JPH03147341A - プラスチックモールド半導体集積回路 - Google Patents
プラスチックモールド半導体集積回路Info
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- JPH03147341A JPH03147341A JP1285634A JP28563489A JPH03147341A JP H03147341 A JPH03147341 A JP H03147341A JP 1285634 A JP1285634 A JP 1285634A JP 28563489 A JP28563489 A JP 28563489A JP H03147341 A JPH03147341 A JP H03147341A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims 5
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- H01L2924/14—Integrated circuits
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、ICの構造に関するものである。
[発明の概要]
本発明は、プラスチックモールドICにおいてICチッ
プの周囲に絶縁物を配し、金属ワイヤとチップエッヂと
のエッヂショートと言われる製造工程不良を防ぐことで
ある。
プの周囲に絶縁物を配し、金属ワイヤとチップエッヂと
のエッヂショートと言われる製造工程不良を防ぐことで
ある。
[従来の技術1
第2図4は、このようなエッヂショートの危険性に対す
る改善をした従来のプラスチックモールドICの断面図
である。
る改善をした従来のプラスチックモールドICの断面図
である。
ここで、ICチップをグイボンディングするリードフレ
ーム20は、ICチップからの金属ワイヤーをボンディ
ングするリードフレーム21より、若干下げられており
、金属ワイヤー23とICチップ22の端部とのエッヂ
ショートが発生しにくいような配慮がされている。
ーム20は、ICチップからの金属ワイヤーをボンディ
ングするリードフレーム21より、若干下げられており
、金属ワイヤー23とICチップ22の端部とのエッヂ
ショートが発生しにくいような配慮がされている。
[発明が解決しようとする課題1
しかし、このような構造であっても、エッヂショートに
対する完全な対策とはならず、ICの製造工程において
、エッヂショートによる歩留り低下の危険性が常にある
。
対する完全な対策とはならず、ICの製造工程において
、エッヂショートによる歩留り低下の危険性が常にある
。
これを防ぐために、金属ワイヤーのボンディング方法、
金属ワイヤーの長さ、形状、高さ等に大きな制約が生じ
、ブラ又チックモールドICの薄型化、製造の生産性向
上に対する障害ともなっている。
金属ワイヤーの長さ、形状、高さ等に大きな制約が生じ
、ブラ又チックモールドICの薄型化、製造の生産性向
上に対する障害ともなっている。
[課題を解決するための手段1
本発明は、このようなエッヂショートと言う製込工稈不
良をさけるために、ICチップの周囲に例えば、ポリイ
ミド樹脂等の絶縁物を配したものである。
良をさけるために、ICチップの周囲に例えば、ポリイ
ミド樹脂等の絶縁物を配したものである。
この絶縁物の厚みは、ICチップ厚みに近いものが、
tSS上上果的であるが、特に規定はない。
tSS上上果的であるが、特に規定はない。
〔実 施 例1
第1図は、本発明の1実施例であり、(a)は肩側面図
、(b)は断面図である。
、(b)は断面図である。
lOは、チップをグイボンデインクするリードフレーム
、11は、Icの外部リードに結かるlCチップからの
金属ワイヤーを接続するリードフレーム、12は、IC
チップ、13は、ICチップ内の電極とICの外部リー
ドを接続する金属ワイヤー、14は、本発明のポイント
であるICチップ端部と金属ワイヤーとのエッヂショー
トを防ぐだめにICチップの周囲に配された絶縁物であ
る。この絶縁物は、チップをダイボンディングする前に
リードフレーム10上に作られていても良い、又チップ
をグイボンディング後にリードフレーム10上に作られ
ても良い。
、11は、Icの外部リードに結かるlCチップからの
金属ワイヤーを接続するリードフレーム、12は、IC
チップ、13は、ICチップ内の電極とICの外部リー
ドを接続する金属ワイヤー、14は、本発明のポイント
であるICチップ端部と金属ワイヤーとのエッヂショー
トを防ぐだめにICチップの周囲に配された絶縁物であ
る。この絶縁物は、チップをダイボンディングする前に
リードフレーム10上に作られていても良い、又チップ
をグイボンディング後にリードフレーム10上に作られ
ても良い。
例えばこの絶縁物は、ポリイミド系の樹脂が具体的な材
料の1つとしてあげられる。
料の1つとしてあげられる。
[発明の効果]
以上のような構成とすることにより、エッヂショートを
防止でき、高信幀性のICを実ibできる。
防止でき、高信幀性のICを実ibできる。
第1図は、本発明の1実施例を示す図であり2(a)は
、肩側面図、(b)は、断面図である。 第2図は、従来技術の一断面図である。 10・・・ICチップをグイボンディングするリードフ
レーム 1】・・・ICチップからの金属ワイヤーなボンディン
グするリードフレーム 12・・・ICチップ 13・・・ICチップとリードフレームを接続する金属
ワイヤー 14・・・本発明のポイントである絶縁物20・・・I
Cチップをダイボンディングするノートフレーム 21・ ・ICチップからの金属ワイヤーをボンディン
グするリードフレーム 22・・・ICチップ 23・・・ICチップとリードフレームを接続する金属
ワイヤー 以上
、肩側面図、(b)は、断面図である。 第2図は、従来技術の一断面図である。 10・・・ICチップをグイボンディングするリードフ
レーム 1】・・・ICチップからの金属ワイヤーなボンディン
グするリードフレーム 12・・・ICチップ 13・・・ICチップとリードフレームを接続する金属
ワイヤー 14・・・本発明のポイントである絶縁物20・・・I
Cチップをダイボンディングするノートフレーム 21・ ・ICチップからの金属ワイヤーをボンディン
グするリードフレーム 22・・・ICチップ 23・・・ICチップとリードフレームを接続する金属
ワイヤー 以上
Claims (1)
- プラスチックモールド構造の半導体集積回路(以下I
Cと呼ぶ)において、半導体集積回路チップ(以下IC
チップと呼ぶ)の周囲に、ICチップとリードフレーム
を接続する金属ワイヤーが、ICチップの端部(エッヂ
)と短絡(以下エッヂショートと呼ぶ)する事を防ぐた
めに、絶縁物を配した構造を特徴とするプラスチックモ
ールド半導体集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1285634A JPH03147341A (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | プラスチックモールド半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1285634A JPH03147341A (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | プラスチックモールド半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03147341A true JPH03147341A (ja) | 1991-06-24 |
Family
ID=17694071
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1285634A Pending JPH03147341A (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | プラスチックモールド半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03147341A (ja) |
-
1989
- 1989-11-01 JP JP1285634A patent/JPH03147341A/ja active Pending
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