JPH03184301A - 厚膜サーミスタ組成物 - Google Patents
厚膜サーミスタ組成物Info
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- JPH03184301A JPH03184301A JP32325289A JP32325289A JPH03184301A JP H03184301 A JPH03184301 A JP H03184301A JP 32325289 A JP32325289 A JP 32325289A JP 32325289 A JP32325289 A JP 32325289A JP H03184301 A JPH03184301 A JP H03184301A
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Landscapes
- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は基板上の電極間にサンドイッチ形に印刷形成さ
れる厚膜サーミスタ用の厚膜サーミスタ組成物に関する
。
れる厚膜サーミスタ用の厚膜サーミスタ組成物に関する
。
(従来の技術)
従来の厚膜サーミスタ組成物としては、Mn。
Co、 Fe、 Niなとの遷移金属の酸化物粉末と、
導電材料としてのRuO2粉末と、さらにガラス粉末を
混合したものが知られている。
導電材料としてのRuO2粉末と、さらにガラス粉末を
混合したものが知られている。
そしてその使用方法としては、絶縁基板上の同一平面に
対設した印刷された電極間に両端を電極上に重ねてサー
ミスタ組成物を厚膜印刷して形成されたシート形サーミ
スタ、絶縁基板上に先ず第1の電極を印刷形成し次にこ
の第1の電極上に一部が重なるようにサーミスタ組成物
を卸刷して厚膜サーミスタ体を形成し、この厚膜サーミ
スタ体上に重ねて第2の電極を印刷してサンドイッチ形
にしたものが知られている。
対設した印刷された電極間に両端を電極上に重ねてサー
ミスタ組成物を厚膜印刷して形成されたシート形サーミ
スタ、絶縁基板上に先ず第1の電極を印刷形成し次にこ
の第1の電極上に一部が重なるようにサーミスタ組成物
を卸刷して厚膜サーミスタ体を形成し、この厚膜サーミ
スタ体上に重ねて第2の電極を印刷してサンドイッチ形
にしたものが知られている。
(発明が解決しようとする課題)
しかるに、厚膜サーミスタは一般に、金属酸化物を成形
、焼結させたディスクタイプのサーミスタに比べ比抵抗
の高いガラス粉末を含んでいるため、抵抗値が非常に高
くなる。そのため低抵抗となるように、上記シート形よ
りも上記サンドイッチ形の印刷方法が主にとられている
。
、焼結させたディスクタイプのサーミスタに比べ比抵抗
の高いガラス粉末を含んでいるため、抵抗値が非常に高
くなる。そのため低抵抗となるように、上記シート形よ
りも上記サンドイッチ形の印刷方法が主にとられている
。
しかし、このサンドイッチ形印刷を行なっても抵抗値は
最低2にΩが限度である。
最低2にΩが限度である。
モして厚膜サーミスタの抵抗値を下げるために、RuO
□粉末を加えているが、RuO2の添加量が8w1%を
越えると、第4図、第5図に示すように抵抗値およびB
定数(抵抗変化率を知る定数で一般のサーミスタではB
=2000に〜5000にである)も急激に低下し、サ
ーミスタとして使用できなくなる。
□粉末を加えているが、RuO2の添加量が8w1%を
越えると、第4図、第5図に示すように抵抗値およびB
定数(抵抗変化率を知る定数で一般のサーミスタではB
=2000に〜5000にである)も急激に低下し、サ
ーミスタとして使用できなくなる。
そこで抵抗値を下げるためにRuO2に加え、さらにA
g1^u、 Cuなどを加える方法もあるが、八gはマ
イグレーションなど信頼性の面で、^Uは価格面で使用
できない。
g1^u、 Cuなどを加える方法もあるが、八gはマ
イグレーションなど信頼性の面で、^Uは価格面で使用
できない。
またCuを含む材料は、従来のディスクタイプでも低抵
抗値品に使われているが、厚膜サーミスタとした場合、
Cuを粉末のまま多量に加えると、RuO□と同様に急
激な抵抗値低下を招くという問題がある。
抗値品に使われているが、厚膜サーミスタとした場合、
Cuを粉末のまま多量に加えると、RuO□と同様に急
激な抵抗値低下を招くという問題がある。
本発明の目的は上記問題点に鑑み金属酸化物と、RuO
2とガラスよりなる厚膜サーミスタの抵抗値を下げるた
めにガラスの比抵抗を低下させた厚膜サーミスタ組成物
を提供するものである。
2とガラスよりなる厚膜サーミスタの抵抗値を下げるた
めにガラスの比抵抗を低下させた厚膜サーミスタ組成物
を提供するものである。
(課題を解決するための手段)
本発明の厚膜サーミスタ組成物はMn、 Co、 Fe
。
。
Niの夫々の酸化物のうちから選ばれたサーミスタ特性
を有する少なくとも2種の金属酸化物と、RuO2より
なる導電性物質と、ガラスにCo5Cu酸化物、Cu水
酸化物およびCu炭酸塩のうちの少なくとも1種を溶融
して含有させたCu融合ガラスとよりなるものである。
を有する少なくとも2種の金属酸化物と、RuO2より
なる導電性物質と、ガラスにCo5Cu酸化物、Cu水
酸化物およびCu炭酸塩のうちの少なくとも1種を溶融
して含有させたCu融合ガラスとよりなるものである。
(作用)
本発明の厚膜サーミスタ組成物は、金属酸化物によって
サーミスタ特性を、RuO2により導電性が附与される
厚膜サーミスタ組成物の結合剤としてのガラスにCuが
融合されて添加されているため、RuO2を増加させた
り、Cuをそのまま添加した場合のように得られた厚膜
サーミスタの急激な抵抗値の低下がなく添加量に伴って
ゆるやかに抵抗値が低下し、低抵抗でB定数の大きい厚
膜サーミスタが得られる。
サーミスタ特性を、RuO2により導電性が附与される
厚膜サーミスタ組成物の結合剤としてのガラスにCuが
融合されて添加されているため、RuO2を増加させた
り、Cuをそのまま添加した場合のように得られた厚膜
サーミスタの急激な抵抗値の低下がなく添加量に伴って
ゆるやかに抵抗値が低下し、低抵抗でB定数の大きい厚
膜サーミスタが得られる。
(実施例)
市販のホウケイ酸鉛ガラス粉末とCuOを99wt%〜
90wt%:1w(%〜10w1%となるように秤量し
、自動混合機またはボールミルにより充分に混合する。
90wt%:1w(%〜10w1%となるように秤量し
、自動混合機またはボールミルにより充分に混合する。
その後この混合粉末を白金ルツボに入れ、1250℃で
10分間溶融する。溶融物を攪拌水中に滴下し、Cu融
合ガラスを作成する。このCu融合ガラスをさらに粉砕
機またはボールミルで粉砕する。粉砕後325メツシュ
の篩にかけ、目的とするCu融合ガラス粉末を得る。
10分間溶融する。溶融物を攪拌水中に滴下し、Cu融
合ガラスを作成する。このCu融合ガラスをさらに粉砕
機またはボールミルで粉砕する。粉砕後325メツシュ
の篩にかけ、目的とするCu融合ガラス粉末を得る。
次にMn3O4、Co3O4、Fe3O4を1:1:0
.2の重量比で固相反応させた金属酸化物粉末47vt
%と RuO28v1%、Cu融合ガラス粉末45wt
%を混合する。ここに有機ビヒクルとして8W(%のエ
チルセルロースを含むブチルカルピトールを前記混合物
の30w(%となる様に加え、3本ロール等で充分に混
合し、厚膜サーミスタペーストを作成する。
.2の重量比で固相反応させた金属酸化物粉末47vt
%と RuO28v1%、Cu融合ガラス粉末45wt
%を混合する。ここに有機ビヒクルとして8W(%のエ
チルセルロースを含むブチルカルピトールを前記混合物
の30w(%となる様に加え、3本ロール等で充分に混
合し、厚膜サーミスタペーストを作成する。
得られた厚膜サーミスタペーストを用い、第1図に示す
ように、基板1上に上下に対向する電極2,2の面積が
0.25mm2でサーミスタ体3の膜厚が50μmとな
るようにサンドイッチ形の厚膜サーミスタを印刷、焼成
によって形成した。
ように、基板1上に上下に対向する電極2,2の面積が
0.25mm2でサーミスタ体3の膜厚が50μmとな
るようにサンドイッチ形の厚膜サーミスタを印刷、焼成
によって形成した。
得られた厚膜サーミスタのガラス中のCuO添加量と出
現抵抗値を第2図に、同じくガラス中のCuO添加量と
B定数との関係を第3図に示す。
現抵抗値を第2図に、同じくガラス中のCuO添加量と
B定数との関係を第3図に示す。
以上の実施例ではガラスと融合するCu原料としてCu
Oを用いたが、他に、Cu、 Cu2O、Cu水酸化物
、Cu炭酸塩を使用することもできる。
Oを用いたが、他に、Cu、 Cu2O、Cu水酸化物
、Cu炭酸塩を使用することもできる。
なお、ガラスに含まれるCuまたはCU酸化物(CuO
5CU20 ) 、Cu水酸化物、Cu炭酸塩は、10
wt%までとした。それは10w1%を越えるとCu添
加量に対し、比抵抗の低下率が悪(なるためである。
5CU20 ) 、Cu水酸化物、Cu炭酸塩は、10
wt%までとした。それは10w1%を越えるとCu添
加量に対し、比抵抗の低下率が悪(なるためである。
第2図から、ガラス中のCuO含有量の増加に対し厚膜
サーミスタの出現抵抗値はゆるやかに低下している。
サーミスタの出現抵抗値はゆるやかに低下している。
また第3図から、ガラス中のCuO含有量の増加に比例
してB定数がゆるやかに低下している。
してB定数がゆるやかに低下している。
以上の結果より、Cu融合ガラス粉末を用いることによ
り抵抗値をゆるやかに低下させ、さらに高いB定数を有
する厚膜サーミスタを得ることができることがわかる。
り抵抗値をゆるやかに低下させ、さらに高いB定数を有
する厚膜サーミスタを得ることができることがわかる。
本発明によれば、サーミスタ特性を有する金属酸化物と
、導電性物質としてのRuO2と、Cu融合ガラスとよ
りなりCIlを組成に直接添加しないため、Cuがガラ
スの比抵抗を低下させ、厚膜サーミスタを形成した場合
低抵抗でB定数の高いものを得ることができる。
、導電性物質としてのRuO2と、Cu融合ガラスとよ
りなりCIlを組成に直接添加しないため、Cuがガラ
スの比抵抗を低下させ、厚膜サーミスタを形成した場合
低抵抗でB定数の高いものを得ることができる。
また、抵抗値の調整は、RuO□の添加量に加えてCu
融合ガラスのCu、 Cu酸化物、Cu水酸化物、Cu
炭酸塩の添加量を変化させることによって複合的に行な
えるため抵抗値とB定数の幅の広い調整をすることがで
きる。
融合ガラスのCu、 Cu酸化物、Cu水酸化物、Cu
炭酸塩の添加量を変化させることによって複合的に行な
えるため抵抗値とB定数の幅の広い調整をすることがで
きる。
第1図は本発明の組成物を用いたサンドイッチ形厚膜サ
ーミスタの縦断正面図、第2図は同上厚膜サーミスタの
CuO添加量と抵抗値特性図、第3図は同上CuO添加
量とB定数特性図、第4図は従来の厚膜サーミスタの RuO□ の添加量と抵抗値 特性図、 第5図は同上 RuO2 添加量とB定数特性 図である。
ーミスタの縦断正面図、第2図は同上厚膜サーミスタの
CuO添加量と抵抗値特性図、第3図は同上CuO添加
量とB定数特性図、第4図は従来の厚膜サーミスタの RuO□ の添加量と抵抗値 特性図、 第5図は同上 RuO2 添加量とB定数特性 図である。
Claims (1)
- (1)Mn、Co、Fe、Niの夫々の酸化物のうちか
ら選ばれたサーミスタ特性を有する少なくとも2種の金
属酸化物と、 RuO_2よりなる導電性物質と、 ガラスにCu、Cu酸化物、Cu水酸化物およびCu炭
酸塩のうちの少なくとも1種を溶融して含有させたCu
融合ガラスとよりなることを特徴とする厚膜サーミスタ
組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32325289A JPH03184301A (ja) | 1989-12-13 | 1989-12-13 | 厚膜サーミスタ組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32325289A JPH03184301A (ja) | 1989-12-13 | 1989-12-13 | 厚膜サーミスタ組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03184301A true JPH03184301A (ja) | 1991-08-12 |
Family
ID=18152712
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32325289A Pending JPH03184301A (ja) | 1989-12-13 | 1989-12-13 | 厚膜サーミスタ組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03184301A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005223039A (ja) * | 2004-02-04 | 2005-08-18 | Murata Mfg Co Ltd | チップ型サーミスタおよびその特性調整方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54115799A (en) * | 1978-03-01 | 1979-09-08 | Hitachi Ltd | Thermistor composition |
JPS54119695A (en) * | 1978-03-08 | 1979-09-17 | Hitachi Ltd | Composite material for thick film thermistor |
-
1989
- 1989-12-13 JP JP32325289A patent/JPH03184301A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54115799A (en) * | 1978-03-01 | 1979-09-08 | Hitachi Ltd | Thermistor composition |
JPS54119695A (en) * | 1978-03-08 | 1979-09-17 | Hitachi Ltd | Composite material for thick film thermistor |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005223039A (ja) * | 2004-02-04 | 2005-08-18 | Murata Mfg Co Ltd | チップ型サーミスタおよびその特性調整方法 |
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