JPH0310148A - 発光分析装置 - Google Patents
発光分析装置Info
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- JPH0310148A JPH0310148A JP1145712A JP14571289A JPH0310148A JP H0310148 A JPH0310148 A JP H0310148A JP 1145712 A JP1145712 A JP 1145712A JP 14571289 A JP14571289 A JP 14571289A JP H0310148 A JPH0310148 A JP H0310148A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 abstract 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
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- G—PHYSICS
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- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
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- G01J3/30—Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
- G01J3/36—Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N2021/1789—Time resolved
- G01N2021/1791—Time resolved stroboscopic; pulse gated; time range gated
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- G—PHYSICS
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- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はパルス光発光分析装置に関する。
(従来の技術)
試料に火花放電を行い、或はレーザ光パルスを照射して
試料を発光させ、その光を分光するパルス光発光分析法
には次のような問題がある。
試料を発光させ、その光を分光するパルス光発光分析法
には次のような問題がある。
スパーク放電による発光分光分析においては、試料面に
ある小さな傷、ピンホール、あるいは付着物などの影響
を少なくして分析精度を向上するために、予め放電によ
って試料表面を前処理した・後に分析を行うのが普通で
ある。この場合、例えば5秒間の分析に先立って高エネ
ルギー放電で10秒以上の前処理を必要とする。
ある小さな傷、ピンホール、あるいは付着物などの影響
を少なくして分析精度を向上するために、予め放電によ
って試料表面を前処理した・後に分析を行うのが普通で
ある。この場合、例えば5秒間の分析に先立って高エネ
ルギー放電で10秒以上の前処理を必要とする。
このように放電を前後2回に分けて行うのは、高エネル
ギー放電は試料を蒸発させる能力は大きいが、そのとき
の試料元素の輝線光に対するバッククラランド光が強く
、分析感度が低くなるので、分析そのものには低エネル
ギー放電の方が適しているためで、5〜10秒の高エネ
ルギーによる予備放電の後、低エネルギーで数1000
回の放電を行って測光するのである。しかし分析時の放
電エネルギーを余り低(すると試料からの蒸発量が少く
成分元素の輝線光が弱(なって分析感度も精度も低下す
る。このため低エネルギーで放電を行うと云っても、充
分低(はできず、バックグラウンド低下が困難であった
。
ギー放電は試料を蒸発させる能力は大きいが、そのとき
の試料元素の輝線光に対するバッククラランド光が強く
、分析感度が低くなるので、分析そのものには低エネル
ギー放電の方が適しているためで、5〜10秒の高エネ
ルギーによる予備放電の後、低エネルギーで数1000
回の放電を行って測光するのである。しかし分析時の放
電エネルギーを余り低(すると試料からの蒸発量が少く
成分元素の輝線光が弱(なって分析感度も精度も低下す
る。このため低エネルギーで放電を行うと云っても、充
分低(はできず、バックグラウンド低下が困難であった
。
上述のように予備放電に比較的長時間を必要とする理由
は、1回の分析において毎回のスパークが試料面のある
領域内のどの地点に飛ぶかが一定していないために、そ
の領域全体を予め隈なく処理する必要があるからであり
、従ってまた分析精度を上げようとすればするほど予備
放電時間を長くする必要があった。
は、1回の分析において毎回のスパークが試料面のある
領域内のどの地点に飛ぶかが一定していないために、そ
の領域全体を予め隈なく処理する必要があるからであり
、従ってまた分析精度を上げようとすればするほど予備
放電時間を長くする必要があった。
また分析放電時にも放電により試料から充分量の蒸発を
行わせる必要があるので、放電エネルギーも余り少(は
できず、従ってバックグラウンドを充分低下させること
ができず、高い感度を得ることが困難であった。
行わせる必要があるので、放電エネルギーも余り少(は
できず、従ってバックグラウンドを充分低下させること
ができず、高い感度を得ることが困難であった。
Claims (1)
- 毎回の発光を高エネルギー励起とそれに引続く低エネル
ギー励起とに分けて行い、受光素子に光電子増倍管を用
いて、少くとも高エネルギー励起中は上記光電子増倍管
のダイノード電圧をオフし、低エネルギー励起中光電子
増倍管のダイノードに電圧を印加するようにした発光分
析装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP1145712A JPH0676967B2 (ja) | 1989-06-08 | 1989-06-08 | 発光分析装置 |
CN89108991A CN1027520C (zh) | 1989-06-08 | 1989-11-29 | 发光分析装置 |
US07/483,628 US5216482A (en) | 1989-06-08 | 1990-02-23 | Apparatus for emission spectrochemical analysis |
EP90103719A EP0401470B1 (en) | 1989-06-08 | 1990-02-26 | Apparatus for emission spectrochemical analysis |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1145712A JPH0676967B2 (ja) | 1989-06-08 | 1989-06-08 | 発光分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0310148A true JPH0310148A (ja) | 1991-01-17 |
JPH0676967B2 JPH0676967B2 (ja) | 1994-09-28 |
Family
ID=15391381
Family Applications (1)
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JP1145712A Expired - Fee Related JPH0676967B2 (ja) | 1989-06-08 | 1989-06-08 | 発光分析装置 |
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---|---|
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US3531202A (en) * | 1966-11-14 | 1970-09-29 | Baird Atomic Inc | Spectrometer readout system |
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US4393327A (en) * | 1981-07-29 | 1983-07-12 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Electric spark type light source for producing light for spectroscopic analysis |
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JP2603998B2 (ja) * | 1987-11-30 | 1997-04-23 | 株式会社島津製作所 | 発光分光分析装置 |
-
1989
- 1989-06-08 JP JP1145712A patent/JPH0676967B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1989-11-29 CN CN89108991A patent/CN1027520C/zh not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-02-23 US US07/483,628 patent/US5216482A/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-02-26 DE DE69030785T patent/DE69030785T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-02-26 EP EP90103719A patent/EP0401470B1/en not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Publication date |
---|---|
CN1047923A (zh) | 1990-12-19 |
EP0401470A3 (en) | 1991-03-20 |
JPH0676967B2 (ja) | 1994-09-28 |
EP0401470A2 (en) | 1990-12-12 |
US5216482A (en) | 1993-06-01 |
DE69030785T2 (de) | 1997-12-04 |
DE69030785D1 (de) | 1997-07-03 |
CN1027520C (zh) | 1995-01-25 |
EP0401470B1 (en) | 1997-05-28 |
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