JPH03122516A - 受光位置検出装置 - Google Patents

受光位置検出装置

Info

Publication number
JPH03122516A
JPH03122516A JP1258889A JP25888989A JPH03122516A JP H03122516 A JPH03122516 A JP H03122516A JP 1258889 A JP1258889 A JP 1258889A JP 25888989 A JP25888989 A JP 25888989A JP H03122516 A JPH03122516 A JP H03122516A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light receiving
plate
angle
sensing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1258889A
Other languages
English (en)
Inventor
Eiichi Kitajima
北島 栄一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP1258889A priority Critical patent/JPH03122516A/ja
Publication of JPH03122516A publication Critical patent/JPH03122516A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Transform (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、レーザ光線を回転照射して水準測量を行なう
回転照射式水準測量機等に使用して好適な受光位置検出
装置に関する。
[従来の技術] 従来、測量、建築、建設業界において被測定物の高さや
その変化量、その他各種の計測を行なう際使用されるこ
の種の受光位置検出装置としては、例えば特開昭63−
249003号公報等が知られている。このような受光
位置検出装置の従来構造を第4図に基づいて概略説明す
ると、1はレーザ発振器等の光源(図示せず)よりある
距!a離れて略垂直に設置された受光板で、この受光板
1には多数の光ファイバ2の各一端部が、その受光面2
Aを受光板1の表面に露呈させて垂直方向に所定の間隔
、例えば1ミリ間隔で接続されている。
光ファイバ2は適宜本数ずつ群分けされて、その他端部
が高速ダイオード等からなる受光素子3に接続されてお
り、これら部材によって受光部4を構成している。光フ
ァイバ2の両端面、すなわち受光面2人と出射面2Bは
それぞれ損失を防ぐため鏡面仕上されている。5は前記
光源より出射され水平面内において矢印B方向に回転照
射されるビーム光で、このビーム光5を前記光ファイバ
2の受光面2人で受けて受光素子3により検出すること
により光源高さを基準として被測定物の高さや変化量が
測定される。
なお、矢印A方向は受光位置検出方向で、ビーム光5の
回転照射面と直交している。
[発明が解決しようとする課M] ところで、ビーム光5を光ファイバ2を介してノ 受光素子3で検出するようにした従来の受光位置検出装
置においては、受光面2Aによるビーム光5の受光角度
が60°で、狭いという問題があった。特に建築、建設
現場等における測定に際しては光源より遠隔な所での測
定になるため、受光角度が狭いと、受光板1のアライメ
ントが難しく、手間取り、また広範囲の測定が困難にな
るという欠点があった。
また、光ファイバ2を用いず、受光素子3によって直接
受光する場合においても、受光素子3の受光角度が狭く
、同様の欠点を有する。
したがって、本発明は上記したような従来の問題点に鑑
みてなされたもので、その目的とするところは、比較的
簡単な構成で光ファイバや受光素子の本来もっている受
光角度以上の受光角度で受光することができ、光源に対
する受光板のアライメントを容易にすると共に、広範囲
な測定を可能にした受光位置検出装置を提供することに
ある。
[課題を解決するための手段コ 本発明は上記目的を達成するために、回転照射されたビ
ーム光を受光部によって受光し、ビーム光の位置を検出
する受光位置検出装置において、前記受光部の前面に、
前記ビーム光の移動する方向に並列された多数個の屈折
素子を有し、前記ビーム光を受光部に導くための偏向部
材を配設したものである。
[作用コ 本発明において、偏向部材は屈折素子の屈折効果により
光ファイバや受光素子の本来もっている受光角度よりも
大きな入射角度のビーム光を光ファイバや受光素子に入
射させる。
[実施例コ 以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
第1図は本発明に係る受光位置検出装置の一実施例を示
す斜視図、第2図はビーム光の屈折を示す図である。な
お、第4図と同一構成部品、部分のものに対しては同一
符号を付してその説明を省略する。これらの図において
、本実施例は受光板1の前面に、偏向部材としてのマイ
クロプリズム板 板10をこれと平行になるように近接配置したちのであ
る。
マイクロプリズム板10は、アクリル樹脂等の透光性に
優れた樹脂、ガラス等によって形成され、その前面には
受光位置検出方向Aに長く延在する断面7字の突状体か
らなる多数の屈折素子11が前記受光位置検出方向Aと
直交する方向、換言すればビーム光5の移動方向に並設
されている。各屈折素子11は左右対称形状で、その頂
角θが、例えば120°とされ、ビーム光5の屈折角を
その入射角に対して30゛に設定している。
その他の構成は第4図に示した従来装置と同様である。
以上のように構成された受光位置検出装置の動作につい
て説明する。光ファイバ2の受光面2Aの受光角度θ□
は従来と同様、60°である。したがって、マイクロプ
リズム板10が無い従来装置においては左右斜め方向か
らそれぞれ受光面2Aに入射し得るビーム光5A、5B
(第2図)の最大入射角度は光ファイバ2の中心軸線り
に対して30°とされる。C1は回転照射されているビ
ーム光5がマイクロプリズム板10に対して右斜め方向
より光ファイバ2の中心軸線りに対して60°の角度を
もって入射する際のビーム中心、C2は同じく回転照射
されているビーム光5がマイクロプリズム板10に対し
て左斜め方向より光ファイバ2の中心軸線りに対して6
0°の角度をもって入射する際のビーム中心を示す。
今、ビーム中心C1のビーム光5がマイクロプリズム板
10に対して右斜め方向より60°の角度をもって入射
すると、このビーム光5は屈折素子11の右側斜面に当
たって光ファイバ2の中心軸線り方向に屈折し、マイク
ロプリズム板10を透過する。この時、マイクロプリズ
ム板10による光の屈折角は入射角に対して30°に設
定されているため、マイクロプリズム板10を透過する
透過ビーム光]−2は光ファイバ2の中心軸線りに対し
て30°の角度をもって出射する。したがつて、この透
過ビーム光12は光ファイバ2の受光面2Aに入射する
ことができ、受光率子3によって受光されることになる
次に、マイクロプリズム板10に対して入射角0°、す
なわち光ファイバ2の中心軸線りと平行な方向から入射
するビーム光5は、屈折素子11の左右両斜面に当たる
ため、それぞれ入射角に対して±30°の角度をもって
屈折(分光)され、2つの光束12.13となってマイ
クロプリズム板10を透過する。したがって、両光束1
2.13はいずれも光ファイバ2の受光面2Aに入射す
ることができる。
マイクロプリズム板10に対して左斜め方向より60°
の角度をもって入射するビーム中心C1のビーム光5は
、上述したマイクロプリズム板10に対して右斜め方向
より60°の角度をもって入射するビーム光5と同じ原
理で光ファイバ2の中心軸線りに対して30°の角度を
もってマイクロプリズム板10を透過する透過ビーム光
13となるため、受光面2Aに入射することができる。
この結果、光ファイバ2自体の受光角度θ□は60”で
あるにも拘らずマイクロプリズム板10を設置すること
により見かけ上の受光角度はθ=120°となり、装置
としての受光角度を2倍に拡大することができる。
この場合、測定は通常屋外で行なわれるため、マイクロ
プリズム板10をアクリル樹脂、ガラス等の材料で形成
すると外乱光(主として太陽光)の影響を受は易く、ノ
イズが大きくなる。そこで、マイクロプリズム板10を
可視光カット樹脂で形成したり光源波長にあわせたバン
ドパスフィルターを使用すると、外乱光(主として太陽
光)の影響を少なくすることができる。
第3図は本発明の他の実施例を示すマイクロプリズム板
の斜視図である。この実施例は上記実施例に示した断面
V字状の屈折素子11の代わりに断面形状が半円形のシ
リンドリカルレンズからなる多数の屈折素子20をマイ
クロプリズム板10の表面に一体に形成したものである
。このようなマイクロプリズム板10においてもビーム
光5を光ファイバの受光面方向に屈折させることができ
るため、上記実施例と同様な効果が得られるものである
なお、上記実施例はビーム光5を水平面内において回転
照射し測定を行なう場合について説明したが、本発明は
これに特定されるものではなく、被測定対象によっては
垂直面内において回転照射されるものである。
また、上記実施例は光ファイバ2でビーム光5を受け、
受光素子3に導くようにしたが、光ファイバ2を用いず
、フォトダイオード、高速フォトダイオード等の受光素
子を直接受光板1に直線状もしくは千鳥状に配設しても
よい。
[発明の効果] 以上説明したように本発明に係る受光位置検出装置によ
れば、受光部の前面に、多数の屈折素子を有する偏向部
材を配置し、ビーム光を屈折させて受光部に導くように
したので、受光部本来のもっている受光角度より大きな
角度のビーム光であっても受光部に入射させることがで
き、見掛は上の受光角度を拡大させることができる。し
たがって、受光部の光源とのアライメントを容易にし、
また広範囲な測定を可能にする。
【図面の簡単な説明】
第1図は0本発明に係る受光位置検出装置の一実施例を
示す斜視図、第2図はビーム光の屈折を示す図、第3図
はマイクロプリズム板の他の実施例を示す斜視図、第4
図は従来の受光位置検出装置の斜視図である。 1・・・受光板、2・・・光ファイバ 3・・・受光素子、4・・・受光部、 5・・・ビーム光、10・・・マイクロプリズム板(偏
向部材)、11.20・・・屈折素子、A・・・受光位
置検出方向、B・・・ビーム光の移動方向。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  回転照射されたビーム光を受光部によって受光し、ビ
    ーム光の位置を検出する受光位置検出装置において、前
    記受光部の前面に、前記ビーム光の移動する方向に並列
    された多数個の屈折素子を有し、前記ビーム光を受光部
    に導くための偏向部材を配設したことを特徴とする受光
    位置検出装置。
JP1258889A 1989-10-05 1989-10-05 受光位置検出装置 Pending JPH03122516A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1258889A JPH03122516A (ja) 1989-10-05 1989-10-05 受光位置検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1258889A JPH03122516A (ja) 1989-10-05 1989-10-05 受光位置検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03122516A true JPH03122516A (ja) 1991-05-24

Family

ID=17326438

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1258889A Pending JPH03122516A (ja) 1989-10-05 1989-10-05 受光位置検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03122516A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100660952B1 (ko) 레이저 스캐너 측정 시스템
JPS63195513A (ja) 光学式非接触位置測定装置
CN111721235A (zh) 一种光电式边缘检测系统及其检测方法
US5636027A (en) Apparatus for making contactless measurements of the thickness of an object made of transparent material
JP2874813B2 (ja) 直線値測定用電子光学センサー
JPH0652170B2 (ja) 光結像式非接触位置測定装置
US8102540B2 (en) Coriolis flow sensor with optically reflective motion sensor
US7071460B2 (en) Optical non-contact measuring probe
JPH0345322B2 (ja)
JPS63132139A (ja) 液体屈折率計
JP2001201369A (ja) 光電子システム
JPH03122516A (ja) 受光位置検出装置
JP2000121388A (ja) 光学式エンコーダ
JP2668948B2 (ja) 光センサー
JP2523334B2 (ja) 光学式変位計
CA1150049A (en) Electro-optical distance-measuring system
JP2722247B2 (ja) 測定装置
JP2513148B2 (ja) 光ビ―ム位置検出器
JP2005181452A (ja) 光学装置
JPH0355908Y2 (ja)
JP2904591B2 (ja) 2次元レーザスポット位置検出センサ
JPS6280539A (ja) 光学的測定装置
JPS6129745A (ja) ピンホ−ル欠陥検出装置
JP2019082456A (ja) 光学式センサチップ及び光学式ガスセンサ
JPH05346344A (ja) ファイバ式反射型光センサ