JPH0317566A - プリント基板の検査装置 - Google Patents

プリント基板の検査装置

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Publication number
JPH0317566A
JPH0317566A JP1150460A JP15046089A JPH0317566A JP H0317566 A JPH0317566 A JP H0317566A JP 1150460 A JP1150460 A JP 1150460A JP 15046089 A JP15046089 A JP 15046089A JP H0317566 A JPH0317566 A JP H0317566A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
board
inspected
movable shaft
Prior art date
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Pending
Application number
JP1150460A
Other languages
English (en)
Inventor
Taku Koiwai
小岩井 卓
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP1150460A priority Critical patent/JPH0317566A/ja
Publication of JPH0317566A publication Critical patent/JPH0317566A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、プリント基板上に実装された機構部品の未取
付の有無および逆付(逆向きの取付)等を電気的に検査
するこ・とのできるプリント基板検査装置に関する。
(従来の技術) 従来、プリント基板上に実装された機構部品、即ちコネ
クタ,電圧又は波形観測用チェックピン,端子台等が工
作用図面上に指定された位置に正しく取付けられている
か否かを検査する手法として、工作用図面との照合によ
る目視検査、又はあらかじめ検査しようとする部品の位
置及び取付方向等を表示した透明状の検査シートを基板
上に重ね合せ、その表示と実際にプリント基板上に実装
された部品とが一致するか否かを確認する検査を実施し
ていた。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、この検査方法では、各作業者の注意力並
びに勘に頼ることが多く、次のような問題点があった。
(1)工作用図面と各部品を、部品毎に1個1個照合し
ながら検査を実施する必要があり、多くの時間を必要と
する。
(2)各作業者の注意力及び視覚に依存するため、見誤
りや見落しに起因する検査の洩れが生ずる。
(3)検査シートを、プリント基板一枚検査する毎にプ
リント基板の上に重ね合せ、検査シート上に表示された
部品の取付位置及び取付方向が、実際のプリント基板上
における部品の取付状態と一致するか否かを確認し終え
たら、その検査シートをプリント基板上から取り外し、
次のプリント基板上に重ね合せて同じ手順を繰り返して
検査するという煩雑な作業を実施する必要があった。
本発明は、上述の問題点を解消すべくなされたもので、
その目的とするところは、プリント基板上に実装された
機構部品の未取付の有無及び逆付を電気的に検査するこ
とのできるプリント基板の検査装置を提供することにあ
る。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は、プリント基板の被検査部の上方に、上下に移
動できる可動軸と、この可動軸が被検査部の部品に対応
した下死点で開閉する接点とを備え、この接点の開閉状
態を電気的に計測し、被検査部の部品取付の良否を判別
するようにしたものである。
(作 用) 可動軸を下方に移動させると、被検査部の部品に応じて
可動軸の下死点が決まる。そこで、この下死点で開閉す
る接点を電気的に計測し、これを所定のデータと比較す
ることにより被検査部の部品取付の良否を判別すること
ができる。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明の一実.施例を説明する。
第1図は、本発明の一実施例の構成図を示す。
同図において、1はインサーキットテスタのような検査
装置本体、2は基板押え枠、3は被検査プリント基板、
4は検査装置本体1に取付けられたピンボード、5は検
査装置本体1に取付けられたスキャナ、6は検査装置本
体1に取付けられた計測部である。
以上の構成において、基板押え枠2は、検査装置本体l
に取付けられたエアシリンダ(図示しない)等に直結し
たプレス部7に連結されるベース2aと、ベース2aの
下部に被検査プリント基板3の穴に挿入されるガイドピ
ン8、被検査プリント基板3の上面に先端が当たる押え
棒9及び押え棒9に保持具10. Ifを介して上下動
自在とした可動軸12. 13を取付けた構成としてい
る。この可動軸l2は、上端に電極14が取付けられ、
スプリング15で常時下方に押し出されるようになって
いる。
同様に、可動軸13も上端に電極16が取付けられ、ス
プリングl7で常時下方に押し出されるようになってい
る。ここで、可動軸12. 13は、機構部品18に対
応した位置に取付けられているが、その他の機構部品1
9. 20・・・にもそれぞれ対応した位置に、必要と
する長さの可動軸(図示しない)が押え棒に取付けられ
、上部には電極が取付けられている。
又、基板押え枠2のベース2aの下部には、電極14に
対向して電極21,電極l6に対向して電極22が取付
けられ、これらの電極21. 22及び上記した電極1
4. 16は、それぞれリード線23を介し・てスキャ
ナ5に接続されている。ここで、ベース2aには、機構
部品19. 20用の図示しない電極棒の電極に対向す
る電極も取付けられている。
一方、被検査プリント基板3は、ピンボード4に取付け
られているプローブピン24上に載せられて支持される
なお、上記した基板押え枠2とピンボート4は、被検査
プリント基板に対応した構成となっている。
次に、以上の構成による実施例の作用を説明する。まず
、検査装置本体1に、基板押え枠2とビンボード4をセ
ットし、このピンボード4上に被検査プリント基板3を
載せる。次に、検査装置本体1に設けられているスイッ
チ(図示しない)を操作し、プレス部7を介して基板押
え枠2を下方に押し出し、被検査プリント基板3を加圧
する(第l図は、加圧後の状態を示す)。
この加圧により、被検査プリント基板3とピンボート4
が圧接される同時に、いま検査しようとする機構部品I
8により可動軸12が上方に移動して電極l4と21が
閉となり、他方の可動軸l3は下方に降下したままで電
極l6と22は開の状態になっている。
次に、スキャナ5により電極+4. 16. 21. 
22から引出されたリード線23の中から一対の2本を
選択し、選択された一方のリード線23から電流又は電
圧を印加し、他方のリード線23から検出される電流又
は電圧を計測部6で計測変換し、事前に得た良品プリン
ト基板からの基準データと比較し、一致すれば機構部品
18が正しく取付けられていることを判別できる。他の
機構部品19. 20についても同様にして正しく取付
けられていることを判別できる。
第2図は、実装される機構部品I8が未取付の場合の説
明図である。即ち、被検査プリント基板3に機構部品1
8が未取付のため、可動軸12. 13が共に下方に降
下した位置にある。従って、電極14と21.  16
と22がいずれも開の状態になっている。このため、一
対のリード線23の一方から電流又は電圧を印加しても
、他方のリード線23から検出される電流又は電圧は上
述した第1図の状態とは異なり、機構部品18が未だ取
付けられていないことが判別できる。
第3図は、実装される機構部品18が逆付の場合の説明
図である。即ち、被検査プリント基板3に機構部品18
が逆付となっているため、可動軸l2が下方に降下した
位置にあり、可動軸13が上方に押し上げられた位置に
ある。従って、電極14と21は開であり、電極l6と
22は閉の状態となっている。
この状態は、上述した第1図の場合、即ち、電極14と
21が閉で電極16と22が開の場合とも異なり、さら
に第2図の場合即ち、電極l4と21.  16と22
が共に開の場合とも異なるため、機構部品18が逆付で
あることが判別できる。
以上の作用は、被検査プリント基板3をピンボート4に
載せ、検査装置本体1のスイッチ(図示しない)を操作
した後には、手動操作を必要とすることなく行われ、判
別結果は計測部6からアウトプットされる。
なお、以上の説明は、プリント基板に実装される機構部
品を対象としたが、これ以外の実装部品例えは並列に接
続されたダイオード等の取付有無の判別にも適用できる
。又、可動軸12. 13は、ピンボード4に取付ける
プローブピン24と同様に伸縮自在の構造とすることに
より、機構部品18, 19,20・・・に対し共通性
が増大(つまり、種類を少なくすること)する。
[発明の効果コ 以上説明したように本発明によれば、プリント基板に実
装された機構部品の検査において、工作用図面と機構部
品を部品毎に1個1個照合することなく機構部品の未取
付の有無及び逆付が電気的に判別できるから、検査時間
の短縮が図れる。
又、各作業者の注意力や視覚に依存することもなく、機
構部品の未取付の有無及び逆付が電気的に判別できるの
で、各作業者による工作用図面及び機構部品の見間違い
や見落としによる誤検査をなくすことができる。作業者
による検査を省くことができるから、検査作業の全自動
化を実現することもできる。
更に、検査シートをプリント基板一枚検査する毎にその
上に重ね合せて検査シート上に表示された機構部品の位
置及び取付方向が一致するか否かを確認するという煩雑
な作業が不要となる。
【図面の簡単な説明】
第l図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は本発
明の一実施例の作用を示す説明図、第3図は本発明の一
実施例の第2図とは異なる作用を示す説明図である。 1・・・検査装置本体 2・・・基板押え枠 3・・・被検査プリント基板 4・・・ピンボード 5・・・スキャナ 6・・・計測部 12. 13・・・可動軸 14, IS, 21. 22・・・電極+8. 19
. 20・・・機構部品 (8733)代理人 弁理士 猪 股 祥 晃(ほか 
1名) 茅 1 皮 茅 2 ロ 茅 3 閃

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  プリント基板の被検査部の上方に、上下に移動できる
    可動軸と、この可動軸が前記被検査部の部品に対応した
    下死点で開閉する接点とを備え、この接点の開閉状態を
    電気的に計測し、前記被検査部の部品取付の良否を判別
    するようにしたことを特徴とするプリント検査装置。
JP1150460A 1989-06-15 1989-06-15 プリント基板の検査装置 Pending JPH0317566A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1150460A JPH0317566A (ja) 1989-06-15 1989-06-15 プリント基板の検査装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP1150460A JPH0317566A (ja) 1989-06-15 1989-06-15 プリント基板の検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0317566A true JPH0317566A (ja) 1991-01-25

Family

ID=15497412

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JP1150460A Pending JPH0317566A (ja) 1989-06-15 1989-06-15 プリント基板の検査装置

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JP (1) JPH0317566A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6274092B1 (en) 1999-03-05 2001-08-14 Teruaki Itoh Test tube holder
US7795880B2 (en) * 2006-12-05 2010-09-14 Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd. Detecting apparatus
TWI382172B (zh) * 2006-12-22 2013-01-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 檢測儀

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6274092B1 (en) 1999-03-05 2001-08-14 Teruaki Itoh Test tube holder
US7795880B2 (en) * 2006-12-05 2010-09-14 Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd. Detecting apparatus
TWI382172B (zh) * 2006-12-22 2013-01-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 檢測儀

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