ないという事態
を生じる。
RC微分回路の抵抗は、第1図に示すように、Vddト
リガ回路によってスイッチされるNチャンネル電界効果
トランジスタによって置き換えることが出来る。Nチャ
ンネル電界効果トランジスタをトリガするトリガ回路は
、電源電圧VddがあるプリセットトリガしきいWi 
V trよりも低い場合にその出力が低く、その侵、V
ddがしぎい値以上となったときに高くなって、第2図
に示すように、出力にパルスvoutを形成するように
設計されている。このようなトリが回路を設計するに当
たって、特にその回路が製造方法を開発中であるような
ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)で使
用されるように設計されている場合、幾つかの特別な問
題を生じる。この様な問題は、回路素子の係数が開発中
の製造工程の変更によって変化すると言う事実によって
生じるものである。
特にトリが回路のしきい値電圧vtrは、一般に製造方
法の変更に伴う回路係数の変更によって、変化する。し
たがってリニアトリガ回路は、トリガ用しきい値電圧V
tを低く設計する必要がある。
これは、リニア回路特性が工程の変化に伴って大きく変
化する傾向があるため、その回路出力は電源電圧Vdd
に対して通常の動作レベルで確実にハイとするために、
相当の安全度を必要とするからである。−膜内なリニア
トリガ回路では、常に電流が流れており、従って、特に
この様なリニア回路が同時にオン状態となるプルアップ
およびプルダウン電流パスの自省を備える場合、許容す
ることが出来ない大きな予備′R流を避けるための特別
な技術が必要となる。
電源電圧Vddがその回路中のトランジスタのしきい値
電圧Vtよりも低い場合、電源投入の初期の段階におい
てそのような機能を遂行するようにトリガ回路を設計す
ることは、非常に難しい。普通の意味で、トランジスタ
がオン状態にスイッチされていない間、副しきい値電圧
Vddを印加することによって、ドレインからソースに
向かってあまり大きくない01 Lきい値ff11%E
が流れる。このような副しきい値電流は、予期されてい
ない場合、信頼に耐えない回路動作を引き起す。しかし
ながら、ここに記載する回路では、いかにしてこのよう
な副しきい値電流を使用して効果を得るかを示す。特に
、チャンネルが短い素子では、チャンネルが長い素子よ
りも大きな副しきい値電流を有しているので、副しきい
値Ii流をそのチャンネル長によって制御することが可
能であると思われる。
電界効果コンデンサのゲート・ソース電圧がしきい値電
圧V【よりも小さい場合、ゲート容量の殆どはゲートと
基板間で生じる。コンデンサが大電圧によって帯電され
る場合、その殆どの容量はゲートとソース/ドレイン間
で発生し、ゲートと基板間の容量はあまり大きくない。
したがって、電源電圧Vddがしきい値電圧Vtよりも
低い場合、小さなゲート・基板間容量が支配的となる。
上記のような現象によって、電源電圧■ddがしきい値
電圧Vtよりも小さい場合の、パワーアップスイッチ投
入の初期の段階に対しては、通常の設計技術は適用され
ない。しかしながら、パワーアップ検出器の動作は、パ
ワーアップ過渡期の初期の段階では非常に厳密である。
この動作は、パワーアップトリガ回路が片側ラッチとし
て動作する場合、特に厳密である。すなわち、出力端子
における電圧は、電源電圧Vddがハイレベルである間
、−回のみハイレベルとなってさらにグランドまで低下
する。この出力電圧は、電源電圧VddがOまで落ちて
再度上昇するまで、そして電源電圧Vddがロウレベル
の間に全てのコンデンサが放電した場合のみしか、再度
ハイレベルになる事はない。
従来の回路のあるものでは、wi源電圧Vddがしきい
値電圧V【よりも低い場合に、素子Imの副しきい鎖伝
導によって、出力端子における電Kがロウレベルとなる
事がある。もしこのような現象が生じた場合、その回路
を回復させる事は出来ない。
従来の回路のあるものでは、出力端子が−旦ロウレベル
に落ちると、フィードバックによって、この出力端子を
ロウレベルに維持するように設計されている。このよう
な回路では、もしある素子間の電圧が早まってハイレベ
ルとなった場合、電源電圧Vddがしきいm電圧Vtに
達する以前であっても、フィードバックパスをオン状態
にスイッチする。このことは、通常の設計技術が適用さ
れない場合でも、パワーアップトリガ回路を充分に信頼
できるものとするために、非常に重要である。
特に、電源電圧VddがしきいIIB電圧Vtよりも低
いパワーアップ過li期では、通常の論理ゲートの出力
を予想することはできない。通常のゲートはプルアップ
とプルダウンの両能力を備えているので、電源電圧Vd
dがしきい値電旺ytよりも低い場合、その出力はハイ
レベルJ5よびロウレベルのどちらにでもなることがで
き、さらにゲート入力の状態によって出力を制御するこ
とも出来ない。
したがって、Vdd検出器に対して、通常の論理ゲート
を使用することは、非常に危険である。
このような通常の論理ゲートを使用することによる問題
の一つは、プルアップおよびプルダウンの両ゲートが同
時にオン状態となり、上述した形のリニア回路を形成す
ると言うことである。したがって、論理ゲートは、パワ
ーアップ過渡期においてリニア回路としての問題を持つ
ことになる。
その他の問題としては、リニアパワーアップ回路によっ
て受容できない量の予備電流が生じる事である。この問
題を解決するために、静的なプルアップよりもむしろ動
的プルアップを利用した検出回路を使用すると、第1番
目のスタートアップのすぐ後に起こる第2番目のスター
トアップの時点で信頼し得ない信号が生のしることが分
かつている。フィードバックパス上に静的インバータを
用いると、フィードバックパスが早まってオン状態とな
りトリが回路を失敗させるので、電源電圧Vddがしき
い1aif圧Vtよりも低い場合、予期しえない動作を
引ぎ起こす結果となる。
゛パワーアップパルス”を発生するための従来の回路が
、米国特許筒4.716.322号および1988年3
月24日出願の米国特許出願第O7/172.532号
(現在米国特許第号)に例示されている。なお、この両 者とも、テキサスインストルーメント社にIIIされて
いる。
米国特許出願第07/172.532号の回路では、P
チャンネルプルアップトランジスタに補助されたPチャ
ンネルコンデンサが、パワーアップ回路の出力信号をハ
イレベルとするように作動する。Pチャンネルトランジ
スタとNチャンネルトランジスタ列とからなるリニア回
路がトリガ回路を形成している。出力電圧は、電源電圧
Vddの上昇に伴い、トリガ回路出力がしぎい値電圧V
tに達するまで、Vddと伴に上昇する。その後、出力
電圧は、トリガ回路出力によってゲートされたNチャン
ネルプルダウントランジスタによって、ロウレベルに引
き下げられる。出力電圧がロウレベルとなった場合、N
チャンネルトランジスタ列は電力を節約するためにオフ
状態となり、さらにPチャンネルフィードバック素子は
出力をハイレベルに保つためにオン状態となる。このト
リガ回路はリニア回路であるため、そのしきい値電圧は
製造工程の変更に敏感となりやすい。その上、Nチャン
ネルトランジスタ列をオフにするNチャンネル素子は、
Pチャンネルフィードバック素子と伴に、・、静的イン
バータに類似した回路を形成し、そのためli源電圧V
ddがしきいIa電圧Vtよりも低い場合、予期しえな
い事態を引き起こすことがある。その他の問題として、
外部のクロックサイクルによって生じる、電源電圧Vd
d中のノイズによって、トリが回路が早まってオフとな
る問題がある。
(発明の要約) この発明の回路は、ノード上に静的プルアップおよびプ
ルダウンの両者を有するフィードバックパスの必要性を
取り除く事によって、上述の問題を克服している。ここ
に記載し、特許請求した回路では、電源電圧Vddがし
きい値電圧V、tよりも低いパワーアップ過渡期におけ
る、静的論理ゲートの予測しえない振る舞いに対処する
ことができる。その上、この回路は、同時にオン状態と
なつてリニア回路を形成する、静的プルアップパスおよ
び静的プルダウンバスの両者に接続されたノードを持た
ない。
この回路は、一実施例において、電源および内部ノード
閤に接続されたソース・ドレインパスを有し、さらに基
準電位に接続されたゲートを有するトリガ用の電界効果
素子と、N源および出力ノード間に接続されたコンデン
サと、および出力ノードと基準電位間に接続されたソー
ス・ドレインパスと内部ノードに接続されたゲートとを
有する検出用電界効果素子、とを含んでいる。選択的(
オプションの)負荷素子、選択的プルダウン素子、選択
的第2コンデンサ、選択的ダイオード結合素子列、およ
び選択的フィードバック素子もまた、含まれる。
(実施例) この発明の新規な特徴は添付の請求の範囲に記載されて
いる。以下にこの発明と、その特徴、およびその効果に
ついて図面を参照しながら説明する。
第3図には、電源からの電圧の印加に応答してパワーア
ップパルスを形成する回路が示されている。この回路は
、内部ノードN上にプルアップしているダイオード結合
の電界効果素子10の選択列を含んでいる。Pチャンネ
ル素子10は、例えば、はぼ3対2のチャンネル幅対長
さの比を有している。特に記載しないかぎり、この記載
中のPチャンネル素子10およびその他の素子のチャン
ネル長は、適切な集積回路II造技術によって許される
最小の電界効果チャンネル長よりも、実質的に(少なく
とも50%)長いものとする。Pチャンネル素子10の
直列に接続されたソース・ドレインパスの一端は電源V
ddに接続され、他端はPチャンネルトリガ用電界効果
トランジスタ11のソース・ドレインパスを介して内部
ノードNに接続されている。Pチャンネル素子10のゲ
ート、すなわち制御電極は、ダイオード状に、ソース・
ドレインパスに接続されている。Pチャンネル素子10
は、もし素子10のあるものかあるいは全てがVccパ
ルスしきい値の調整の間に必要とされない限り、製造の
初期の段階でチップ上に形成され、その俵の製造段階で
デポジットした金属導体SW1とSW2とによって選択
的にバイパスされる。周知のように、ダイオード結合の
Pチャンネル素子10よりもむしろダイオード結合のN
チャンネル素子の方が利用され、そのゲート結合を各N
チャンネル素子のソース・ドレインパスの上端に形成す
る。素子10と11は、第1電源Vddと内部ノードN
11Jに接続されたトリガ回路TRの選択部分である。
トリガ用の電界効果素子11もまたほぼ3対2のチャン
ネル幅対長さの比を有し、さらにトリガ素子11のゲー
トすなわち制ms極はグランドあるいは基準電位として
示される第2の電11ii V ssに接続されている
選択的Nチャンネルプルダウン素子12のソース・ドレ
インパスは、内部ノードNと第2の電源VSS間に接続
されている。プルダウン電界効果素子12は、はぼ20
対1のチャンネル幅対長さの比を有しており、プルダウ
ン素子12のゲートすなわち制御電極は第2の電源VS
Sに接続されている。この素子12のチャンネル長は理
想的には全集積回路の製造において使用される最小のも
のであるが、しかし実質的にトリガ素子11のチャンネ
ル長よりも(少なくとも20%)yBい。素子12はト
リガ回路TRの選択部分である。
選択的な空乏モードのNチャンネルコンデンサ13が内
部ノードNと第2の電源V ss@に接続されている。
コンデンサ13は、電界効果トランジスタのソースとド
レインを第2の電源VSSに接続し、ゲートを内部ノー
ドに接続することによって形成されている。コンデンサ
13のチャンネル領域は、プルダウン素子12の領域の
ほぼ5倍である。コンデンサ13は、Nチャンネル、P
チャンネル、空乏モード、平行板、接合あるいは他の形
状、あるいはこれらの組合せを含むどのような形状でも
形成される。コンデンサ13はトリガ回路TRの選択部
分である。
一実施例においては、トリガ回路TRは、第1の電源V
ddと電界効果素子14aと16の少なくとも1個のゲ
ート間の単純な導体である。
負荷回路14a、14bはPチャンネル負荷電界効果ト
ランジスタ14aおよびコンデンサ14bのいずれかあ
るいは両方を含む。
選択的なPチャンネル負荷電界効果素子14aのソース
・ドレインパスはその一端を出力ノード0LJTに接続
し、その他端を第1の電源vddに接続している。選択
的な負荷トランジスタ14aのゲートすなわち制御m電
極は内部ノードNに接続されている。負荷トランジスタ
14aのチャンネルは、はぼ20対1の幅対長さ比を有
している。この素子14aのチャンネル長は理想的には
全集積回路の製造に対して使用される内の最小のもので
ある。
コンデンサ14bは、ソースおよびドレインを第1の電
源Vddに接続し、ゲートすなわち制御電極を出力端子
OUTに接続したPチャンネルの電界効果トランジスタ
として示されている。コンデンサ14bのチャンネル領
域はコンデンサ13の領域のほぼ2倍である。コンデン
サ14bは、Nチャンネル、Pチャンネル、空乏モード
、平行板、接合、あるいはその他の形状、あるいはそれ
らの組合せを含む、どのような形状でも、形成される。
この回路から負荷索子14aあるいはコンデンサ14b
のいずれかを取り除くことができる。コンデンサ14b
を取り除く事によって、Vddノイズに対する耐性を向
上する事が可能である。
選択的なフィードバック電界効果素子15のソース・ド
レインパスは、その一端を第1の電源Vddに接続し、
その他端を内部ノードNに接続している。フィードバッ
ク素子15のゲートすなわち制御電極は、出力ノードO
UTに接続されている。Pチャンネルフィードバックト
ランジスタ15のチャンネルの幅対長さの比はほぼ3対
2である。
Nチャンネル検出用電界効果素子16のソース・ドレイ
ンパスは、出力端子0LJTと第2の電源Vss間に接
続されている。検出用素子16のゲートすなわち制tI
I′i1!極は内部ノードNに接続され、検出用トラン
ジスタ16のチャンネルの幅対長さの比はほぼ3対2で
ある。
パワーアップの時点で、コンデンサ14bは出力端子O
UTの電圧を第1の電源電圧とともに増加させ、−力選
択的コンデンサ13は内部ノードNにおける電圧を第2
の電源Vssの電圧値に維持し、その結果出力において
パワーアップ信号を増大さぜる。もし、パワーアップ過
渡期厚ゆっくり進行すれば、プルダウン素子12と選択
的負荷素子14aは、内部ノードNと出力ノード0LJ
T上へいくらかの副しきい値漏洩を形成する手助けをす
る。
第1の電源■ddが1個のPチャンネルVt(V tp
)に達した時、選択的Pチャンネル負荷トランジスタ1
4aはオン状態となり、出力ノードOUTにおける電圧
をvddの上昇に伴ってVddに維持する。出力ノード
OUTにおける電圧は、電圧が2個のPチャンネルVt
の電圧に達するまでVddに伴って上昇しく図示するよ
うに金属選択物と伴に、最上部のPチャンネルトランジ
スタ1゜をバイパスして)、その後プルアップ列はオン
状態となり、内部ノードNをV dd −V tpに引
き上げる。もしNチャンネルVt(Vtn)がPチャン
ネルVtよりも低いか同じである場合、Nチャンネル出
力検出用トランジスタ16はオン状態にスイッチし始め
る。NチャンネルVtがPチャンネルV【よりも大きい
場合、出力検出用トランジスタ16はVddがV tn
+ V tp(V dd−V tl)= V tn)に
達するまで、オン状態にスイッチしない。
出力検出用トランジスタ16が−Hオン状態にスイッチ
すると、出力端子OUTの電圧はロウレベルとなり、V
ddが他の全ての回路を励起するために必要な正常レベ
ルに達したことを示す。出力がロウレベル状態の場合、
Pチャンネルフィードバック素子15はオン状態にスイ
ッチし、内部ノードをVdd−杯に引き上げ、V tp
l失を回復させ、さらに出力段階で発生する静的lt流
トドレイン消失させる。
この回路を設計するための基礎的な原理は、(1)素子
15からなるVdd検出器あるいは選択的なフィードバ
ックパスのいずれも、リニア回路の一部分(同時に両者
ともオンとなる静的プルアップおよび静的プルダウンパ
ス)、または静的論理回路(両者ともノードに接続され
ているが、しかし異なった時間にオンとなり得る、静的
プルアップ、および静的プルダウンパス)の一部である
いかなるノードも有していないこと;および(2)素子
のチャンネル長を副しきい値l!流をυ」御するために
、長くあるいは短く選択すること、の2点である。
選択的なフィードバックパスは単一のPヂャンネル素子
15によって構成されていることに注意すべきである。
Vdd検出器は、接地されたゲート、通常重要でない齢
の電流を排出する短チヤンネル素子の助けを受けて、コ
ンデンサ13を動的プルダウンとして用いている。チエ
インの副しきい値伝導を減少させるために、通常は長い
チャンネル長を使用しない素子1oの静的なプルアップ
チエインを使用する。
さらにまた、もし全てのプルアップ素子10゜11が検
出回路から取り除かれた場合、内部ノードNは第1の電
圧源Vddに接続される、と言う事実に注意する必要が
ある。もしその場合、Mチャンネルコンデンサ13、ゲ
ートを接地したNチャンネルトランジスタ12、および
フィードバック素子15は、動作に悪い影響を与えるこ
となく回路から取り除く事ができる。この実施例では、
トリガ用しきい値VtrはVtnである。
負荷トランジスタ14aのチャンネルの幅対長さの比は
、上記第1と第2の電源の電圧差が小さい場合、パワー
アップ過渡期の初期の段階でこの負荷トランジスタ14
aが検出トランジスタ16よりもかなり多くの副しきい
値電流を有するように、上記検出トランジスタ16チヤ
ンネルの幅対長さの比よりも長くなるように選択されて
いる。
もしこの回路がトランジスタ14aと16のみで構成さ
れている場合、トランジスタ14aとトランジスタ16
間の副しきい値電流の差は、急速なパワーアップの間に
、出力端子OUTに接続された全ての回路のコンデンサ
を駆動するのに充分な大きさとなる。
周知のように、この回路の各実施例は、全Nチャンネル
素子をNチャンネル素子に、全Nチャンネル素子をP″
f−ヤンネル素子に置き換え:全Vddドレイン、ゲー
ト、およびソース結合を接地しニドレイン、ゲート、お
よびソースへの全接地結合をVddとすること(基板結
合は理解される)によって、相補型の回路に変換するこ
とができる。この変換には、素子パラメータの相違を許
すだけの素子の大きさが必要である。その結果の回路は
、相補回路における全波形が反転している点を除けば、
その動作は全く同じである。
この発明は、図示の実施例を参照して説明されているが
、この説明は限定的な意味に理解されるべきものではな
い。この説明を理解する上で、この分野の当業者にとっ
てこの発明の他の実施例と同様に図示の実施例の種々の
変形は、自明である。
添付の請求の範囲が、この発明の範躊に入る全ての変形
、あるいは実施例をカバーするものである。
以上の説明に関して更に以下の項を開示する。
(11II小の電界効果素子チャンネル長を取ることが
可能な技術によって製造された集積回路に使用されるパ
ルス発生回路であって、 第1の電源と内部ノード間に接続されたソース・ドレイ
ンパスと、上記第1の電源と第2の電源の一方に接続さ
れたゲートと、さらに上記最小の電界効果素子チャンネ
ル長よりも長いチャンネル長を有し、第1のチャンネル
形式と第2のチャンネル形式の一方の形式によるトリガ
用電界効果素子と: 上記第1の電源と出力ノード間の負荷回路と;および 上記出力ノードと上記第2の電源間に接続されたソース
・ドレインパスと、上記内部ノードに接続されたゲート
と、さらに上記最小の電界効果素子チャンネル長よりも
長いチャンネル長とを有し、かつ上記第2のチャンネル
形式による第1の検出用電界効果素子;とからなる、パ
ルス発生回路。
(2)  上記負荷回路は、上記第1の電源と出力ノー
ド間に接続された少なくとも1個の第1のコンデンサを
含むことを特徴とする第1項に記載のバルス発生回路。
(3)  上記負荷回路は上記第1の電源と出力ノード
間に接続された少なくとも1個の第1のコンデンサを含
み、この第1のコンデンサは上記出力ノードに接続され
たゲートと上記第1の電源に接続されたソースおよびド
レインを有する上記第1のチャンネル形式の電界効果素
子であることを特徴とする第1項に記載のパルス発生回
路。
(4)  上記負荷回路は、上記第1の電源と出力ノー
ド間に接続されたソース・ドレインパスを有しさらに上
記内部ノードに接続されたゲートを有する、上記第1の
チャンネル形式の少なくとも111の負荷電界効果素子
であることを特徴とする第1項に記載のパルス発生回路
(5)  少なくとも1個のダイオード結合の電界効果
素子そのソース・ドレインバスを上記第1の電源と上記
トリガ用電界効果素子の上記ソース・ドレインパス間に
直列に接続させていることを特徴とする第1項に記載の
パルス発生回路。
(6)  上記第2のチャンネル形式のプルダウン電界
効果素子が上記内部ノードと上記第2の電源間にそのソ
ース・ドレインバスを接続し、上記第1の電源と第2の
*mの一方にゲートを接続し、さらに上記トリガ用電界
効果素子のそれよりも短いチャンネル長を有している事
を特徴とする第1項に記載のパルス発生回路。
(7)  上記第2のチャンネル形式のプルダウン電界
効果素子が上記内部ノードと上記第2の電源間にそのソ
ース・ドレインバスを接続し、上記第1の電源と第2の
1源の一方にゲートを接続し、さらに上記プルダウン電
界効果素子は少なくとも20%上記トリガ用電界効果素
子のチャンネル長よりも短いチャンネル長を有している
事を特徴とする第1項に記載のパルス発生回路。
(8)  第2のコンデンサが上記内部ノードと上記第
2の′Rm間に接続されている事を特徴とする第1項に
記載のパルス発生回路。
(9)  第2のコンデンサが上記内部ノードと上記第
2の電源間に接続され、かつ上記第2のコンデンサは上
記内部ノードに接続されたゲートと上記第2の電源に接
続されたソースおよびドレインを有する上記第2のチャ
ンネル形式の電界効果素子である事を特徴とする第1項
に記載のパルス発生回路。
(10)上記第1のチャンネル形式のフィードバック電
界効果素子が上記内部ノードと上記第1の電源と第2の
電源の一方との間にソース・ドレインバスを接続させざ
らに上記出力ノードにゲートを接続させた事を特徴とす
る第1項に記載のパルス発生回路。
(11)上記第1のチャンネル形式とはP型であり、上
記第2のチャンネル形式とはN型である事を特徴とする
第1項に記載のパルス発生回路。
(12)上記第1のチャンネル形式とはN型であり、上
記第2のチャンネル形式とはP型である事を特徴とする
第1項に記載のパルス発生回路。
(13)上記トリガ用電界効果素子は、上記最小の電界
効果チャンネル長よりも少なくとも50%長いチャンネ
ル長を有している事を特徴とする第1項に記載のパルス
発生回路。
(14)上記第1の検出用電界効果素子は上記最小の電
界効果素子チャンネル長よりも少なくとも50%良いチ
ャンネル長を有している事を特徴とする第1項に記載の
パルス発生回路。
(15)  第1の電源と第2の電源の少なくとも一方
に接続されたトリガ回路と; 上記トリが回路の出力に接続されたII m m!極と
一端を上記第1の電源に接続し他端を出力ノードに接続
したソース・ドレインバスとを有する、第1のチャンネ
ル形式の負荷トランジスタと:さらに 上記トリガ回路の出力に接続された制mvg極と一端を
上記第2の電源に接続し他端を上記出力ノードに接続し
たソース・ドレインバスとを有する、第2のチャンネル
形式の検出用トランジスタ;とから構成されるパワーア
ップ検出用の回路において、 上記負荷トランジスタのチャンネルの幅対長さの比を、
上記負荷トランジスタが、上記第1と第2の電源間の電
圧差が小さいパワーアップ過渡期の初期において、上記
検出用のトランジスタよりもかなり大きなII Lきい
値電流を有するように、上記検出用トランジスタのチャ
ンネルの幅対長さの比よりも大きくなるように選択した
事を特徴とする回路。
(16)  第1のコンデンサがその一端で上記出力ノ
ードに接続され、他端で上記第1の電源に接続されてい
ることを特徴とする第15項に記載の回路。
(11)第1のコンデンサがその一端で上記出力ノード
に接続され、他端で上記第1の電源に接続されており、
さらにこの第1のコンデンサは上記出力ノードに接続さ
れた制era極と上記第1の電源に接続されたソースお
よびドレインを有する、上記第1のチャンネル形式のト
ランジスタである事を特徴とする第15項に記載の回路
(18)上記第1のチャンネル形式のフィードバックト
ランジスタが、上記第1の電源と、上記第1および第2
のトランジスタの少なくとも1個の上記IIIIIl電
極間にソース・ドレインパスを接続し、さらに上記出力
ノードに制御電極を接続した事を特徴とする第15項に
記載の回路。
(19)上記トリガ回路は、上記第1の電源と上記検出
用トランジスタと上記負荷トランジスタの制tII′i
Ii極の少なくとも一方との間に接続されたソース・ド
レインパスを有し、上記第2のwi源に接続された制御
電極を有する、上記第1のチャンネル形式のトリガ用ト
ランジスタを含む事を特徴とする、第15項に記載の回
路。
(20)  上記トリガ回路は、上記第1の電源と上記
第1のチャンネル形式のトリガ用トランジスタ間に接続
されたソース・ドレインパスを為する少なくとも1個の
ダイオード接続トランジスタを含み、さらに上記ダイオ
ード接続のトランジスタと上記検出用トランジスタと上
記負荷トランジスタとの少なくとも一方の制御電極間に
接続されたソース・ドレインパスを有し、さらに上記第
2の電源に接続された制御l電極を有する、上記トリガ
用トランジスタを含む事を特徴とする、第15項に記載
の回路。
(21)上記トリガ回路は、上記第2の電源と、上記検
出用トランジスタと上記負荷トランジスタとの少なくと
も一方の制御I電極間に接続されたソース・ドレインパ
スを有し、さらに上記第2の電源に接続された制御ゲー
トを有する、上記第2のチャンネル形式のプルダウント
ランジスタを含む事を特徴とする、第15項に記載の回
路。
(22)  上記トリガ回路は、上記第2の電源と上記
負荷トランジスタと上記検出用トランジスタの少なくと
も一方の制御ゲートとの間に接続された第2のコンデン
サを含む事を特徴とする、第15項に記載の回路。
(23)上記トリガ回路は、上記第2の電源と上記負荷
トランジスタと上記検出用トランジスタの少なくとも一
方のIII御ゲートとの間に接続された第2のコンデン
サを含み、上記第2のコンデンサは上記第2の電源に接
続されたソースとドレインを有し、さらに上記負荷トラ
ンジスタと上記検出用トランジスタの少なくとも一方の
制御電極に接続された1iIIIll′R極を有する、
上記第2のチャンネル形式のトランジスタである事を特
徴とする、第15項に記載の回路。
(24)  上記トリガ回路は、上記第1の電源と、上
記負荷および検出用トランジスタの少なくとも一方の制
御電極との間に接続された導体を含む事を特徴とする、
第15項に記載の回路。
(25)  1実施例において、パルス発生回路は、電
源(Vdd)と内部ノード(N)間に接続されたソース
・ドレインパスを為しかつ基準電位のソースに接続され
たゲートを有するトリガ用電界効果素子と、電源および
出力ノード間に接続されたコンデンサ14bと、出力ノ
ード(OUT)とt!準電位のソース間に接続されたソ
ース・ドレインパスと内部ノード(N)に接続されたゲ
ートを有する検出用の電界効果素子を含んでいる。選択
的な負荷素子14aと、選択的なプルダウン素子12と
、選択的な第2のコンデンサ13と、選択的なダイオー
ド接続の素子列10と、さらに選択的なフィードバック
素子15も同様に含まれる。素子のチャンネル長は適正
な動作に対して特定される。1実施例では、この回路は
、検出用の電界効果トラ4゜ ンジスタと負荷用の電界効果トランジスタのみを含んで
おり、この検出用トランジスタは負荷トランジスタのチ
ャンネル長よりも実質的に長いチャンネル長を有してい
る。
ここに記載され、請求された回路では、電源電圧が集積
回路のしきい値電圧よりも小さいパワーオン過渡期にお
ける静的な論理ゲートの予期しえない振る舞いから開放
される。特に、この回路は、同時にオン状態となってリ
ニア回路を形成する、静的プルアップパスと静的プルダ
ウンバスの雨音に接続されたノードを持たない。
【図面の簡単な説明】
第1図はトリガ回路を含むパワーアップ回路の一般的な
使用状態を説明するための回路ブロック図、第2図はパ
ワーアップ回路の時間変化を伴う入力および出力電圧を
説明するための図、および第3図はこの発明の1実施例
の回路図である。 10・・・ダイオード接続の素子列 12・・・プルダ
ウン素子 13・・・第2のコンデンサ 14a・・・
負荷索子 14b・・・コンデンサ 15フイードバツ
ク素子 Vdd・・・電源 N・・・内部ノード出力ノ
ード TR・・・トリガ回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)最小の電界効果素子チャンネル長を取ることが可
    能な技術によつて製造された集積回路に使用されるパル
    ス発生回路であつて、 第1の電源と内部ノード間に接続されたソース・ドレイ
    ンパスと、上記第1の電源と第2の電源の一方に接続さ
    れたゲートと、さらに上記最小の電界効果素子チャンネ
    ル長よりも長いチャンネル長を有し、第1のチャンネル
    形式と第2のチャンネル形式の一方の形式によるトリガ
    用電界効果素子と; 上記第1の電源と出力ノード間の負荷回路と;および 上記出力ノードと上記第2の電源間に接続されたソース
    ・ドレインパスと、上記内部ノードに接続されたゲート
    と、さらに上記最小の電界効果素子チャンネル長よりも
    ながいチャンネル長とを有し、かつ上記第2のチャンネ
    ル形式による第1の検出用電界効果素子;とからなる、
    パルス発生回路。
JP2264929A 1989-10-02 1990-10-02 パワーアップパルス発生回路 Pending JPH03192817A (ja)

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