JPH03108652A - 電解質分析装置における校正液自動供給方式 - Google Patents
電解質分析装置における校正液自動供給方式Info
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- JPH03108652A JPH03108652A JP24776989A JP24776989A JPH03108652A JP H03108652 A JPH03108652 A JP H03108652A JP 24776989 A JP24776989 A JP 24776989A JP 24776989 A JP24776989 A JP 24776989A JP H03108652 A JPH03108652 A JP H03108652A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、希釈方式を採用した電解質分析装置におけ
る校正液の自動供給方式に関する。
る校正液の自動供給方式に関する。
従来の技術
イオン電極法を用いて検体中のイオン濃度を測定する装
置としての電解質分析装置があり、この電解質分析装置
の中に希釈法を採用した装置がある。
置としての電解質分析装置があり、この電解質分析装置
の中に希釈法を採用した装置がある。
このような電解質分析装置においては、検体のイオン濃
度の測定に先立ち、予め校正液の電極電位を測定し、校
正操作を行う必要がある。その際。
度の測定に先立ち、予め校正液の電極電位を測定し、校
正操作を行う必要がある。その際。
希釈方式の装置の場合は、イオン濃度の4ヤ1定前にサ
ンプルカップ等の容器に入れられている検体を吸引して
希釈する過程が必要である。校正液も同様に電極電位の
潤定前に容器から吸引し希釈セル内等に入れて希釈する
過程が必要である。その吸引・希釈の場合、測定精度の
面から校正液を検体と同一の経路で吸引することか要求
されている。
ンプルカップ等の容器に入れられている検体を吸引して
希釈する過程が必要である。校正液も同様に電極電位の
潤定前に容器から吸引し希釈セル内等に入れて希釈する
過程が必要である。その吸引・希釈の場合、測定精度の
面から校正液を検体と同一の経路で吸引することか要求
されている。
そのため、従来、1検体毎にサンプリングノズルによっ
て吸引され、希釈位置へ持ち運ばれて希釈されていた。
て吸引され、希釈位置へ持ち運ばれて希釈されていた。
また9校正液は、検体と同様のサンプルカップ、又は専
用の容器に入れられ、装置にセットされていた。そして
、検体と同様にサンプリングノズルによって吸引され、
希釈位置へ持ち運ばれていた。その場合に、従来は、校
正液を人手によって容器からサンプルカップに移し換え
、又はサンプルカップよりも少し大きい専用の容器(例
えば、ビン)に移し替え、必要量収容した後、サンプル
カップ又は専用の容器(以下、サンプルカップ等という
)を人手によってサンプリングノズルによる吸引位置に
装着することにより、装置にセットされていた。
用の容器に入れられ、装置にセットされていた。そして
、検体と同様にサンプリングノズルによって吸引され、
希釈位置へ持ち運ばれていた。その場合に、従来は、校
正液を人手によって容器からサンプルカップに移し換え
、又はサンプルカップよりも少し大きい専用の容器(例
えば、ビン)に移し替え、必要量収容した後、サンプル
カップ又は専用の容器(以下、サンプルカップ等という
)を人手によってサンプリングノズルによる吸引位置に
装着することにより、装置にセットされていた。
発明が解決しようとする課題
従来は、人手によって校正液を必要量サンプルカップ等
に入れた後、これを装置にセットするようにしていたが
、サンプルカップ等の容器は開放状態にあるので、人手
による場合は、校正液を入れる際に液中に異物が混入し
たり、放置によって蒸発し、校正液の濃度が変化するこ
、とがある。その管理は、現状ではユーザー(使用者)
に委ねられている形であるので、校正液の濃度自体が保
証できないことになり、■1重粘度に影響を及ぼすとい
った問題が生じる。そこで、精度の確保の為にユーザー
は校正液の正しい用法を厳守する必要があるが、そのよ
うな使用法をユーザーに強いることは実際ト不可能に近
い。
に入れた後、これを装置にセットするようにしていたが
、サンプルカップ等の容器は開放状態にあるので、人手
による場合は、校正液を入れる際に液中に異物が混入し
たり、放置によって蒸発し、校正液の濃度が変化するこ
、とがある。その管理は、現状ではユーザー(使用者)
に委ねられている形であるので、校正液の濃度自体が保
証できないことになり、■1重粘度に影響を及ぼすとい
った問題が生じる。そこで、精度の確保の為にユーザー
は校正液の正しい用法を厳守する必要があるが、そのよ
うな使用法をユーザーに強いることは実際ト不可能に近
い。
さらに、イオン19度の測定項目数か多(なった場合、
すなわち、多項目処理の場合は校正液の種類も多種類必
要になる。それに応じて校正液を入れる容器の数も校正
液の種類と同数だけ必要になる。そのため、従来の人手
による場合は、各容器に校正液を入れた後、これを更に
装置のノズルによる吸引位置にセットしなければならず
、校正液の装置へのセットに手間を要する欠点が生じろ
。
すなわち、多項目処理の場合は校正液の種類も多種類必
要になる。それに応じて校正液を入れる容器の数も校正
液の種類と同数だけ必要になる。そのため、従来の人手
による場合は、各容器に校正液を入れた後、これを更に
装置のノズルによる吸引位置にセットしなければならず
、校正液の装置へのセットに手間を要する欠点が生じろ
。
また、校正液を入れた複数種の容器の全てを装置にセン
トしなければならないので、そのためのスペースが必要
となり、装置の簡素化、小型化を明害する要因となって
いた。
トしなければならないので、そのためのスペースが必要
となり、装置の簡素化、小型化を明害する要因となって
いた。
この発明は以上の点に鑑み提案されたもので、校正液の
サンプルリングノズルによる吸引位置への供給が種類の
異なる校正液毎に自動的に行え、かつ、人手による場合
の校正液の濃縮・それによる濃度の変化、あるいは異物
の混入を防止でき、さらに、装置に設けた校正液専用セ
ルの1個所のみをノズルによる校正液吸引個所とし、装
置の省スペース、小型化を図ることを目的とするのであ
る。
サンプルリングノズルによる吸引位置への供給が種類の
異なる校正液毎に自動的に行え、かつ、人手による場合
の校正液の濃縮・それによる濃度の変化、あるいは異物
の混入を防止でき、さらに、装置に設けた校正液専用セ
ルの1個所のみをノズルによる校正液吸引個所とし、装
置の省スペース、小型化を図ることを目的とするのであ
る。
課題を解決するための手段
上記の目的を達成するために、本発明は、ノズルによる
校正液の吸引位置に校正液の専用セルを設け、少な(と
も2つの校正液の送液ポンプを配設し、夫々の送液ポン
プからの流路を三方電磁弁を介して専用セルに接続する
と共に、各校正液送液ポンプにに記三方電磁弁を介して
校正液収容容器を接続し、かつ、校正液専用セルに排液
ポンプを接続させた校正液の自動供給方式に特徴を何す
る。
校正液の吸引位置に校正液の専用セルを設け、少な(と
も2つの校正液の送液ポンプを配設し、夫々の送液ポン
プからの流路を三方電磁弁を介して専用セルに接続する
と共に、各校正液送液ポンプにに記三方電磁弁を介して
校正液収容容器を接続し、かつ、校正液専用セルに排液
ポンプを接続させた校正液の自動供給方式に特徴を何す
る。
さらに、三方電磁弁を通して第1の校正液を専用セルに
送給し、ノズルによって吸引後、希釈して電極電位の測
定を行い、その後、第2の送液ポンプから三方電磁弁を
介して第2の校正液を専用セル内に送給し、第1の校正
液の残渣を洗rII操作し、次に、排液ポンプの作動に
より専用セル内の液を排出し、第2の送液ポンプから所
定量の第2の校正液を上記三方電磁弁を介して専用セル
に送給し、かつ、上記第1の校正液の送給から第2の校
正液の供給に至る操作を所定時間毎に繰り返すことを特
徴とする校正液の自動供給方式を採用した。
送給し、ノズルによって吸引後、希釈して電極電位の測
定を行い、その後、第2の送液ポンプから三方電磁弁を
介して第2の校正液を専用セル内に送給し、第1の校正
液の残渣を洗rII操作し、次に、排液ポンプの作動に
より専用セル内の液を排出し、第2の送液ポンプから所
定量の第2の校正液を上記三方電磁弁を介して専用セル
に送給し、かつ、上記第1の校正液の送給から第2の校
正液の供給に至る操作を所定時間毎に繰り返すことを特
徴とする校正液の自動供給方式を採用した。
作用
少なくとも2つの校正液送液ポンプのうち、第1の送液
ポンプ側の三方電磁弁を切り換え、第1の校正液収容容
器から第1の送液ポンプ内に第1の校正液を吸引したの
ち、三方電磁弁を第1の送液ボ/プから専用セルに至る
流路を開く側に切り換え、次に、第1の送液ポンプを正
方向に作動させると、三方電磁弁を通して第1の校正液
か専用セル内に供給される。次に、専用セル内の第1の
校正液かサンプリングノズルによって吸引され、ノズル
の可動によって希釈位置へ持ち運ばれて希釈される。そ
して、電極電位の測定に供される。
ポンプ側の三方電磁弁を切り換え、第1の校正液収容容
器から第1の送液ポンプ内に第1の校正液を吸引したの
ち、三方電磁弁を第1の送液ボ/プから専用セルに至る
流路を開く側に切り換え、次に、第1の送液ポンプを正
方向に作動させると、三方電磁弁を通して第1の校正液
か専用セル内に供給される。次に、専用セル内の第1の
校正液かサンプリングノズルによって吸引され、ノズル
の可動によって希釈位置へ持ち運ばれて希釈される。そ
して、電極電位の測定に供される。
次に、第2の送液ポンプの作動により、該第2の送液ポ
ンプ内に吸引された第2の校正液が三方電磁弁を通して
専用セルに送給される。この第2の校正液によって専用
セル内に残されている吸引後の第1の校正液の残渣が共
洗いと称する操作によって洗浄され、つぎに、排液ポン
プの作動によって第2の校正液と共に専用セルから排出
される。
ンプ内に吸引された第2の校正液が三方電磁弁を通して
専用セルに送給される。この第2の校正液によって専用
セル内に残されている吸引後の第1の校正液の残渣が共
洗いと称する操作によって洗浄され、つぎに、排液ポン
プの作動によって第2の校正液と共に専用セルから排出
される。
そののち、第2の送液ポンプが再び作動し、そのポンプ
内に吸引された所定量の第2の校正液か三方電磁弁を通
して専用セルに送給され、この専用セル内からノズルに
よって吸引されて希釈位置に持ち運ばれる。そして、第
1の校正液と同様に希釈された後、電極電位の測定に供
される。
内に吸引された所定量の第2の校正液か三方電磁弁を通
して専用セルに送給され、この専用セル内からノズルに
よって吸引されて希釈位置に持ち運ばれる。そして、第
1の校正液と同様に希釈された後、電極電位の測定に供
される。
第1の校正液の専用セルへの送給から第2の校正液の送
給に至る上記手順は、所定時間毎に繰り返され、専用セ
ル内の校正液が自動的に交換される。
給に至る上記手順は、所定時間毎に繰り返され、専用セ
ル内の校正液が自動的に交換される。
実施例
以下、この発明の実施例を図面に従って説明する。
第1図は本発明に係る電解質分析装置における校正液自
動供給方式を説明するための系統図である。
動供給方式を説明するための系統図である。
第1図において、符号10はサンプリングノズルであっ
て、校正液の吸引位置と検体の吸引位置、及び校正液と
検体の希釈位置に順次移動可能な可動型で構成されてい
る。サンプリングノズル10は、各位置で上昇・下降可
能になっている。サンプリングノズル10は、ノズルユ
ニット100に組込まれており、その作動により各位置
へ往復道退勤すると共に、各位置で上下動するようにな
っている。
て、校正液の吸引位置と検体の吸引位置、及び校正液と
検体の希釈位置に順次移動可能な可動型で構成されてい
る。サンプリングノズル10は、各位置で上昇・下降可
能になっている。サンプリングノズル10は、ノズルユ
ニット100に組込まれており、その作動により各位置
へ往復道退勤すると共に、各位置で上下動するようにな
っている。
サンプリングノズル10による校正液の吸引位置に校正
液専用セル11が配設されている。この校正液専用セル
11に第1の校正液送液ポンプ12と第2の校正液送液
ポンプ13とが三方電磁弁14.15を介し、流路16
.17によって夫々接続されている。第1と第2の送液
ポンプ12.13には、異なる種類の校正液■、■を夫
々収容した容器18.19が三方電磁弁14.15を介
して接続されている。
液専用セル11が配設されている。この校正液専用セル
11に第1の校正液送液ポンプ12と第2の校正液送液
ポンプ13とが三方電磁弁14.15を介し、流路16
.17によって夫々接続されている。第1と第2の送液
ポンプ12.13には、異なる種類の校正液■、■を夫
々収容した容器18.19が三方電磁弁14.15を介
して接続されている。
更に、校正液専用セル11にはローラポンプより成る排
液ポンプ20が接続されている。
液ポンプ20が接続されている。
校正液専用セル11の右方にターンテーブルユニット2
1が配置されている。ターンテーブルユニット21は、
ターンテーブル210と、このターンテーブル210を
検体の1ピノ千間隔毎にステップ杖に回転させるモータ
211と、ターンテーブル210の円周方向に所定ピッ
チ間隔で装着された複数のサンプル力・ツブ212・・
拳とから成っている。各サンプルカップ212・・・に
は予め検体が必要量収容され、測定に先立ってターンテ
ーブル210に装填されている。
1が配置されている。ターンテーブルユニット21は、
ターンテーブル210と、このターンテーブル210を
検体の1ピノ千間隔毎にステップ杖に回転させるモータ
211と、ターンテーブル210の円周方向に所定ピッ
チ間隔で装着された複数のサンプル力・ツブ212・・
拳とから成っている。各サンプルカップ212・・・に
は予め検体が必要量収容され、測定に先立ってターンテ
ーブル210に装填されている。
校正液専用セル11の左方に希釈セル22が配設されて
いる。希釈セル22には希釈液の送液ポンプ23からの
流路231が三方電磁弁24を介して接続されている。
いる。希釈セル22には希釈液の送液ポンプ23からの
流路231が三方電磁弁24を介して接続されている。
希釈液送液ポンプ23に希釈液を収容した容器25が三
方電磁弁24を介して接続されている。希釈セル22に
はイオン電極部26が一体的に組付けられている。さら
に、希釈セル22にはローラポンプより成る排液ポンプ
27が接続されている。
方電磁弁24を介して接続されている。希釈セル22に
はイオン電極部26が一体的に組付けられている。さら
に、希釈セル22にはローラポンプより成る排液ポンプ
27が接続されている。
上記ノズルユニット100、校正液送液ポンプ12.1
3、排液ポンプ20.27、希釈液送液ポンプ23、な
らびにターンテーブル駆動用モータ211等の各部の動
作、及び各三方電磁弁の切り換え動作は、装置内蔵のC
PUより成る制御回路30によってシーケンス制御され
ている。
3、排液ポンプ20.27、希釈液送液ポンプ23、な
らびにターンテーブル駆動用モータ211等の各部の動
作、及び各三方電磁弁の切り換え動作は、装置内蔵のC
PUより成る制御回路30によってシーケンス制御され
ている。
次に、上記構成の装置を用いた本発明に係る自動供給方
式の操作φ処理手順について説明する。
式の操作φ処理手順について説明する。
検体のイオン濃度の測定に先立って第1と第2の校正液
■、■によって測定の校正操作が行われる。第1と第2
の校正液■、■は、上記第1と第2の送液ポンプ12.
13に接続された容器18と19に夫々収容されている
。
■、■によって測定の校正操作が行われる。第1と第2
の校正液■、■は、上記第1と第2の送液ポンプ12.
13に接続された容器18と19に夫々収容されている
。
(1)先ず、三方電磁弁14の切り換えにより第1の送
液ポンプ12と校正液■を収容した容器14との間が接
続される。このとき、サンプリングノズル10は、ノズ
ルユニット100の作動により校正液専用セル11の直
上方に移動し、待機状態におかれている。次に、第1の
送液ポンプ12が校正液の吸引方向へ作動し、三方電磁
弁14を介して容器18から所定量の校正液■が第1の
送液ポンプ12内に吸引される。そののち、三方電磁弁
14が切り換えられ、第1の送液ポンプ12から校正液
専用セル11に至る流路16が接続される。そののち、
第1の送液ポンプ12の正方向への作動により、ポンプ
内の校正液■が流路16を通して専用セル11内へ送給
される。次に、サンプリングノズル10の下降により専
用セル11内に送給された校正液■が吸引される。その
のち、サンプリングノズルが上昇し、第1図の矢印Aの
ように、サンプリングノズル10の可動によって校正液
■が、希釈位置に持ち運ばれ、次に、ノズル10の下降
によって校正液■が希釈セル22内に排出される。そし
て、希釈セル22内で送液ポンプ23から送られた希釈
液によって希釈された後、イオン電極部26によってイ
オン電極部に1Na1CI の” ”に応じた電極電位
が測定される。
液ポンプ12と校正液■を収容した容器14との間が接
続される。このとき、サンプリングノズル10は、ノズ
ルユニット100の作動により校正液専用セル11の直
上方に移動し、待機状態におかれている。次に、第1の
送液ポンプ12が校正液の吸引方向へ作動し、三方電磁
弁14を介して容器18から所定量の校正液■が第1の
送液ポンプ12内に吸引される。そののち、三方電磁弁
14が切り換えられ、第1の送液ポンプ12から校正液
専用セル11に至る流路16が接続される。そののち、
第1の送液ポンプ12の正方向への作動により、ポンプ
内の校正液■が流路16を通して専用セル11内へ送給
される。次に、サンプリングノズル10の下降により専
用セル11内に送給された校正液■が吸引される。その
のち、サンプリングノズルが上昇し、第1図の矢印Aの
ように、サンプリングノズル10の可動によって校正液
■が、希釈位置に持ち運ばれ、次に、ノズル10の下降
によって校正液■が希釈セル22内に排出される。そし
て、希釈セル22内で送液ポンプ23から送られた希釈
液によって希釈された後、イオン電極部26によってイ
オン電極部に1Na1CI の” ”に応じた電極電位
が測定される。
(2)校正液■の各イオン電極電位か測定されると、サ
ンプリングノズル10が校正液専用セル11上に再び戻
される。次に、容器19から第2の送液ポンプ13内に
吸引された校正液■か、三方電磁弁15の切り換えと、
第2の送液ボ/ブ13の正方向への作動とによって流路
17を通して専用セル11内に送給される。この専用セ
ル11内ニハノズル10によって吸引された後の校1E
液■の残渣が残されている。この校正液■の残渣は、校
正液■の供給によって共洗いと呼ばれる操作により15
11′浄され、排液ポンプ20の作動によって専用セル
11から排出される。この洗浄操作により、校正液■の
供給時に、前に入れられていた校正液■との相互汚染や
異物の混入が自動的に防止される。
ンプリングノズル10が校正液専用セル11上に再び戻
される。次に、容器19から第2の送液ポンプ13内に
吸引された校正液■か、三方電磁弁15の切り換えと、
第2の送液ボ/ブ13の正方向への作動とによって流路
17を通して専用セル11内に送給される。この専用セ
ル11内ニハノズル10によって吸引された後の校1E
液■の残渣が残されている。この校正液■の残渣は、校
正液■の供給によって共洗いと呼ばれる操作により15
11′浄され、排液ポンプ20の作動によって専用セル
11から排出される。この洗浄操作により、校正液■の
供給時に、前に入れられていた校正液■との相互汚染や
異物の混入が自動的に防止される。
(3)次に、三方電磁弁15の切り換えにより、容器1
9から第2の送液ポンプ13内に吸引された校正液■が
、三方電磁弁15の切り換えと、第2の送液ポンプ13
の作動とによって専用セル11内に所定量送給される。
9から第2の送液ポンプ13内に吸引された校正液■が
、三方電磁弁15の切り換えと、第2の送液ポンプ13
の作動とによって専用セル11内に所定量送給される。
そののち、ノズル10の降下により専用セル11内の校
正液■が吸引され、ノズル10の上昇と希釈位置への移
動とにより、校正液■が希釈セル22の上方に持ち運ば
れる。そして、ノズル10の下降により希釈セル22内
に排出され、上記校正液■と同様に、希釈液によって希
釈された後、イオン電極電位が測定される。
正液■が吸引され、ノズル10の上昇と希釈位置への移
動とにより、校正液■が希釈セル22の上方に持ち運ば
れる。そして、ノズル10の下降により希釈セル22内
に排出され、上記校正液■と同様に、希釈液によって希
釈された後、イオン電極電位が測定される。
上記(1)〜(3)の一連の操作手順により、校正液■
、■による2点校正の測定の校正動作が終了する。その
校正動作の際、専用セル11内の校正液■又は■は、三
方7Ti磁弁14.15の切り換え制御と、第1、第2
の送液ポンプ12.13び排液ポンプ20の動作制御に
より、一定時間毎に自動的に交換される。
、■による2点校正の測定の校正動作が終了する。その
校正動作の際、専用セル11内の校正液■又は■は、三
方7Ti磁弁14.15の切り換え制御と、第1、第2
の送液ポンプ12.13び排液ポンプ20の動作制御に
より、一定時間毎に自動的に交換される。
なお、多項目処理等において、校正液を多種類必要とす
る場合は、上記同様の校正液送液ポンプと夫々の校正液
を収容した容器とを校正液の数に合わせて複数組用意し
、夫々のポンプと容器とを三方電磁弁を介して専用セル
11に接続しておけば良い。
る場合は、上記同様の校正液送液ポンプと夫々の校正液
を収容した容器とを校正液の数に合わせて複数組用意し
、夫々のポンプと容器とを三方電磁弁を介して専用セル
11に接続しておけば良い。
(4)校正液■、■によって測定の校正動作か終了する
と、次にサンプリングノズル10がターンテーブルユニ
ット21の検体吸引位置の上方にriJ 動すレN ノ
ズル10の下r4−h昇によりサンプルカ7ブ212中
の検体が吸引される。次に、サンプリングノズル10が
上記希釈位置の希釈セル22の上方に移動し、そのノズ
ル10の下降により検体が希釈セル22内に排出される
。そして、送液ポンプ23から送られた希釈液によって
希釈された後、イオン電極部26によってイオン1度に
応じたイオン電極電位が測定される。この測定値と校正
液■、■から得た測定値とに基づいて検体のイオン濃度
が演算される。
と、次にサンプリングノズル10がターンテーブルユニ
ット21の検体吸引位置の上方にriJ 動すレN ノ
ズル10の下r4−h昇によりサンプルカ7ブ212中
の検体が吸引される。次に、サンプリングノズル10が
上記希釈位置の希釈セル22の上方に移動し、そのノズ
ル10の下降により検体が希釈セル22内に排出される
。そして、送液ポンプ23から送られた希釈液によって
希釈された後、イオン電極部26によってイオン1度に
応じたイオン電極電位が測定される。この測定値と校正
液■、■から得た測定値とに基づいて検体のイオン濃度
が演算される。
このようにして、各サンプリングカップ212・・・中
の検体がノズル10によって順次吸引され、希釈セル2
2内で希釈された後、イオン濃度か測定される。
の検体がノズル10によって順次吸引され、希釈セル2
2内で希釈された後、イオン濃度か測定される。
発明の詳細
な説明したとおり、本発明に係る校正液自動供給方式に
よれば、単一の校正液専用セルに一定間隔毎に校正液■
、■IIe・を自動的に交換して供給し、かつ、この専
用セル中からノズルによって校正液を吸引し、希釈位置
にて希釈・イオン電極電位の測定を順次自動的に行える
ので、下記の通りの効果を収めることができる。
よれば、単一の校正液専用セルに一定間隔毎に校正液■
、■IIe・を自動的に交換して供給し、かつ、この専
用セル中からノズルによって校正液を吸引し、希釈位置
にて希釈・イオン電極電位の測定を順次自動的に行える
ので、下記の通りの効果を収めることができる。
■校正液■、■・―・は専用セル内に順次自動的に交換
・供給されるので、人手によって校正液をセy)する手
間が省け、校正液の供給を省力化・自動化できる。
・供給されるので、人手によって校正液をセy)する手
間が省け、校正液の供給を省力化・自動化できる。
■校正液の専用セルへの交換拳供給を全て自動的に制御
できるので、人手による場合の校正l夜の濃縮・濃縮に
よる濃度の変化や異物の混入を確実に防止できる。
できるので、人手による場合の校正l夜の濃縮・濃縮に
よる濃度の変化や異物の混入を確実に防止できる。
■校正液の専用セルへの供給時に、後の校正液によって
セル内が自動的に洗浄されるので、前に入れられた校正
液との相互tFi染や異物の混入を防止できる。
セル内が自動的に洗浄されるので、前に入れられた校正
液との相互tFi染や異物の混入を防止できる。
■測定項目の多い多項目処理の場合であっても、校正液
の種類に関係な(、校正液の供給・吸引個所は専用セル
の部分1個所のみであるので、希釈方式の装置の簡素化
争小型化を図ることかできる。
の種類に関係な(、校正液の供給・吸引個所は専用セル
の部分1個所のみであるので、希釈方式の装置の簡素化
争小型化を図ることかできる。
第1図は本発明に係る校正液の自動供給方式を説明する
ための系統図である。 10−−・サンプリングノズル、 1111 ・ 12、1 14、1 18、1 20・ ・ ・校正液専用ノズル、 3・・・校正液送液ポンプ、 S・・・三方電磁弁、 9・・・容器、 e排液ポンプ、 326−
ための系統図である。 10−−・サンプリングノズル、 1111 ・ 12、1 14、1 18、1 20・ ・ ・校正液専用ノズル、 3・・・校正液送液ポンプ、 S・・・三方電磁弁、 9・・・容器、 e排液ポンプ、 326−
Claims (2)
- (1)サンプリングノズルによって吸引された校正液を
希釈液にて希釈した後にイオン電極部においてその電極
電位を測定し、予め校正操作を行う希釈方式の電解質分
析装置において、 前記校正液の吸引位置に該校正液の専用セルを設け、少
なくとも2つの送液ポンプを配設し、夫々の送液ポンプ
からの流路を三方電磁弁を介して前記校正液専用セルに
接続すると共に、各校正液送液ポンプに前記三方電磁弁
を介して校正液収容容器を接続し、かつ、前記校正液専
用セルに排液ポンプを接続させたことを特徴とする電解
質分析装置における校正液自動供給方式。 - (2)第1の送液ポンプから三方電磁弁を通して第1の
校正液を専用セルに送給し、ノズルによって吸引後、希
釈して電極電位の測定を行い、そののち、第2の送液ポ
ンプから三方電磁弁を介して第2の校正液を前記専用セ
ル内に送給して洗浄操作を行い、次に、排液ポンプの作
動により前記専用セル内の液を排出し、前記第2の送液
ポンプから所定量の第2の校正液を前記三方電磁弁を介
して前記専用セルに送給し、かつ、前記第1の校正液の
送給から第2の校正液の送給に至る操作を所定時間毎に
繰り返すことを特徴とする請求項(1)に記載の電解質
分析装置における校正液自動供給方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24776989A JPH03108652A (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | 電解質分析装置における校正液自動供給方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24776989A JPH03108652A (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | 電解質分析装置における校正液自動供給方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03108652A true JPH03108652A (ja) | 1991-05-08 |
Family
ID=17168381
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24776989A Pending JPH03108652A (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | 電解質分析装置における校正液自動供給方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03108652A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104198745A (zh) * | 2014-08-29 | 2014-12-10 | 深圳中科优瑞医疗科技有限公司 | 全自动多参数临床电解质分析仪 |
CN105891284A (zh) * | 2016-04-01 | 2016-08-24 | 江苏英诺华医疗技术有限公司 | 新型电解质分析仪及分析方法 |
JP2017187373A (ja) * | 2016-04-05 | 2017-10-12 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | 自動分析装置 |
WO2020116410A1 (ja) * | 2018-12-06 | 2020-06-11 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
-
1989
- 1989-09-22 JP JP24776989A patent/JPH03108652A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104198745A (zh) * | 2014-08-29 | 2014-12-10 | 深圳中科优瑞医疗科技有限公司 | 全自动多参数临床电解质分析仪 |
CN105891284A (zh) * | 2016-04-01 | 2016-08-24 | 江苏英诺华医疗技术有限公司 | 新型电解质分析仪及分析方法 |
JP2017187373A (ja) * | 2016-04-05 | 2017-10-12 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | 自動分析装置 |
WO2020116410A1 (ja) * | 2018-12-06 | 2020-06-11 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
CN112955750A (zh) * | 2018-12-06 | 2021-06-11 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
JPWO2020116410A1 (ja) * | 2018-12-06 | 2021-09-27 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
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