JPH03130852A - メモリ診断回路 - Google Patents

メモリ診断回路

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JPH03130852A
JPH03130852A JP1269793A JP26979389A JPH03130852A JP H03130852 A JPH03130852 A JP H03130852A JP 1269793 A JP1269793 A JP 1269793A JP 26979389 A JP26979389 A JP 26979389A JP H03130852 A JPH03130852 A JP H03130852A
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JP
Japan
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circuit
parity
memory
shift register
signals
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JP1269793A
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Inventor
Nagahiko Namikado
南角 長彦
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NEC Corp
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NEC Corp
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Publication date
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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はパラレル信号を記憶するとともにパリティ信号
も記憶し、パラレル信号の読出しに際し、同時KR出し
たパリティ信号によシパリティチェックを行うメモリ回
路の診断回路に関する。
(従来の技術) 第8図は従来のメモリ、診断回路の一列を示す回路図で
ある。
パラレル入力信号はメモリ回路11に記憶されるととも
にパリティ演算回路10で演算され、規則に従いパリテ
ィ信号1ビツトが追加される。
パリティ演算回路10のパリティ信号はメモリ回路11
に記憶される。
メモリ回路11から読出されるパラレル出力信号はパリ
ティエラー検出回路12に入力され、パリティ演算がな
される。パリティエラー検出回路12はこのパリティ演
算結果と、メモリ回路11から読出されるパリティ信号
とを比較し、メモリ回路11での誤シの検出をしている
(発明が解決し2うとする課題) さて、この従来のメモリ診断回路はメモリの書込み側の
回路が停止した場合、誤りを検出できないという欠点が
あった。
本発明の目的は上記欠点を解決するもので、メモリの冑
込み側の回路が停止した場合もメモリ回路での誤りを検
出できるメモリ診断回路を提供すみことにある。
(課題を解決するための手段) 前記目的を達成するために本発明によるメモリ診断回路
は、N本のパラレル信号をそれぞれ入力し、N個の信号
にそれぞれ異なる遅延量を与えるN個の第1のシフトレ
ジスタ回路と、前記N個の第1のシフトレジスタ回路出
力をパリティ演算するパリティ演算回路とj Ail記
N個のパラレル入力信号と#記パリティ演算回路出力と
を記tiするメモリ回路と、前記メモリ回路から読出し
たN本のパラレル出力信号を入力し、このN個の信号に
それぞれ第1のシフトレジスタ回路で与えられた遅延量
と同じ遅延量を与えるN個の第2のシフトレジスタ回路
と、前WAN個の第2のシフトレジスタ回路出力をパリ
ティ演算し、このパリティ演算した信号と前記メモリ回
路から読出したパリティ信号とを比較し、エラーを検出
するパリティエラー検出回路とから構成しである。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明をさらに詳1.<説明する
第1図は本発明によるメモリ診断回路の実施列を示す回
路図である。
N本のパラレル入力信号はそれぞれあらかじめ決められ
たビット数だけ第1のシフトレジスタ回路1.2で遅延
させられる。そして、パリティ演算回路3は第1のシフ
トレジスタ回路1.2ON個のそれぞれ異なる遅延量を
持つ出力のパリティ演算を行い、その演算結果はメモリ
回路4に記憶される。
メモリ回路4から読出されるN本のパラレル出力信号は
入力側と同じ規則で第2のシフトレジスタ回路5.6で
遅延させられ、パリティ演算される。パリティエラー検
出回路7はこのパリティ演算結果と、メモリ回路4から
のパリティ信号との比較を行い、誤りがあるか否か判断
する。
パリティ演算は奇数パリティ、偶数パリティ、奇偶数交
番パリティが用いられる。
第2図は8本のパラレル信号が入力する場合のタイミン
グチャートである。
3本のパラレル信号20〜22が入力されると、3本の
パラレル入力信号はそれぞれ第1のシフトレジスタ回路
1.2に入力され、パラレル入力信号(A)20は2ビ
ツト分、パラレル信号(、B )21はIピット分、パ
ラレル信号(C)22ば0ビツトの遅延がかけられる。
そしてパリティ演算(AとBとCのパリティ演算)がな
され、メモリ回路4を通ってパリティ信号23が出力さ
れる。
メモリ回路4から続出されるパラレル信号は第2のシフ
トレジスタ回路5.6で入力側と同様の遅延が与えられ
、パリティエラー検出回路7でパリティ演算が冷され、
メモリ回路4からのパリティ信号23と比較される。
以上によりメモリ回路4の入力側つオリ書き込み側が停
止した場合も、パリティエラーとして検出されることに
なる。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明はメモリ回路の動作チエツ
クのためN本のパラレル入力信号のそれぞれの信号に重
なる量の遅延をかけて時間的にずらしパリティ演算を行
い、パリティ演算結果をメモリ回路を通過させることに
より、メモリ回路の入力側、つtbe込み側の回路が停
止した場合もエラーを検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるメモリ診断回路の実施列を示す回
路図、第2図は本発明回路釦よび従来回路の動作を説明
するためのタイミングチャート、第8図は従来のメモリ
診断回路の例を示す図である。 1.2・・・第1のシフトレジスタ回路5.10・・・
パリティ演算回路 4.11・C・メモリ回路 5.6・・・第2のシフトレジスタ回路7. 20 1 2 3 ・・・パリティエラー検出回路 ・パラレル入力信号A ・パラレル人力イδ号B ・パラレル入力信号C ・パリティ信号

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. N本のパラレル信号をそれぞれ入力し、N個の信号にそ
    れぞれ異なる遅延量を与えるN個の第1のシフトレジス
    タ回路と、前記N個の第1のシフトレジスタ回路出力を
    パリテイ演算するパリテイ演算回路と、前記N個のパラ
    レル入力信号と前記パリテイ演算回路出力とを記憶する
    メモリ回路と、前記メモリ回路から読出したN本のパラ
    レル出力信号を入力し、このN個の信号にそれぞれ第1
    のシフトレジスタ回路で与えられた遅延量と同じ遅延量
    を与えるN個の第2のシフトレジスタ回路と、前記N個
    の第2のシフトレジスタ回路出力をパリテイ演算し、こ
    のパリテイ演算した信号と前記メモリ回路から読出した
    パリテイ信号とを比較し、エラーを検出するパリテイエ
    ラー検出回路とから構成したことを特徴とするメモリ診
    断回路。
JP1269793A 1989-10-17 1989-10-17 メモリ診断回路 Expired - Lifetime JPH0831064B2 (ja)

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JPH03130852A true JPH03130852A (ja) 1991-06-04
JPH0831064B2 JPH0831064B2 (ja) 1996-03-27

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