JPH0313952B2 - - Google Patents

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JPH0313952B2
JPH0313952B2 JP59250425A JP25042584A JPH0313952B2 JP H0313952 B2 JPH0313952 B2 JP H0313952B2 JP 59250425 A JP59250425 A JP 59250425A JP 25042584 A JP25042584 A JP 25042584A JP H0313952 B2 JPH0313952 B2 JP H0313952B2
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JP
Japan
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solder
temperature
eutectic
weight
soldering
Prior art date
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Application number
JP59250425A
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English (en)
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JPS61129297A (ja
Inventor
Hideharu Suda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Senju Metal Industry Co Ltd
Original Assignee
Senju Metal Industry Co Ltd
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Publication date
Application filed by Senju Metal Industry Co Ltd filed Critical Senju Metal Industry Co Ltd
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/22Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/22Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
    • B23K35/24Selection of soldering or welding materials proper
    • B23K35/26Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 400 degrees C
    • B23K35/262Sn as the principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3485Applying solder paste, slurry or powder

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、電子機器のはんだ付けに適したクリ
ームはんだ、特に耐熱性の余り良くない基板上で
のはんだ付けに適したクリームはんだに関する。
(従来の技術) 近時、電子機器においてはフレキシブルなプリ
ント基板が多く用いられるようになつてきた。フ
レキシブルなプリント基板(以下「フレキ基板」
と略称する)はマイクロコンピユーターを内蔵し
たオートカメラや極薄の携帯ラジオ等、小型で複
雑な形状を有する電子機器に適しているものであ
る。
フレキ基板のはんだ付けは、はんだ付け部にデ
イスペンサーやスクリーン印刷等により適量のク
リームはんだを塗布し、それをリフロー炉で加熱
してクリームはんだ溶融をすることにより行われ
る。リフロー炉での加熱はPb−Snはんだの一番
融点の低い共晶はんだ(融点183℃)でも実際に
クリームはんだが溶融してフレキ基板に付着する
ためには、はんだ付け部は少なくとも200℃以上
に加熱されていなければならないものである。し
かるにそのようなフレキ基板を構成するポリアミ
ドやポリエステル等可撓性のある樹脂は余り耐熱
性がないため、200℃以上でなければはんだ付け
が行えない上述のような共晶はんだから成るクリ
ームはんだを用いると、はんだ付け時フレキ基板
が変形したり変質してしまうことがあつた。従つ
てフレキ基板をはんだ付けにするには上述の共晶
はんだよりも融点のさらに低い所謂低温はんだを
用いなければならなかつた。
一般に低温はんだとは、Sn、Pb、Bi、Cd、In
等低融点の金属をさらに合金化させて共晶はんだ
の融点よりも融点をより低くしたものである。
かかる低温はんだのうち、Cdを含む低温はん
だは、はんだ付け性を、接着強度、所望の溶融範
囲の得やすさの点において優れてはいるが、Cd
は有害物質であることからその使用も規制されて
きており、現在ではCdの全く含まない低温はん
だが要求されている。一方、Biを含む低温はん
だは毒性の点では問題はないが、脆い性質を有し
ているため機械的強度、特に剥離に対して弱いと
いう欠点を有している。従つてフレキ基板のよう
にはんだ付け後、フレキ基板を屈曲させるような
所にBiを含んだ低温はんだを用いるとはんだ付
け部が容易に剥離してしまうという不都合が生じ
ていた。またBiを含む低温はんだははんだ付け
性が共晶はんだやCdを含む低温はんだよりも悪
いという欠点を有するものである。
(発明の目的) 本発明の目的は、接着強度はSn−Pb系共晶は
んだとほとんど変わらず、しかもはんだ付けがこ
の共晶はんだよりも低い温度で行えて、フレキ基
板を損傷させないばかりかはんだ付け後剥離の起
こらないクリームはんだを提供することにある。
(発明の構成) そので本発明者はPn−Pb系の共晶はんだのク
リームはんだを190℃以下の温度ではんだ付けが
できないものかと鋭意研究したころSn−Pb系共
晶はんだのクリームはんだの溶融が早まればはん
だ付け温度も低くできることに着目して本発明を
完成させた。
Biを含む低温はんだとしてSn、PbにBiを10重
量%位添加したものは融点が170℃位であり、は
んだ付けは190℃以下で行える。190℃という温度
はSn−Pb系共晶はんだのはんだ付け温度である
200℃よりも僅かに10℃低い温度であるが、200℃
で熱損傷するフレキ基板も190℃になると耐える
ことができるものである。
ところでSn−Pb系共晶はんだとは一般に635n
−Pb組成で融点が183℃のものであるが、本発明
ではSn−Pb系共晶はんだに近い組成に小量の
Ag、Sb、Cu等が添加されたものでも融点が190
℃以下であれば温度的にはSn−Pb系共晶はんだ
と同等であることから使用できるものであり、こ
れらを含めて以後Sn−Pb系共晶はんだという。
ここに、本発明は、Sn−Pb系共晶はんだの粉
末中にBiを含む融点170℃以下の低温はんだの粉
末を3〜20重量%配合し、さらに液状あるいはペ
ースト状フラツクスを混和して成るクリームはん
だである。
本発明にかかるSn−Pb系共晶はんだの粉末と
Biを含む融点170℃以下のはんだ(以下Bi入りは
んだという)の粉末を混ぜ合わせて作つたクリー
ムはんだをリフロー炉で加熱すると先ず170℃以
下でBi入りはんだが溶け始めて共晶はんだの粉
末中に各所で液体になる。液体となつたBi入り
はんだは共晶はんだの粉末に浸み渡り、該液状の
Bi入りはんだと接触した共晶はんだは熱が早く
伝わつて溶融が始まる。斯様にしてクリームはん
だ中の各所で共晶はんだの溶融が始まるため全体
の溶融が早まるものである。従つて本発明にかか
るクリームはんだは200℃に加熱されなくとも完
全に溶融してはんだ付けが行えるようになる。
(作用) 次に、本発明においてBi入りはんだの粉末を
3〜20重量%の量だけSn−Pb系共晶はんだ粉末
に混ぜ合わせる理由について説明する。
Sn−Pb系共晶はんだの粉末中にBi入りはんだ
の粉末が3重量%よりも少ないとBi入りはんだ
が先に溶け出しても液体となる量が少ないため共
晶はんだ粉末への熱の伝わりが少なく共晶はんだ
粉末の溶融を早める効果がない。しかるにBi入
りはんだを共晶はんだ粉末中に20重量%よりも多
く混在せしめると、はんだ付げ後、はんだ付け部
に付着したはんだ中にBiの含有される量が多く
なるため脆さが現れて剥離強度が弱くなつてしま
う。従つて、本発明ではBi入りはんだ粉末の混
入を3〜20重量%とした。
ここで、本発明を実施例によつてさらに具体的
に説明する。
(実施例および比較例) 下記配合例のクリームはんだを調整した。な
お、Bi含有はんだの融点は170℃以下であり、Sn
−Pb系共晶はんだのそれはほゞ183℃であつた。
実施例 1 15Bi−45Sn−Pbはん だ粉末 63Sn−Pbはんだ粉末 5重量% 95重量% 88重量% 液状あるいはペースト状フラツクス 12重量% 実施例 2 10Bi−50Sn−Pbはん だ粉末 63Sn−1.5Ag−Pbは んだ粉末 10重量% 90重量% 88重量% 液状あるいはペースト状フラツクス 12重量% 比較例 1 15Bi−45Sn−Pbはんだ粉末 88重量% 液状あるいはペースト状フラツクス 12重量% 比較例 2 63Sn−Pbはんだ粉末 88重量% 液状あるいはペースト状フラツクス 12重量% 実施例および比較例のクリームはんだをそれぞ
れポリアミド製フレキ基板のランドにスクリーン
で印刷塗布し、その上にチツプ状電子部品10個を
搭載した。そしてフレキ基板が熱損傷を受けない
ように190℃に温度設定した長さ1.5mのリフロー
炉内を1m/secのコンベアスピードでフレキ基
板を通過させてはんだ付けを行つた。はんだ付け
後十分冷却したフレキ基板を間隔10mm離して180
度屈曲し、その屈曲部をフレキ基板の一端から他
端へ移動させてはんだ付け部の剥離如何を観察し
た。
実施例のクリームはんだではんだ付けしたフレ
キ基板では剥離箇所は皆無であつたが比較例1の
クリームはんだではんだ付けしたフレキ基板では
4個所のはんだ付け部で剥離が見られた。また比
較例2のクリームはんだは溶融せず、はんだ付け
不良となつていた。
(発明の効果) 本発明はSn−Pb系共晶はんだの粉末にBi入り
はんだの粉末を少量混ぜ合わせてクリームはんだ
としたため、はんだ付け後、はんだ付け部に付着
するはんだは組成が共晶はんだとほとんど変わら
ず接着強度は共晶はんだと同程度となつてフレキ
基板を屈曲させても容易に剥離が起こらないばか
りか、はんだ付け温度を低くすることができるこ
とから耐熱性のないフレキ基板に対しても熱損傷
を与えることなくはんだ付けができるという従来
にない優れた効果を有している。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 Sn−Pb系共晶はんだの粉末中にBiを含む融
    点170℃以下の低温はんだの粉末を3〜20重量%
    配合し、さらに液状あるいはペースト状フラツク
    スを混和して成るクリームはんだ。
JP59250425A 1984-11-29 1984-11-29 クリ−ムはんだ Granted JPS61129297A (ja)

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JPS61129297A JPS61129297A (ja) 1986-06-17
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JPS59138393A (ja) * 1983-01-28 1984-08-08 株式会社日立製作所 回路基板

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