JPH03116581A - アシンメトリ補正装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［概要１ ２値信号をディスク表面の光学的、磁気的又は電気的特
性等の物理的特性の変化と対応させて記録したものの再
生装置に用いられるアシンメトリ補正装置に関し、 記録媒体上の連続する同一物理的特性の長さの標準値か
らのずれに基づく再生パルス幅のずれを補正することを
目的とし、 ２値儒号をディスク表面の物理的特性の変化と対応させ
て該ディスク表面に記録した記録媒体からの再生信号の
うち、データ領域に先行する領域の信号について、一定
ビット長のパルスの標準幅をＴｏとしたときの、基準と
なる一定幅（Ｔ０＋ｄ）と該パルスの実際の幅Ｔとの差
（Ｔｏ＋ａ−丁）を測定する後縁遅延量測定部と、該再
生信号のうち、該データ領域の各パルスを、該パルスの
前縁が時間ｄだけ遅延し、該パルスの後縁が該差（Ｔｏ
＋ｄ−Ｔ）だけ遅延したパルスに変換するパルス幅補正
部と、を備えて構成する。

［産業上の利用分野］ 本発明は、２値信号をディスク表面の光学的、磁気的又
は電気的特性等の物理的特性の変化と対応させて記録し
たものの再生装置に用いられ、記録媒体上の連続する同
一物理的特性の長さの標準値からのずれに基づく再生パ
ルス幅のずれを補正するアシンメトリ補正装置に関する
。

［従来の技術］ ディスク表面にピットを形成し、このピットを２値デー
タと対応させる場合、対応のさせ方で記録密度が異なる
。例えば第５図（Ａ）に示す如く、ピットの有無を１．
０に対応させる場合よりも、同図（Ｂ）に示す如くピッ
トのエツジの有無を１゜０に対応させた方が２倍のデー
タ量を記録することができる。同図（Ｃ）は（Ｂ）のピ
ットの再生信号である。

一方、原盤上へのピットの記録は、ガラス円盤にフォト
レジストを塗布し、これを回転させ、レーザ光を光変調
器に通して該円盤に照射することにより行なわれる。

このピットの大きさは、レーザ光強度、光変調器や原盤
に対する環境温度の影響、原盤や現像液の特性のばらつ
き等により異なり、このため、第５図（Ｄ＞に示す如く
、ピットがその長手力向くトラッキング方向）へ前後に
同じ量だけ長くなったり、短くなったりするという、い
わゆるアシンメトリが生ずる。

［発明が解決しようとする課題］ このアシンメトリにより、ピットの再生信号は同図（Ｄ
）に示す如くなるので、ピットのエツジの有無を１，０
に対応させた場合には、２値変化点がずれ、これにノイ
ズ等の原因が加わると、データ読み取りエラーが発生す
ることがある。このエラーの発生確率は、記録密度が高
くなるほど大きくなる。このような問題点は、２値信号
をディスク表面の光学的、磁気的又は電気的特性等の物
理的特性の変化と対応させて記録したものの再生装置の
全てについて生ずる。

本発明の目的は、このような問題点に鑑み、記録媒体上
の連続する同一物理的特性の長さの標準値からのずれに
基づく再生パルス幅のずれを補正するアシンメトリ補正
装置を提供することにある［課題を解決するだめの手段
］ 第１Ａ図は本発明に係るアシンメトリ補正装置の原理構
成を示し、第１Ｂ図はこの装置の信号処理を示す。この
アシンメトリ補正装置は、２値信号をディスク表面の物
理的特性の変化と対応させて該ディスク表面に記録した
記録媒体からの再生信号を処理する。

図中、ｌは後縁遅延量測定部であり、再生信号のうち、
データ領域に先行する領域の信号について、一定ビット
長のパルスの標準幅（アシンメトリがないときのパルス
幅）をＴｏとしたときの、基準となる一定幅（Ｔ、＋ｄ
）（第１Ｂ図（Ｂ））と該パルスの実際の幅Ｔ（第１Ｂ
図（Ａ））との差（Ｔｏ　＋ａ−’ｒ）を測定する。

２はパルス幅補正部であり、該再生信号のうち、該デー
タ領域の各パルス（第１Ｂ図（Ｃ））を、該パルスの前
縁が時間ｄだけ遅延し、該パルスの後縁が該差 （Ｔ、＋ｄ−Ｔ）だけ遅延したパルス（第１Ｂ図（Ｄ）
）に変換する。

［作用］ アシンメトリによる再生パルス幅のずれは、その原因か
ら、各トラックについて同一である。したがって、デー
タ領域のパルスの実際の幅をｔ（１１８図（Ｃ））、そ
の標準幅をｔ。とすると、ｔｏ−ｔ＝Ｔｏ−Ｔが成立す
る。よって、パルス幅補正部２の出力パルスの幅は、 ｔ−ｄ＋　（Ｔｏ　　Ｔ＋ｄ） ＝ｔ−ｄ＋　（ｔｏ−ｔ＋ｄ） ＝ｔ　　。

と標準幅に等しくなる（第１Ａ図（Ｄ））。

［実施例］ 以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説明する。

第４図は光ディスクのＩＳＯ規格セクタフォーマットを
示す。１セクタは、その長さが１３６０Ｂ（Ｂはバイト
、以下同様）であり、５２Ｂのブリフォーマツチイツト
エリア、１４ＢのＯＤＦフラグ及びギャップ、１２Ｂの
ＶＦＯ（ＰＬＬ回路の為のロックアツプ信号）、３Ｂの
同期信号、１２５９Ｂのデータ及び２０Ｂのバッファの
各領域からなる。このうち、３Ｂの同期信号は次の如く
規定されている。

０１０００１００１０００００１００１００１０００本
実施例では、この同期信号のなかの、１番長いビットに
対応した１０００００１の信号を、後述する基準信号と
する。

第２図は光デイスク再生装置に用いられるアシンメトリ
補正回路を示し、第３図は第２図の回路のタイミングチ
ャートを示す。第３図において、（Δ）〜（Ｊ）行は各
構成要素の出力波形を示し、（１）列は記録ビットの長
さが標準の場合を、〈２）列は記録ビットの長さが標準
より短い場合を、（３）列は記録ビットの長さが標準よ
り長い場合を示す。

ピットの有無を示す再生信号は基準信号分離回路１０へ
供給され、フォーマットの規則を参照して、第３図（Ａ
）に示すような上記基準信号が分離される。基準信号分
離回路１０の出力は波形整形回路１２に供給されて、第
３図（Ｂ）に示すような方形波に整形される。

第３図中、Ｔｏは１０００００１を示すパルスの標準幅
であり、Ｔ　＋　＜　Ｔ　ｏ　＜　Ｔ　２の関係にある
。

成形された基準信号は、モノマルチバイブレータ１４及
びインバータ１６に供給される。モノマルチバイブレー
タ１４からは、第３図（Ｃ）に示す如く、人力パルスの
立ち上がり検出後、基準となる一定幅Ｔｏ　＋ｄのパル
スが出力される。

ここにｄは、記録媒体の特性のバラツキや記録時におけ
る環境温度等により異なる記録ビットの長さの標準値か
らの推定最大ずれよりも僅か大きい値であり、例えば０
．４ビツト長に相当する時間である。

モノマルチバイブレーク１４及びインバータ１６の出力
は、ゲート開閉用としてアンドゲート１８へ供給される
。アンドゲート１８が開かれると、タロツク発生器２０
からのクロックパルスがアンドゲート１８を通りカウン
タ２２のクロック端子ＣＫへ供給されて計数される。カ
ウンタ２２の計数値は、セクタマーク検出信号ＳＭによ
りクリアされる。このセクタマークは、第４図に示すブ
リフォーマツチイツトエリアの先頭部分に記録するよう
に規定されており、不図示の回路により検出される。

一方、再生信号はデータ分離回路２４へも供給され、フ
ォーマットの規則を参照して、データエリアのデータが
分離される（第３図（Ｅ））。分離されたデータは波形
整形回路２６へ供給されて、第３図（Ｆ）に示す如く方
形波に整形される。

第３図中、ｔｏは例えば１００１を示すパルスの標準幅
であり、ｔ　＋　＜　ｔ　ｅ　＜　ｔ　ｘの関係にある
。

波形整形回路２６の出力は、直接及びデイレイライン２
８を介してアンドゲート３０へ供給される。

デイレイライン２８の遅延時間は、第３図（Ｇ）に示す
如く上記ｄに等しい。アンドゲート３０の出力は、第３
図（Ｈ）に示す如くなり、オアゲート３２の一方の入力
端子へ供給される。

他方、波形整形回路２６の出力は、インバータ３４を介
してＲＳフリップフロップ３６のセットｉ子ｓ、ダウン
カウンタ３８のロード端子り及びモノマルチバイブレー
タ４０へ供給され、インバータ３４の出力が低レベルか
ら高レベルに変化した時点で、ＲＳフリップフロップ３
６がリセットされ、カウンタ２２の計数値がダウンカウ
ンタ３８ヘロードされ、モノマルチバイブレータ４０が
トリガされる。これにより、モノマルチバイブレーク４
０から一定幅ｄのパルスが出力され、アンドゲート４２
へ供給される。このパルスによりアンドゲート４２が開
かれると、クロック発生器２０からのクロックパルスが
アンドゲート４２を通ってダウンカウンタ３８のクロッ
ク端子ＣＫに供給される。ダウンカウンタ３８の計数値
はノアゲート４４へ供給され、ノアゲート４４の出力は
ＲＳフリップフロップ３６のリセット端子Ｒに供給され
ており、ダウンカウンタ３８の計数値が０になるとＲＳ
フリップフロップ３６がリセットされる。

したがって、ＲＳフリップフロップ３６の出力端子Ｑか
らは、カウンタ２２の計数値に比例した幅のパルスが出
力される。例えば波形整形回路１２の出力パルスの幅が
Ｔ、　、Ｔ、　、Ｔ、の場合にはそれぞれ、幅ａ　（Ｔ
（１＋ｄ−Ｔ、　）、（Ｔｏ＋ｄ　　Ｔ　２　）のパル
スがＲＳフリップフロップ３６の出力端子Ｑから取り出
される。この出力はオアゲート３２の他方の入力端子に
供給され、オアゲート３２からは第３図（、■）に示す
ような補正されたパルスが出力される。

このようにして、波形整形回路２６の出力パルスの幅が
ｔｏの場合にはオアゲート３２の出力パルスの幅はｔ。

となり、波形整形回路２６の出力パルスの幅が１１の場
合にはオアゲート３２の出力パルスの幅はｔｌ＋Ｔｏ　
　Ｔｌとなり、波形整形回路２６の出力パルスの幅がｔ
２の場合にはオアゲート３２の出力パルスの幅はｔ＋＋
Ｔｏ−Ｔ、となる。ここで、各セクタについて、各長さ
の記録ビットの標準長さからのずれは同一であり、ｔｏ
　　　ｔ　＋　＝Ｔｏ　　’ｒ’＋、ｔ　２　　ｔ　ｏ
　＝　Ｔ　２Ｔ　ｏが成立するので、ｔｏ　　　＝　　
ｔ　　＋　　　＋　　Ｔｏ　　　　　Ｔｌ　　　＝　　
ｔｚ　　　＋Ｔｏ　　　　　Ｔ２となる。したがって、
オアゲート３２の出力パルスの幅は、各記録ビットの長
さが標準値からずれていても、これが補正されて標準幅
Ｔ。となる。

なお、本発明には外にも種々の変形例が含まれる。

例えば第２図において、インバータ３４の出力の代わり
にデイレイライン２８の出力をＲＳフリップフロップ３
６のセット端子Ｓに供給すれば、ＲＳフリップフロップ
３６から補正されたパルスが出力され、アンドゲート３
０及びオアゲート３２が不要となる。

また、カウンタ２２の代わりにダウンカウンタを用い、
時間（Ｔｏ＋ｄ）に相当する値（固定値）をこのダウン
カウンタに予めセットしておき、波形整形回路１２の出
力が高レベルの間クロック発生器２０からのクロックで
ダウンカウンタの計数値をデクリメントする構成であっ
てもよい。

［発明の効果］ 以上説明した如く、本発明に係るアシンメトリ補正装置
によれば、記録媒体上の連続する同一物理的特性の長さ
の標準値からのずれに基づく再生パルス幅のずれを補正
することができるという優れた効果を奏し、データの正
確な再生及び高記録密度化に寄与するところが大きい。

【図面の簡単な説明】

第１Ａ図は本発明に係るアシンメトリ補正装置の原理構
成を示すブロック図、第１Ｂ図はこの装置の信号処理を
説明する波形図である。 第２図乃至第４図は本発明の一実施例に係り、第２図は
アシンメトリ補正回路のブロック図、第３図は第２図に
示す回路のタイミングチャート、 第４図は光ディスクのセクタフォーマットを示す図であ
る。 第５図は従来例の問題点説明に係る、ビットとデータと
の関係を示す図である。 図中、 １０は基準信号分離回路 １２．２日は波形整形回路１２ １４はモノマルチバイブレータ ２０はクロック発生器 ２２はカウンタ２２ ２４はデータ分離回路 ２８はデイレイライン２８ ３６はＲＳフリップフロップ ３８はダウンカウンタ ４０はモノマルチバイブレータ ２ 第１Ａ図 第１Ｂ図 第２図に示す回路Ｃ 第 （２） リタイミングチャート ３図 （３）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ２値信号をディスク表面の物理的特性の変化と対応させ
   て該ディスク表面に記録した記録媒体からの再生信号の
   うち、データ領域に先行する領域の信号について、一定
   ビット長のパルスの標準幅をＴ＿０としたときの、基準
   となる一定幅（Ｔ＿０＋ｄ）と該パルスの実際の幅Ｔと
   の差（Ｔ＿０＋ｄ−Ｔ）を測定する後縁遅延量測定部（
   １）と、該再生信号のうち、該データ領域の各パルスを
   、該パルスの前縁が時間ｄだけ遅延し、該パルスの後縁
   が該差（Ｔ＿０＋ｄ−Ｔ）だけ遅延したパルスに変換す
   るパルス幅補正部（２）と、 を有することを特徴とするアシンメトリ補正装置。