JPH03171401A - 磁気ヘツド位置測定装置 - Google Patents
磁気ヘツド位置測定装置Info
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- JPH03171401A JPH03171401A JP1311696A JP31169689A JPH03171401A JP H03171401 A JPH03171401 A JP H03171401A JP 1311696 A JP1311696 A JP 1311696A JP 31169689 A JP31169689 A JP 31169689A JP H03171401 A JPH03171401 A JP H03171401A
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- rotating drum
- reflected
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 57
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/40—Protective measures on heads, e.g. against excessive temperature
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
以下の順序で本発明を説明する。
Ａ産業上の利用分切
Ｂ発明の概要
：従来の技１・；子（第９図）
Ｄ発明が％’ｉ 庚’：−＋ ｊ一うとする問題点Ｅ問
題点を解決するための手段（第ｌ 〜第７図） Ｆ作用（第１図、第４図〜第７図） Ｇ丈施例 （Ｇ１）第１実施例（第１図〜第３図）（Ｇ２）第２実
施例（第４図及び第５図）（Ｇ３）第３実施例（第６図
及び第７図）（Ｇ４）第４実施例（第８図） （Ｇ５）他の実施例 Ｈ発明の効果 図、 第４図 Ａ産業上の利用分野 本発明は磁気一＼ツド拉置測定装置に関し、例えば高品
位の映像を記録再生するビデオテープレコーダに適用し
て好適なものである。
題点を解決するための手段（第ｌ 〜第７図） Ｆ作用（第１図、第４図〜第７図） Ｇ丈施例 （Ｇ１）第１実施例（第１図〜第３図）（Ｇ２）第２実
施例（第４図及び第５図）（Ｇ３）第３実施例（第６図
及び第７図）（Ｇ４）第４実施例（第８図） （Ｇ５）他の実施例 Ｈ発明の効果 図、 第４図 Ａ産業上の利用分野 本発明は磁気一＼ツド拉置測定装置に関し、例えば高品
位の映像を記録再生するビデオテープレコーダに適用し
て好適なものである。
Ｂ発明の概要
本発明は、磁気ヘット位置測定装置において、光源手段
から射出された照射光を第１のミラーによって折り返し
て回転ドラム又は磁気ヘッドの摺接面に照射し、回転ド
ラム又は磁気ヘッドでの反射光を第２のξラーによって
折り返し受光手段を介して検出することにより、小型か
つ高精度の磁気ヘッド位置測定装置を得ることができる
と共Ｃこ、回転ドラム及び磁気ヘッド摺接面の反射光に
対応する検出手段からの信号レベルを抽出し比較するこ
とにより、磁気ヘッド摺接面の回転ドラムからの突出量
を測定し得る。
から射出された照射光を第１のミラーによって折り返し
て回転ドラム又は磁気ヘッドの摺接面に照射し、回転ド
ラム又は磁気ヘッドでの反射光を第２のξラーによって
折り返し受光手段を介して検出することにより、小型か
つ高精度の磁気ヘッド位置測定装置を得ることができる
と共Ｃこ、回転ドラム及び磁気ヘッド摺接面の反射光に
対応する検出手段からの信号レベルを抽出し比較するこ
とにより、磁気ヘッド摺接面の回転ドラムからの突出量
を測定し得る。
Ｃ従来の技術
従来、高品位用ビデオテーブレコーダにおいては、磁気
テープが摺接するごとＣこより生する磁気ヘッドの摩耗
を、ビデオテープレコーダを定期的に点検することによ
り修正するようになされている。
テープが摺接するごとＣこより生する磁気ヘッドの摩耗
を、ビデオテープレコーダを定期的に点検することによ
り修正するようになされている。
因乙こ磁気一・ツドが摩耗すると、これ乙こ応して侑５
気ヘッドの電磁変換特性が変化するので、これを補償す
るように記録電流の大きさや、再生イコライザ回路の特
性などを調整し直し、やがて磁気ヘッドの摩耗が極限ま
で進行して記録再生が困難な状態に近づいたことを確認
し得たとき、磁気ヘッドを回転ドラムごと交換する。
るように記録電流の大きさや、再生イコライザ回路の特
性などを調整し直し、やがて磁気ヘッドの摩耗が極限ま
で進行して記録再生が困難な状態に近づいたことを確認
し得たとき、磁気ヘッドを回転ドラムごと交換する。
しかしこの方法によると、実際上調整をし直す必要がな
い場合にも、点検時期が来ればビデオテープレコーダの
使用を停止して点検するような無駄がある。
い場合にも、点検時期が来ればビデオテープレコーダの
使用を停止して点検するような無駄がある。
この問題を解決する■つの方法として、磁気ヘンドの摩
耗量を光学的手法を用いて常時測定し、測定結果に基づ
いて記録再生系を時々刻々に調整するような自己診断機
能を有する磁気記録再生装置が提案されている（特願平
１−６４１６５号）。
耗量を光学的手法を用いて常時測定し、測定結果に基づ
いて記録再生系を時々刻々に調整するような自己診断機
能を有する磁気記録再生装置が提案されている（特願平
１−６４１６５号）。
この場合磁気ヘッド位置測定装Ｗ１は、第９図に示すよ
うに、発光素子２から回転ドラム３１の磁気へッド４に
照射光ＬＡＩを集光レンズＬＥＮ１を通して所定角度で
照射し、集光レンズＬＥＮ２を通して得られる反射光Ｌ
Ａ２の位置検出素子６ ６への入射位置に対応する位置検出信号Ｓｌを得、この
位置検出信号Ｓ Ｉ ＆；二基づいて摩耗量検出回路７
乙こ８いて磁気ヘッド４の回転ドラム３−ヒの突出位置
、従って摩耗量を判断するようになされていろ。
うに、発光素子２から回転ドラム３１の磁気へッド４に
照射光ＬＡＩを集光レンズＬＥＮ１を通して所定角度で
照射し、集光レンズＬＥＮ２を通して得られる反射光Ｌ
Ａ２の位置検出素子６ ６への入射位置に対応する位置検出信号Ｓｌを得、この
位置検出信号Ｓ Ｉ ＆；二基づいて摩耗量検出回路７
乙こ８いて磁気ヘッド４の回転ドラム３−ヒの突出位置
、従って摩耗量を判断するようになされていろ。
ここで照則側集光レンズＬＥＮＩは発光素子２及び磁気
ヘッド４間の距離をＬ，：ｌ−，，に内分する点に配設
され、これにより照射光ＬＡＩを侑気・＼ツド４上の点
Ｍ，ｆ．；二集光するようになされている。
ヘッド４間の距離をＬ，：ｌ−，，に内分する点に配設
され、これにより照射光ＬＡＩを侑気・＼ツド４上の点
Ｍ，ｆ．；二集光するようになされている。
また反射光用集光レンズＬ ＥＮ ２は磁気ヘッド４及
ひ位置検出素子６間の距離を同様にしてＬ：Ｌ２に内分
する点に配設され、これにより磁気へ冫ド４上の点Ｍ１
の像を位置検出素子６上の点Ｎ １ に結像させるよう
になされている。
ひ位置検出素子６間の距離を同様にしてＬ：Ｌ２に内分
する点に配設され、これにより磁気へ冫ド４上の点Ｍ１
の像を位置検出素子６上の点Ｎ １ に結像させるよう
になされている。
かかる構或ムこおいて磁気ヘッド４が摩耗により破線に
示す位置に後退すると、照射光ＬＡＩの入射位置は点Ｍ
１から照射光ＬＡ２の延長線上の点Ｍ，に移動し、この
点Ｍ２における反射光Ｌ Ａ ２の入射位置は集光レン
ズＬ ＥＮ ２の中心点○を通つて点Ｎｚ６こ移動する
。
示す位置に後退すると、照射光ＬＡＩの入射位置は点Ｍ
１から照射光ＬＡ２の延長線上の点Ｍ，に移動し、この
点Ｍ２における反射光Ｌ Ａ ２の入射位置は集光レン
ズＬ ＥＮ ２の中心点○を通つて点Ｎｚ６こ移動する
。
このようにして磁気ヘッド４の摩耗により生ずる反射光
ＬＡ２の入射位置の変化量Ｐ２ （＝Ｎ〜Ｎ２）は、る
Ｒ気ヘツ＋”／Ｉの摩耗量Ｐ． （＝Ｍ〜Ｍ２）及び
光路差により生しる三角形△ＯＭ．Ｍ２と△ＯＮ，Ｎ２
が相似である条件を用いて、Ｌ Ｐ２ ＝ −Ｘ Ｐ ． ・・・・
・・ （１）Ｌ・２ として検出される。
ＬＡ２の入射位置の変化量Ｐ２ （＝Ｎ〜Ｎ２）は、る
Ｒ気ヘツ＋”／Ｉの摩耗量Ｐ． （＝Ｍ〜Ｍ２）及び
光路差により生しる三角形△ＯＭ．Ｍ２と△ＯＮ，Ｎ２
が相似である条件を用いて、Ｌ Ｐ２ ＝ −Ｘ Ｐ ． ・・・・
・・ （１）Ｌ・２ として検出される。
Ｄ発明が解決しようとする問題点
ところが従来の磁気ヘッド位置測定装置ｌにおいては磁
気ヘッド４の摩耗量Ｐ，の変化量は最大でも０．０５〔
＋＋ｕｎ）程度の小さい値であるため、摩耗量Ｐ，の検
出精度を上げるためＧこは（１ノ式における比率Ｌ Ｉ
／ ｘ− の値、従って距離Ｌ，を大きくとる必要
があり（このことは集光レンズＬＥＮ２と位置検出素子
６間を太きへする必要があることを意味する）、このた
め装置が大型になるという問題があった。
気ヘッド４の摩耗量Ｐ，の変化量は最大でも０．０５〔
＋＋ｕｎ）程度の小さい値であるため、摩耗量Ｐ，の検
出精度を上げるためＧこは（１ノ式における比率Ｌ Ｉ
／ ｘ− の値、従って距離Ｌ，を大きくとる必要
があり（このことは集光レンズＬＥＮ２と位置検出素子
６間を太きへする必要があることを意味する）、このた
め装置が大型になるという問題があった。
また従来の位置測定装Ｗ１においてはレンズ系によって
磁気ヘッド４の摩耗量Ｐ，を数倍（実際上２倍程度）ま
でしか拡大できなかったため、より精度の高い検出がで
きなかった。
磁気ヘッド４の摩耗量Ｐ，を数倍（実際上２倍程度）ま
でしか拡大できなかったため、より精度の高い検出がで
きなかった。
さらに従来の場合は、摩耗量Ｐ，を測定する際の基準値
となる磁気ヘッド突出位置基準値を回転ドラム３又は磁
気ヘッド４を取り付けの際に例えば摩耗量検出回路７に
設けたメモリに格納保持するよう６こすると共に、当該
メモリの記憶を消滅させないようにする工夫が必要であ
った。
となる磁気ヘッド突出位置基準値を回転ドラム３又は磁
気ヘッド４を取り付けの際に例えば摩耗量検出回路７に
設けたメモリに格納保持するよう６こすると共に、当該
メモリの記憶を消滅させないようにする工夫が必要であ
った。
本発明は以上の点を老慮してなされたもので、全体とし
ての構或が小型かつ精度の高い磁気ヘッド位置測定装置
を提案しようとするものである。
ての構或が小型かつ精度の高い磁気ヘッド位置測定装置
を提案しようとするものである。
Ｅ問題点を解決するための手段
かかる問題点を解決するため第１の発明においては、光
源手段１３から射出した照射光を回転ドラム３及び回転
ドラム３上に配設された磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂに照射
する照射光学系（１４、１９ ５）と、磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面ζこおいて反
射された反射光を検出手段１８に導くことにより磁気ヘ
ッド４Ａ及び４Ｂの摺接面の位置を検出する反射光学系
（】６、１７）とを有する磁気ヘッド位置測定装置】０
において、照射光学系（１４、１５）は光源手段ｌ３か
ら射出された照則光を第１の反射光学系１４によって反
射させることにより折り返した後第Ｉの集光レンズ１５
を通って当該光源像を所定位置の照射点Ｍ Ｈ Ｉに結
像させ、反射光学系（１６、１７）は光源像が磁気ヘッ
ド４Ａ及び４Ｂの摺接面によって反射されて得られる反
射光を第２の集光レンス１６を通した後、第２の反射光
学系１７によって反射させること６こより折り返して反
射像を受光手段１８上に結像させるようにする。
源手段１３から射出した照射光を回転ドラム３及び回転
ドラム３上に配設された磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂに照射
する照射光学系（１４、１９ ５）と、磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面ζこおいて反
射された反射光を検出手段１８に導くことにより磁気ヘ
ッド４Ａ及び４Ｂの摺接面の位置を検出する反射光学系
（】６、１７）とを有する磁気ヘッド位置測定装置】０
において、照射光学系（１４、１５）は光源手段ｌ３か
ら射出された照則光を第１の反射光学系１４によって反
射させることにより折り返した後第Ｉの集光レンズ１５
を通って当該光源像を所定位置の照射点Ｍ Ｈ Ｉに結
像させ、反射光学系（１６、１７）は光源像が磁気ヘッ
ド４Ａ及び４Ｂの摺接面によって反射されて得られる反
射光を第２の集光レンス１６を通した後、第２の反射光
学系１７によって反射させること６こより折り返して反
射像を受光手段１８上に結像させるようにする。
また第２の発明においては、光源手段】３から射出した
照射光を回転ドラム３及び回転ドラム３上に配設された
磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂに照射する照射光学系（】４、
１５）と、磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面において反
射された反射光を検］． ０ 出手段１８に導くことにより磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの
摺接面の位置を検出する反射光学系（１６、１７）とを
有する磁気ヘッド位置測定装置ＩＯにおいて、検出手段
１８から得られるヘッド位置検出信号Ｓ。ＵＴのうち、
回転ドラム３の反射光に幻応する信号部分Ｓ。ＬＩＴ＋
の第１の信号レベルＩ７１１を抽出すると共に、磁気ヘ
ッド４Ａ及び４Ｂの摺接面に対応する信号部分Ｓ。，，
７ｏの第２の信号レベルＬ １０を抽出し、第１及び第
２の信号レベルＬ ＋＋及びｌ．−１０の偏差Ｌ ｌ
ｌ ＋− １ ０に基づいて摺接面の回転ドラム３か
らの突出量を測定する測定手段２１を設けるようにする
。
照射光を回転ドラム３及び回転ドラム３上に配設された
磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂに照射する照射光学系（】４、
１５）と、磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面において反
射された反射光を検］． ０ 出手段１８に導くことにより磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの
摺接面の位置を検出する反射光学系（１６、１７）とを
有する磁気ヘッド位置測定装置ＩＯにおいて、検出手段
１８から得られるヘッド位置検出信号Ｓ。ＵＴのうち、
回転ドラム３の反射光に幻応する信号部分Ｓ。ＬＩＴ＋
の第１の信号レベルＩ７１１を抽出すると共に、磁気ヘ
ッド４Ａ及び４Ｂの摺接面に対応する信号部分Ｓ。，，
７ｏの第２の信号レベルＬ １０を抽出し、第１及び第
２の信号レベルＬ ＋＋及びｌ．−１０の偏差Ｌ ｌ
ｌ ＋− １ ０に基づいて摺接面の回転ドラム３か
らの突出量を測定する測定手段２１を設けるようにする
。
さらに第３の発明においては、光源手段２８から射出し
た照射光ＬＡ２ １を回転ドラム３及び当該回転ドラム
３上に段差をもつように配設された複数の磁気へッド２
５Ａ、２５Ｂ，２６Ａ、２６Ｂに照射する照射光学系２
９と、磁気ヘッド２５Ａ、２５Ｂ、２６Ａ、２６Ｂの摺
接面において反射された反射光ＬＡ２２を検出手段３２
に導くことにより磁気ヘッド２５Ａ、２５Ｂ、２６Ａ、
２？｝３の摺接面の位置を検出する反射光学系３１とを
有する磁気ヘッド位置測定装置２７において、検出手段
３２から得られるヘット位置検出信号Ｓ ＯＩＩ７のう
ち、回転ドラム３の反射光ＬＡ２２６こ対応する信号部
分の第１の信号レベルＬ，を抽出すると共に、段差をも
つように配設された複数の磁気ヘッドヘッド２５Ａ、２
５Ｂ、２６Ａ、２６Ｂの摺接面にそれぞれ対応する第２
の信号レベル１，２，並びにＬ２６を抽出し、第１及び
第２の信号Ｌ３及びＬ２５、Ｌ２６の偏差Δ．又はΔ１
■に基づいて摺接面の回転ドラム３からの突出量を測定
するようにする。
た照射光ＬＡ２ １を回転ドラム３及び当該回転ドラム
３上に段差をもつように配設された複数の磁気へッド２
５Ａ、２５Ｂ，２６Ａ、２６Ｂに照射する照射光学系２
９と、磁気ヘッド２５Ａ、２５Ｂ、２６Ａ、２６Ｂの摺
接面において反射された反射光ＬＡ２２を検出手段３２
に導くことにより磁気ヘッド２５Ａ、２５Ｂ、２６Ａ、
２？｝３の摺接面の位置を検出する反射光学系３１とを
有する磁気ヘッド位置測定装置２７において、検出手段
３２から得られるヘット位置検出信号Ｓ ＯＩＩ７のう
ち、回転ドラム３の反射光ＬＡ２２６こ対応する信号部
分の第１の信号レベルＬ，を抽出すると共に、段差をも
つように配設された複数の磁気ヘッドヘッド２５Ａ、２
５Ｂ、２６Ａ、２６Ｂの摺接面にそれぞれ対応する第２
の信号レベル１，２，並びにＬ２６を抽出し、第１及び
第２の信号Ｌ３及びＬ２５、Ｌ２６の偏差Δ．又はΔ１
■に基づいて摺接面の回転ドラム３からの突出量を測定
するようにする。
Ｆ作用
第１の発明において、光源手段１３から射出された照射
光を第１の反射光学系１４によって反射させることによ
り折り返した後第１の集光レンズ１５を通して所定位置
に光源像を結像させると共に磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの
摺接面によって反射された反射光を第２の集光レンスｌ
６を通した後第２の反射光学系１７によって反射させる
ことにより折り返し、反射像を受光手段ｌ８上に結像さ
せるようにしたことにより、光路を長くとることができ
、小型で精度の高い磁気ヘッド位置測定装置を実現し得
る。
光を第１の反射光学系１４によって反射させることによ
り折り返した後第１の集光レンズ１５を通して所定位置
に光源像を結像させると共に磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの
摺接面によって反射された反射光を第２の集光レンスｌ
６を通した後第２の反射光学系１７によって反射させる
ことにより折り返し、反射像を受光手段ｌ８上に結像さ
せるようにしたことにより、光路を長くとることができ
、小型で精度の高い磁気ヘッド位置測定装置を実現し得
る。
第２の発明において、検出手段１８から得られる回転ド
ラム３の反射光に対応する信号部分Ｓ．Ｕ，，の信号レ
ベルＬ ＩＩど磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面に対応
する信号部分Ｓ。ｔｌＴｏの信号レベルＬ，。との偏差
Ｌ．−Ｌ，。を検出することにより、簡易かつ確実に摺
接面の回転ドラム３からの突出量を求めることができる
。
ラム３の反射光に対応する信号部分Ｓ．Ｕ，，の信号レ
ベルＬ ＩＩど磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面に対応
する信号部分Ｓ。ｔｌＴｏの信号レベルＬ，。との偏差
Ｌ．−Ｌ，。を検出することにより、簡易かつ確実に摺
接面の回転ドラム３からの突出量を求めることができる
。
第３の発明において、検出手段２７から得られる回転ド
ラム３の反射光ＬＡ２２に対応する信号部分の信号レベ
ルＬ３と複数の磁気ヘッド２５Ａ、２５Ｂ、２６Ａ、２
６Ｂの摺接面にそれぞれ対応する信号部分の信号レベル
Ｌ２５、Ｌ２６との偏差Δ，，１、Δ．２を検出するこ
とにより、段差をもつように配設された磁気ヘッド２５
Ａ、２５Ｂ２２６Ａ、２６Ｂの突出量を検出することが
できる。
ラム３の反射光ＬＡ２２に対応する信号部分の信号レベ
ルＬ３と複数の磁気ヘッド２５Ａ、２５Ｂ、２６Ａ、２
６Ｂの摺接面にそれぞれ対応する信号部分の信号レベル
Ｌ２５、Ｌ２６との偏差Δ，，１、Δ．２を検出するこ
とにより、段差をもつように配設された磁気ヘッド２５
Ａ、２５Ｂ２２６Ａ、２６Ｂの突出量を検出することが
できる。
｛ ３
Ｇ実施例
以下図面について本発明の一実施例を詳述する。
（Ｇ１）第ｌ実施例
第９図との対応部分に同−符号を付して示す第１図にお
いて、１０は全体として磁気ヘッド位置測定装置を示し
、光学的位置検出ヘッド部１１とその位置検出信号Ｓ。
いて、１０は全体として磁気ヘッド位置測定装置を示し
、光学的位置検出ヘッド部１１とその位置検出信号Ｓ。
Ｕ７を処理する摩耗量検出回路１２でなり、光学的位置
検出ヘッド部１１は回転ドラム３の磁気テープが巻き付
けられていない範囲において、回転ドラム３上に１８０
度の角間隔だけ離れた位置に配設された一対の磁気へッ
ド４Ａ及び４Ｂの走行軌跡と対向する位置に配設されて
いる。
検出ヘッド部１１は回転ドラム３の磁気テープが巻き付
けられていない範囲において、回転ドラム３上に１８０
度の角間隔だけ離れた位置に配設された一対の磁気へッ
ド４Ａ及び４Ｂの走行軌跡と対向する位置に配設されて
いる。
光学的位置検出ヘッド部１１には、第２図に示すように
、断面六角形状の支持ブロックｌｌＡ内に形威された折
返し照躬光路孔１１Ｂ及び反射光路孔１１Ｃが穿設され
ている。
、断面六角形状の支持ブロックｌｌＡ内に形威された折
返し照躬光路孔１１Ｂ及び反射光路孔１１Ｃが穿設され
ている。
照射光路孔１１Ｂは、第２図の左下側面１１ＤＬＬから
右上側面１１ＤＲＨから左下向きに折返１４ して下側面］ ］ Ｄ ＋．．のほぼ中央位置にある照
射点Ｍ １ １まで延長するように形威され、左下側面
１１Ｄ Ｌ Ｌ ４１二 Ｉ− ＩＥ． Ｄ
（ｌｉ ｇｈｔ ｅｍｉｌ．ｔｉＢ ｄｉｏｄｅ
） で１７ る発光素子１３が嵌め込まれ、この発光
素子１３から射出された照射光を右上側面に嵌め込まれ
た貴うー１４において反射させた後照則点Ｍ１．の近傍
に配設された照則側集光レンス１５を通って照射，ゆテ
Ｍ．に集光させる。
右上側面１１ＤＲＨから左下向きに折返１４ して下側面］ ］ Ｄ ＋．．のほぼ中央位置にある照
射点Ｍ １ １まで延長するように形威され、左下側面
１１Ｄ Ｌ Ｌ ４１二 Ｉ− ＩＥ． Ｄ
（ｌｉ ｇｈｔ ｅｍｉｌ．ｔｉＢ ｄｉｏｄｅ
） で１７ る発光素子１３が嵌め込まれ、この発光
素子１３から射出された照射光を右上側面に嵌め込まれ
た貴うー１４において反射させた後照則点Ｍ１．の近傍
に配設された照則側集光レンス１５を通って照射，ゆテ
Ｍ．に集光させる。
また反射光路孔】ｌＣは、第２図の下側面１１Ｄ Ｌ．
の照射点Ｍ １ １から左上向きに延長して左上側面］
１ １） Ｌ Ｈ６こ至り、この左」一側面１ ］
１’） ｌ． ｌ−１から右下向きに折返して右下側面
］ ］ Ｄ Ｐ Ｉ．．まで延長するように形威され、
照射点Ｍ．から得られる反射光をその近傍に配設された
反射側集光レンズ１Ｇを通って左上側面］ＩＤＬＨに嵌
め込まれた≧ラー１７乙こおいて反則させた後右下側面
１１ＤＲ Ｌに嵌め込まれた光電変換素子でなる受光素
子ｌ８に集光さセ、照射光量に対応する検出信号を送出
する。
の照射点Ｍ １ １から左上向きに延長して左上側面］
１ １） Ｌ Ｈ６こ至り、この左」一側面１ ］
１’） ｌ． ｌ−１から右下向きに折返して右下側面
］ ］ Ｄ Ｐ Ｉ．．まで延長するように形威され、
照射点Ｍ．から得られる反射光をその近傍に配設された
反射側集光レンズ１Ｇを通って左上側面］ＩＤＬＨに嵌
め込まれた≧ラー１７乙こおいて反則させた後右下側面
１１ＤＲ Ｌに嵌め込まれた光電変換素子でなる受光素
子ｌ８に集光さセ、照射光量に対応する検出信号を送出
する。
かくして発光素子１３→ξラー１４→集光レンズ１５→
照射点Ｍ１、の折返し照則光路と、照射点Ｍ．→集光レ
ンズｌ６→兆ラーｌ７→受光素子１８の折返し反射光路
とは、照射点Ｍ１１を通る中心仮想線Ｗを中心として対
称かつ互いに交差するような空間形状をもつようになさ
れている。
照射点Ｍ１、の折返し照則光路と、照射点Ｍ．→集光レ
ンズｌ６→兆ラーｌ７→受光素子１８の折返し反射光路
とは、照射点Ｍ１１を通る中心仮想線Ｗを中心として対
称かつ互いに交差するような空間形状をもつようになさ
れている。
以上の構或において、回転ドラム３｝：に搭載された磁
気ヘッド４Ａ及び４Ｂに摩耗が生していないとき、磁気
ヘッド４Ａ及び４Ｂの磁気テープとの摺接面の走行軌跡
は光学的位置検出ヘット部１１の照射点Ｍ．を通る。従
って折返し照射光路を通って照射点Ｍ １ １に結像し
た発光素子１３の発光点の光源像が、磁気ヘッド４Ａ及
び４Ｂの摺接面において反射されて折返し反射光路を通
って受光素子ｌ８の受光面上に結像される。
気ヘッド４Ａ及び４Ｂに摩耗が生していないとき、磁気
ヘッド４Ａ及び４Ｂの磁気テープとの摺接面の走行軌跡
は光学的位置検出ヘット部１１の照射点Ｍ．を通る。従
って折返し照射光路を通って照射点Ｍ １ １に結像し
た発光素子１３の発光点の光源像が、磁気ヘッド４Ａ及
び４Ｂの摺接面において反射されて折返し反射光路を通
って受光素子ｌ８の受光面上に結像される。
従って磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面が光学的位置検
出ヘッド部１１の照射点Ｍ．に近づいて来て照射点Ｍ．
を通った後照射点Ｍ １ １から離れて行くまでの時間
の間に、受光素子１８から第３図において特性曲線ＫＯ
で示すように、摺接面が照射点Ｍ １ １を通過してい
る間最大信号レベルＬ。になるようなヘット位置検出信
号Ｓ。ＬＩＴが得られる。
出ヘッド部１１の照射点Ｍ．に近づいて来て照射点Ｍ．
を通った後照射点Ｍ １ １から離れて行くまでの時間
の間に、受光素子１８から第３図において特性曲線ＫＯ
で示すように、摺接面が照射点Ｍ １ １を通過してい
る間最大信号レベルＬ。になるようなヘット位置検出信
号Ｓ。ＬＩＴが得られる。
これに対して磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面が摩耗し
て、その高さが低くなると、磁気ヘッド４Ａ及び４８の
摺接面の走行軌跡が光学的位置検出ヘッド部１１の照射
点Ｍ １ １より後退することから、折返し照射光路を
通って照射点Ｍ．にーＤ結像した光源像は当該照射点Ｍ
１ １を通り過ぎて磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面
に到達したときデフォーカス状態になる。このとき当言
亥デフオーカスした光源像は磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂに
よって反射して折返し反射光路を通って受光素子１８に
到達するが、当該反射光路においても反射点が照射点Ｍ
１ １からずれた分受光素子ｌ８に入射した光源像が
さらに一段とデフォーカスする。
て、その高さが低くなると、磁気ヘッド４Ａ及び４８の
摺接面の走行軌跡が光学的位置検出ヘッド部１１の照射
点Ｍ １ １より後退することから、折返し照射光路を
通って照射点Ｍ．にーＤ結像した光源像は当該照射点Ｍ
１ １を通り過ぎて磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面
に到達したときデフォーカス状態になる。このとき当言
亥デフオーカスした光源像は磁気ヘッド４Ａ及び４Ｂに
よって反射して折返し反射光路を通って受光素子１８に
到達するが、当該反射光路においても反射点が照射点Ｍ
１ １からずれた分受光素子ｌ８に入射した光源像が
さらに一段とデフォーカスする。
この結果受光素子１８に入射する反射光の光量は光源像
のデフォーカス量に対応するように低下し、従って摺接
面が照射点Ｍ．の前を通過している間のヘッド位置検出
信号Ｓ。。，の信号レベルは、第３図において特性曲線
Ｋ１で示すように、最大信号レベル■、，に低下する。
のデフォーカス量に対応するように低下し、従って摺接
面が照射点Ｍ．の前を通過している間のヘッド位置検出
信号Ｓ。。，の信号レベルは、第３図において特性曲線
Ｋ１で示すように、最大信号レベル■、，に低下する。
１７
摩耗量検出回１路１２６こは、摩耗前のヘッド位置検出
信号Ｓ。ｕ０の最大信号レベルＬ。に基づいて摩耗後の
ヘッド位置検出信号Ｓ。，．の最大信号レベルＬ１への
低下量を評定し、当該低下量が所定の限界値を超えたと
き磁気ヘッＦ’４Ａ又は４Ｂの変換が必要になったと判
断して警報信号Ｓ ＡＲＭを送出し得る。
信号Ｓ。ｕ０の最大信号レベルＬ。に基づいて摩耗後の
ヘッド位置検出信号Ｓ。，．の最大信号レベルＬ１への
低下量を評定し、当該低下量が所定の限界値を超えたと
き磁気ヘッＦ’４Ａ又は４Ｂの変換が必要になったと判
断して警報信号Ｓ ＡＲＭを送出し得る。
以上の構威によれば、磁気ヘッド４Ａ又は４Ｂの摩耗状
態を確実に検出でき、かくするにつき折返し反射光路を
有する光学的位置検出ヘッド部を用いるようにしたこと
ムこより、全体としての構或を一段と小型化し得る。
態を確実に検出でき、かくするにつき折返し反射光路を
有する光学的位置検出ヘッド部を用いるようにしたこと
ムこより、全体としての構或を一段と小型化し得る。
かくするにつき、照射光及び反射光を折り曲げたことに
より、全体としての構威を大型化することなく実用上十
分長い光路長を得ることができ、その結果磁気ヘッドの
微小な摩耗量の変化を拡大して検出し得ることにより摩
耗量を一段と高精度で検出することができる。
より、全体としての構威を大型化することなく実用上十
分長い光路長を得ることができ、その結果磁気ヘッドの
微小な摩耗量の変化を拡大して検出し得ることにより摩
耗量を一段と高精度で検出することができる。
（Ｇ２）第２実施例
１ ８ −
第４図は第２実施例を示すもので第１図との幻応部分に
同一符号を付して示すように、光学的位置検出ヘッド部
１１から送出されるヘッド検出信号Ｓ。ＵＴの処理手段
として突出量測定回路２１を有することを除いて第１図
の場合と同様の構或を有する。
同一符号を付して示すように、光学的位置検出ヘッド部
１１から送出されるヘッド検出信号Ｓ。ＵＴの処理手段
として突出量測定回路２１を有することを除いて第１図
の場合と同様の構或を有する。
以上の構威において、突出量検出回路２１は第５図乙こ
示すように、ヘッ１′位置検出信ぢＳ。０，に含まれて
いる信号戒分のうち、光学的位置検出ヘッド部ｌ１に対
して磁気ヘッド４Ａ又は４Ｂが対向したとき得られる信
号或分Ｓ。ＬＩＴＯに加えて、光学的位置検出ヘッド部
１１に対して回転Ｆラム３の外周面が対向したとき得ら
れる信号威分Ｓ。Ｕ１を用いて回転ドラム３の外周面を
基準にして、当該外周面からの磁気ヘソド４Ａ及び４Ｂ
の摺接面の突出量を評定する。
示すように、ヘッ１′位置検出信ぢＳ。０，に含まれて
いる信号戒分のうち、光学的位置検出ヘッド部ｌ１に対
して磁気ヘッド４Ａ又は４Ｂが対向したとき得られる信
号或分Ｓ。ＬＩＴＯに加えて、光学的位置検出ヘッド部
１１に対して回転Ｆラム３の外周面が対向したとき得ら
れる信号威分Ｓ。Ｕ１を用いて回転ドラム３の外周面を
基準にして、当該外周面からの磁気ヘソド４Ａ及び４Ｂ
の摺接面の突出量を評定する。
すなわち突出量測定回路２１は、第５図において、光学
的位置検出ヘッド部１１が回転ドラム３の外周面に対向
している期間（時点Ｌ，より前又は時点ｔ２より後の範
囲）のタイミングにおいて回転ドラム３の外周面の位置
を表す信号レベルＬ Ｉ ｌを取り込むと共に、光学的
位置検出ヘッド部１１が磁気ヘッド４Ａ又は４Ｂの摺接
面に対向している期間（時点ｔ，〜Ｌ２の範囲）のタイ
妄ングにおいて｛ｎ気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面の位
置を表す信号レベルし，。を取り込む。
的位置検出ヘッド部１１が回転ドラム３の外周面に対向
している期間（時点Ｌ，より前又は時点ｔ２より後の範
囲）のタイミングにおいて回転ドラム３の外周面の位置
を表す信号レベルＬ Ｉ ｌを取り込むと共に、光学的
位置検出ヘッド部１１が磁気ヘッド４Ａ又は４Ｂの摺接
面に対向している期間（時点ｔ，〜Ｌ２の範囲）のタイ
妄ングにおいて｛ｎ気ヘッド４Ａ及び４Ｂの摺接面の位
置を表す信号レベルし，。を取り込む。
そして突出量検出回路２１は取り込んだ信号レベルＬ
） 。及びＬ．の差を演算により求めてその偏差量 ΔＰ＋＝ ’Ｌｌ。− Ｌｌｌ ・
・・・・・ （２）を磁気ヘッド４Ａ、４Ｂの回転ドラ
ム３からの突出量Ｐ，を表す情報として得る。
） 。及びＬ．の差を演算により求めてその偏差量 ΔＰ＋＝ ’Ｌｌ。− Ｌｌｌ ・
・・・・・ （２）を磁気ヘッド４Ａ、４Ｂの回転ドラ
ム３からの突出量Ｐ，を表す情報として得る。
以上の構成によれば、磁気ヘッド４Ａ、４Ｂの摺接面の
位置を回転ドラム３の外周面の位置を基準にして検出す
ることができ、従って例えば摺接面の摩耗状態を自己診
断する際にこれを比較的簡易な構戊によって実現し得る
。
位置を回転ドラム３の外周面の位置を基準にして検出す
ることができ、従って例えば摺接面の摩耗状態を自己診
断する際にこれを比較的簡易な構戊によって実現し得る
。
因に摺接面の摩耗量に基づいて磁気ヘッド４Ａ、４Ｂの
交換時期を評定する場合に、摩耗開始前の摺接面の位置
データと現在位置データとの偏差によって摩耗量を評定
することも考えられるが、上述の構或によれば、位置デ
ータ格納用のメモリを省略することができ、この分全体
としての構或を簡易化し得る。
交換時期を評定する場合に、摩耗開始前の摺接面の位置
データと現在位置データとの偏差によって摩耗量を評定
することも考えられるが、上述の構或によれば、位置デ
ータ格納用のメモリを省略することができ、この分全体
としての構或を簡易化し得る。
また回転ドラム３の半径が異なるビデオテープレコーグ
や、回転ドラム３が偏心している場合にも、検出データ
を修正する構或を別途設りるごどなく、その影響を受け
ない検出結果を得ることができる。
や、回転ドラム３が偏心している場合にも、検出データ
を修正する構或を別途設りるごどなく、その影響を受け
ない検出結果を得ることができる。
（Ｇ３）第３実施例
第６図は第３実施例を示し、第４図との対応部分に同一
符号を付して示すように、検出対象となる回転ドラム３
はその回転方向及び回転軸の方向に沿う方向にずれた位
置に段差をもつ第ｌ及び第２の磁気ヘッド２５Ａ（２５
Ｂ）及び２６Ａ（２６Ｂ）を配設してなる４ヘッドの構
或を有し、磁気ヘッド位置測定装置２７は、磁気ヘッド
２５Ａ及び２６Ａ（又は２５Ｂ及び２６Ｂ）を同時に照
−２ １ 〜 ？し得るように回転ドラム３の回転軸方向に細長い矩形
の照射光＋−＋ Ａ ２ ］を射出する発光素子２８を
有し、この照射光ＬＡ２１を集光レンズ２９を通して回
転ドラム３及び磁気ヘッド２５Ａ及び２６Ａ（又は２５
Ｂ及び２６Ｂ）上に照射することにより光源像３０を結
像させると共に、その反別光Ｉ．Ａ２２を集光レンズ３
１を通して光電変換器構威の受光素子３２上に照射する
ことにより反射像を結像させる。
符号を付して示すように、検出対象となる回転ドラム３
はその回転方向及び回転軸の方向に沿う方向にずれた位
置に段差をもつ第ｌ及び第２の磁気ヘッド２５Ａ（２５
Ｂ）及び２６Ａ（２６Ｂ）を配設してなる４ヘッドの構
或を有し、磁気ヘッド位置測定装置２７は、磁気ヘッド
２５Ａ及び２６Ａ（又は２５Ｂ及び２６Ｂ）を同時に照
−２ １ 〜 ？し得るように回転ドラム３の回転軸方向に細長い矩形
の照射光＋−＋ Ａ ２ ］を射出する発光素子２８を
有し、この照射光ＬＡ２１を集光レンズ２９を通して回
転ドラム３及び磁気ヘッド２５Ａ及び２６Ａ（又は２５
Ｂ及び２６Ｂ）上に照射することにより光源像３０を結
像させると共に、その反別光Ｉ．Ａ２２を集光レンズ３
１を通して光電変換器構威の受光素子３２上に照射する
ことにより反射像を結像させる。
この実施例の場合磁気ヘツ｝” ２ ５ Ａ及び２５Ｂ
（又は２６Ａ及び２６Ｂ）の摺接面の周囲は非反射部材
３４によって埋め込まれ、これにより受光素子３２のヘ
ッド位置検出信号Ｓ。ＬＩ？信号レベルは、第７図に示
すように、光源像３０が回転ドラム３の外周面を照射し
ている期間（時点ｔ．より前又は時点ｔ１■より後の範
囲）のタイミングにおいて回転ドラム３の外周面の位置
を表す信号レベルＬ３になり、また光源像３０が磁気ヘ
ッド２５Ａ（又は２５Ｂ）の摺接面を照射している期間
（時点ｔ２，１〜ｔ ｚｓｏの範囲）のタイミングにお
い２ ２ 〜 ？ぞの摺接面の位置を表す信号レベルＬ２，になり、さ
らに光源像３０が磁気ヘッド２６Ａ（又は２６Ｂ）の摺
接面を照則している期間（時点Ｌ２，１〜Ｌ ２６０の
範囲）のタイ砧ングにおいてその摺接面の位置を表す信
号レベルＬ２６になるように変化し、これらの信号レベ
ルＬ３、Ｌ２Ｓ及びＩ７■，を呈する期間以外の期間（
時点ｔ．〜ｔｚｓ■の範囲、時点ｊ ２！１０ − ｔ
２６１の範囲、時点Ｌ ２６（１ − Ｌ ＋２の範
囲）のタイミングにおいては光源像３０が非反射部材３
／Ｉを照射することにより低い信号レー・ルに低下す
るようになされている。
（又は２６Ａ及び２６Ｂ）の摺接面の周囲は非反射部材
３４によって埋め込まれ、これにより受光素子３２のヘ
ッド位置検出信号Ｓ。ＬＩ？信号レベルは、第７図に示
すように、光源像３０が回転ドラム３の外周面を照射し
ている期間（時点ｔ．より前又は時点ｔ１■より後の範
囲）のタイミングにおいて回転ドラム３の外周面の位置
を表す信号レベルＬ３になり、また光源像３０が磁気ヘ
ッド２５Ａ（又は２５Ｂ）の摺接面を照射している期間
（時点ｔ２，１〜ｔ ｚｓｏの範囲）のタイミングにお
い２ ２ 〜 ？ぞの摺接面の位置を表す信号レベルＬ２，になり、さ
らに光源像３０が磁気ヘッド２６Ａ（又は２６Ｂ）の摺
接面を照則している期間（時点Ｌ２，１〜Ｌ ２６０の
範囲）のタイ砧ングにおいてその摺接面の位置を表す信
号レベルＬ２６になるように変化し、これらの信号レベ
ルＬ３、Ｌ２Ｓ及びＩ７■，を呈する期間以外の期間（
時点ｔ．〜ｔｚｓ■の範囲、時点ｊ ２！１０ − ｔ
２６１の範囲、時点Ｌ ２６（１ − Ｌ ＋２の範
囲）のタイミングにおいては光源像３０が非反射部材３
／Ｉを照射することにより低い信号レー・ルに低下す
るようになされている。
以上の構或において、回転ドラム３の回転に従って光源
像３０が回転ドラム３、磁気ヘッド２５Ａ及び２６Ａ（
又は２５Ｂ及び２６Ｂ）を順次照射することにより、受
光素子３２のヘッド位置検出信号Ｓ。ＵＴの信号レベル
は第７図に示すように変動する。
像３０が回転ドラム３、磁気ヘッド２５Ａ及び２６Ａ（
又は２５Ｂ及び２６Ｂ）を順次照射することにより、受
光素子３２のヘッド位置検出信号Ｓ。ＵＴの信号レベル
は第７図に示すように変動する。
突出量測定回路２１は、ヘッド位置検出信号ｓｏｕ’ｒ
が信号レベルＬ３ 、Ｌｚｓ及びＬ２６になっているタ
イごングで順次発生するゲート信号ＣＩ、Ｇ２及びＧ３
（第７図（Ｂ）、（Ｃ）及び（１）））によって当該信
号レベルＬ３、Ｌ２，及びＬ２６を内部に取り込んで偏
差量 ？Ｐｌ１ ＝ ’ Ｌ■ｓ−Ｌ１ ｌ
・・・・・・ （３）Δ，．一〇、２６Ｔ−３
・・・・・・ （４）を磁気ヘッド２５Ａ
（又は２５Ｂ）及び２６Ａ（又は２６Ｂ）の回転ドラム
３からの突出量Ｐ．及びＰＩ２を表す情報として得る。
が信号レベルＬ３ 、Ｌｚｓ及びＬ２６になっているタ
イごングで順次発生するゲート信号ＣＩ、Ｇ２及びＧ３
（第７図（Ｂ）、（Ｃ）及び（１）））によって当該信
号レベルＬ３、Ｌ２，及びＬ２６を内部に取り込んで偏
差量 ？Ｐｌ１ ＝ ’ Ｌ■ｓ−Ｌ１ ｌ
・・・・・・ （３）Δ，．一〇、２６Ｔ−３
・・・・・・ （４）を磁気ヘッド２５Ａ
（又は２５Ｂ）及び２６Ａ（又は２６Ｂ）の回転ドラム
３からの突出量Ｐ．及びＰＩ２を表す情報として得る。
以上の構威によれば、回転ドラム３の回転軸方向及び回
転方向にずれて段差をもって配設された磁気ヘッド２５
Ａ及び２６Ａ並び６こ２５Ｂ及び２６Ｂの回転ドラム３
に対する突出量を検出するにつき、第４図の実施例にお
いて上述したと同様にして、回転ドラム３の外周面の位
置を基準にして検出できることにより、その摺接面の摩
耗状態等の自己診断を簡易な構戒によって実現し得る。
転方向にずれて段差をもって配設された磁気ヘッド２５
Ａ及び２６Ａ並び６こ２５Ｂ及び２６Ｂの回転ドラム３
に対する突出量を検出するにつき、第４図の実施例にお
いて上述したと同様にして、回転ドラム３の外周面の位
置を基準にして検出できることにより、その摺接面の摩
耗状態等の自己診断を簡易な構戒によって実現し得る。
因に第６図の構或においても、第４図について上述した
実施例の場合と同様にして、磁気ヘッド２５Ａ若しくは
２５Ｂ、又は２６Ａ若しくは２６Ｂの位置と比較するた
めの基準位置データを保持するためのメモリを省略する
ことができ、また突出蚕の検出結果に回転ｌ・ラムに偏
心があってもその影響を受けないようにできる。
実施例の場合と同様にして、磁気ヘッド２５Ａ若しくは
２５Ｂ、又は２６Ａ若しくは２６Ｂの位置と比較するた
めの基準位置データを保持するためのメモリを省略する
ことができ、また突出蚕の検出結果に回転ｌ・ラムに偏
心があってもその影響を受けないようにできる。
（Ｇ４）第４実施例
第８図は第４実施例を示し、第６図との対応部分に同一
・符号を付して示すように、磁気ヘッド位置測定装置２
７は２本の照射光ＬＡ２ ］ １及びＬＡ２１２を照射
する第１及び第２の発光源２８Ｘ１及び２８ｘ２を含む
発光素子２８を有している。
・符号を付して示すように、磁気ヘッド位置測定装置２
７は２本の照射光ＬＡ２ ］ １及びＬＡ２１２を照射
する第１及び第２の発光源２８Ｘ１及び２８ｘ２を含む
発光素子２８を有している。
第１及ひ第２の発光源２８ＸＩ及び２８Ｘ２は第１及び
第２の磁気ヘッド２５Ａ（又は２５Ｂ）、２６Ａ（又は
２６Ｂ）の回転軸方向のずれに応して配置されている。
第２の磁気ヘッド２５Ａ（又は２５Ｂ）、２６Ａ（又は
２６Ｂ）の回転軸方向のずれに応して配置されている。
発光素子２８は、磁気ヘッド２５Ａ（又は２５Ｂ）及び
２６Ａ（又は２６Ｂ）との段差に対応するように離間す
る２つの発光源２８Ｘ１及び２８χ２を有し、この発光
源２８Ｘ１及び２８χ２から射出された照射光ＬＡ２
１ １及びＬＡ２ ］ ２を２５ ？し集光レンズ２９を通って磁気ヘッド２５Ａ（又は２
５Ｂ）及び２６Ａ（又は２６Ｂ）に照射することにより
光源像３０１及び３０２を結像させると共に、その反射
光を同し集光レンズ３１を通して受光素子３２に入射さ
せるようになされている。
２６Ａ（又は２６Ｂ）との段差に対応するように離間す
る２つの発光源２８Ｘ１及び２８χ２を有し、この発光
源２８Ｘ１及び２８χ２から射出された照射光ＬＡ２
１ １及びＬＡ２ ］ ２を２５ ？し集光レンズ２９を通って磁気ヘッド２５Ａ（又は２
５Ｂ）及び２６Ａ（又は２６Ｂ）に照射することにより
光源像３０１及び３０２を結像させると共に、その反射
光を同し集光レンズ３１を通して受光素子３２に入射さ
せるようになされている。
この実施例の場合、受光素子３２は磁気ヘッド２５Ａ（
又は２５Ｂ）及び２６Ａ（又は２６Ｂ）に対応する受光
素子部３２１及び３２２上に反射像３３１及び３３２を
結像させ、これにより対応する突出量測定回路部２１１
及び２１２に対してヘッド位置検出信号Ｓ。ｕＴｌ及び
Ｓ。ＬＩＴ■を与えるようになされている。
又は２５Ｂ）及び２６Ａ（又は２６Ｂ）に対応する受光
素子部３２１及び３２２上に反射像３３１及び３３２を
結像させ、これにより対応する突出量測定回路部２１１
及び２１２に対してヘッド位置検出信号Ｓ。ｕＴｌ及び
Ｓ。ＬＩＴ■を与えるようになされている。
以上の構或によれば、回転ドラム３の回転軸方向にずれ
て配置された２つの段差をもつ磁気ヘッド２５Ａ（又は
２５Ｂ）及び２６Ａ（又は２６Ｂ）を共通の光学系を通
る２木の照射光で照射し、その反射光を対応する２つの
位置検出素子３２１及び３２２によってそれぞれ検出す
るようにしたことにより、第６図の場合と比較して信号
処理系２ ６〜 の構或を−段と簡易化し得る。
て配置された２つの段差をもつ磁気ヘッド２５Ａ（又は
２５Ｂ）及び２６Ａ（又は２６Ｂ）を共通の光学系を通
る２木の照射光で照射し、その反射光を対応する２つの
位置検出素子３２１及び３２２によってそれぞれ検出す
るようにしたことにより、第６図の場合と比較して信号
処理系２ ６〜 の構或を−段と簡易化し得る。
因に第６図の実施例によれば、磁気ヘッド２５Ａ（又は
２５Ｂ）及び２６Ａ（又は２６Ｂ）の突出量を演算する
につき、ゲート信号Ｇ１、Ｇ２及びＧ３（第７図（Ｂ）
、（Ｃ）及び（Ｄ） ） ６こまって対応する検出信号
を抜き出すような信号処理系が必要であったのに刻し、
第８図の構或によれば、この構或を必要としない分信号
処理系を一段と簡易化し得る。
２５Ｂ）及び２６Ａ（又は２６Ｂ）の突出量を演算する
につき、ゲート信号Ｇ１、Ｇ２及びＧ３（第７図（Ｂ）
、（Ｃ）及び（Ｄ） ） ６こまって対応する検出信号
を抜き出すような信号処理系が必要であったのに刻し、
第８図の構或によれば、この構或を必要としない分信号
処理系を一段と簡易化し得る。
（Ｇ５）他の実施例
（１）上述の実施例においては、発光源の光源を直接回
転ドラム３上に光源像として結像させるようにした場合
について述べたが、本発明においてはこれに代え、発光
源をから射出された光源光を遮光マスクによって遮光す
ることにより、照射光をしぼるようにしても、上述の場
合と同様の効果を得ることができる。
転ドラム３上に光源像として結像させるようにした場合
について述べたが、本発明においてはこれに代え、発光
源をから射出された光源光を遮光マスクによって遮光す
ることにより、照射光をしぼるようにしても、上述の場
合と同様の効果を得ることができる。
（２） 上述の実施例においては、光源としてＬ Ｅ
］）を用いた場合Ｇこついて述べたが、本発明におい
てはこれに代え、レーザヒーｌ、等種ｈの光源を適用し
得る。
］）を用いた場合Ｇこついて述べたが、本発明におい
てはこれに代え、レーザヒーｌ、等種ｈの光源を適用し
得る。
（３）上述の実施例においては、同一円周上に配設され
た一対の磁気へ・ンドの突出量を測定する場合について
述べたが、同一円周上乙こ配置された磁気ヘットの数は
これ乙こ限らず、ｊ個又は２個以七であってもよい。
た一対の磁気へ・ンドの突出量を測定する場合について
述べたが、同一円周上乙こ配置された磁気ヘットの数は
これ乙こ限らず、ｊ個又は２個以七であってもよい。
（４）上述の実施例においては、回転ドラム３七Ｇこ磁
気ヘットを一体に取付けた場合について述べたが、固定
トラｌ．乙こ対して磁気ヘッドを搭載した回転板を回転
駆動するプロペラ方式のものにも適用し得る。
気ヘットを一体に取付けた場合について述べたが、固定
トラｌ．乙こ対して磁気ヘッドを搭載した回転板を回転
駆動するプロペラ方式のものにも適用し得る。
（５）第２図の実施例においては、発光素子１３から射
出された照射光及び照射点Ｍ １ １において反則され
た反射光を２枚のミラー１４及び１７によってそれぞれ
反射させて折り曲げるようにした場合について述べたが
、本発明はこれに代え、プリズム等によって折り曲げる
ようにしても良い。
出された照射光及び照射点Ｍ １ １において反則され
た反射光を２枚のミラー１４及び１７によってそれぞれ
反射させて折り曲げるようにした場合について述べたが
、本発明はこれに代え、プリズム等によって折り曲げる
ようにしても良い。
（６）第６図及び第８図の第３及び第４実施例において
は、回転輔方向及び回転方向にずれた４つの磁気ヘット
２５Ａ、２５Ｂ及び２６Ａ、２６Ｂを有する４ヘッド構
成の回転ドラム３に本発明を適用した場合について述べ
たが、回転軸方向の段差数及び回転方向の配列数はこれ
に限らす種々のもの６こ適用し得る。
は、回転輔方向及び回転方向にずれた４つの磁気ヘット
２５Ａ、２５Ｂ及び２６Ａ、２６Ｂを有する４ヘッド構
成の回転ドラム３に本発明を適用した場合について述べ
たが、回転軸方向の段差数及び回転方向の配列数はこれ
に限らす種々のもの６こ適用し得る。
（７）第８図の第４実施例においては、２つの磁気ヘッ
ド２５Ａ及び２６Ａ（又は２５Ｂ及び２６Ｂ）に対応し
て２つの発光源２８Ｘ１及び２８Ｘ２を設けた場合につ
いて述へたが、第３実施例（第６図）と同様回転軸方向
に細長い１つの発光素子を用いても良い。
ド２５Ａ及び２６Ａ（又は２５Ｂ及び２６Ｂ）に対応し
て２つの発光源２８Ｘ１及び２８Ｘ２を設けた場合につ
いて述へたが、第３実施例（第６図）と同様回転軸方向
に細長い１つの発光素子を用いても良い。
（８）第８図の第４実施例においては、２つの磁気ヘッ
ド２５Ａ及び２６Ａ（又は２５Ｂ及び２６Ｂ）を２木の
照射光１．．Ａ２１］及びＬＡ２１２によって照射する
場合について述べたが、各照射光ｌ，Ａ２１１及びＬＡ
２ １ ２を周波数変調すれば、その分精度を向上させ
ることができ、これにより−・段と高精度な検出をする
ことかできる。
ド２５Ａ及び２６Ａ（又は２５Ｂ及び２６Ｂ）を２木の
照射光１．．Ａ２１］及びＬＡ２１２によって照射する
場合について述べたが、各照射光ｌ，Ａ２１１及びＬＡ
２ １ ２を周波数変調すれば、その分精度を向上させ
ることができ、これにより−・段と高精度な検出をする
ことかできる。
ト１発明の効果
２９
上述のように第１の発明によれば、磁気ヘッド上に光源
像を結像させると共に、反射像を検出素子上に結像させ
る光学系の光路を反射光学系を用いて交差させるように
折り曲げるようにしたことにより、小型かつ高精度の磁
気ヘッド位置測定装置を得ることができる。
像を結像させると共に、反射像を検出素子上に結像させ
る光学系の光路を反射光学系を用いて交差させるように
折り曲げるようにしたことにより、小型かつ高精度の磁
気ヘッド位置測定装置を得ることができる。
また第２の発明によれば、磁気ヘッドの位置を回転ドラ
ム表面を基準にして測定するようにしたことにより、簡
易に磁気ヘッドの突出量を測定し得る磁気ヘッド位置測
定装置を得ることができる。
ム表面を基準にして測定するようにしたことにより、簡
易に磁気ヘッドの突出量を測定し得る磁気ヘッド位置測
定装置を得ることができる。
さらに第３の発明によれば、回転軸方向にずれた複数の
被測定対象を照射する複数の照射光に共通の光学系を用
いるようにしたことにより、回転軸方向に並ぶ複数の被
測定対象の突出量を簡易な構或で測定し得る磁気ヘッド
位置測定装置を得ることができる。
被測定対象を照射する複数の照射光に共通の光学系を用
いるようにしたことにより、回転軸方向に並ぶ複数の被
測定対象の突出量を簡易な構或で測定し得る磁気ヘッド
位置測定装置を得ることができる。
第１図は本発明による磁気ヘッド位置測定装置の第１実
施例を示す略線的平面図、第２図は光学３０ 的位置検出装置の詳細構或を示ず略線的断面図、第３図
はヘッド位置検出信号を示す信号波形図、第４図は本発
明による磁気ヘット位置測定装置の第２実施例を示す路
線的平面図、第５図はヘット突出量の測定の説明に供す
る信号波形図、第６図は本発明６こよる第３実施例の説
明に供する斜視図、第７図はその動作の説明に供する信
号波形図、第８図は本発明による第４実施例の説明に供
する斜視図、第９図は従来の磁気ヘッド位置測定装置の
説明に供する略線図である。 ２、］３、２８・・・・・・発光素子、３・・・・・・
回転ドラム、４Ａ、４Ｂ、２５Ａ、２５３、２６Ａ、２
６Ｂ・・・・・・磁気ヘッド、５・・・・・・位置検出
素子、１２・・・・・・摩耗量検出回路、１４、１７・
・・・・・丞ラー、、１５、１６、２９、３１・・・・
・・集光レンス、１８、３２・・・・・・受光素子、２
１・・・・・・突出量測定回路。
施例を示す略線的平面図、第２図は光学３０ 的位置検出装置の詳細構或を示ず略線的断面図、第３図
はヘッド位置検出信号を示す信号波形図、第４図は本発
明による磁気ヘット位置測定装置の第２実施例を示す路
線的平面図、第５図はヘット突出量の測定の説明に供す
る信号波形図、第６図は本発明６こよる第３実施例の説
明に供する斜視図、第７図はその動作の説明に供する信
号波形図、第８図は本発明による第４実施例の説明に供
する斜視図、第９図は従来の磁気ヘッド位置測定装置の
説明に供する略線図である。 ２、］３、２８・・・・・・発光素子、３・・・・・・
回転ドラム、４Ａ、４Ｂ、２５Ａ、２５３、２６Ａ、２
６Ｂ・・・・・・磁気ヘッド、５・・・・・・位置検出
素子、１２・・・・・・摩耗量検出回路、１４、１７・
・・・・・丞ラー、、１５、１６、２９、３１・・・・
・・集光レンス、１８、３２・・・・・・受光素子、２
１・・・・・・突出量測定回路。
Claims (3)
- （１）光源手段から射出した照射光を回転ドラム及び当
該回転ドラム上に配設された磁気ヘッドに照射する照射
光学系と、 上記磁気ヘッドの摺接面において反射された反射光を検
出手段に導くことにより上記磁気ヘッドの摺接面の位置
を検出する反射光学系とを有する磁気ヘッド位置測定装
置において、 上記照射光学系は上記光源手段から射出された上記照射
光を第１の反射光学系によつて反射させることにより折
り返した後第１の集光レンズを通つて当該光源像を所定
位置の照射点に結像させ、上記反射光学系は上記光源像
が上記磁気ヘッドの摺接面によつて反射されて得られる
反射光を第２の集光レンズを通した後、第２の反射光学
系によつて反射させることにより折り返して当該反射像
を受光手段上に結像させる ようにしたことを特徴とする磁気ヘッド位置測定装置。 - （２）光源手段から射出した照射光を回転ドラム及び当
該回転ドラム上に配設された磁気ヘッドに照射する照射
光学系と、 上記磁気ヘッドの摺接面において反射された反射光を検
出手段に導くことにより上記磁気ヘッドの摺接面の位置
を検出する反射光学系とを有する磁気ヘッド位置測定装
置において、 上記検出手段から得られるヘッド位置検出信号のうち、
上記回転ドラムの反射光に対応する信号部分の第１の信
号レベルを抽出すると共に、上記磁気ヘッドの摺接面に
対応する信号部分の第２の信号レベルを抽出し、上記第
１及び第２の信号レベルの偏差に基づいて上記摺接面の
上記回転ドラムからの突出量を測定する測定手段 を具えることを特徴とする磁気ヘッド位置測定装置。 - （３）光源手段から射出した照射光を回転ドラム及び当
該回転ドラム上に段差をもつように配設された複数の磁
気ヘッドに照射する照射光学系と、上記磁気ヘッドの摺
接面において反射された反射光を検出手段に導くことに
より上記磁気ヘッドの摺接面の位置を検出する反射光学
系とを有する磁気ヘッド位置測定装置において、 上記検出手段から得られるヘッド位置検出信号のうち、
上記回転ドラムの反射光に対応する信号部分の第１の信
号レベルを抽出すると共に、上記段差をもつように配設
された複数の磁気ヘッドの摺接面にそれぞれ対応する第
２の信号レベルを抽出し、上記第１及び第２の信号レベ
ルの偏差に基づいて上記摺接面の上記回転ドラムからの
突出量を測定する測定手段 を具えることを特徴とする磁気ヘッド位置測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1311696A JPH0756686B2 (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 磁気ヘツド位置測定装置 |
| US07/619,140 US5196979A (en) | 1989-11-30 | 1990-11-28 | Magnetic head position measuring device |
| US08/016,510 US5291364A (en) | 1989-11-30 | 1993-02-11 | Magnetic head position measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1311696A JPH0756686B2 (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 磁気ヘツド位置測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03171401A true JPH03171401A (ja) | 1991-07-24 |
| JPH0756686B2 JPH0756686B2 (ja) | 1995-06-14 |
Family
ID=18020367
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1311696A Expired - Fee Related JPH0756686B2 (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 磁気ヘツド位置測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5196979A (ja) |
| JP (1) | JPH0756686B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0756686B2 (ja) * | 1989-11-30 | 1995-06-14 | ソニー株式会社 | 磁気ヘツド位置測定装置 |
| JPH06168425A (ja) * | 1992-11-30 | 1994-06-14 | Hitachi Ltd | 磁気テープライブラリ装置及び磁気記録再生装置並びに磁気ヘッド検査方法 |
| JPH09500476A (ja) * | 1993-11-12 | 1997-01-14 | エクサバイト コーポレイション | ヘリカルスキャン記録機においてヘッドパラメータを決定しかつ使用する方法および装置 |
| US5734535A (en) * | 1995-06-19 | 1998-03-31 | Sankyo Seiki Mfg. Co., Ltd. | Magnetic head with a useable lifetime detection mechanism |
| US5953812A (en) * | 1997-07-03 | 1999-09-21 | Schlumberger Technologies, Inc. | Misinsert sensing in pick and place tooling |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5819724A (ja) * | 1981-07-28 | 1983-02-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘツド突出量測定方法 |
| JPS6032143A (ja) * | 1983-07-30 | 1985-02-19 | Nec Home Electronics Ltd | 姿勢制御装置 |
| JPH01133316U (ja) * | 1988-03-01 | 1989-09-11 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0244401A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-14 | Toshiba Corp | 多重型電気式プロセス制御装置 |
| JPH02244401A (ja) * | 1989-03-15 | 1990-09-28 | Sony Corp | 磁気記録再生装置 |
| JPH0756686B2 (ja) * | 1989-11-30 | 1995-06-14 | ソニー株式会社 | 磁気ヘツド位置測定装置 |
| US5079432A (en) * | 1990-06-25 | 1992-01-07 | Ampex Corporation | Method and apparatus for measuring the displacement of an automatic scan tracking head |
-
1989
- 1989-11-30 JP JP1311696A patent/JPH0756686B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-11-28 US US07/619,140 patent/US5196979A/en not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-02-11 US US08/016,510 patent/US5291364A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5819724A (ja) * | 1981-07-28 | 1983-02-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘツド突出量測定方法 |
| JPS6032143A (ja) * | 1983-07-30 | 1985-02-19 | Nec Home Electronics Ltd | 姿勢制御装置 |
| JPH01133316U (ja) * | 1988-03-01 | 1989-09-11 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0756686B2 (ja) | 1995-06-14 |
| US5196979A (en) | 1993-03-23 |
| US5291364A (en) | 1994-03-01 |
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|---|---|---|---|
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