JPH03114247A - パッケージ型半導体装置 - Google Patents

パッケージ型半導体装置

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JPH03114247A
JPH03114247A JP1252802A JP25280289A JPH03114247A JP H03114247 A JPH03114247 A JP H03114247A JP 1252802 A JP1252802 A JP 1252802A JP 25280289 A JP25280289 A JP 25280289A JP H03114247 A JPH03114247 A JP H03114247A
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JP
Japan
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cap
sealing material
semiconductor device
glass sealing
semiconductor pellet
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Application number
JP1252802A
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English (en)
Inventor
Takayoshi Saito
齋藤 孝義
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Yamagata Ltd
Original Assignee
NEC Yamagata Ltd
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Publication date
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    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はセラミック製キャップを基板上にガラス等によ
り接合して半導体ペレットを封止するパッケージ型半導
体装置に関する。
[従来の技術] 第4図は従来のパッケージ型半導体装置の一例を示す縦
断面図である。
第4図に示すように、板状のセラミックス製容器4は、
その上面及び側面に外部引出しメタライズ層3が所定の
パターンで形成されている。半導体ペレット6は容器4
上の略中央に外部引出しメタライズ層3を介して搭載さ
れており、金属線7によって外部引出しメタライズ層3
と結線されている。キャップ1bは下向きに開放された
セラミックス製の蓋であり、半導体ペレット6を囲むよ
うにして容器4上にガラス封着材2bを介して封着され
ている。このように構成される半導体装置はリード5上
に搭載され、外部引出しメタライズ層3とリード5とが
電気的に接続される。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述した従来のパッケージ型半導体装置
は、キャップ1bの接合面が平坦且つ容器4の上面と平
行に形成されており、この平坦な接合面に予めガラス封
着材2bを融着させた後に、キャップ1bを容器4上の
外部引出しメタライズ層3上に圧着して形成されている
。また、ガラス封着材2b′−の使用量はロフトの平均
によりガラス量の管理をしているため、そのバラツキが
多い。
従って、キャップ1bの封着面に融着させるガラス量が
多い場合には、圧着によってガラス封着材2bがキャッ
プ1bの内側に流入してしまう。このため、キャップ内
側に流入したガラス封着材2bがその流れ込み応力又は
熱膨張係数の差により金属線7を断線させてしまうとい
う問題点がある。
また、キャップ内側に流入したガラス封着材2bが金f
ili7又は半導体ペレット6と反応し、半導体特性が
変動してしまう虞もある。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
パッケージ内へのガラス封着材の流入を防止することが
できるパッケージ型半導体装置を提供することを目的と
する。
[課題を解決するための手段] 本発明に係るパッケージ型半導体装置は、基板上に装着
された半導体ペレットと、前記半導体ペレットを囲み前
記基板上に接合材を介して接合されたセラミック製キャ
ップとを有するパッケージ型半導体装置において、前記
キャップの接合面はそのキャップ内側の縁部がキャップ
外側の縁部よりも前記基板に向けて突出していることを
特徴とする。
[作用コ 本発明においては、半導体ペレットを封止するためのセ
ラミック製キャップの接合面が、そのキャップ内側の縁
部を外側の縁部より基板に向けて突出させて形成されて
いる。このため、その接合面に多量のガラス封着材を融
着させてセラミックス製キャップを基板上に圧着しても
、余分なガラス封着材はキャップの外側に流出するので
、キャップ内側へのガラス封着材の流入を防止すること
ができる。従って、ガラス封着材によってパッケージ型
半導体装置の金属線が断線したり、半導体特性が変動し
たりすることを防止できる。
[実施例] 次に、本発明の実施例について添付の図面を参照して説
明する。
第1図は本発明の第1の実施例に係るパッケージ型半導
体装置を示す断面図である。第1図において、第4図と
同一物には同一符号を付してその部分の詳細な説明を省
略する。
セラミック製キャップ1は容器4の略中央に配置された
半導体ペレット6を取り囲むように下端が開口した蓋状
をなし、容器4上の外部引出しメタライズ層3上にガラ
ス封着材2を介して接合されている。これにより、半導
体ペレット8はキャップ1により封止される。このキャ
ップ1は、その接合面が第1図に示すようにキャップ内
側の縁部を外側の縁部より下側にして内側から外側に向
けて傾斜して形成されている。従って、ガラス封着材2
はキャップ1と外部引出しメタライズ層3との間にくさ
び形に成形されて両者を接合している。
第2図(a)及び(b)はこの第1の実施例に係るパッ
ケージ型半導体装置におけるキャップ1の接合工程を説
明するための封着部の断面図である。なお、第2図(a
)及び(b)においては、夫々図の右側がキャップ1の
内側である。
先ず、第2図(a)に示すように、キャップ1の傾斜し
た接合面に適量のガラス封着材2を融着させておく。次
いで、第2図(b)に示すように、キャップ1を容器4
上の外部引出しメタライズ層3上に圧着する。
これにより、余分なガラス封着材2は、キャップ1の接
合面の内縁が外縁より下側に形成されているので、優先
的にキャップ1の外側に流出する。
従って、キャップ1の内側にガラス封着材2が流入する
ことを防止できる。
第3図(a)及び(b)は本発明の第2の実施例に係る
パッケージ型半導体装置におけるキャップ1の接合工程
を説明するための封着部の断面図である。
第3図(a)に示すように、キャップ1aの接合面はキ
ャップ内側の部分がキャップ外側の部分より下側になる
ように階段吠に形成されている。
そして、先ず接合面の外縁側の段差部にのみガラス封着
材2aをこの段差よりも厚く融着させる。
次いで、第3図(b)に示すように、キャップ1aを容
器4上の外部引出しメタライズ層3上に圧着する。そう
すると、ガラス封着材2aが内縁側の封着部に僅かに流
れ込み、この流れ込んだガラス封着材2aが接合面の内
縁側の接合に使用される。このようにして、本実施例に
おいても、キャップla内へのガラス封着材2aの流入
を防止することができる。
[発明の効果コ 以上説明したように本発明によれば、パッケージ型半導
体装置のセラミック製キャップの接合面が、そのキャッ
プ内縁側がキャップ外縁側より基板に向けて突出するよ
うに形成されている。このため、この封着面にガラス封
着材を融着させた後にキャップを所定の基板上に圧着す
れば、余分なガラス封着材はキャップの外側に流出する
ので、キャップ内へのガラス封着材の流入を防止するこ
とができる。従って、ガラス封着材によってパッケージ
型半導体装置の金属線が断線したり、半導体特性が劣化
することを防止できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例に係るパッケージ型半導
体装置を示す断面図、第2図(a)及び(b)はその封
着部の接合工程を示す断面図、第3図(a)及び(b)
は本発明の第2の実施例に係るパッケージ型半導体装置
の封着部の接合工程を示す断面図、第4図は従来のパッ
ケージ型半導体装置の一例を示す縦断面図である。 L  1a+  lb;キャップ、2+  2a+  
2b;ガラス封着材、3;外部引出しメタライズ層、4
;容器、5;リード、6;半導体ペレット、7;金属線

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上に装着された半導体ペレットと、前記半導
    体ペレットを囲み前記基板上に接合材を介して接合され
    たセラミック製キャップとを有するパッケージ型半導体
    装置において、前記キャップの接合面はそのキャップ内
    側の縁部がキャップ外側の縁部よりも前記基板に向けて
    突出していることを特徴とするパッケージ型半導体装置
JP1252802A 1989-09-28 1989-09-28 パッケージ型半導体装置 Pending JPH03114247A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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