TWI382172B - 檢測儀 - Google Patents
檢測儀 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI382172B TWI382172B TW95148495A TW95148495A TWI382172B TW I382172 B TWI382172 B TW I382172B TW 95148495 A TW95148495 A TW 95148495A TW 95148495 A TW95148495 A TW 95148495A TW I382172 B TWI382172 B TW I382172B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- measuring body
- detecting
- detector
- workpiece
- pin
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Insertion Pins And Rivets (AREA)
Description
本發明係關於一種檢測儀。
在組裝生產線上,經常需要對工件上電導體結合件進行檢測,以確定其結合情況是否良好。
如圖1所示,圖中工件90為一液晶監視器基座,結合件包括兩第一鉚柱6、三第二鉚柱16、兩第三鉚柱8、一第四鉚柱7、一方形擋片18及一條形擋片19,其中該第一鉚柱6和該第二鉚柱16差別細微且該第一鉚柱6略長。對於上述結合件,需檢測的指標包括:檢測該等結合件是否漏件,檢測該對第一鉚柱6和該等第二鉚柱16的高度,檢測該對第一鉚柱6和該等第二鉚柱16是否錯鉚,以及檢測該對第一鉚柱6、該等第二鉚柱16和該第四鉚柱7的位置度/垂直度。
通常,檢測上述結合件是否漏件和錯鉚,係由操作人員肉眼檢查完成。人眼檢測耗時長、勞動強度大,且長時間作業極易使操作人員產生視覺疲勞,從而導致檢測精準度低、檢錯率高。此方法效率低下,不能滿足量化生產的需求。
請參閱圖2和圖3,檢測上述結合件的高度通常使用一高度檢具91完成,圖3中Dmax為該結合件的最大極限尺寸,Dmin為該結合件的最小極限尺寸。檢具91底面貼緊工件90,向鉚柱方向滑動,當該檢具91於最大極限尺寸處可通過、最小極限尺寸處通不過時,則鉚柱高度合格,否
則為不合格。其中該檢具91最大極限尺寸和最小極限尺寸的差值為該鉚柱高度所要求的公差值的二倍。此外,不同的鉚柱須使用不同的高度檢具來檢測。用此方法,檢測一工件上之多量、多種的鉚柱,比如檢測連接至該工件90上的兩第一鉚柱6和三第二鉚柱16,對於操作人員來講勞動強度大、工作過程複雜且生產效率低下,不適合量化生產。
請參閱圖4,生產線上常使用圖中所示的檢具92檢測上述結合件的位置度/垂直度。檢測時,操作人員手持該檢具92的把手,將檢具92上複數檢測孔對準工件90上的複數被檢測鉚柱,將治具平行向下放入該工件90,當該工件90上的複數被檢測鉚柱無阻礙通過治具上對應的檢測孔,則被檢測鉚柱的位置/垂直度合格,否則,不合格。其中,該檢具92上檢測孔的直徑大於對應被檢測鉚柱的橫截面直徑,且其差值等於被測鉚柱位置度/垂直度所要求的公差值。用此方法檢測,難以將該檢具92上檢測孔對準工件90上的被檢測鉚柱,從而導致被檢測鉚柱可能會被檢具衝擊而發生傾斜等情形;另外,人工同時判斷複數被檢鉚柱與該檢具92上的對應檢測孔之孔壁的觸碰情況相當困難,從而嚴重影響檢測的精確度。
因是,實有必要提供一種檢測儀,以消除上述缺失。
鑒於以上內容,有必要提供一操作簡單快速、檢測結果可靠的檢測儀。
一種檢測儀,用以檢測連接於工件的至少一電導體結合
件的至少一項檢測指標,該檢測儀包括一用於支撐該工件的下部測量體、一活動設置於該下部測量體上方的上部測量體、一電源、一處理器及一結果指示裝置,該下部測量體和上部測量體中至少其一對應該結合件的檢測指標設置至少一檢測件,該上部測量體相對移動至頂住該下部測量體所支撐的該工件後,該檢測件可與對應結合件接觸,該檢測件與對應結合件組成一開關系統,該開關系統與該電源兩極電性相連,該開關系統的通斷表示對應檢測指標合格與否,該結合件為圓柱體形狀,該檢測件為一電導性的檢測鋼套,該結合件可伸入該檢測鋼套,該檢測指標為位置度/垂直度,該檢測指標不合格條件為該結合件位置度/垂直度的偏移量不小於所要求的公差值,該檢測鋼套有一圓柱體中空部分,該結合件位置度/垂直度合格時,該圓柱體中空部分的中心線與該結合件的中心線處於同一直線上,該圓柱體中空部分的橫截面直徑大於該結合件橫接面直徑,且其直徑的差值為該結合件位置度/垂直度所要求的公差值,若該結合件伸入該檢測鋼套而不會與之接觸,則該開關系統斷開,該結合件位置度/垂直度合格,否則若該結合件與該檢測鋼套接觸,則該開關系統導通,該結合件位置度/垂直度不合格,該處理器根據該開關系統的通斷狀態控制該結果指示裝置指示檢測結果。
一種檢測儀,用以檢測連接於工件的至少一電導體結合件漏件與否,該檢測儀包括一用於支撐該工件的下部測量體、一活動設置於該下部測量體上方的上部測量體、
一電源、一處理器及一結果指示裝置,該下部測量體和上部測量體中至少其一對應該結合件設置一可在彈性元件之彈性約束下滑動的電導性的檢測銷及一行程檢測器,該行程檢測器上包括一行程開關,該檢測銷一端可與該結合件接觸並可在該結合件的抵壓下受迫滑動,另一端與該行程開關連接並可抵壓該行程開關,該檢測銷及行程檢測器與對應結合件組成一開關系統,該開關系統與該電源兩極電性相連,該上部測量體相對移動至頂住該下部測量體所支撐的該工件後,若該結合件無漏件,則該檢測銷在該結合件的抵壓下受迫滑動而按壓該行程開關,則該開關系統導通,否則若該結合件漏件,則該檢測銷在其上彈性元件之彈性約束下不會產生滑動而無法按壓該行程開關,則該開關系統斷開,該處理器根據該開關系統的通斷狀態控制該結果指示裝置指示檢測結果。
一種檢測儀,用以檢測連接於工件的至少一電導體結合件偏高是否小於所要求的公差值,該檢測儀包括一用於支撐該工件的下部測量體、一活動設置於該下部測量體上方的上部測量體、一電源、一處理器及一結果指示裝置,該下部測量體和上部測量體中至少其一對應該結合件設置一可在彈性元件之彈性約束下滑動的電導性的檢測銷及一可在彈性元件之彈性約束下滑動的限位檢測塊,該檢測銷及限位檢測塊與對應結合件組成一開關系統,該開關系統與該電源兩極電性相連,當該結合件偏高量不小於所要求的公差值時,該上部測量體相對移動至
頂住該下部測量體所支撐的該工件後,該檢測銷一端與該結合件接觸並在該結合件的抵壓下被迫滑動,該檢測銷另一端接觸或頂起該限位檢測塊,使該開關系統導通,當該結合件偏高量小於所要求的公差值時,該檢測銷另一端不會接觸該限位檢測塊,該開關系統斷開,該處理器根據該開關系統的通斷狀態控制該結果指示裝置指示檢測結果。
本發明檢測儀,將該結合件與對其做檢測的元件納入一電流回路,並將該結合件與對其做檢測的元件的接觸條件同該結合件的檢測指標相對應,而使該結合件與對其做檢測的元件成為決定該電流回路通斷的開關系統,從而透過判斷該開關系統的通斷來快速得出對該結合件的檢測結果。本發明檢測儀將機械與電子結合,大大提高了檢測的速度和可靠度,適應量化生產的需要。
請參閱圖5和圖6,本發明檢測儀之較佳實施方式包括一電氣控制箱50、一裝設於該電氣控制箱50下方的固定支撐架20、一固定於該電氣控制箱50上的氣缸支撐體60、一裝設於該電氣控制箱50前部的光柵架30、一裝設於該氣缸支撐體60的底板62上的下部測量體10、一固定於該氣缸支撐體60的氣缸裝置68及一固定於該氣缸裝置68下部並懸於該下部測量體10上方的上部測量體80。
該電氣控制箱50前部上表面設有一監視器42、一指示燈44及複數控制按鈕52;該電氣控制箱50內設有一電源及一處理器,在本實施例中該處理器為一微控制器。
該固定支撐架20用以支撐固定該電氣控制箱50,其下部還設有四輪子,以方便移動本較佳實施方式檢測儀。
該氣缸支撐體60包括一空心的“L”形支架64、一固定於該支架64下端的底板62及一位於該支架64頂部的報警器46,該底板62上開設一方孔,該下部測量體10對應裝設于該方孔處。
該電氣控制箱50上的監視器42和指示燈44以及該氣缸支撐體60上的報警器46組成本發明較佳實施方式的結果指示裝置。
該光柵架30包括一用於安裝及固定光柵架30於該電氣控制箱50的架體32和裝設於該架體32兩端的一對光柵34。該對光柵34接入該檢測儀的開關電路,當操作人員的手臂進入該檢測儀的工作區域時,該光柵34之間光路被遮擋,該檢測儀將停止工作,以保護操作人員。
請繼續參閱圖7,該下部測量體10係依照被檢測工件90的輪廓設計,其包括一可導電的底板11、固定於該底板11下表面的複數絕緣固定塊12、對應裝設於該等絕緣固定塊12內的複數檢測鋼套13、在彈簧的彈性約束下滑動地裝設於該底板11的複數檢測銷14,以及固定於該底板11下表面並對應位於該等檢測銷14下方的複數行程檢測器15。該底板11接有引線E,該檢測鋼套13接有引線F。該等引線E、F分別與該電氣控制箱50內的電源電性相連。
該上部測量體80為一方盒體,其包括一不導電的基座81、複數裝設於該基座81下方的壓緊支撐銷5、複數透過彈
簧彈性裝設於該基座81下方的檢測銷9、複數固定裝設於該基座81下方的檢測鋼套4、複數固定裝設於該基座81上方的固定鋼套18、複數貫穿裝設於該基座81並對應伸入該等檢測鋼套4和在彈簧的彈性約束下滑動地套接於該等固定鋼套18內的檢測銷2,以及複數在彈簧的彈性約束下滑動地裝設於該基座81並位於該等檢測銷2上方的限位檢測塊1。該上部測量體80的檢測鋼套4分別設有一圓柱體中空部分。安裝於該基座81上的各部件均係導電體,每一檢測銷2接有引線A,每一限位檢測塊1接有引線B,每一檢測鋼套4接有引線C,每一檢測銷9接有引線D。該等引線A、B、C、D分別與該電氣控制箱50內電源相連。
下面,以一第一鉚柱6、一第三鉚柱8和該第四鉚柱7的檢測情況為例,描述本發明檢測儀之較佳實施方式的工作原理。
請參閱圖9,並比對圖7。圖7顯示該第一鉚柱6、該第四鉚柱7和該第三鉚柱8各檢測指標均合格且剛好無偏差的情形,圖9顯示圖7中該第四鉚柱7和第三鉚柱8漏件的情形。將該工件90對應放置於該下部測量體10上,該上部測量體80在該氣缸支撐體60的氣缸裝置68的帶動下向下移動,該上部測量體80移動至其上之壓緊支撐銷5剛好壓緊該工件90為止。則當該第四鉚柱7無漏件時,該檢測銷9隨該上部測量體80向下移動過程中,該檢測銷9遇到該第四鉚柱7底面的阻擋,該檢測銷9將相對於該上部測量體80上升,該檢測銷9上的彈簧被壓縮,導致該檢測銷9頂住該第四鉚柱7,於是該檢測銷9與該第四鉚柱7組成的
開關系統導通,回路電流將從電源依次流過該引線D、該檢測銷9、該第四鉚柱7、該工件90、該下部測量體10和該引線E,最後回到電源,回路導通,該處理器偵測到該回路導通訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示;若該第四鉚柱7漏件時,則該檢測銷9在向下移動過程中將不受阻擋而部分穿過該第四鉚柱7對應於該工件90上的鉚孔,該檢測銷9與該第四鉚柱7組成的開關系統由於該第四鉚柱7的漏件而無法導通,該引線D、該檢測銷9、該第四鉚柱7、該工件90、該下部測量體10和該引線E所在的回路將無電流流過,回路斷路,該處理器偵測到該回路斷路訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示。當該第三鉚柱8無漏件時,該第三鉚柱8將抵壓該檢測銷14而使其上彈簧被壓縮,該檢測銷14向下移動而使該行程檢測器15上的行程開關閉合,該檢測銷14、該行程檢測器15和該第三鉚柱8組成的開關系統導通,該行程檢測器15導通,該處理器偵測到該行程檢測器15的導通訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示;當該第三鉚柱8漏件時,該檢測銷14不被抵壓,該檢測銷14在其上彈簧的約束下不會產生移動而無法使該行程檢測器15上的行程開關閉合,該檢測銷14、該行程檢測器15和該第三鉚柱8組成的開關系統由於該第三鉚柱8的漏件而不導通,該行程檢測器15係斷開的,該處理器偵測到該行程檢測器15的斷開訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示。同理,對該工件90上其他結合件如第一鉚柱6、第二鉚柱16、方形擋片18及條形擋片19等的漏件的判斷,也可以利用該第四鉚柱7或第三鉚柱8的漏件判斷方式來進行。
請參閱圖10,並比對圖7。圖10顯示該第一鉚柱6和第四鉚柱7位置度/垂直度超差的情形。該第一鉚柱6或第四鉚柱7位置度/垂直度檢測指標的判斷標準為該第一鉚柱6或第四鉚柱7位置度/垂直度的偏移量是否超出公差值範圍,即該第一鉚柱6或第四鉚柱7位置度/垂直度的偏移量小於公差值時為合格,否則為超差。設定該第一鉚柱6位置度/垂直度合格時,該上部測量體80的檢測鋼套4的圓柱體中空部分的中心線與該第一鉚柱6的中心線處於同一直線上,假設該第一鉚柱6的橫截面直徑為d6,設定該第一鉚柱6的位置度/垂直度公差值為Φ6,則該檢測鋼套4的中空部分的橫截面直徑為D6,D6=d6+Φ6。若該第一鉚柱6位置度/垂直度合格,則當該上部測量體80的壓緊支撐銷5壓緊該工件90時,該第一鉚柱6伸入該檢測鋼套4而不會與之接觸,即該檢測鋼套4與該第一鉚柱6組成的開關系統不導通,該引線C、該檢測鋼套4、該第一鉚柱6、該工件90、該下部測量體10和該引線E以及電源所組成的回路將無電流流過,回路斷路,該處理器偵測到該回路斷路訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示;當該第一鉚柱6的位置度/垂直度超差時,該檢測鋼套4將與該第一鉚柱6接觸,即該檢測鋼套4與該第一鉚柱6組成的開關系統導通,回路電流將從電源依次流過該引線C、該檢測鋼套4、該第一鉚柱6、該工件90、該下部測量體10和該引線E,最後回到電源,回路導通,該處理器偵測到該回路導通訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示。設定該第四鉚柱7位置度/垂直度合格時,該檢測鋼套13的中空部分的圓柱體中心線與該第四鉚柱7的中心線處於
同一直線上,假設該第四鉚柱7的橫截面直徑為d7,設定該第四鉚柱7的位置度/垂直度公差值為Φ7,則該檢測鋼套13中空部分的橫截面直徑為D7,D7=d7+Φ7。若該第四鉚柱7位置度/垂直度合格,則當該上部測量體80的壓緊支撐銷5壓緊該工件90時,該檢測鋼套13不會與該第四鉚柱7接觸,即該檢測鋼套13與該第四鉚柱7組成的開關系統不導通,該引線D、該檢測銷9、該第四鉚柱7、該檢測鋼套13和該引線F以及電源所組成的回路將無電流流過,回路斷路,該處理器偵測到該回路導通訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示;若該第四鉚柱7的位置度/垂直度超差,則該檢測鋼套13將與該第四鉚柱7接觸,即該檢測鋼套13與該第四鉚柱7組成的開關系統導通,回路電流從電源依次流過該引線D、該檢測銷9、該第四鉚柱7、該檢測鋼套13和該引線F,最後回到電源,回路導通,該處理器偵測到該回路導通訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示。
請參閱圖11,並比對圖7。圖11顯示該第一鉚柱6高度偏高的情形。該第一鉚柱6高度檢測指標的判斷標準為該第一鉚柱6的高度偏差量是否超出公差值範圍,即該第一鉚柱6高度偏差量小於公差值時為合格,該第一鉚柱6高度偏高量不小於公差值時為偏高。假設該第一鉚柱6高度的公差值為δ。若該第一鉚柱6高度合格,則當該上部測量體80的壓緊支撐銷5壓緊該工件90時,該上部測量體80的檢測銷2被該第一鉚柱6頂起,被頂起的距離小於2 δ,特別地,當該第一鉚柱6的高度毫無偏差時,該檢測銷2的
接觸片17(如圖8所示)到該限位檢測塊1和該固定鋼套18的距離均為δ,該檢測銷2與該第一鉚柱6組成的開關系統導通,電流將從電源依次流過該引線A、該檢測銷2、該第一鉚柱6、該工件90、該下部測量體10和該引線E,最後回到電源,而由於該該檢測銷2沒有觸及該限位檢測塊1,該檢測銷2與該限位檢測塊1組成的開關系統斷開,則對於另一回路中依次連接的該引線B、該限位檢測塊1、該檢測銷2、該第一鉚柱6、該工件90、該下部測量體10和該引線E,其無電流流過,此時該處理器偵測到上述兩回路的通斷訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示;若該第一鉚柱6高度偏高,則該上部測量體80的檢測銷2被該第一鉚柱6頂起,被頂起的距離不小於2 δ,該檢測銷2與該第一鉚柱6組成的開關系統導通,電流將從電源依次流過該引線A、該檢測銷2、該第一鉚柱6、該工件90、該下部測量體10和該引線E,最後回到電源,同時,由於該檢測銷2觸及或頂起該限位檢測塊1,該檢測銷2與該限位檢測塊1組成的開關系統導通,則對於另一回路,電流也將將從電源依次流過該引線B、該限位檢測塊1、該檢測銷2、該第一鉚柱6、該工件90、該下部測量體10和該引線E最後回到電源,此時該處理器偵測到上述兩回路的導通訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示。另外,利用此方式也可判斷是否將較短的該第二鉚柱16錯鉚為較長的該第一鉚柱6的錯件情形。
請參閱圖12,並比對圖7。圖12顯示該第一鉚柱6高度偏低的情形。該第一鉚柱6高度檢測指標的判斷標準為該第
一鉚柱6的高度偏差量是否超出公差值範圍,即該第一鉚柱6高度偏差量不大於公差值時為合格,該第一鉚柱6高度偏低量大於公差值時為偏低。若該第一鉚柱6高度合格,則當該上部測量體80的壓緊支撐銷5壓緊該工件90時,該上部測量體80的檢測銷2被該第一鉚柱6頂起,被頂起的距離小於2 δ,該檢測銷2與該第一鉚柱6組成的開關系統導通,電流將從電源依次流過該引線A、該檢測銷2、該第一鉚柱6、該工件90、該下部測量體10和該引線E最後回到電源,回路導通,該處理器偵測到該回路導通訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示;若該第一鉚柱6高度偏低,則該第一鉚柱6無法觸及該上部測量體80的檢測銷2,該檢測銷2與該第一鉚柱6組成的開關系統斷開,回路中將無電流流過該引線A、該檢測銷2、該第一鉚柱6、該工件90、該下部測量體10和該引線E,回路斷路,該處理器偵測到該回路斷路訊號,並控制該結果指示裝置做出相應指示。另外,利用此方式也可判斷是否將較長的該第一鉚柱6錯鉚為較短的該第二鉚柱16的錯件情形。
上述各電路的通斷狀態均由該微控制器採集、判斷及處理。由於上述各電路的通斷狀態,只取決於各電路中該各結合件及與其作連接的檢測件所組成的開關系統的通斷狀態,因此,實際上該微控制器係對該各開關系統的通斷狀態做出採集、判斷及處理。該微控制器將處理結果傳送給該監視器42、指示燈44以及報警器46組成的結果指示裝置。當微控制器採集、判斷及處理後得出該各
結合件的檢測指標均合格時,該指示燈44亮且該監視器42上顯示“OK”;當微控制器得出該各結合件的檢測指標存在不合格情形時,該報警器46報警且該監視器42上顯示不合格的指標及不合格結合件在該工件90上的對應點位。當然,組成該結果指示裝置的監視器42、指示燈44以及報警器46也可以單獨使用或者兩兩組合使用。
另外,根據檢測精度要求等的不同需要,本實施例中的彈簧還可以用其他彈性元件如彈性橡膠、彈性樹脂、油氣和液壓機構等進行替代。
綜上所述,本發明符合發明專利要件,爰依法提出專利申請。惟,以上該者僅為本發明之較佳實施方式,舉凡熟悉本案技藝之人士,在爰依本發明精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
1‧‧‧限位檢測塊
4‧‧‧檢測鋼套
6‧‧‧第一鉚柱
8‧‧‧第三鉚柱
10‧‧‧下部測量體
12‧‧‧絕緣固定塊
14‧‧‧檢測銷
16‧‧‧第二鉚柱
18‧‧‧固定鋼套
20‧‧‧固定支撐架
32‧‧‧架體
42‧‧‧監視器
46‧‧‧報警器
52‧‧‧控制按鈕
62‧‧‧底板
68‧‧‧氣缸裝置
81‧‧‧基座
A、B、C、D、E、F‧‧‧引線
2‧‧‧檢測銷
5‧‧‧壓緊支撐銷
7‧‧‧第四鉚柱
9‧‧‧檢測銷
11‧‧‧底板
13‧‧‧檢測鋼套
15‧‧‧行程檢測器
17‧‧‧接觸片
19‧‧‧條形擋片
30‧‧‧光柵架
34‧‧‧光柵
44‧‧‧指示燈
50‧‧‧電氣控制箱
60‧‧‧氣缸支撐體
64‧‧‧支架
80‧‧‧上部測量體
90‧‧‧工件
圖1係工件及被檢測結合件之立體分解圖。
圖2係習知檢測結合件高度的檢具及被檢測工件之立體示意圖。
圖3係圖2之一側視圖。
圖4係習知檢測結合件位置度/垂直度的檢具及被檢測工件之另一視角的立體圖。
圖5係本發明檢測儀較佳實施方式之立體圖。
圖6係圖5之分解圖。
圖7係本發明檢測儀較佳實施方式中被檢測結合件合格時
之檢測原理圖。
圖8係圖7中I部分之局部放大圖。
圖9係本發明檢測儀較佳實施方式中被檢測結合件漏件時之檢測原理圖。
圖10係本發明檢測儀較佳實施方式中被檢測結合件位置度/垂直度超差時之檢測原理圖。
圖11係本發明檢測儀較佳實施方式中被檢測結合件高度偏高時之檢測原理圖。
圖12係本發明檢測儀較佳實施方式中被檢測結合件高度偏低時之檢測原理圖。
10‧‧‧下部測量體
30‧‧‧光柵架
34‧‧‧光柵
44‧‧‧指示燈
50‧‧‧電氣控制箱
60‧‧‧氣缸支撐體
68‧‧‧氣缸裝置
20‧‧‧固定支撐架
32‧‧‧架體
42‧‧‧監視器
46‧‧‧報警器
52‧‧‧控制按鈕
62‧‧‧底板
80‧‧‧上部測量體
Claims (16)
- 一種檢測儀,用以檢測連接於工件的至少一電導體結合件的至少一項檢測指標,該檢測儀包括一用於支撐該工件的下部測量體、一活動設置於該下部測量體上方的上部測量體、一電源、一處理器及一結果指示裝置,該下部測量體和上部測量體中至少其一對應該結合件的檢測指標設置至少一檢測件,該上部測量體相對移動至頂住該下部測量體所支撐的該工件後,該檢測件可與對應結合件接觸,該檢測件與對應結合件組成一開關系統,該開關系統與該電源兩極電性相連,該開關系統的通斷表示對應檢測指標合格與否,該結合件為圓柱體形狀,該檢測件為一電導性的檢測鋼套,該結合件可伸入該檢測鋼套,該檢測指標為位置度/垂直度,該檢測指標不合格條件為該結合件位置度/垂直度的偏移量不小於所要求的公差值,該檢測鋼套有一圓柱體中空部分,該結合件位置度/垂直度合格時,該圓柱體中空部分的中心線與該結合件的中心線處於同一直線上,該圓柱體中空部分的橫截面直徑大於該結合件橫接面直徑,且其直徑的差值為該結合件位置度/垂直度所要求的公差值,若該結合件伸入該檢測鋼套而不會與之接觸,則該開關系統斷開,該結合件位置度/垂直度合格,否則若該結合件與該檢測鋼套接觸,則該開關系統導通,該結合件位置度/垂直度不合格,該處理器根據該開關系統的通斷狀態控制該結果指示裝置指示檢測結果。
- 如申請專利範圍1所述之檢測儀,其中該檢測件為一可在彈性元件之彈性約束下滑動的電導性的檢測銷,該檢測指 標為該結合件是否漏件,若該結合件無漏件,則該檢測銷頂端接觸並在彈性元件之彈性約束下頂住該結合件,該開關系統導通,否則若該結合件漏件,則該檢測銷頂端無所接觸,該開關系統斷開。
- 如申請專利範圍1所述之檢測儀,其中該檢測件為一可在彈性元件之彈性約束下滑動的電導性的檢測銷,該檢測指標為該結合件是否偏低,該檢測指標不合格條件為該結合件的偏低量大於所要求的公差值,若該檢測銷與該結合件接觸或在該結合件的抵壓下被迫滑動,則該開關系統導通,該結合件不偏低,若該檢測銷一端不與該結合件接觸,則該開關系統斷開,該結合件偏低。
- 如申請專利範圍1至3中任意一項所述之檢測儀,其中該下部測量體為一電導體,該下部測量體、該開關系統和該電源串聯成一電流回路。
- 如申請專利範圍4所述之檢測儀,其中該處理器為一微控制器。
- 如申請專利範圍5所述之檢測儀,其中該上部測量體下方設有複數用於壓緊該工件的壓緊支撐銷。
- 如申請專利範圍6所述之檢測儀,其中該上部測量體由一氣缸裝置帶動其運動。
- 如申請專利範圍7所述之檢測儀,其中該氣缸裝置固定於一個氣缸支撐體,該氣缸支撐體包括一倒“L”形支架及一定於該支架下端的底板,該氣缸裝置固定於該支架另一自由端,該下部測量體裝設於該氣缸支撐體的底板上。
- 如申請專利範圍8所述之檢測儀,其中該氣缸支撐體的底板下方設有一電氣控制箱,該電氣控制箱上設有複數控制 按鈕,該處理器及該電源置於該電氣控制箱內。
- 如申請專利範圍9所述之檢測儀,其中該結果指示裝置為一監視器、一指示燈、一報警器或三者之任意組合。
- 如申請專利範圍10所述之檢測儀,還包括一裝設於該電氣控制箱前部的光柵架,該光柵架包括一用於安裝及固定光柵架於該電氣控制箱的架體和裝設於該架體兩端的一對光柵,該對光柵接入該檢測儀的開關電路,該對光柵之間光路被遮擋時,該檢測儀將停止工作。
- 如申請專利範圍11所述之檢測儀,還包括一用於支撐該檢測儀的固定支撐架,該固定支撐架裝設於該電氣控制箱下方。
- 一種檢測儀,用以檢測連接於工件的至少一個電導體結合件漏件與否,該檢測儀包括一用於支撐該工件的下部測量體、一活動設置於該下部測量體上方的上部測量體、一電源、一處理器及一結果指示裝置,該下部測量體和上部測量體中至少其一對應該結合件設置一可在彈性元件之彈性約束下滑動的電導性的檢測銷及一行程檢測器,該行程檢測器上包括一行程開關,該檢測銷一端可與該結合件接觸並可在該結合件的抵壓下受迫滑動,另一端與該行程開關連接並可抵壓該行程開關,該檢測銷及行程檢測器與對應結合件組成一開關系統,該開關系統與該電源兩極電性相連,該上部測量體相對移動至頂住該下部測量體所支撐的該工件後,若該結合件無漏件,則該檢測銷在該結合件的抵壓下受迫滑動而按壓該行程開關,則該開關系統導通,否則若該結合件漏件,則該檢測銷在其上彈性元件之彈性約束下不會產生滑動而無法按壓該行程開關,則該開關系 統斷開,該處理器根據該開關系統的通斷狀態控制該結果指示裝置指示檢測結果。
- 如申請專利範圍13所述之檢測儀,其中該上部測量體下方設有複數用於壓緊該工件的壓緊支撐銷。
- 一種檢測儀,用以檢測連接於工件的至少一個電導體結合件偏高是否小於所要求的公差值,該檢測儀包括一用於支撐該工件的下部測量體、一活動設置於該下部測量體上方的上部測量體、一電源、一處理器及一結果指示裝置,該下部測量體和上部測量體中至少其一對應該結合件設置一可在彈性元件之彈性約束下滑動的電導性的檢測銷及一可在彈性元件之彈性約束下滑動的限位檢測塊,該檢測銷及限位檢測塊與對應結合件組成一開關系統,該開關系統與該電源兩極電性相連,當該結合件偏高量不小於所要求的公差值時,該上部測量體相對移動至頂住該下部測量體所支撐的該工件後,該檢測銷一端與該結合件接觸並在該結合件的抵壓下被迫滑動,該檢測銷另一端接觸或頂起該限位檢測塊,使該開關系統導通,當該結合件偏高量小於所要求的公差值時,該檢測銷另一端不會接觸該限位檢測塊,該開關系統斷開,該處理器根據該開關系統的通斷狀態控制該結果指示裝置指示檢測結果。
- 如申請專利範圍15所述之檢測儀,其中該上部測量體下方設有複數用於壓緊該工件的壓緊支撐銷。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW95148495A TWI382172B (zh) | 2006-12-22 | 2006-12-22 | 檢測儀 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW95148495A TWI382172B (zh) | 2006-12-22 | 2006-12-22 | 檢測儀 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200827694A TW200827694A (en) | 2008-07-01 |
TWI382172B true TWI382172B (zh) | 2013-01-11 |
Family
ID=44817372
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW95148495A TWI382172B (zh) | 2006-12-22 | 2006-12-22 | 檢測儀 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI382172B (zh) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4412385A (en) * | 1981-01-27 | 1983-11-01 | Finike Italiana Marposs S.P.A. | Gauge for checking features - like linear dimensions - of a mechanical piece |
JPS61187087A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 突起物の検出装置 |
JPH0317566A (ja) * | 1989-06-15 | 1991-01-25 | Toshiba Corp | プリント基板の検査装置 |
US6798228B2 (en) * | 2003-01-10 | 2004-09-28 | Qualitau, Inc. | Test socket for packaged semiconductor devices |
CN1591032A (zh) * | 2003-09-04 | 2005-03-09 | 系新科技股份有限公司 | 印刷电路板的电容器测试方法及装置 |
-
2006
- 2006-12-22 TW TW95148495A patent/TWI382172B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4412385A (en) * | 1981-01-27 | 1983-11-01 | Finike Italiana Marposs S.P.A. | Gauge for checking features - like linear dimensions - of a mechanical piece |
JPS61187087A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 突起物の検出装置 |
JPH0317566A (ja) * | 1989-06-15 | 1991-01-25 | Toshiba Corp | プリント基板の検査装置 |
US6798228B2 (en) * | 2003-01-10 | 2004-09-28 | Qualitau, Inc. | Test socket for packaged semiconductor devices |
CN1591032A (zh) * | 2003-09-04 | 2005-03-09 | 系新科技股份有限公司 | 印刷电路板的电容器测试方法及装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200827694A (en) | 2008-07-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7795880B2 (en) | Detecting apparatus | |
JP2013238554A (ja) | 検査装置 | |
CN111765836B (zh) | 一种弧度检测装置 | |
TWI382172B (zh) | 檢測儀 | |
CN219810424U (zh) | 电路板引脚长度检测装置 | |
KR100897982B1 (ko) | 프로브카드 니들과 패드간의 미스 얼라인 방지 패턴 및 그방법 | |
KR101671791B1 (ko) | 레귤레이터용 단자높이 검사장치 | |
KR101744483B1 (ko) | 전자제품 테스트용 지그 | |
CN211741340U (zh) | 一种带有自检装置的电路板检测工装 | |
KR20130037305A (ko) | 차량용 오토레버의 조립 및 검사 장치 | |
CN103063334B (zh) | 继电器触点压力测量装置 | |
CN219244530U (zh) | 用于螺母焊接的座点自动监控装置 | |
CN101487685B (zh) | 快捷综合判别检具 | |
CN101929875A (zh) | 检测仪 | |
CN217032335U (zh) | 一种试块平整度检测装置 | |
CN205246779U (zh) | 一种屏幕通电检测设备 | |
CN109556550B (zh) | 复检装置及复检设备 | |
CN210862493U (zh) | 一种斜面孔深度及孔径检测装置 | |
CN109346343B (zh) | 一种用于自动检测固定孔孔径和位置的开关装置 | |
CN208172144U (zh) | 一种针座插反测试装置及其ict测试仪 | |
CN203881501U (zh) | 圆柱螺旋弹簧压力智能测试装置 | |
KR101823001B1 (ko) | 와이어 하네스용 자동 검사 시험 장치 및 이를 포함하는 와이어 하네스용 자동 검사 시험 시스템 | |
US20240329079A1 (en) | Test fixture and early warning system | |
TWI857635B (zh) | 測試治具及預警系統 | |
CN108614185A (zh) | 一种针座插反测试装置和ict测试仪以及其使用方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |