JPS6129745A - ピンホ−ル欠陥検出装置 - Google Patents
ピンホ−ル欠陥検出装置Info
- Publication number
- JPS6129745A JPS6129745A JP15186484A JP15186484A JPS6129745A JP S6129745 A JPS6129745 A JP S6129745A JP 15186484 A JP15186484 A JP 15186484A JP 15186484 A JP15186484 A JP 15186484A JP S6129745 A JPS6129745 A JP S6129745A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- pinhole
- detected
- fiber assembly
- optical means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/894—Pinholes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はシートなどの比較的薄い形状の物体に発生する
ピンホール欠陥を光学的手段によって検出するピンホー
ル欠陥検出装置に関する。
ピンホール欠陥を光学的手段によって検出するピンホー
ル欠陥検出装置に関する。
Ｗ景技術
第４図は従来技術のピンホール欠陥検出装置の構成を示
す図である。シート状の被検出物体３０の上方に放射状
に光を発生する光源３１を配置し、被検出物体３０の上
面に光を照射する。一方、被検出物体３０の下方側には
光を検出するための光フアイバ集合体３２と、光ファイ
バからの光を受光する受光素子３３とが配置される。被
検出物体３０にピンホール３４が発生していると、光源
３１からの光が被検出物体３０の下方に達し、光フアイ
バ集合体３２の一端面に照射される。光フアイバ集合体
３２の一端面に照射された光は、光フアイバ集合体３２
の他端面に臨んで設けられた受光素子３３の受光面で受
光される。その受光索子３３の出力信号によって被検出
物体３０のピンホール欠陥の有無が検知される。
す図である。シート状の被検出物体３０の上方に放射状
に光を発生する光源３１を配置し、被検出物体３０の上
面に光を照射する。一方、被検出物体３０の下方側には
光を検出するための光フアイバ集合体３２と、光ファイ
バからの光を受光する受光素子３３とが配置される。被
検出物体３０にピンホール３４が発生していると、光源
３１からの光が被検出物体３０の下方に達し、光フアイ
バ集合体３２の一端面に照射される。光フアイバ集合体
３２の一端面に照射された光は、光フアイバ集合体３２
の他端面に臨んで設けられた受光素子３３の受光面で受
光される。その受光索子３３の出力信号によって被検出
物体３０のピンホール欠陥の有無が検知される。
発明が解決しようとする問題点
従来技術では、被検出物体のピンホールの発生角度によ
って、被検出物体の下方に達する光の方向が異なり、光
が照射され易い方向に光ファイバの受光面を調整する必
要がある。また光ファイバの受光面を横方向に傾斜した
とき、被検出物体の下方に存在する外乱光が光ファイバ
に照射され、ピンホール欠陥の誤検出が生じるという問
題がある。
って、被検出物体の下方に達する光の方向が異なり、光
が照射され易い方向に光ファイバの受光面を調整する必
要がある。また光ファイバの受光面を横方向に傾斜した
とき、被検出物体の下方に存在する外乱光が光ファイバ
に照射され、ピンホール欠陥の誤検出が生じるという問
題がある。
本発明の目的は、被検出物体に存在するピンホールの軸
線方向に左右されずまた外乱光の影響を受けにくいピン
ホール欠陥検出装置を提供することである。
線方向に左右されずまた外乱光の影響を受けにくいピン
ホール欠陥検出装置を提供することである。
問題点を解決するための手段
本発明は、被検出物体の−・方側に、放射状に尤を発生
する光源を設け、前記被検出物体の他方側に、被検出物
体のピンホールを介する前記光源からの光を屈曲し集光
する光学手段を設けて、前記光学手段からの光を光検出
手段によって被検出物体のピンホール欠陥を検出−ｒる
ピンホール欠陥検出装置である。
する光源を設け、前記被検出物体の他方側に、被検出物
体のピンホールを介する前記光源からの光を屈曲し集光
する光学手段を設けて、前記光学手段からの光を光検出
手段によって被検出物体のピンホール欠陥を検出−ｒる
ピンホール欠陥検出装置である。
作 用
本発明に従えば、被検出物体のピンホールを介する光源
からの光を屈曲し集光する光学手段を設けたので、ピン
ホールの軸線方向の広範囲に亘ってピンホールを通過す
る光を受光することができ、ピンホールを確実に検出す
ることができる。
からの光を屈曲し集光する光学手段を設けたので、ピン
ホールの軸線方向の広範囲に亘ってピンホールを通過す
る光を受光することができ、ピンホールを確実に検出す
ることができる。
実施例
第１図は本発明の一実施例の構成を示す図である。シー
ト状の遮光性のある材料から成る被検出物体１の上方に
は被検出物体１の上面を照射するように放射状に光を発
生するたとえば蛍光灯である光源２が設けられている。
ト状の遮光性のある材料から成る被検出物体１の上方に
は被検出物体１の上面を照射するように放射状に光を発
生するたとえば蛍光灯である光源２が設けられている。
被検出物体１の下方にはその下面に近接して光学手段３
が設けられている。光学手段３の一方側には外周面が球
状であって一半径線の両側に傾斜した反射面を有する切
り込み部３ａを有するプリズム体３ｂが複数等１”Ｊｌ
隔に配列されている。
が設けられている。光学手段３の一方側には外周面が球
状であって一半径線の両側に傾斜した反射面を有する切
り込み部３ａを有するプリズム体３ｂが複数等１”Ｊｌ
隔に配列されている。
第２図は光学手ｙ、３の斜視図である。光学手段３の他
力側は平面であって、光学手段３の全体形状は一定の厚
みを有するシート部３ｃから前記プリズム体３ｂが多数
突出して形成された形状である。光学手段３のプリズム
体３ｂの反対側の面に臨んで、近接した位置に平面状の
受光面４ａを有する光フアイバ集合体４が、光学手段３
からの光を受光するように備えられている。光フアイバ
集合体４の一端面４ａに照射された光は、光フアイバ集
合体４の他端面４１３に臨んで設けられた受光素子５の
受光面５ａで受光される。
力側は平面であって、光学手段３の全体形状は一定の厚
みを有するシート部３ｃから前記プリズム体３ｂが多数
突出して形成された形状である。光学手段３のプリズム
体３ｂの反対側の面に臨んで、近接した位置に平面状の
受光面４ａを有する光フアイバ集合体４が、光学手段３
からの光を受光するように備えられている。光フアイバ
集合体４の一端面４ａに照射された光は、光フアイバ集
合体４の他端面４１３に臨んで設けられた受光素子５の
受光面５ａで受光される。
被検出物体１にピンホール６が存在すると、光源２がら
の光がピンホール６を介して被検出物体１の下方に達す
る。ピンホール６と被検出物体１の表面のなす角度θに
よって、ピンホールを通過した光の進行方向が異なる。
の光がピンホール６を介して被検出物体１の下方に達す
る。ピンホール６と被検出物体１の表面のなす角度θに
よって、ピンホールを通過した光の進行方向が異なる。
その尤の進行方向が変化してもプリズム体３ｂの球面状
部による屈折と、切り送部３ａでの全反射によって、尤
は矢符で示されているように光学手段３の光フアイバ集
合体４の受を面４ａに臨む平１【ｌに月して垂直力向に
向かデ。光フアイバ集合体４の受光面４ａが光学手段３
に対して平行に配置さ１１るので、光学手段３からの尤
は尤ファイバ集合体４にｌｉｊ射される。
部による屈折と、切り送部３ａでの全反射によって、尤
は矢符で示されているように光学手段３の光フアイバ集
合体４の受を面４ａに臨む平１【ｌに月して垂直力向に
向かデ。光フアイバ集合体４の受光面４ａが光学手段３
に対して平行に配置さ１１るので、光学手段３からの尤
は尤ファイバ集合体４にｌｉｊ射される。
光７フィバ集合体４によって導かれた光を受光素子５が
受光し、電気信号が出力されることによってピンホール
６の存在が検出される。
受光し、電気信号が出力されることによってピンホール
６の存在が検出される。
第３図は光学手段３を拡大して示した側面図である。プ
リズム体ｓｂｔ：ｎ球面部の半径１（と切り送部３ａの
切り込み角度θ１．θ２とを適宜３１！ぶことによって
、矢符Ａｌ、Ａ２で示されているように入射した光はは
鉛直方向に下方に導びかれる。
リズム体ｓｂｔ：ｎ球面部の半径１（と切り送部３ａの
切り込み角度θ１．θ２とを適宜３１！ぶことによって
、矢符Ａｌ、Ａ２で示されているように入射した光はは
鉛直方向に下方に導びかれる。
被検出物体１に対して光学手段３を近接して配置するこ
とによって外乱光の介入を極カ抑えることができ、外６
Ｌ先によるピンホール欠陥の検出精度の低下を防ぐこと
ができる。
とによって外乱光の介入を極カ抑えることができ、外６
Ｌ先によるピンホール欠陥の検出精度の低下を防ぐこと
ができる。
本発明の他の実施例として、光学手段３と光７フイバ集
合体４の間に集光レンズを介在し、光学手段３がらの光
を集光して光７フィバ集合体４の光７アイパの本数を少
なくすることもできる。
合体４の間に集光レンズを介在し、光学手段３がらの光
を集光して光７フィバ集合体４の光７アイパの本数を少
なくすることもできる。
効 果
以上のように本発明によれば、被検出物体に存在するピ
ンホールの軸線方向が異なってもピンホールを介する尤
を検出する精度が低下せず、また外乱光に対して影響を
受けにくくすることができる。
ンホールの軸線方向が異なってもピンホールを介する尤
を検出する精度が低下せず、また外乱光に対して影響を
受けにくくすることができる。
第１図は本発明の構成を示す図、第２図は光学手段３の
斜視図、第３図は光学手段３を拡大して示した側面図、
第４図は従来技術の構成を示す図である。 １・・・被検出物体、２・・・光源、３・・・光学手段
、４・・・尤ファイバ集合体、５・・・受Ｌ −４−、
ｒ代理人 弁理士 西教生−部 第１図 第２図 第３図
斜視図、第３図は光学手段３を拡大して示した側面図、
第４図は従来技術の構成を示す図である。 １・・・被検出物体、２・・・光源、３・・・光学手段
、４・・・尤ファイバ集合体、５・・・受Ｌ −４−、
ｒ代理人 弁理士 西教生−部 第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- 被検出物体の一方側に、放射状に光を発生する光源を設
け、前記被検出物体の他方側に、被検出物体のピンホー
ルを介する前記光源からの光を屈曲し集光する光学手段
を設けて、前記光学手段からの光を光検出手段によさて
被検出物体のピンホール欠陥を検出するピンホール欠陥
検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15186484A JPS6129745A (ja) | 1984-07-21 | 1984-07-21 | ピンホ−ル欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15186484A JPS6129745A (ja) | 1984-07-21 | 1984-07-21 | ピンホ−ル欠陥検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6129745A true JPS6129745A (ja) | 1986-02-10 |
Family
ID=15527901
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15186484A Pending JPS6129745A (ja) | 1984-07-21 | 1984-07-21 | ピンホ−ル欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6129745A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS646939U (ja) * | 1987-06-30 | 1989-01-17 | ||
| JP2015094694A (ja) * | 2013-11-13 | 2015-05-18 | Ckd株式会社 | 検査装置及びｐｔｐ包装機 |
-
1984
- 1984-07-21 JP JP15186484A patent/JPS6129745A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS646939U (ja) * | 1987-06-30 | 1989-01-17 | ||
| JPH033307Y2 (ja) * | 1987-06-30 | 1991-01-29 | ||
| JP2015094694A (ja) * | 2013-11-13 | 2015-05-18 | Ckd株式会社 | 検査装置及びｐｔｐ包装機 |
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