JPH03102412A - Mos集積回路 - Google Patents

Mos集積回路

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JPH03102412A
JPH03102412A JP2119664A JP11966490A JPH03102412A JP H03102412 A JPH03102412 A JP H03102412A JP 2119664 A JP2119664 A JP 2119664A JP 11966490 A JP11966490 A JP 11966490A JP H03102412 A JPH03102412 A JP H03102412A
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JP2119664A
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William C Plants
ウィリアム・シー・プランツ
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    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
    • GPHYSICS
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    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/26Current mirrors
    • G05F3/262Current mirrors using field-effect transistors only

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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この出願は集積回路に関し、特にMOS電流レギュレー
タおよび基準電圧ゼネレータ回路に関する。
発明の背景 この発明はさまざまなMOS回路における電流を制御す
るための集積回路レギュレー夕である。
1−つの型の回路はそれのソース電極がネットワークを
介して1つの電圧電源(接地)に結合され、それのドレ
イン電極が規定されないネットワークに接続される、カ
スコードトランジスタを有する。
もう1つの型の回路はそれのソース電極が接地に接続さ
れ、それのドレインが規定されないネッI・ワークに接
続されるトランジスタを単に有する。
この発明の電流レギュレー夕から利益を得ることができ
る第3の型の回路はソース電極が第2の電圧電源(Vc
c)に接続され、それのドレイン電極が規定されないネ
ットワークに接続されるトランジスタを有する。
一般的なカスコードトランジスタ電流源MOS回路で典
型的に、電源電圧Vccの2乗にほとんど比例する電流
がある。電力消費はしたがって■CCの3乗にほぼ比例
する。このよ・うに電力消費は重要な問題であり得る。
この一般的な回路のもう1つの問題は、回路を通る電流
は典型的に処理変動で変化ずるというこ9 とである。たとえば処理が「良好」であれば、集積回路
の特定のロットはより多い電流駆動を持つトランジスタ
を有する。もし処理が良好でないならば、それなら処理
されたトランジスタの電流駆動はそれほど大きくない。
一般的によりよい処理で、集積回路におけるMOS}ラ
ンジスタのしきい値電圧、Voは下がり、個々のトラン
ジスタのβ−1″μ。Cox(W/L)は増加する。ト
ランジスタ素子パラメータにおけるこれらの処理変動は
、一般的な回路およびこの回路を含む集積回路において
、処理のきまぐれによりでたらめに変化する動作電流を
結果として生じる。
この発明は一般的なカスコードl・ランジスタ電流源回
路のこれらの問題を解決し、または実質上軽減する。1
つの特定の実施例において、回路を流れる電流はVcc
2ではな(Vccに比例し、実質上処理変動と無関係で
ある。
この発明はまた他の2つの型の一般的な回路のための電
流調整を与える。最後にこの発明はM○Sトランジスタ
のしきい値電圧■1に等しい基準10 電圧を準備することにより基準電圧ゼネレータとして機
能することができる。
発明の概要 この発明はVccの第1の電圧電源と接地の第2の電圧
電源との間に接続されたMOS集積回路を備える。その
回路は一方の端部で接地に、他方の端部で第1のMOS
}ランジスタのソース電極に接続された電流バイアスネ
ットワークを有する。
電流バイアスネットワークによる電流は第1のトランジ
スタのドレイン電極に現れる。電流ミラー配置によりこ
の電流はダイオード構成にある第2のトランジスタを介
して複製される。第2のトランジスタのゲート電極は第
1のそれに接続され、第2のトランジスタのソース電極
は、またダイオード構成にある第3のトランジスタのド
レイン電極に接続される。第3のトランジスタのソース
電極は接地に接続される。
第1.の、第2の、および第3のトランジスタの素子パ
ラメータを、β1がβ2の4分の王でありβ2がβ3に
等しいように設計することにより、11 第1−のトランジスタのソース電極の電圧は実質−Lト
ランジスタのしきい値電圧■エてある。
もし電流バイアスネットワークが線形モードの第4のト
ランジスタを含むならば、出力端子は第1のトランジス
タのゲート電極に接続され得る。
その回路がネットワークを介して接地に接続されるMO
Sトランジスタを有する集積回路における並列回路にこ
の出力端子を接続することにより、各並列回路を介する
電流は調整されるようになる。
カスコードトランジスタとして動作するMOSトランジ
スタに出力端子を接続することにより、並列回路を介す
る電流は実質上処理変動とは無関係になる。さらに、そ
のようなカスコードトランジスタ回路で典型的なように
、電流はVCc2よりもむしろVccに比例するように
なる。このように電流消費は可変の電圧電源でよりやっ
かいではなくなる。
さらに、この発明の回路の他のノードに出力端子を接続
することにより、電流調整はまた他の型の一般的な回路
について与えられ得る。
12 発明の特定の実施例 この発明は集積回路技術の利益の多くを利用する。集積
回路において、2つまたはそれ以」二の素子の動作特性
の特定の関係の正確な整合は可能である。たとえばこの
発明においてNMOS}ランジスタのしきい値電圧VT
は等しくあるように設計される。このことはまた、もし
他の態様で述べられない限り、たとえばチャネル幅対チ
ャネル長さ比のような、素子パラメータについて真であ
る。
第1図はこの発明の一般化された概念を図示する。回路
は接地およびNMOSトランジスタ12のソース電極に
接続される電流バイアスネットワーク20を有する。ト
ランジスタ12のドレイン電極は2つのPMOSトラン
ジスタ1工、1.4の電流ミラー配置に接続される。ト
ランジスタ11のドレイン電極はそれのゲート電極に接
続され、それはまたトランジスタ14のゲート電極に接
続される。トランジスタエ1のソース電極は、MOSお
よびCMOS回路について典型的に+5ボルトであるV
ccの正の電源電圧に接続される。同上3 様にPMOS}ランジスタ14のソース電極は■cc電
源電圧に接続される。
このようにトランジスタエ1のドレイン電極から引かれ
るどんな電流■1もトランジスタ1−4のドレイン電極
により供給される。■,は■2に等しい。
PMOShランジスタ丁4のドレイン電極はNMOSト
ランジスタ15のドレイン電極に接続される。トランジ
スタ15のソース電極はNMO Sトランジスタ16の
ドレイン領域に接続され、それのソース電極は接地の第
2の電圧電源に接続される。NMOSトランジスタ]−
5、16の両方はダイオードとして接続され、すなわち
各トランジスタのゲート電極はそのトランジスタのドレ
イン領域に接続される。最後に、トランジスタエ5のゲ
ート電極はトランジスタ12のゲート電極に接続される
PMOS}ランジスタ1上からの電流はPMOSトラン
ジスタ工4からの電流に等しいので、トランジスタ王2
を通るドレイン電流はトランジス14 タ工5を通るドレイン電流に等しい。両方のトランジス
タは飽和したモードにあるので、β12  (Vcs+
2 VT)2=β15(VG!315  VT)2 ここに β{ 一”’ μQ Co X  (W+ /
L+ )モして ■。81−トランジスタ1のためのソ
ース/ドレイン電圧 である。
いくらかの操作で、 (β15/β12)”’VG!il5  vast2−
VT[(β15/β12)”’  1]トランジスタl
5の寸法をトランジスタ12のそれらで設定することに
より、 β15−4β12 それなら 2VGSI5  VGS丁2−V7  であ
る。
第1のオーダまで■。srsがおおよそ■6815に等
しい、すなわち集積回路のサブストレートの電圧が2つ
のトランジスタ15、16のソースゲート電圧に実質上
影響しないと仮定すると、したがって Vcs+ 6+
Vast 5 VGSI15 2 −■T V20二■1である。
このように電流バイアスネットワーク20にかかる電圧
は実質上■エであり、それは集積回路を製造するのに使
用される特定のステップにより決められる。トランジス
タ1,2のソース電極に接続される出力端子はこのよう
に回路の中のNMOS}ランジスタのしきい値電圧に設
定される。さらにネットワーク20によりバイアスされ
る電流■1の量は■7のソース電極電圧を固定するのに
考慮に入れられなかったということは注目されるべきで
ある。
記述された回路の開始で、1つの可能な、しかし不安定
な状態はトランジスタのどれもがオンでない非伝導状態
である。この可能性を避けるために、それのソース電極
が接地に接続され、それのドレイン電極がトランジスタ
J−土のドレイン電極に接続されるトランジスタ↑7は
、第3図に図示されるように回路に付加され得る。トラ
ンジスタ17のゲート電極は接地より上の小さい基準電
圧16 Vcsにあり、それで小さい電流は常にトランジスタ↑
1を通って続き、開始でそれをオンにする。
このことは非伝導状態を避ける。
この発明はまた電流レギュレー夕である。第4図に図示
されるように、この発明の回路における種々のノードは
異なった一般回路のための電流を制御するための基準電
圧を発生するのに使用され得る。もしノード2士が基準
電圧■、。F1に使用されるのであれば、それならカス
コードトランジスタがネットワークを介して接地に接続
される一般回路は電流調整に適当である。カスコードト
ランジスタのゲート電極はノード21に接続され、トラ
ンジスタのドレイン電極は規定されないネットワークに
接続されてもよい。
もしノード22が使用されるのであれば、それならそれ
のソース電極が接地に接続され、それのゲート電極がノ
ード22に接続され、それのドレイン電極が規定されな
いネットワークに接続されるトランジスタを有する一般
回路は電流調整されてもよい。
17 ノード23で、それのソース電極がVccに接続され、
それのゲート電極がノード23に接続され、それのドレ
イン電極が規定されないネットワークに接続されるトラ
ンジスタを持つ一般回路が適当である。
すべての3つの一般回路において、電流は■1により制
御され、電流は電流バイアスネッl・ワーク20により
設定される。このようにネットワーク20は、たとえば
抵抗器Rのような簡単な装置であり得、■T/Rで独立
した電流を設定する。
より面白いのは、ネットワーク20が線形モードで動作
するトランジスタのように機能する場合である。第2図
に図示されるように、ネットワーク20は線形モードで
動作するように接続されるトランジスタ13により表さ
れる。このようにそれのゲート電極は比較的高い電圧、
この場合VcCに接続される。
■,はトランジスタ13を通る電流に等しく、それは線
形モードであるので、 ■,一βI 7  [2 (Vc s I 7  VT
) VT土8 V 丁 2  コ ー 2 βI  7  Va  s
  l  7  VT    3  β17VT2 したがって、 ■1αβ17VTVGSI7 このようにトランジスタ12を通って流れる電流はVc
cであるトランジスタ17のソースゲート電圧に比例す
る。前に言及されたように、大抵の直流回路において電
流はVcc2にほぼ比例する。
また、処理変動は極端になるので、主要な処理項β17
およびVTはお互いに変化を取り消す傾向がある。この
発明はずっと少ない電力を消費する。
したがってもしVREF,のノード2工が第4図に図示
されるように、それのソース電極が電流電源を介して接
地に結合されるカスコードトランジスタのゲート電極に
接続されるならば、この発明はカスコードトランジスタ
を通る電流を調整することができ、電力を低減し半導体
処理のきまぐれを避ける。
ネットワーク20がカスコードトランジスタのソース電
極に接続されるネットワークを真似る場19 合に、この型の接続はとりわけ有用である。このように
カスコードトランジスタを通る電流はカスコードトラン
ジスタのドレイン電極に接続されるネットワークに適当
な電流の所望のレンジをトラックする。それでも電力消
費は抑えられ、処理変動の影饗は低減される。
有用であるかもしれないこの発明の出願のような1−つ
の例は、「高速度差動電流センス増幅器」と題された、
その譲受人によりこの発明と同じ日に出願された、米国
特許出願で見出される。その出願で示される発明者はウ
ィリアム・シー・プランツ(William C.  
Plants:)およびスコット・フリッツ(Scof
f F+it2)である。その特許出願は弓用によりこ
こに援用される。もしその特許出願において記述される
ビットラインに選択的に結合されるスタティックRAM
セル電流源の1つを含むビットラインネットワークを2
重にするようにネットワーク20が設計されるのであれ
ば、それなら上記の利点は援用された引用で記述される
回路において達せられ得る。
20 上記の説明はこの発明の好ましい実施例の十分な完全な
開示を提供するが、この発明の真の範囲および精神から
逸脱することなく、種々の修正、代替の構成および均等
物が使用されてもよい。たとえば、この発明の回路はC
MOSよりもむしろ標準BICMOS技術で設計されて
もよい。したがってこの発明は前掲の特許請求の範囲の
限界によってのみ制限されるべきである。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の17つの実施例の回路図である。 第2図は電流バイアスネットワークが線形モードでのト
ランジスタであるこの発明のもう1つの実施例の回路図
である。 第3図は開始問題を避けるこの発明の1。っの実施例の
回路図である。 第5図は電流調整に利用可能な種々のノードを図解する
この発明のコっの実施例の回路図である。 図において11はPMOS}ランジスタであり、].2
はNMOS}ランジスタであり、2oは電流2工 バイアスネットワークである。

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)第1の電圧電源と第2の電圧電源との間に接続さ
    れ基準電圧を発生するためのMOS集積回路であって、 第1のおよび第2の電極を有する電流バイアス装置を含
    み、前記第1の電極は前記第2の電圧電源に接続され、
    前記装置は前記第2の電極を通る第1の電流を有し、さ
    らに 第1のおよび第2のソース/ドレイン電極およびゲート
    電極を有する第1のトランジスタを含み、前記第1のソ
    ース/ドレイン電極は前記電流バイアス装置の前記第2
    の電極に接続され、さらに第1のおよび第2の電極を有
    する前記第1の電圧電源に接続される電流ミラーを含み
    、前記第1の電極は前記第1のトランジスタの前記第2
    の電極に接続され、前記第2の端子は前記第1の電極を
    通る電流をそれを介してミラーする第2の電流を有し、
    さらに ダイオード構成の第2のトランジスタを含み、前記第2
    のトランジスタは第1のおよび第2のソース/ドレイン
    電極およびゲート電極を有し、前記第2のソース/ドレ
    イン電極は前記電流ミラーの前記第2の電極に接続され
    、前記ゲート電極は前記第1のトランジスタの前記ゲー
    ト電極に接続され、さらに ダイオード構成の第3のトランジスタを含み、前記第3
    のトランジスタは第1のおよび第2のソース/ドレイン
    電極を有し、前記第2のソース/ドレイン電極は前記第
    2のトランジスタの第1のソース/ドレイン電極に接続
    され、第1のソース/ドレイン電極は前記第2の電圧電
    源に接続され、それによって前記第1のトランジスタの
    前記第1のソース/ドレイン電極の電圧は実質上前記第
    1のトランジスタのしきい値電圧に固定されるMOS集
    積回路。
  2. (2)装置パラメータはβ_1がβ_2に等しいような
    ものであり ここにi番目のトランジスタについてβ_i=^1^/
    ^2μ0C_o_x(W/L)である、請求項1に記載
    の集積回路。
  3. (3)前記第2のトランジスタのチャネル幅対チャネル
    長さ比が前記第1のトランジスタのチャネル幅対チャネ
    ル長さ比のおおよそ4倍である、請求項2に記載の集積
    回路。
  4. (4)前記電流ミラーが、 第1のおよび第2のソース/ドレイン電極およびゲート
    電極を有するダイオード接続された構成の第4のトラン
    ジスタを含み、前記第1のソース/ドレイン電極は前記
    第1の電圧電源に接続されかつ前記第2のソース/ドレ
    イン電極が前記第1の電流ミラー電極を含み、さらに 第1のおよび第2のソース/ドレイン電極およびゲート
    電極を有する第5のトランジスタを含み、前記第1のソ
    ース/ドレイン電極は前記第1の電圧電源に接続され、
    前記ゲート電極は前記第4のトランジスタゲート電極に
    接続され、前記第2のソース/ドレイン電極は前記第2
    の電流ミラー電極を含む、請求項1に記載の集積回路。
  5. (5)前記第1の、第2の、および第3のトランジスタ
    がある極性型であり、前記第5のおよび第6のトランジ
    スタが別の極性型である、請求項4に記載の集積回路。
  6. (6)1つの極性型のトランジスタがNMOSトランジ
    スタでありかつ別の極性型のトランジスタがPMOSト
    ランジスタである、請求項5に記載の集積回路。
  7. (7)前記電流バイアス装置が抵抗器を含む、請求項1
    に記載の集積回路。
  8. (8)前記電流バイアス装置が線形モードで動作する第
    6のトランジスタを含み、それによって前記第1のトラ
    ンジスタを通る電流が処理変動と実質上無関係である、
    請求項1に記載の集積回路。
  9. (9)前記第1のトランジスタの前記ゲート電極に接続
    される出力端子をさらに含み、電気的回路への接続のた
    めの前記出力端子は、 第1のおよび第2のソース/ドレイン電極およびゲート
    電極を有する第7のトランジスタと、第1のおよび第2
    の電極を有する電流源とを含み、前記第1の電極は前記
    第2の電圧電源に接続されかつ前記第2の電極は前記第
    7のトランジスタの前記第1のソース/ドレイン電極に
    接続され、それによって前記電気的回路を通る電流は実
    質上処理変動に無関係である、請求項8に記載の集積回
    路。
  10. (10)電流源をさらに含み、前記電流源は前記第1の
    トランジスタの前記第2のソース/ドレイン電極と前記
    第2の電圧電源との間に接続され、それによって前記集
    積回路における非伝導状態が避けられる、請求項2に記
    載の集積回路。
  11. (11)第1の電源電圧と第2の電源電圧との間の基準
    電圧を発生するためのMOS集積回路であって、 前記第1の電源電圧と前記第2の電源電圧との間に直列
    に接続された第1の、第2のおよび第3のトランジスタ
    を含み、前記第1のトランジスタは前記第1のトランジ
    スタの第1のソース/ドレイン電極が前記第1の電源電
    圧に結合されかつゲート電極が第2のソース/ドレイン
    電極に接続され、前記第3のトランジスタは第1のソー
    ス/ドレイン電極が前記第2の電源電圧に結合されかつ
    ゲート電極が前記所定のものに結合され前記第3のトラ
    ンジスタは線形領域で動作し、さらに前記第1の電源電
    圧と前記第2の電源電圧との間に直列に接続された第4
    の、第5の、および第6のトランジスタを含み、前記第
    4のトランジスタは第1のソース/ドレイン電極が前記
    第1の電源電圧に結合されかつゲート電極が前記第1の
    トランジスタゲート電極に接続され、前記第6のトラン
    ジスタは第1のソース/ドレイン電極が前記第2の電源
    電圧に結合されかつゲート電極が第2のソース/ドレイ
    ン電極に接続され、前記第5のトランジスタはゲート電
    極が前記第2のトランジスタゲート電極に、および前記
    第4のトランジスタの前記第2のソース/ドレイン電極
    に接続され、さらに 前記第5のトランジスタゲート電極に接続される出力端
    子を含み、 それによって前記出力端子電圧は処理変動に比較的無関
    係にとどまるMOS集積回路。
  12. (12)前記所定の電圧が実質上前記第1の電源電圧で
    ある、請求項11に記載のMOS集積回路。
  13. (13)前記第1の、および第4のトランジスタが第1
    の極性型でありかつ前記第2の、第3の、第5の、およ
    び第6のトランジスタが第2の極性型である、請求項1
    2に記載のMOS集積回路。
  14. (14)前記第1の極性型がPMOSでありかつ前記第
    2の極性型がNMOSである、請求項13に記載のMO
    S集積回路。
  15. (15)前記第1の、および第4のトランジスタの素子
    パラメータは前記第1のトランジスタを通る電流が前記
    第4のトランジスタを通る電流に実質上等しいようにあ
    らかじめ定められる、請求項14に記載のMOS集積回
    路。
  16. (16)前記第2の、および第5のトランジスタの素子
    パラメータがおおよそ等しく、それで両方のトランジス
    タのV_T、しきい値電圧が実質上等しい、請求項15
    に記載のMOS集積回路。
  17. (17)前記第5のトランジスタのチャネル幅射チャネ
    ル長さ比が前記第2のトランジスタのチャネル幅対チャ
    ネル長さ比のおおよそ4倍である、請求項16に記載の
    MOS集積回路。
  18. (18)前記第5の、および第6のトランジスタの素子
    パラメータは前記第5の、および第6のトランジスタの
    V_G_S、ゲートソース電圧が実質上等しいようにあ
    り、それによって前記第3のトランジスタのV_D_S
    、ソースドレイン電圧が実質上V_Tである、請求項1
    7に記載のMOS集積回路。
JP2119664A 1989-05-09 1990-05-08 Mos集積回路 Pending JPH03102412A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
US34920489A 1989-05-09 1989-05-09
US349,204 1989-05-09

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