JPH03158460A - 薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成装置Info
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- JPH03158460A JPH03158460A JP30053589A JP30053589A JPH03158460A JP H03158460 A JPH03158460 A JP H03158460A JP 30053589 A JP30053589 A JP 30053589A JP 30053589 A JP30053589 A JP 30053589A JP H03158460 A JPH03158460 A JP H03158460A
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 21
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims abstract description 11
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 12
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 9
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 claims description 3
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 claims 1
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 8
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 4
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 abstract 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 abstract 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 abstract 1
- 230000004931 aggregating effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 9
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 6
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 4
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 4
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000015271 coagulation Effects 0.000 description 3
- 238000005345 coagulation Methods 0.000 description 3
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005054 agglomeration Methods 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002090 carbon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は蒸着物質のクラスターイオン金利用して高品
質の薄膜を蒸着形成する薄膜形成装置に関するものであ
る。
質の薄膜を蒸着形成する薄膜形成装置に関するものであ
る。
第8図は例えば特公昭54−959ffi号公報に示さ
れた従来の薄膜形成装置を示す模式図であり、図におい
て、il #″ii所定空度に保持された真空槽、(2
1はこの真空槽の真空度を調節する真空排気系、(31
は真空槽…の内部に設けられた密閉型の坩堝、 (8
a)はこの坩堝に設けられたノズル、141は坩堝13
1内に充填場れた蒸着物質%161汀坩堝(31を加熱
する加熱用フイラメン) 、+61はこの加熱用フィラ
メントの熱を繊る熱シールド板、(7)は坩堝131の
ノズル(8a)から蒸着物質+41の蒸気を噴出させて
形成したクラスター(yL状原子集団) 、 +81は
電子ビームを放出する電子ビーム放出フイラメン)、+
91iこの電子ビーム放出フィラメントから電子を引き
出し加速する電子ビーム引き出し電極、(1αFi電子
ビーム放出フイラメント(8)の熱t−遣る熱シールド
板、Qυは電子ビーム放出フィラメント(81から放出
されたα子音クラスター(〕1に当ててイオン化したク
ラスターイオン、 1121はこのクラスターイオンに
電界をかけて加速し、運動エネルギーを付与する加速電
&、賭は表面に薄膜を形成する基板である。
れた従来の薄膜形成装置を示す模式図であり、図におい
て、il #″ii所定空度に保持された真空槽、(2
1はこの真空槽の真空度を調節する真空排気系、(31
は真空槽…の内部に設けられた密閉型の坩堝、 (8
a)はこの坩堝に設けられたノズル、141は坩堝13
1内に充填場れた蒸着物質%161汀坩堝(31を加熱
する加熱用フイラメン) 、+61はこの加熱用フィラ
メントの熱を繊る熱シールド板、(7)は坩堝131の
ノズル(8a)から蒸着物質+41の蒸気を噴出させて
形成したクラスター(yL状原子集団) 、 +81は
電子ビームを放出する電子ビーム放出フイラメン)、+
91iこの電子ビーム放出フィラメントから電子を引き
出し加速する電子ビーム引き出し電極、(1αFi電子
ビーム放出フイラメント(8)の熱t−遣る熱シールド
板、Qυは電子ビーム放出フィラメント(81から放出
されたα子音クラスター(〕1に当ててイオン化したク
ラスターイオン、 1121はこのクラスターイオンに
電界をかけて加速し、運動エネルギーを付与する加速電
&、賭は表面に薄膜を形成する基板である。
従来の薄膜形成装置は以上のように構成され、真空槽+
11内をI X 10 Torr程度の真空度になる
まで真空排気系121によって排気する。加熱用フィラ
メント1111から放出される電子を電界で加速して坩
堝(31に衝突させ加熱する。この加熱によって坩堝1
31内の蒸着物質14)は蒸発するが、その蒸気圧を数
’rorrにしてノズル(8a)から真空槽11ン内に
噴出させる。
11内をI X 10 Torr程度の真空度になる
まで真空排気系121によって排気する。加熱用フィラ
メント1111から放出される電子を電界で加速して坩
堝(31に衝突させ加熱する。この加熱によって坩堝1
31内の蒸着物質14)は蒸発するが、その蒸気圧を数
’rorrにしてノズル(8a)から真空槽11ン内に
噴出させる。
この蒸着物質14+の蒸気はノズル(3a)から噴出す
ると断熱膨脹により過冷却状態となり凝集して塊状原子
集団のクラスター(71を形成する。
ると断熱膨脹により過冷却状態となり凝集して塊状原子
集団のクラスター(71を形成する。
このクラスター171 tri %電子ビーム放出フィ
ラメント(8)から放出される電子ビームによりその一
部がイオン化されてクラスターイオンαυとなる。
ラメント(8)から放出される電子ビームによりその一
部がイオン化されてクラスターイオンαυとなる。
このクラスターイオン111Jはイオン化されていない
中性のクラスター(7)と共に加速電極uりの電界で加
速され、基板−の表面に射突して薄膜を形成する。
中性のクラスター(7)と共に加速電極uりの電界で加
速され、基板−の表面に射突して薄膜を形成する。
従来の薄膜形成装置は以上のように構成されており、坩
堝(3)内の蒸着物質141の蒸気がノズル(3a)か
ら噴出し断熱膨脹により過冷却状態となって凝集し、ク
ラスター+71が形成されるので。
堝(3)内の蒸着物質141の蒸気がノズル(3a)か
ら噴出し断熱膨脹により過冷却状態となって凝集し、ク
ラスター+71が形成されるので。
凝集効果に限度があり、効率よくクラスター(7)を形
成することができないと云う解決すべき課題があった。
成することができないと云う解決すべき課題があった。
この発明は上記のような課題を解決するため−を形成し
て高品質の薄膜を形成することのできる薄膜形成装置を
得ることを目的とする。
て高品質の薄膜を形成することのできる薄膜形成装置を
得ることを目的とする。
この発明に係る薄膜形成装置は所定の真空度にした真空
槽の内部に基板と蒸着物質を充填した坩堝とを配置し、
坩堝を加熱して蒸着物質の蒸気を坩堝のノズルから噴出
させ、断熱膨脹による過冷却状態にしてクラスターを形
成し、このクラスターの一部をイオン化したクラスター
イオンと共に基板の表面に射突させて薄膜を形成するも
のにおいて、坩堝のノズルから噴出する蒸着物質の蒸気
を冷却して凝集効果を高める蒸気冷却手段を設け、クラ
スターの形成を促進するものである。
槽の内部に基板と蒸着物質を充填した坩堝とを配置し、
坩堝を加熱して蒸着物質の蒸気を坩堝のノズルから噴出
させ、断熱膨脹による過冷却状態にしてクラスターを形
成し、このクラスターの一部をイオン化したクラスター
イオンと共に基板の表面に射突させて薄膜を形成するも
のにおいて、坩堝のノズルから噴出する蒸着物質の蒸気
を冷却して凝集効果を高める蒸気冷却手段を設け、クラ
スターの形成を促進するものである。
この発明における蒸気冷却手段は坩堝のノズルから噴出
する蒸着物質の蒸気を冷却して凝集効果を高め、クラス
ターの形成を促進する。
する蒸着物質の蒸気を冷却して凝集効果を高め、クラス
ターの形成を促進する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はその実施列を示す構成図である。
図はその実施列を示す構成図である。
図において、Ill〜1B+、(8a)、n+ 〜(1
31は上記従来の薄膜形成装置におけるものと同じもの
である。
31は上記従来の薄膜形成装置におけるものと同じもの
である。
I211は蒸着物質、41の蒸気を冷却する不活、性ガ
スの例えば、ヘリウムを充填したボンベ、器はこのボン
ベから不活性ガスを導く導入管、・コはボンベc211
からの不活性ガスの流量1に調整するパルプ、(241
Fiボンベ圓から導いた不活性ガスと冷却する冷媒の液
体窒素を容れた冷却器、(24a)riこの冷却器の噴
出口である。なお、この実施例では蒸気冷却手段は不活
性ガスを充填したボンベはパルプβ、冷却4製及び噴出
口(24a)から構成されている。
スの例えば、ヘリウムを充填したボンベ、器はこのボン
ベから不活性ガスを導く導入管、・コはボンベc211
からの不活性ガスの流量1に調整するパルプ、(241
Fiボンベ圓から導いた不活性ガスと冷却する冷媒の液
体窒素を容れた冷却器、(24a)riこの冷却器の噴
出口である。なお、この実施例では蒸気冷却手段は不活
性ガスを充填したボンベはパルプβ、冷却4製及び噴出
口(24a)から構成されている。
次に作用について説明する。真空111117’3をl
X10Torr程度の真空度になるまで真空排気系21
で排気し、加熱用フイラメン) +51から放出される
電子を電界で加速して坩堝(31に衝突させ加熱する。
X10Torr程度の真空度になるまで真空排気系21
で排気し、加熱用フイラメン) +51から放出される
電子を電界で加速して坩堝(31に衝突させ加熱する。
この加熱によって坩堝・31内の蒸着物質141は蒸発
するが、その蒸気圧を数Torrにしてノズル(8a)
から真空[111内に噴出させる。次いでボンベ2υに
充填したヘリウムを導入管力?経てバルプコで流Wk調
整しながら冷却器(至)へ導き冷媒の液体窒素で冷却す
る。冷却されたヘリウムは噴出口r!4a)から噴出し
、蒸着物質+41の蒸気を冷却する。坩堝131内の蒸
着物質(4:の蒸気はノズル(3a)から噴出するとI
I!li熱膨脹により過冷却状態となって凝集しクラス
ター(7)t−形成するが、冷却されたヘリクA?あて
て冷却することにより凝集効果が高まり、クラスター(
71の形成が一層促進されることになる・この後の作用
については上記従来の薄膜形成装置の場合と同じである
ので、説明を省略する。
するが、その蒸気圧を数Torrにしてノズル(8a)
から真空[111内に噴出させる。次いでボンベ2υに
充填したヘリウムを導入管力?経てバルプコで流Wk調
整しながら冷却器(至)へ導き冷媒の液体窒素で冷却す
る。冷却されたヘリウムは噴出口r!4a)から噴出し
、蒸着物質+41の蒸気を冷却する。坩堝131内の蒸
着物質(4:の蒸気はノズル(3a)から噴出するとI
I!li熱膨脹により過冷却状態となって凝集しクラス
ター(7)t−形成するが、冷却されたヘリクA?あて
て冷却することにより凝集効果が高まり、クラスター(
71の形成が一層促進されることになる・この後の作用
については上記従来の薄膜形成装置の場合と同じである
ので、説明を省略する。
なお、上記実施列では不活性ガスのヘリウムを冷媒の液
体窒素で冷却し冷却器(24の噴出口(24a)から噴
出させて蒸着物質)41の蒸気を冷却するものとしたが
、不活性ガスの代りに酸素、水素、−酸化炭素、窒素な
どの反応性ガスを用いることにより、基板Q31の表面
に化合物の薄膜を形成することができる。
体窒素で冷却し冷却器(24の噴出口(24a)から噴
出させて蒸着物質)41の蒸気を冷却するものとしたが
、不活性ガスの代りに酸素、水素、−酸化炭素、窒素な
どの反応性ガスを用いることにより、基板Q31の表面
に化合物の薄膜を形成することができる。
また、上記実施列の蒸気冷却手段に限るものでないこ亡
は云うまでもない。
は云うまでもない。
以上のように、この発F3AVcよれば坩堝のノズルか
ら噴出する一蒸着物質の蒸気と冷却して凝集効果を高め
る蒸気冷却手段を設けたので、効率よくクラスターを形
成して高品質の4膜を形成することができると云う効果
がある。
ら噴出する一蒸着物質の蒸気と冷却して凝集効果を高め
る蒸気冷却手段を設けたので、効率よくクラスターを形
成して高品質の4膜を形成することができると云う効果
がある。
第1図はこの発明の一実施例を示す模式図。
第8図は従来の薄膜形成装置を示す模式図である。
図において、111は真空槽、(21は真空排気系。
tal #i坩堝、 (3a)はノズル、(41は蒸
着物質、61は加熱用フイラメン)、+71はクラスタ
ー、(8)は電子ビーム放出フィラメント、・1υはク
ラスターイオン、031は基板、 1211はボンベ、
−は導入管、23はパルプ、124は冷却器、r24a
)は噴出口である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
着物質、61は加熱用フイラメン)、+71はクラスタ
ー、(8)は電子ビーム放出フィラメント、・1υはク
ラスターイオン、031は基板、 1211はボンベ、
−は導入管、23はパルプ、124は冷却器、r24a
)は噴出口である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 所定の真空度にした真空槽の内部に基板と蒸着物質を
充填した坩堝とを配置し、上記坩堝を加熱して上記蒸着
物質の蒸気を上記坩堝のノズルから噴出させ、断熱膨脹
により過冷却状態にしてクラスターを形成し、このクラ
スターの一部をイオン化したクラスターイオンと共に上
記基板の表面に射突させて薄膜を形成するものにおいて
、上記坩堝のノズルから噴出する上記蒸着物質の蒸気を
冷却して凝集効果を高める蒸気冷却手段を設け、上記ク
ラスターの形成を促進することを特徴とする薄膜形成装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30053589A JPH03158460A (ja) | 1989-11-16 | 1989-11-16 | 薄膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30053589A JPH03158460A (ja) | 1989-11-16 | 1989-11-16 | 薄膜形成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03158460A true JPH03158460A (ja) | 1991-07-08 |
Family
ID=17885994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30053589A Pending JPH03158460A (ja) | 1989-11-16 | 1989-11-16 | 薄膜形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03158460A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020174245A3 (en) * | 2019-02-27 | 2020-10-29 | HE Carbon SuperCap Limited | A sub-critical nucleation process for making stable clusters of atoms that are of subcritical size, and the structure, properties and applications of materials that are made from these clusters |
-
1989
- 1989-11-16 JP JP30053589A patent/JPH03158460A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020174245A3 (en) * | 2019-02-27 | 2020-10-29 | HE Carbon SuperCap Limited | A sub-critical nucleation process for making stable clusters of atoms that are of subcritical size, and the structure, properties and applications of materials that are made from these clusters |
CN113574012A (zh) * | 2019-02-27 | 2021-10-29 | 和碳超级电容有限公司 | 制造亚临界尺寸的稳定原子簇的亚临界成核工艺及由这些簇制成的材料的结构、性质和应用 |
GB2596474A (en) * | 2019-02-27 | 2021-12-29 | He Carbon Supercap Ltd | A sub-critical nucleation process for making stable clusters of atoms that are of sub-critical size, and the structure, properties and applications of materials |
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