JPH03110512A - 光ビーム走査装置 - Google Patents

光ビーム走査装置

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JPH03110512A
JPH03110512A JP1249863A JP24986389A JPH03110512A JP H03110512 A JPH03110512 A JP H03110512A JP 1249863 A JP1249863 A JP 1249863A JP 24986389 A JP24986389 A JP 24986389A JP H03110512 A JPH03110512 A JP H03110512A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はレーザビームプリンタなどの画像形成装置等に
使用される光ビーム走査装置に関する。
[従来の技術J 従来1通常、例えばレーザビームプリンタにおける光ビ
ーム走査装置は第9図に示す如き構成を有している。同
図において、半導体レーザ素子の様なレーザ光源91か
ら発せられたレーザ光りはコリメータレンズ92によっ
て平行光とされ、その後回転多面鏡93の偏向反射面に
照射される。回転多面鏡93は複rIlc例えば6つ)
の反射面を有し、定速回転モータ94により一定速度で
矢印a方向に回転されており、それにより入射して来た
レーザ光を矢印す方向に次々と偏向走査させる、光路中
には走査レンズ95が配置され、入射するレーザ光を被
走査面である感光ドラム96上にスポット状に結像させ
、且つ等速走査させる。
97は同期信号発生の為の光検知素子であり、レーザビ
ーム走査1198上、走査開始側に設置されている。レ
ーザ光りが光検知素子97上を通過するときに該検知素
子97から出力される信号(以下、BD倍信号いう)は
、各走査における画像信号書き出しの同期をとる為に用
いられる。即ち、各走査において制を耳部(不図示)は
、I3D信号から予め決められた一定時間の遅延の後、
画像信号に対応したレーザ駆動信号LDに応じてレーザ
光源91を明滅させて走査を行う。
これにより、定速回転モー・夕94の回転速度ムラなど
によって光ビームの走査速度に変動が生じても、感光ド
ラム96上の各走査の画像書き出し位置は略一定に制御
できる。
[発明が解決しようとする課題] しかし乍ら、斯かる従来例では、画像信号書き出し中の
走査速度変動に対しては、これを補正することが出来な
い、即ち、従来例に従って、BD倍信号ら予め決められ
た一定時間の遅延の後に画像信号を書き出すことで各走
査線における画像信号書き出しの同期を得たとしても、
走査中に走査速度変動が生じた場合には、各走査線の信
号終了位置にずれが生じて所謂ジッタエラーとなる。
特に、走査線数本毎の短周期で現われるジッタエラーが
大きい場合、走査終了側において印字位置がずれ、文字
パターンが乱れたり、モしてデイザ、濃度パターン或は
パルス幅変調による中間調出力においては、所定の中間
調濃度が得られない等によって、印字品位を著しく劣化
させる。
こうした短周期ジッタの主原因は回転多面境93各面の
面形状精度によるものであり、通常、面が凸傾向である
ときは走査速度が遅く反対に凹傾向のときは速(なる6
面形状は、加工時に決まる加工精度の他、動作中の遠心
力や昇温によっても変形するもので、短周期ジッタを十
分小さく抑える為には、加工精度の向上、多面鏡保持方
法の改善、昇温対策などが必要であり、設計生産のコス
トアップを引き起こすことになる。
従って、本発明の目的は、上記従来例の課題に鑑み、た
とえ従来と同様の周期的走査速度変動が存在しても被走
査媒体上の画像品位に及ぼす影響を軽減出来る構成を持
つ光ビーム走査装置を提供することにある。
[課題を解決する為の手段] 上記目的を達成する為の本発明では、明滅する光ビーム
を、偏向器を用いて感光ドラムなどの被走査媒体上の所
定走査線上に走査させ、所定のクロックに同期し、て、
走査線上に適宜の幅で画像信号に応じた露光分布を形成
する光ビーム走査装置において、走査毎の光ビームの走
査速度の周期的変動を測定する測定手段が設けられ、該
測定手段によって得られた測定結果に応じて、上記クロ
ックを上記走査速度の周期的変動の周期に同期させて変
化させる。
具体的には、測定手段は、走査線上の所定の2点間を光
ビームが通過する時間を測定したり、所定時間内に光ビ
ームが移動する距離を測定したりして走査速度の周期的
変動を測定し、また画像クロックの変化は、適宜な手段
でジッタエラーの影響を抑えるようにクロックの位相ま
たは周期を変化させて行なう。
また、測定手段は、偏向器である回転多面鏡各面周期の
走査速度変動を測定したりするこうして、たとえ周期的
走査速度変動が存在いても被走査媒体上の画像品位に及
ぼす影響が軽減できる。
[実施例] 以下、図面に沿って本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明に係わる光ビーム走査装置なレーザビー
ムプリンタに適用したときの実施例を示す概略構成図で
あり、同図において1は光源である半導体レーザ素子、
2はコリメータレンズ、3は回転多面鏡すなわちポリゴ
ン、4はポリゴン3を一定速度で回転させる駆動部、5
は走査レンズ、6は被走査面である電子写真機構用感光
ドラムである。これらの部材の作用については、第9図
の説明の所で述べたのと同じである。
次に、7は走査線上の走査開始側に設けられた走査開始
信号BD、検知の為の第1の光−検知部、8は同じく走
査線上の走査終了側に設けられた走査終了信号BD、検
知の為の第2の光検知部である。
図示しないレーザ駆動部からのレーザ駆動信号LDによ
って明滅するレーザ光源1は、感光ドラム6上にスポッ
ト状に結像されて。
且つ等速走査されるが、その際、レーザ光りが光検知部
7上を通過するとき、検知素子から走査開始信号BD、
が出力され、レーザ光りが光検知部8上を通過するとき
、検知素子から走査終了信号BD、が出力される。更に
、ポリゴン駆動部4からは、ポリゴン1回転毎にポリゴ
ン同期信号PSが発生され、また不図示のレーザ駆動部
は、走査開始信号BD。が発生された後、後述する水平
同期信号H5YNCにより画像信号出力を開始し、走査
中における画像信号の送出を所定の画像クロックに同期
して行なう。
走査開始信号BD、、走査終了信号BD。
、及びポリゴン同期信号PSは、ポリゴン3各面形状に
よる光ビーム走査速度偏差を検出する為に、後述する走
査速度測定回路に接続される。
7f′!2図はこの走査速度測定回路の1例を示すブロ
ック図であり、この回路において、走査開始信号検出部
7と走査終了信号検知部8間を光ビームLが走査する時
間が、クロックカウンタのカウント値によって測定され
る。
第2図において、21は測定対象となるポリゴン3の面
を指定する為の語指定用ラッチであり、22は走査開始
信号BD、をダウンカウントするBDカウンタであり、
23はBDカウンタ22のボロウ信号B及び走査終了信
号BD、を入力とするフリツタフロップである。更に、
24は不図示のクロック発生回路によって作られる測定
用クロック信号CLをカウントするクロックカウンタで
あり、25はクロックカウンタ24の値を所望のタイミ
ングで保持するカウント値ラッチである。測定用クロッ
ク信号CLは、測定しようとするジッタエラーの量によ
ってその周期を選ぶが、上記画像クロックの数分の1或
は数十分の1の周期を持つのが望ましい。
第3図は第2図の測定回路の動作を表わすタイミングチ
ャートであり、・これに基づいて測定回路の動作を説明
する。
語指定用ラッチ21には、不図示の制御部(CPU)か
ら測定対象となるポリゴン3の面に対応した値が書き込
まれ、ポリゴン同期信号PSによってBDカウンタ22
がリセットされると同時に語指定用ラッチ21の内容が
BDカウンタ22に初期値としてセットされる。BDカ
ウンタ22は走査開始信号BD。をセットされた初期値
からダウンカウントし、結果が負となった時にボロウ信
号Bを出力する。クロックカウンタ24は上記同期信号
PSによって予めOにセットされており、そのイネーブ
ル端子Eには、ボロウ信号Bでセットされ次の走査終了
信号B D +でリセットされるフリップフロップ23
の出力Qが接続されているので、クロックカウンタ24
は、上記同期信号PSの後、所定番目の(語指定用ラッ
チ21で指定される)走査における走査開始信号BDo
と走査終了信号BD、間でのクロック信号をカウントす
ることになる、このカウント結果はラッチ25に格納さ
れた後CPUに読み込まれる。
以上の動作を、面指定用ラッチ21の値を変えながら所
定回数繰り返すことによって、ポリゴン3全面に亙るカ
ウント値をCPUに取り込むことが出来る。
CPUは上記測定値を基にポリゴン3各面におけるカウ
ント値偏差Δ、を算出する。今、ポリゴン3の面数がn
であり、各面における上記測定カウント値がm l %
 m z 、・・・、m、、であったとすれば1mを各
面のカウント値の平均値として、ポリゴン3の各面のカ
ウント値偏差△、は、 Δ+ = m +  m (1= l〜n)となる。
また、ジッタエラーE、は、測定用クロックCLIパル
スに対応する画素ずれをdとして。
E、=Δ、 ・d    (i=1−n)で表わされる
第4図は、この各面のカウント値偏差△。
を基にジッタエラーを補正する手段の1例を示すもので
あり、従来例の構成では、第5図に示す如(走査終了側
にE、に相当する画素ずれが生じるのに対し、第4図の
補正手段はこの画素ずれを走査開始側にも振り分け、結
果として、第6図の如(画素ずれの量を半分に軽減する
ものである。
第4図において、41は走査開始信号BD0をカウント
するBDカウンタ、42はポリゴン3各面における補正
量を格納するラッチ群、43はBDカウンタ41の値に
応じてラッチ群42のうちの1つを選択するマルチプレ
クサであり、44は遅延用クロックCLDをカウントす
るクロックカウンタである。遅延用クロックCLDは不
図示のクロック発生回路によって作られ、ここでは簡囃
の為、土工e測定用クロックCLの半分の周期を持つと
する。
CPUは画像信号描画に先立ち、ラッチ群42に、基準
遅延時間に対応する遅延クロックカウント数(測定用ク
ロックCLの半分の周期)から上記各面カウント値偏差
△iを減じたもの(△、は正または負)を格納する。
感光ドラム6への描画時には、先ず、ポリゴン同期信号
PSによってBDカウンタ41がノセットされ、その後
ポリゴン3各面による走査の度に走査開始信号BD、が
発生し、BDカウンタ41の値が更新されてマルチプレ
クサ43に送られる。その結果、マルチプレクサ43は
、ポリゴン3の各面走査の度にラッチ群42から対応す
る上記遅延クロック数を選択し、クロックカウンタ44
に出力するクロックカウンタ44は、走査開始信号BD
、によってリセットされると同時に、マルチプレクサ4
3の出力遅延クロック数を初期値としてセットする。ク
ロックカウンタ44はダウンカウンタであり、設定され
た回数だけ遅延用クロックCLDをカウントした後、前
述した水平同期信号HS Y N Cを出力する。この
水平同期信号H3YNCは、前述の従来例と同様に、不
図示のレーザ駆動回路に人力され半導体レーザ素子lに
よる画像信号書き出しを制御する。
以上の動作によって、各走査線における画像描画開始位
置は基準位置に対し−E、/2だけずれ、結果として、
第6図に示す如(、ジッタエラー量E、を走査開始側と
終了側に分散し、走査速度偏差の影響を緩和することが
できる。
以上の例では、ジッタエラー量Elを画像域の前後端に
補正手段で分散していたが、走査線中で数個所に分散さ
せても良い。
第7図は、ジッタエラーflE、を3個所に分散させる
ことで、補正位置での画素ズレをより小さ(し、画像へ
の悪影響を更に軽減させた例の印字を模式的に表わした
ものである上記2つのジッタエラー補正手段は画像クロ
ックのタイミングすなわち位相を制御することでジッタ
の補正を行なうものであったが、画像クロックの周期そ
のものを変化させることによってジッタ補正を行なうこ
とができる。すなわち、走査速度が速いポリゴン面に関
しては、その走査の期間中画像クロックを遅(し、走査
速度が遅いポリゴン面に関しては画像クロックを速くし
て、夫々画素印字位置を揃える。
次に、上記実施例では、測定手段は、走査開始側と走査
終了側の所定距離の2点間を光ビームが通過する時間を
測定していたが、所定時間内に光ビームが通過する距離
を測定して走査速度の周期的変動を測定することも出来
る。
第8図はこのタイプの測定手段における光ビーム検知手
段を示し、感光ドラム6を挾んでB T)センサ7の反
対側に、走査方向に光電変換素子が多数個配列された1
例えばCCDの様な撮像素子81が設けられている。
この構成において、光ビームはBDセンサ7とCCD8
1間を矢印す方向に走査するがBDセンサ7上を通過し
所定時間の後にCCD81上でパルス発光が起こる。そ
の結果、CCD81上に露光分布が形成されるが。
走査毎に走査速度に変動があると上記露光分布はCCD
81上で走査毎に走査方向にシフトする。従ってこのシ
フト量を検出することで、走査毎の走査速度変動量を検
出できることになる。
[発明の効果] 以上説明した如く、本発明によれば、走査毎の走査速度
の周期的変動を適宜な手段で測定し、これに応じて画像
クロックをこの速度変動周期に同期させて適宜な態様で
変化させているので、被走査媒体上でのジッタエラーに
よる画像の劣化を抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による光ビーム走査装置の実施例の概略
構成図、第2図・は走査速度測定回路のブロック図、第
3図は第2図の測定回路の動作を説明する為のタイミン
グチャート、第4図は水平同期信号制御回路のブロック
図、第5図は従来例の印字画素位置の例を示す図、第6
図と第7図は、夫々、本発明によりジッタエラー量を補
正した場合の印字画素位置の例を示す図、第8図は本発
明による走査速度測定部の他の例を示す図、第9図は従
来例を説明する図である。 l・・・半導体レーザ素子、2・・・コリメータレンズ
、3・・・ポリゴンミラー、4・・・ポリゴン駆動部、
5・・・走査レンズ、6・・・感光ドラム、7・・・走
査開始側光検出部、8.81・・・走査開始側光検出部 罎 第 3 図 4 第6図 第 図 定昼開粘項11 ズ旨’JkJ4埼ト了但す

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、明滅する光ビームを、偏向器を用いて被走査媒体上
    の所定走査線上に走査させ、所定のクロックに同期して
    、走査線上に画像信号に応じた露光分布を形成する光ビ
    ーム走査装置において、走査毎の光ビームの走査速度の
    周期的変動を測定する測定手段が設けられ、該測定手段
    によって得られた測定結果に応じて、上記クロックを上
    記走査速度の周期的変動の周期に同期させて変化させる
    ことを特徴とする光ビーム走査装置。 2、前記測定手段は、走査線上の所定の2点間を光ビー
    ムが通過する時間を測定する請求項1記載の光ビーム走
    査装置。 3、前記測定手段は、所定時間内に光ビームが移動する
    距離を測定する請求項1記載の光ビーム走査装置。 4、上記クロックの変化は、クロックの位相を変化させ
    て行なう請求項1記載の光ビーム走査装置。 5、上記クロックの変化は、クロックの周期を変化させ
    て行なう請求項1記載の光ビーム走査装置。 6、前記測定手段は、偏向器である回転多面鏡各面周期
    の走査速度変動を測定する請求項1記載の光ビーム走査
    装置。
JP1249863A 1989-09-26 1989-09-26 光ビーム走査装置 Pending JPH03110512A (ja)

Priority Applications (2)

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