JPH03134824A

JPH03134824A - 光ヘッド装置

Info

Publication number: JPH03134824A
Application number: JP27440589A
Authority: JP
Inventors: Nobuo Takeshita; 伸夫竹下
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1989-10-19
Filing date: 1989-10-19
Publication date: 1991-06-07
Anticipated expiration: 2013-05-06
Also published as: JP2746696B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕この発明は、光ディスクに対して情報の記録、再生など
を行うための光ヘツド装置に関するもので、特に光ディ
スク上の光スポットの位置制御を行う光ヘツド装置に関
するものである。

〔従来の技術〕

第７図に、従来の光ヘツド装置の概略図を示す。

図において　（１）は、光ヘツド装置のベース、（２）
は上記ベースに対して固定的に設けられた固定光学系で
あり、内部には光源、光検知器等（図示せず）が配置さ
れている。　（３）は上記固定光学系（２）より出射さ
れた光ビーム、　（４）は光ディスク、　（５）は上記
光ディスク（４）上に、上記光ビーム（３）を集光する
ための対物レンズ、（６ａ）　（［ｉｂ）は上記光ディ
スク（４）の面ブレに応じて上記対物レンズ（５）を矢
印Ａ方向に駆動制御するためのフォーカス方向制御位置
、　（７）は上記固定光学系（２）より出射された光ビ
ーム（３）を、上記対物レンズ（５）に入射させるよう
に反射するプリズム、（８）は上記対物レンズ（５）や
プリズム（７）等を搭載したキャリッジであり、光ディ
スク（４）上の情報トラックを横切る方向（矢印Ｂ方向
）に移動可能なように、ベース（１）に対してベアリン
グ（９ａ）　、　（９ｂ）で支持されている。

次に動作について説明する。固定光学系（２）より出射
された光ビーム（３）は、プリズム（７）により反射さ
れ、対物レンズ（５）により、光ディスク（４）上に集
光される。光ディスク（４）により反射された光ビーム
（３）は、上記と逆の光路をたどり、固定光学系（２）
により光電交換され、光ディスク（４）に対して情報を
記録または再生する。

光ディスク（４）の焦点方向の動き（面ブレ、外乱等）
に対しては、フォーカス方向制御装置（６ａ）　、　（
Ｈ）により、対物レンズ（５）を矢印Ａ方向に駆動制御
することにより補正を行なう。

また、光ディスク（４）上の任意のトラックに対して記
録（あるいは再生）するためには、キャリッジ（８）を
光ディスク（４）の半径方向（矢印Ｂ方向）に心動させ
ることにより行なう。

〔発明が解決しようとする課題〕従来の光ヘツド装置は以上のように構成されているので
、熱的変化、経年変化、衝撃力等の影響により、固定光
学系（２）と、キャリッジ（８）の間の相対位置変化が
生ｔ′−た場合Ｖ（図中Ｘ軸方向への並進運動は除く）
、光ディスク（４）で反射された光ビーム（３）の中心
光線が、固定光学系（２）より出射された光ビーム（３
）の中心光線と一致せず、固定光学系（２）内で得られ
るトラッキングセンサ信号等にオフセットが生じてしま
うという問題点があった。問題点についての具体的な説
明を第８図を用いて行う。

第８図は、従来の光ヘツド装置において、経年変化等に
よりキャリッジ（８）と、固定光学系（２）の相対位置
が角度０分変化した例を示している。

破線で示した光ビーム（３）は、相対変化が生じる前の
初期状態における光ビームの光路で、実線て示した光ビ
ーム（３）は相対変化か生じた後の状態での光ビームの
光路である。図からも明らかなように、光ディスク（４
）にて反射された光ビームの中心光線は、固定光学系（
２）より出射された光ビーム（３）の中心光線と一致せ
ず、トラッキングセンサとしてプッシュプル法を用いる
ので、トラッキングオフセットが発生してしまう。トラ
ッキングオフセットが発生するメカニズム等については
、　Ｍｉｃｒｏ−Ｏｐｔｉｃｓ　Ｎｅｗｓ　Ｖｏｌ、３
　Ｎｏ、Ｉ　　Ｐ７８〜８２光磁気ディスク用光学系」
に明記されている。

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、トラッキングセンサオフセット量を小さく抑
えることができる光ヘツド装置を提供することを目的と
している。

〔課題を解決するための手段〕

この発明による光ヘツド装置は、熱的変化、経年変化、
衝撃力等の影響により、固定光学系とキャリッジの間の
相対変位（図中Ｘ軸方向の並進以外）を生した場合に、
光ビームの動きをキャリッジ上にて光学的に検知可能に
、光歪素子を配置するとともに、その光歪素子を介して
反射素子を支持するようにしたものである。

〔作用〕

この発明における光ヘッド装置は、上記光ビームとキャ
リッジの間の相対変位を光量の変化として検知した光歪
素子が、その相対変位を補正する方向に自動的に変形し
、反射素子を補正が必要な方向に必要な量だけ変位させ
る。

〔発明の実施例〕

以下、この発明の一実施例を図面にもとづいて説明する
。

第１図は、この発明の一実施例による光ヘツド装置の概
略図であり、第７図と同一または相当部分には同一符号
を付し、その説明を省略する。第１図において、（２０
ａ）　、　（２０ｂ）は光歪素子であり、キャリッジ（
８）上に設けられ、支持部材（２１ａ）　、　（２１ｂ
）を介して反射素子であるプリズム（７）を支持してい
る。

また、第２図および第３図は、この発明の光ヘツド装置
において、キャリッジ（８）に対して入射する光ビーム
（３）の位置が変化した場合に、その変化に対して補正
動作を行っている概略図を示す。

第２図および第３図において、実線で示した（３）は、
固定光学系（２）より出射した光ビームであり、キャリ
ッジ（８）と固定光学系（２）が、相対的にｙ軸方向に
変位した状態、つまり破線で示した光ビーム（３）は初
期位置とは異なった位置を通過している時の状態（図中
矢印Ｃ方向に光ビーム（３）が移動した状態）を示して
いる。

次に動作について説明する。まず、第１図において、固
定光学系（２）より出射された光ビーム（３）は、プリ
ズム（７）により反射され、対物レンズ（５）により、
光ディスク（４）上に集光される。

光ディスク（４）により反射された光ビーム（３）は、
上記と逆の光路をたどり、固定光学系（２）により光電
交換され、光ディスク（４）に対して情報を記録または
再生する。

光ディスク（４）の焦点方向の動き（面ブレ、外乱等）
に対しては、フォーカス方向制御装置（６ａ）　、　（
６ｂ）により、対物レンズ（５）を矢印Ａ方向に駆動制
御することにより補正を行なう。

また、光ディスク（４）上の任意のトラックに対して記
録（あるいは再生）するためには、キャリッジ（８）を
光ディスク（４）の半径方向（矢印Ｂ方向）に移動させ
ることにより行なう。

次に、第２図に示したように、キャリッジ（８）と固定
光学系（２）が相対的にｙ方向に変位した場合には、キ
ャリッジ（８）から見て光ビーム（３）は、図中矢印Ｃ
方向に変位した位置から実線で示したように入射するこ
とになる。その場合に、従来例と同様に何ら補正動作を
行わない場合には、実線で示したごとく、光ディスク（
４）からの反射光路の中心光線は、入射光路の中心光線
と一致せず、固定光学系（２）において得られるトラッ
キングセンサ信号にオフセットを生ずることとなる。

ところが、この発明による光ヘツド装置においては、キ
ャリッジ（８）に対して入射する光ビーム（３）ノ位置
が変化すると、光歪素子（２０ａ）　、　（２０ｂ）に
入射する光量が変化する。例えば、第２図に示したよう
に、光ビーム（３）が矢印Ｃ方向に変位すると、光歪素
子（２０ａ）に入射する光量は増加し、光歪素子（２０
ｂ）に入射する光量は減少する。

光歪素子（２０ａ）　、　（２０ｂ）は、素子に照射さ
れる光量が増加すると伸長する性質があるため、光歪素
子（２０ａ）は伸長することとなり、支持部材（２１ａ
）（２１６）に適切な材質を選択すれは、光歪素子（２
０ａ）、（２０ｂ）を損傷することなく、プリズム（７
）は所望の位置まで移動され、第３図に示したように、
実線で示した光ビーム（３）の入射光路の中心光線と反
射光路の中心光線はほぼ一致し、固定光学系（２）にて
検知されるトラッキングエラー信号にオフセットはほと
んど発生しなくなる。

光歪素子の特性については、例えは雑誌ｒｏｐｌｕｓＥ
　　１９８９年５月号Ｐ６８〜７０、新しい技術」に記
載されており、経年変化が生じる程度の時間レベルでは
充分に応答することが可能である。

また、第４図に示したように、キャリッジ（８）に対し
て入射する光ビーム（３）が初期状態（破線で示す）に
対して傾角を有した場合（図中の角度θ）は、補正動作
無の場合に反射光路の中心光線はＰで示した光路となり
、トラッキングオフセットが大きく発生してしまうが、
この発明による光ヘツド装置では、プリズム（７）は図
中矢印Ｅ方向に補正駆動され、反射光路の中心光線はＱ
で示した光路となり、前述のＰで示した反射光路の中心
光線と比較して小さなオフセットしか発生しない。

なお、上記実施例では、光歪素子（２０ａ）　、　（２
０ｂ）をプリズム（７）を透過した光ビーム（３）の光
路中に配置した例を示したが、第５図あるいは第６図に
示したように、プリズム（７）の反射率を向上させるた
めに、キャリッジ（８）の入射側に配置してもよい。こ
の場合、光ビーム（３）が第５図に示す矢印Ｃ方向に変
位すると、光歪素子（２０ａ）に入射する光量が増加し
て伸長し、光歪素子（２０ｂ）に入射する光量が減少し
収縮し、第６図に示すように第１〜３図と同様な結果と
なる。

また、上記実施例では、補正動作としてプリズムを駆動
した例を示したが、同様の効果を奏する手段であれば、
どの部分を駆動してもよい。さらに、上記実施例では、
キャリッジ（８）を固定光学系（２）に対して分離した
場合について例を示したが、固定光学系（２）をキャリ
ッジ（８）上に一体的に設けた方式の光ヘツド装置に用
いてもよく、上記実施例と同様の効果を奏する。

〔発明の効果〕

以上のように、この発明によれば、光歪素子を光路中に
配置するとともに、反射素子を光歪素子を介して支持す
るようにし、初期状態に対する光ビームの相対的なズレ
を自動的に補正するように構成したので、装置の小形、
計量化が実現できるとともに、複雑な回路や受光素子を
用いることなく、光軸補正を行うことが可能となり、安
価で高性能な装置を得られる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の一実施例による光ヘツド装置を示
す概略図、第２図ないし第４図はこの発明の一実施例に
よる光ヘツド装置により光軸補正を行う様子を示す概略
図、第５図および第６図は、この発明の他の実施例によ
る光ヘツド装置によ゛り光軸補正を行う様子を示す概略
図、第７図は従来例による光ヘツド装置を示す概略図、
第８図は、従来例による光ヘツド装置において、光軸ず
れが発生している状態を示す概略図である。（３）・・・光ビーム、　（４）・・・光ディスク、　
（５）・・・対物レンズ　（７）・・・反射素子（プリ
ズム）　　（２０ａ）（２０ｂ）・・・光歪素子。

Claims

【特許請求の範囲】

　光源から出射した光ビームを、光ディスク上の情報ト
ラックに対して集光するための対物レンズと、上記光ビ
ームを上記対物レンズに入射するように反射するための
反射素子とを有する光ヘッド装置において、上記反射素
子を支持する光歪素子を設け、上記反射素子に入射する
上記光ビームの位置ずれに対して、上記反射素子を、上
記位置ずれと同方向に同程度移動させ、かつ上記光ビー
ムの光軸ずれ補正を行うように上記光歪素子を配置した
ことを特徴とする光ヘッド装置。