JPH03150741A - 光学的記録装置 - Google Patents
光学的記録装置Info
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- JPH03150741A JPH03150741A JP28739189A JP28739189A JPH03150741A JP H03150741 A JPH03150741 A JP H03150741A JP 28739189 A JP28739189 A JP 28739189A JP 28739189 A JP28739189 A JP 28739189A JP H03150741 A JPH03150741 A JP H03150741A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光磁気ディスクなどの記録媒体を用いて情報
を記録再生する光学的記録装置に関するつ [従来の技術] 従来、この種の装置としては1例えば第9図に示すよう
な構成のものがある。
を記録再生する光学的記録装置に関するつ [従来の技術] 従来、この種の装置としては1例えば第9図に示すよう
な構成のものがある。
図中1は1表面に磁性膜2を形成した光磁気ディスクで
あって、モータ3の駆動により中心軸0を中心に回転で
きるよう構成されているつ光磁気ディスク1の下面には
、 −hに光学部品で構成された情報記録内生用の光ピ
ツクアップ4が配設されている。
あって、モータ3の駆動により中心軸0を中心に回転で
きるよう構成されているつ光磁気ディスク1の下面には
、 −hに光学部品で構成された情報記録内生用の光ピ
ツクアップ4が配設されている。
光ピツクアップ4には、光源として半導体レーザ5が内
蔵されており、この半導体レーザ5がら発した光は、コ
リメートレンズ6及びビームスプリッタ7aを透過し、
対物レンズ8で光磁気ディスク11−に集光される。−
・方、光磁気ディスクlで反φすされた光は、iffび
対物レンズ8を通り、ビームスプリッタ7aで入射光と
分離され、さらにビームスプリッタ7bで二つの光に分
v1される。この分割されたー・方の光は、センサレン
ズ9aを介して光センサlOaで受光される。そして、
この光センサ10aの出力を基に、AT・AP回路11
によってフォーカス誤差信号及びトラック誤差信号が検
知される。これらの誤差信号は、アクチュエータ12に
入力され、対物レンズ8を駆動することによって、オー
トトラッキング及びオートフォーカシングが行われる。
蔵されており、この半導体レーザ5がら発した光は、コ
リメートレンズ6及びビームスプリッタ7aを透過し、
対物レンズ8で光磁気ディスク11−に集光される。−
・方、光磁気ディスクlで反φすされた光は、iffび
対物レンズ8を通り、ビームスプリッタ7aで入射光と
分離され、さらにビームスプリッタ7bで二つの光に分
v1される。この分割されたー・方の光は、センサレン
ズ9aを介して光センサlOaで受光される。そして、
この光センサ10aの出力を基に、AT・AP回路11
によってフォーカス誤差信号及びトラック誤差信号が検
知される。これらの誤差信号は、アクチュエータ12に
入力され、対物レンズ8を駆動することによって、オー
トトラッキング及びオートフォーカシングが行われる。
もう一方の光は、さらにビームスプリッタ7Cで二つの
光に分割され、各々の光はセンサレンズ9b、9cを介
して光センサ10b、10cで受光される。そして、光
センサ10b及び10cからの信号の和をとることによ
って、再生信号が得られる。
光に分割され、各々の光はセンサレンズ9b、9cを介
して光センサ10b、10cで受光される。そして、光
センサ10b及び10cからの信号の和をとることによ
って、再生信号が得られる。
また、光ピツクアップ4では、半導体レーザ5により連
続的に一定強度のレーザが発光され、このレーザ光が光
磁気ディスク1の磁性膜2上に局所的に照射される。こ
れにより、磁性膜2のレーザ光照射部位の温度がキュリ
ー点以上に上昇される。
続的に一定強度のレーザが発光され、このレーザ光が光
磁気ディスク1の磁性膜2上に局所的に照射される。こ
れにより、磁性膜2のレーザ光照射部位の温度がキュリ
ー点以上に上昇される。
光磁気ディスクlの上面には、電磁石13が配設されて
おり、磁性膜2のレーザ光照射部位にバイアス6n界を
印加するようになっている。この電磁石13は、光ピツ
クアップ4と連動して光磁気ディスク1の半径方向に移
動する構造であり、この移動によって光磁気ディスクl
の任意のアドレスがアクセスされる。また、電磁石13
は磁界変調回路14で駆動され、コイル13Bに供給す
る電流の位相を反転することで、バイアス磁界が変調さ
れる。
おり、磁性膜2のレーザ光照射部位にバイアス6n界を
印加するようになっている。この電磁石13は、光ピツ
クアップ4と連動して光磁気ディスク1の半径方向に移
動する構造であり、この移動によって光磁気ディスクl
の任意のアドレスがアクセスされる。また、電磁石13
は磁界変調回路14で駆動され、コイル13Bに供給す
る電流の位相を反転することで、バイアス磁界が変調さ
れる。
次に、情報の配録動作について、第10図を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
第10図(a)記録信号、第10図(blは変調された
印加磁界である。記録信号“l”を記録する場合、磁界
変調回路14かもコイル13BにIA力方向電流が供給
され、これによって電磁石13からHA力方向磁界が発
生される。この結果、第1O図(b)に示す如く、磁界
強度H0の磁界が磁性膜2の情報記録点であるレーザ光
照射部位に印加される。
印加磁界である。記録信号“l”を記録する場合、磁界
変調回路14かもコイル13BにIA力方向電流が供給
され、これによって電磁石13からHA力方向磁界が発
生される。この結果、第1O図(b)に示す如く、磁界
強度H0の磁界が磁性膜2の情報記録点であるレーザ光
照射部位に印加される。
一方、記録信号が“O“である場合は、磁界変調回路1
4からコイル13BにI、方向に電流が供給され、電磁
石13からH,方向に磁界が発生される。これにより、
磁界強度−H,の磁界が磁性膜2のレーザ光照射部位に
印加される。ここで示した磁界強度±H,は、極性が逆
極性であって、絶対値は同じである。また、この±H9
の磁界強度は、それぞれ磁性膜2の磁化の方向を一定の
方向に揃えるのに充分な磁界強度である。従って、記録
信号に応じて磁界を変調することで、第10図(dlに
a −dとして示すように、記録信号“l”、O″′に
応じて磁化の方向が反転した記録ピットが形成され、情
報の記録が行われる。また、記録ピットを再生すること
により、第1O図ie)に示すような再生信号が得られ
、記録された情報を読出すことができる。なお、第1O
図iclは、磁性l112の温度をキュリー点以上に上
昇させるために、半導体レーザ5から照射される一定強
度Wのレーザ光である。
4からコイル13BにI、方向に電流が供給され、電磁
石13からH,方向に磁界が発生される。これにより、
磁界強度−H,の磁界が磁性膜2のレーザ光照射部位に
印加される。ここで示した磁界強度±H,は、極性が逆
極性であって、絶対値は同じである。また、この±H9
の磁界強度は、それぞれ磁性膜2の磁化の方向を一定の
方向に揃えるのに充分な磁界強度である。従って、記録
信号に応じて磁界を変調することで、第10図(dlに
a −dとして示すように、記録信号“l”、O″′に
応じて磁化の方向が反転した記録ピットが形成され、情
報の記録が行われる。また、記録ピットを再生すること
により、第1O図ie)に示すような再生信号が得られ
、記録された情報を読出すことができる。なお、第1O
図iclは、磁性l112の温度をキュリー点以上に上
昇させるために、半導体レーザ5から照射される一定強
度Wのレーザ光である。
このように、光磁気ディスクにレーザ光と磁界を用いて
情報を記録する光磁気記録装置では、バイアス6n界に
よってm什の方向をtifλろことで情報を記録するた
め、前に情報が記録されていても、その上から重ね書き
することによって、新しい情報を記録することができる
。
情報を記録する光磁気記録装置では、バイアス6n界に
よってm什の方向をtifλろことで情報を記録するた
め、前に情報が記録されていても、その上から重ね書き
することによって、新しい情報を記録することができる
。
[発明が解決しようとしている課題〕
しかしながら、このような光磁気記録装置では、記録時
にレーザパワーが変動すると、新しいピットを重ね書き
したときに、前の記録ピットが完全に消去されず、一部
が残ってしまうことがある6例えば、以前に記録したと
きのレーザパワーが基準値より大きかった場合、その上
に基準値あるいはそれ以下のレーザパワーで重ね書きす
ると、第11図(al に斜線で示すように、ピットの
消し残りが生じる。またレーザパワーの変動に限らず、
周囲温度の変化によっても、消し残りが生じてしまう。
にレーザパワーが変動すると、新しいピットを重ね書き
したときに、前の記録ピットが完全に消去されず、一部
が残ってしまうことがある6例えば、以前に記録したと
きのレーザパワーが基準値より大きかった場合、その上
に基準値あるいはそれ以下のレーザパワーで重ね書きす
ると、第11図(al に斜線で示すように、ピットの
消し残りが生じる。またレーザパワーの変動に限らず、
周囲温度の変化によっても、消し残りが生じてしまう。
更に5重ね書きしているときに、何らかの原因でトラッ
クがずれるオフトラックが発生すると、第11図ib)
に斜線で示すように、ピットの消し残りが生じる。また
、レーザパワーの変動とオフトラ−Jりが闇鯖!ご中1
−たり一他め六すざ中??直田によってピットの消し残
りが生じる恐れがある。
クがずれるオフトラックが発生すると、第11図ib)
に斜線で示すように、ピットの消し残りが生じる。また
、レーザパワーの変動とオフトラ−Jりが闇鯖!ご中1
−たり一他め六すざ中??直田によってピットの消し残
りが生じる恐れがある。
このような消し残りピットをそのまま記録した状態で再
生すると、消し残りピットがノイズとなって現われ、記
録情報の品質を劣化させる問題があった。
生すると、消し残りピットがノイズとなって現われ、記
録情報の品質を劣化させる問題があった。
本発明は、このような問題点に鑑みなされたもので、そ
の目的は消し残りピットの影響を完全に防止し、記録情
報の信頼性を向上するようにした光学的記録装置を提供
することにある。
の目的は消し残りピットの影響を完全に防止し、記録情
報の信頼性を向上するようにした光学的記録装置を提供
することにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために、光記録媒体に光ビームを照
射することによって、該媒体上に記録ピットとして情報
を記録し、記録された情報を再生し、また、前記記録ピ
ットを消去する光学的記録装置において、前記消去時に
生じた消し残りピットの量を所定の領域毎に検知する手
段を有し、消し残りピットの量が設定値に達したらこの
領域に記録された情報をバッファメモリに一旦記憶させ
、この領域の記録ピット及び消し残りピットを全て消去
した後、前記バッファメモリに記憶された情報をこの領
域に再記録することを特徴とする光学的記録装置が提供
される。
射することによって、該媒体上に記録ピットとして情報
を記録し、記録された情報を再生し、また、前記記録ピ
ットを消去する光学的記録装置において、前記消去時に
生じた消し残りピットの量を所定の領域毎に検知する手
段を有し、消し残りピットの量が設定値に達したらこの
領域に記録された情報をバッファメモリに一旦記憶させ
、この領域の記録ピット及び消し残りピットを全て消去
した後、前記バッファメモリに記憶された情報をこの領
域に再記録することを特徴とする光学的記録装置が提供
される。
[作用]
本発明では、消去時に生じた消し残りピットの量を所定
の領域毎に検知し、消し残りピットの量が設定値に達し
たらこの領域に記録された情報をバッファメモリに一時
的に記憶させる。そして、この領域の記録ピット及び消
し残りピットを全て消去し、その後前記バッファメモリ
に記憶された情報をこの領域に再記録するようにした。
の領域毎に検知し、消し残りピットの量が設定値に達し
たらこの領域に記録された情報をバッファメモリに一時
的に記憶させる。そして、この領域の記録ピット及び消
し残りピットを全て消去し、その後前記バッファメモリ
に記憶された情報をこの領域に再記録するようにした。
従って、消し残りピットの量が多くなった場合、全ての
ピットを消去後、再度情報を記録するため、ノイズの発
生などの消し残りピットの影響を完全にな(すことがで
きる。
ピットを消去後、再度情報を記録するため、ノイズの発
生などの消し残りピットの影響を完全にな(すことがで
きる。
[実施例]
以下、本発明について図面を参照しながら説明する。第
1図は本発明の光学的記録装置の一実施例を示す構成図
である。なお、第1図では従来装置と同一部分は同一符
号を付している。
1図は本発明の光学的記録装置の一実施例を示す構成図
である。なお、第1図では従来装置と同一部分は同一符
号を付している。
第1図において、1はガラス、プラスチックなどの基板
上に磁性膜2が形成された円盤状の光磁気ディスクであ
って、モータ3の駆動により中心軸を中心に回転する構
造である。光磁気ディスク1の下面には、光ピツクアッ
プ4が配設され、上面には光ピツクアップ4と相対向し
て電磁石13が配設されている。電磁石13は磁界変調
回路14で駆動され、コイル13Bに供給する電流を記
録信号に応じて■、とIaの各方向に切換えることで、
バイアス磁界が変調される。また、電磁石13と光ピツ
クアップ4は光磁気ディスクlの半径方向に連動して移
動できる構造となっている。
上に磁性膜2が形成された円盤状の光磁気ディスクであ
って、モータ3の駆動により中心軸を中心に回転する構
造である。光磁気ディスク1の下面には、光ピツクアッ
プ4が配設され、上面には光ピツクアップ4と相対向し
て電磁石13が配設されている。電磁石13は磁界変調
回路14で駆動され、コイル13Bに供給する電流を記
録信号に応じて■、とIaの各方向に切換えることで、
バイアス磁界が変調される。また、電磁石13と光ピツ
クアップ4は光磁気ディスクlの半径方向に連動して移
動できる構造となっている。
光ピツクアップ4は、半導体レーザ5を備えており、こ
の半導体レーザ5から発した光は、コリメートレンズ6
を通ってビームスプリッタ7aに入射される。コリメー
トレンズ6とビームスプリッタ7aの間には1回折格子
15が配置され、半導体レーザ5から発した光を3本の
光束に分割するようになっている。この3本の光束は、
詳しくは後述するが、3本の光束を一つはメインビーム
、残りの二つはサブビームとして光磁気ディスク1に照
射することにより、メインビームでトラック上の記録ピ
ットを再生し、二つのサブビームでトラックの両側の消
し残りピットを再生するというものである。、また、二
つのサブビームで消し残しピットの量を検出するという
ものである。
の半導体レーザ5から発した光は、コリメートレンズ6
を通ってビームスプリッタ7aに入射される。コリメー
トレンズ6とビームスプリッタ7aの間には1回折格子
15が配置され、半導体レーザ5から発した光を3本の
光束に分割するようになっている。この3本の光束は、
詳しくは後述するが、3本の光束を一つはメインビーム
、残りの二つはサブビームとして光磁気ディスク1に照
射することにより、メインビームでトラック上の記録ピ
ットを再生し、二つのサブビームでトラックの両側の消
し残りピットを再生するというものである。、また、二
つのサブビームで消し残しピットの量を検出するという
ものである。
回折格子15で分割された光は、ビームスプリッタ7a
を透過し、対物レンズ8で光磁気ディスクl上に集光さ
れる。一方、光磁気ディスク1で反射された光は、再び
対物レンズ8を通り。
を透過し、対物レンズ8で光磁気ディスクl上に集光さ
れる。一方、光磁気ディスク1で反射された光は、再び
対物レンズ8を通り。
ビームスプリッタ7aで入射光と分離され、更にビーム
スブリック7bで二つの光に分割される。
スブリック7bで二つの光に分割される。
この分割された一方の光のグループはセンサレンズ9a
を介して光センサloaで受光される。
を介して光センサloaで受光される。
光センサloaは、三つの光センサ27a〜27cで構
成されておりセンサレンズ9aを介して入射されたメイ
ンビーム及び二つのサブビームはそれぞれ光センサ27
a〜27cで受光される。メインビームは、中央の光セ
ンサ27bで受光され、このセンサの出力を基に、AT
−AF回路11によってフォーカス誤差信号及びトラッ
ク誤差信号が検知される。これらの誤差信号は、アクチ
ュエータ12に入力され、対物レンズ8を駆動すること
によって、オートトラッキング及びオートフォーカシン
グが行われる。また、センサレンズ9aを介して入射さ
れた二つのサブビームは、それぞれ光センサ27a、2
7cで受光される。そして、この光センサ27a、27
cの出力信号は、消し残り度判定回路へ送られ、詳しく
は後述するが、サブビームによって再生した再生信号を
基に消し残りピットの度合が判定される。このとき、消
し残りピットが設定量よりも多かった場合は、そのトラ
ックの記録情報が消去され、再記録が行われる。
成されておりセンサレンズ9aを介して入射されたメイ
ンビーム及び二つのサブビームはそれぞれ光センサ27
a〜27cで受光される。メインビームは、中央の光セ
ンサ27bで受光され、このセンサの出力を基に、AT
−AF回路11によってフォーカス誤差信号及びトラッ
ク誤差信号が検知される。これらの誤差信号は、アクチ
ュエータ12に入力され、対物レンズ8を駆動すること
によって、オートトラッキング及びオートフォーカシン
グが行われる。また、センサレンズ9aを介して入射さ
れた二つのサブビームは、それぞれ光センサ27a、2
7cで受光される。そして、この光センサ27a、27
cの出力信号は、消し残り度判定回路へ送られ、詳しく
は後述するが、サブビームによって再生した再生信号を
基に消し残りピットの度合が判定される。このとき、消
し残りピットが設定量よりも多かった場合は、そのトラ
ックの記録情報が消去され、再記録が行われる。
ビームスプリッタ7bで分割されたもう一方の光のグル
ープは、センサレンズ9Cを介して光センサlocで受
光される。光センサlocは、光センサ17a=17c
の三つのセンサから構成されており、前述した三つの光
束はセンサ17a〜17cでそれぞれ受光される。そし
て、ここで受光された受光信号は、それぞれ再生信号処
理回路へ送られ、記録情報が再生される。
ープは、センサレンズ9Cを介して光センサlocで受
光される。光センサlocは、光センサ17a=17c
の三つのセンサから構成されており、前述した三つの光
束はセンサ17a〜17cでそれぞれ受光される。そし
て、ここで受光された受光信号は、それぞれ再生信号処
理回路へ送られ、記録情報が再生される。
ここで、回折格子15によって分割される三つの光束に
ついて説明する。第2図に磁性膜2上に集光される三つ
の光束の光スポットを示す、中央のSF3はメインビー
ムの光スポットを示したもので、0次の回折光である。
ついて説明する。第2図に磁性膜2上に集光される三つ
の光束の光スポットを示す、中央のSF3はメインビー
ムの光スポットを示したもので、0次の回折光である。
また、SF3の両側のSPIとSF3は、サブビームの
光スポットであって、±1次の回折光である。
光スポットであって、±1次の回折光である。
メインビームの光スポットSP2とサブビームの光スポ
ットSP1.SP3の強度比は、回折格子15の構成を
変えることによって、任意に設定することができる。従
って、光強度を変えることによって、各光スポットの径
を任意に変えることが可能である。
ットSP1.SP3の強度比は、回折格子15の構成を
変えることによって、任意に設定することができる。従
って、光強度を変えることによって、各光スポットの径
を任意に変えることが可能である。
この三つの光スポットは、第3図に示すような位置関係
で光磁気ディスクlの磁性膜2上に照射される。即ち、
光スポットSP1.SP3は光スポットSP2の両側に
位置し、しかもこの三つの光スポットはトラック18に
対して所定角度で交差する直線A上に一列に配列するよ
うな位置関係となっている。また、メインビームの光ス
ポットSP2の径は、記録ピット19よりもやや大きく
、その両側の消し残りピットも再生できるような大きさ
に設定されている。
で光磁気ディスクlの磁性膜2上に照射される。即ち、
光スポットSP1.SP3は光スポットSP2の両側に
位置し、しかもこの三つの光スポットはトラック18に
対して所定角度で交差する直線A上に一列に配列するよ
うな位置関係となっている。また、メインビームの光ス
ポットSP2の径は、記録ピット19よりもやや大きく
、その両側の消し残りピットも再生できるような大きさ
に設定されている。
従って、第4図に示すように、メインビームの光スポッ
トSP2は、トラック上の真の記録ピット19及びその
両側の消し残りピット20に照射され、このメインの光
スポットSP2を再生することにより、消し残りピット
20を含む全体の記録信号を再生することができる。一
方、サブビームの二つの光スポットSP1.SP3は、
それぞれ記録ピット19の両側の消し残りピット20に
照射され、この光スポットSP1.SP3を再生するこ
とにより、消し残りピット20のみを再生することがで
きる8これらの光スポットSPI〜SP3の光は、前述
の如く光センサlocで受光され、再生信号処理回路へ
送られる。
トSP2は、トラック上の真の記録ピット19及びその
両側の消し残りピット20に照射され、このメインの光
スポットSP2を再生することにより、消し残りピット
20を含む全体の記録信号を再生することができる。一
方、サブビームの二つの光スポットSP1.SP3は、
それぞれ記録ピット19の両側の消し残りピット20に
照射され、この光スポットSP1.SP3を再生するこ
とにより、消し残りピット20のみを再生することがで
きる8これらの光スポットSPI〜SP3の光は、前述
の如く光センサlocで受光され、再生信号処理回路へ
送られる。
第5図に再生信号処理回路の具体的構成を示す。
前述した光センサ17aの受光信号は、デイレイ回路2
1及び22を介して反転増幅器23へ入力される。光セ
ンサ17aは、光スポットSPIの受光用センサであっ
て、光スポットSPIが最も先行するため、受光信号は
二つのデイレイ回路21及び22によって、遅らせられ
る。また、反転増幅器23によって、光スポットSP2
に対して光強度比の分だけ反転増幅した後、加算器24
へ人力される。
1及び22を介して反転増幅器23へ入力される。光セ
ンサ17aは、光スポットSPIの受光用センサであっ
て、光スポットSPIが最も先行するため、受光信号は
二つのデイレイ回路21及び22によって、遅らせられ
る。また、反転増幅器23によって、光スポットSP2
に対して光強度比の分だけ反転増幅した後、加算器24
へ人力される。
光センサ17bは、光スポットSP2の受光用センサで
あり、その受光信号はデイレイ回路25を介して加算器
24へ入力される。光スポットSP2は、光スポットS
P3に対する時間差の分だけデイレイ回路25によって
、遅らせられる。
あり、その受光信号はデイレイ回路25を介して加算器
24へ入力される。光スポットSP2は、光スポットS
P3に対する時間差の分だけデイレイ回路25によって
、遅らせられる。
光センサ17cは、光スポット17cの受光用センサで
あって、受光信号は、光スポットSP2に対する光強度
比の分だけ反転増幅された後、加算器24へ入力される
6 第6図に各光センサ17a〜17cの受光信号のタイミ
ングを示す、光センサ17aで受光された光スポットS
PIの受光信号が最も先行し、次に光スポットSP2.
5P3の順に各センサから出力される。そこで、前述し
たように、光センサ17bの出力はデイレイ回路25で
、光センサ17aの出力はデイレイ回路21.22で遅
れるようになっているため、第7図に示すように、各光
センサ17a〜17cの出力のタイミングが合致される
。
あって、受光信号は、光スポットSP2に対する光強度
比の分だけ反転増幅された後、加算器24へ入力される
6 第6図に各光センサ17a〜17cの受光信号のタイミ
ングを示す、光センサ17aで受光された光スポットS
PIの受光信号が最も先行し、次に光スポットSP2.
5P3の順に各センサから出力される。そこで、前述し
たように、光センサ17bの出力はデイレイ回路25で
、光センサ17aの出力はデイレイ回路21.22で遅
れるようになっているため、第7図に示すように、各光
センサ17a〜17cの出力のタイミングが合致される
。
このように各信号のタイミングが合致した状態で、各信
号を加算器24で加算すると、第7図に示すように、真
の記録ピット再生信号を得ることができる。即ち、光ス
ポットSP1.SP2の信号は、光スポットSP2に対
する光強度比の分だけ反転増幅されているため、これら
の信号を加算器24で加算すれば、光スポットSP2の
信号から光スポットSP1.SP3の信号を減算するこ
とができる。このことは、光スポットSP2で再生した
全体の再生信号から光スポットSPI。
号を加算器24で加算すると、第7図に示すように、真
の記録ピット再生信号を得ることができる。即ち、光ス
ポットSP1.SP2の信号は、光スポットSP2に対
する光強度比の分だけ反転増幅されているため、これら
の信号を加算器24で加算すれば、光スポットSP2の
信号から光スポットSP1.SP3の信号を減算するこ
とができる。このことは、光スポットSP2で再生した
全体の再生信号から光スポットSPI。
SF3で再生した消し残りピットの再生信号を差引(こ
とであり、これによって真の記録ピットの再生信号のみ
を効果的に取出すことができる。
とであり、これによって真の記録ピットの再生信号のみ
を効果的に取出すことができる。
次に消し残り度判定回路について説明する。第8図にそ
の消し残り度判定回路の具体的構成を示す。
の消し残り度判定回路の具体的構成を示す。
光センサ27a及び27cは、前述の如くサブビームを
受光するセンサであって、サブビームの光スポットSP
Iは光センサ27aで、光スポットSP3は光センサ2
7cでそれぞれ受光される。光センサ27aの出力信号
は、デイレイ回路28に入力され、ここで光スポットS
P3どの時間差分を遅らせることによって、光スポット
SP1.SP2のタイミングが合致される。これにより
、光センサ27a、27cの出力信号は。
受光するセンサであって、サブビームの光スポットSP
Iは光センサ27aで、光スポットSP3は光センサ2
7cでそれぞれ受光される。光センサ27aの出力信号
は、デイレイ回路28に入力され、ここで光スポットS
P3どの時間差分を遅らせることによって、光スポット
SP1.SP2のタイミングが合致される。これにより
、光センサ27a、27cの出力信号は。
同じタイミングで加算器29に入力され、双方の出力信
号が加算される。ここで加算された信号は、消し残り飽
和判定回路30へ出力され、消し残りピットの量と設定
値を比較することにより、消し残りピットの量が予め定
めた所定量に達したかどうかが判定される。
号が加算される。ここで加算された信号は、消し残り飽
和判定回路30へ出力され、消し残りピットの量と設定
値を比較することにより、消し残りピットの量が予め定
めた所定量に達したかどうかが判定される。
消し残り飽和判定回路30は、1トラツク毎に前述のよ
うな判定動作を行うもので、あるトラックの消し残りの
ピットの量が設定値に達していると判定したときは、ア
ラーム信号がシステムコントローラ31に出力される。
うな判定動作を行うもので、あるトラックの消し残りの
ピットの量が設定値に達していると判定したときは、ア
ラーム信号がシステムコントローラ31に出力される。
システムコントローラ31は、不良と判定されたトラッ
クに記録されている情報をホストコンビューク32を介
してRAM33へ送り、ここで−時的に情報を記憶させ
る0次に、システムコントローラ31から磁界変調回路
14及びレーザドライバ34に不良トラックの情報を消
去する指令信号が出力される。
クに記録されている情報をホストコンビューク32を介
してRAM33へ送り、ここで−時的に情報を記憶させ
る0次に、システムコントローラ31から磁界変調回路
14及びレーザドライバ34に不良トラックの情報を消
去する指令信号が出力される。
これにより、磁界変調回路14は記録情報を消去する方
向に磁界を発生し、またレーザドライバ34は半導体レ
ーザ5の出力をライトパワーよりも大きなパワーで直流
的に点灯することによって、その不良トラックの消し残
りピット及び記録ピットが完全に消去される。
向に磁界を発生し、またレーザドライバ34は半導体レ
ーザ5の出力をライトパワーよりも大きなパワーで直流
的に点灯することによって、その不良トラックの消し残
りピット及び記録ピットが完全に消去される。
この消去動作の後、システムコントローラ31からRA
M33に記憶させていた情報を再度記録するよう指令信
号が出力される。これにより、RAM33か61トラッ
ク分の情報が読出され、光ピツクアップ4、磁界変調回
路14などの記録動作により、読出された情報が再び同
じトラックに記録される。
M33に記憶させていた情報を再度記録するよう指令信
号が出力される。これにより、RAM33か61トラッ
ク分の情報が読出され、光ピツクアップ4、磁界変調回
路14などの記録動作により、読出された情報が再び同
じトラックに記録される。
以上のように1本実施例では、再生信号処理回路によっ
てメインビームで再生した再生信号からサブビームで再
生した再生信号を減算処理するため、消し残りピットの
成分を除去し、真の記録ピットの再生信号のみを取出す
ことができる。従って、再生時において記録情報に含ま
れる消し残りピットの成分を除去でき、これによって、
ノイズの発生などの消し残りピットの影響を完全に防止
できる。
てメインビームで再生した再生信号からサブビームで再
生した再生信号を減算処理するため、消し残りピットの
成分を除去し、真の記録ピットの再生信号のみを取出す
ことができる。従って、再生時において記録情報に含ま
れる消し残りピットの成分を除去でき、これによって、
ノイズの発生などの消し残りピットの影響を完全に防止
できる。
また、消し残りピット量が設定量よりも多かった場合、
消し残り度判定回路が有効に機能し、消し残りピットを
消去した上で、再度記録情報を記録するよう制御する。
消し残り度判定回路が有効に機能し、消し残りピットを
消去した上で、再度記録情報を記録するよう制御する。
従って、トラックに沿って形成される余計なノイズ発生
源ともいうべき消し残りピットを完全に清掃できるため
、記録情報のみを正確に再生でき、記録情報の信頼性を
更に高めることができる。
源ともいうべき消し残りピットを完全に清掃できるため
、記録情報のみを正確に再生でき、記録情報の信頼性を
更に高めることができる。
なお、従来の3つのビームを使用する方式のう磁気記録
装置も知られているが、この方式のもζでは記録時にメ
インスポットを記録用、サブじポットをベリファイ用と
して使用されている。この点1本発明は、再生時におい
てもメインスポット、サブスポットを用いるため、3ビ
一ム方式〇光磁気記録装置に好適である。
装置も知られているが、この方式のもζでは記録時にメ
インスポットを記録用、サブじポットをベリファイ用と
して使用されている。この点1本発明は、再生時におい
てもメインスポット、サブスポットを用いるため、3ビ
一ム方式〇光磁気記録装置に好適である。
また1以上の実施例では、光磁気ディスクを月いた磁界
変調方式の光磁気記録装置を例にとっχ説明したが、こ
れに限ることなく、光変調方式q装置であってもよいし
、あるいは他の書き換え力可能な光学的記録装置にもも
ちろん適用が可能である。
変調方式の光磁気記録装置を例にとっχ説明したが、こ
れに限ることなく、光変調方式q装置であってもよいし
、あるいは他の書き換え力可能な光学的記録装置にもも
ちろん適用が可能である。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、消し残りピットの
量を検出し、その量が設定量よりも多がった場合、消し
残りピットを消去後、再度情報を記録するため、消し残
りピットが全くない状態で情報を記録することができる
。従って、ノイズの発生などの消し残りピットの影響を
完全になくせるため、記録情報のみを再生することがで
き、記録情報の信頼性を高めることができる効果がある
。
量を検出し、その量が設定量よりも多がった場合、消し
残りピットを消去後、再度情報を記録するため、消し残
りピットが全くない状態で情報を記録することができる
。従って、ノイズの発生などの消し残りピットの影響を
完全になくせるため、記録情報のみを再生することがで
き、記録情報の信頼性を高めることができる効果がある
。
第1図は本発明の光学的記録装置の一実施例を示す構成
図、第2図は光スポット及び各光スポットの強度を示す
説明図、第3図は記録ピットと各光スポットの位置関係
を示す説明図、第4図は三つの光スポットと記録ピット
及び消し残りピットを示す説明図、第5図は再生信号処
理回路のブロック図、第6図は光センサlocの出力信
号を示すタイムチャート、第7図は再生処理途中の各光
スポットの再生信号及び再生処理結果の再生信号を示す
タイムチャート、第8図は消し残り度判定回路のブロッ
ク図、第9図は従来装置のブロック図、第10図(al
〜(el は従来装置の動作を示すタイムチャート、第
ti図(a)は記録時のレーザパワー変動、周囲温度変
化による消し残りピットを示す説明図、第11図(b)
はオフトラックによる消し残りピットを示す説明図であ
る。 1・・・光磁気ディスク 2・・・磁性膜4・・・光
ピツクアップ 5・・・半導体レーザ7a、7b・・
・ビームスプリッタ 10a、10c・・・光センサ 13・・・電磁石 14・・・磁界変調回路1
5・・・回折格子 17a〜17c、27a 〜27cm光センサ18・・
・トラック 19・・・記録ピット20・・・消
し残りピット 28・・・デイレイ回路29・・・加算
器 30・・・消し残り飽和回路 31・・・システムコントローラ 33・・・RAM。
図、第2図は光スポット及び各光スポットの強度を示す
説明図、第3図は記録ピットと各光スポットの位置関係
を示す説明図、第4図は三つの光スポットと記録ピット
及び消し残りピットを示す説明図、第5図は再生信号処
理回路のブロック図、第6図は光センサlocの出力信
号を示すタイムチャート、第7図は再生処理途中の各光
スポットの再生信号及び再生処理結果の再生信号を示す
タイムチャート、第8図は消し残り度判定回路のブロッ
ク図、第9図は従来装置のブロック図、第10図(al
〜(el は従来装置の動作を示すタイムチャート、第
ti図(a)は記録時のレーザパワー変動、周囲温度変
化による消し残りピットを示す説明図、第11図(b)
はオフトラックによる消し残りピットを示す説明図であ
る。 1・・・光磁気ディスク 2・・・磁性膜4・・・光
ピツクアップ 5・・・半導体レーザ7a、7b・・
・ビームスプリッタ 10a、10c・・・光センサ 13・・・電磁石 14・・・磁界変調回路1
5・・・回折格子 17a〜17c、27a 〜27cm光センサ18・・
・トラック 19・・・記録ピット20・・・消
し残りピット 28・・・デイレイ回路29・・・加算
器 30・・・消し残り飽和回路 31・・・システムコントローラ 33・・・RAM。
Claims (1)
- (1)光記録媒体に光ビームを照射することによって、
該媒体上に記録ピットとして情報を記録し、記録された
情報を再生し、また、前記記録ピットを消去する光学的
記録装置において、前記消去時に生じた消し残りピット
の量を所定の領域毎に検知する手段を有し、消し残りピ
ットの量が設定値に達したらこの領域に記録された情報
をバッファメモリに一旦記憶させ、この領域の記録ピッ
ト及び消し残りピットを全て消去した後、前記バッファ
メモリに記憶された情報をこの領域に再記録することを
特徴とする光学的記録装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28739189A JPH03150741A (ja) | 1989-11-06 | 1989-11-06 | 光学的記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28739189A JPH03150741A (ja) | 1989-11-06 | 1989-11-06 | 光学的記録装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03150741A true JPH03150741A (ja) | 1991-06-27 |
Family
ID=17716743
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28739189A Pending JPH03150741A (ja) | 1989-11-06 | 1989-11-06 | 光学的記録装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03150741A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004059637A1 (ja) * | 2002-12-24 | 2004-07-15 | Fujitsu Limited | 光磁気記録媒体、および、光磁気記録媒体基板の製造方法 |
-
1989
- 1989-11-06 JP JP28739189A patent/JPH03150741A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004059637A1 (ja) * | 2002-12-24 | 2004-07-15 | Fujitsu Limited | 光磁気記録媒体、および、光磁気記録媒体基板の製造方法 |
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