CN104267004B - 一种光电直读光谱分析仪的样品激发系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种光电直读光谱分析仪的样品激发系统,包括样品室,设置在样品室内的装载样品的分析火花架、可产生基体线的Hg灯光源、控制电极激发样品发射特征光谱线的激发火花光源,分析火花架上设有与Hg灯光源、激发火花光源连接的继电器,分析火花架包括固定在样品室侧壁上的连接片和与连接片垂直设置的样品台,样品台上部设有样品板,样品台下部设有绝缘碗,绝缘碗内设有下电极和密封圈,绝缘碗通过紧固件与样品板上的样品固定架连接,绝缘碗内形成氩气激发环境,绝缘碗可沿样品台长度方向滑动。本发明结构简单,工作安全稳定,提高了工作效率,降低了检测成本。

Description

一种光电直读光谱分析仪的样品激发系统
技术领域
本发明涉及光电直读光谱仪技术领域,尤其涉及一种光电直读光谱分析仪的样品激发系统。
背景技术
光电直读光谱仪是分析黑色金属及有色金属成份的快速定量分析仪器。具有分析速度快、准确度高等优点,适用于较宽的波长范围,其光电倍增管对信号放大能力强,对强弱不同谱线可用不同的放大倍率,相差可达10000倍,而且线性范围宽,可做高含量分析,如Al、Pb、Mg、Zn、Sn、Fe、Co、Ni、Ti、Cu等多种基体分析。光电直读光谱仪广泛应用于冶金、机械及其他工业部门,进行冶炼炉前的在线分析以及中心实验室的产品检验,是控制产品质量的有效手段之一。
发明内容
为了解决背景技术中存在的技术问题,本发明提出了一种光电直读光谱分析仪的样品激发系统,结构简单,工作安全稳定,提高了工作效率,降低了检测成本。
本发明提出的一种光电直读光谱分析仪的样品激发系统,包括样品室,设置在样品室内的装载样品的分析火花架、可产生基体线的Hg灯光源、控制电极激发样品发射特征光谱线的激发火花光源,分析火花架上设有与Hg灯光源、激发火花光源连接的继电器,分析火花架包括固定在样品室侧壁上的连接片和与连接片垂直设置的样品台,样品台上部设有样品板,样品台上部中部设有氮化硼柱,样品板贯穿氮化硼柱并平放在样品台上,氮化硼柱上转动安装有样品夹,样品夹上夹持有与样品板相抵的磷青铜螺丝,样品台下部设有绝缘碗,绝缘碗内设有下电极和密封圈,绝缘碗通过紧固件与样品板上的样品固定架连接,绝缘碗内形成氩气激发环境,绝缘碗可沿样品台长度方向滑动;样品室上设有位于分析火花架后侧的石英窗,靠近石英窗一侧的样品室上设有向样品室内充入氩气的氩气瓶,样品室上设有将激发样品时产生的废气进行过滤的废氩气过滤器。
优选地,样品室内设有对Hg灯光源、激发火花光源进行冷却的第一循环水冷却装置和对分析火花架进行冷却的第二循环水冷装置,第二循环水冷装置减少样品激发升温对仪器稳定性的影响。
优选地,分析火花架上设有与继电器连接的安全开关。
优选地,废氩气过滤器内填充有阻止静态氩排放的真空泵油或水。
优选地,下电极采用纯银电极,更换纯银电极时,通过量规调整分析间隙,以修复纯银电极项角。
本发明提供的一种光电直读光谱分析仪的样品激发系统,应用于金属冶炼和加工生产中做质量控制与质量检验,它可以用于黑色金属、有色金属及特种合金的常规分析。在分析过程中,激发火花光源通过电缆连接到火花架上,通向样品;当样品板被激发火花光源激发时,样品板产生的光能通过光学室将光分解成特征光谱线。本发明中,样品板是在氩气环境下进行激发,由激发火花光源向试样夹下的样品板和下电极之间提供放电。其中样品夹夹持的磷青铜螺丝,导电性好,能通过调整不同的高度以适应不同厚度的样品板,氮化硼柱通过O形环设置在样品台上,氮化硼柱使激发孔坚实,耐高温绝缘,O形环起密封作用。火花架顶上的安全开关与继电器相连,在激发样品时,必须关好样品室的门,使安全开关压下,方能正常工作,同时保证了操作人员的人身安全。样品室上的石英窗可以检查氩气瓶是否存在漏气,氩气从分析火花架后部进入,从分析火花架前部流出,以免试样残渣沉积在石英窗上。
附图说明
图1为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪的样品激发系统的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示,图1为本发明提出的一种光电直读光谱分析仪的样品激发系统的结构示意图。
参照图1,本发明提出的一种光电直读光谱分析仪的样品激发系统,包括样品室1,设置在样品室1内的装载样品的分析火花架11、可产生基体线的Hg灯光源12、控制电极激发样品发射特征光谱线的激发火花光源13,分析火花架11上设有与Hg灯光源12、激发火花光源13连接的继电器14,分析火花架11上设有与继电器14连接的安全开关,样品室1内设有对Hg灯光源12、激发火花光源13进行冷却的第一循环水冷却装置和对分析火花架11进行冷却的第二循环水冷装置,第二循环水冷装置减少样品激发升温对仪器稳定性的影响。
分析火花架11包括固定在样品室1侧壁上的连接片111和与连接片垂直设置的样品台112,样品台112上部设有样品板15,样品台112上部中部设有氮化硼柱,样品板15贯穿氮化硼柱并平放在样品台112上,氮化硼柱上转动安装有样品夹16,样品夹16上夹持有与样品板15相抵的磷青铜螺丝,样品台112下部设有绝缘碗17,绝缘碗17内设有下电极和密封圈,绝缘碗17通过紧固件与样品板上的样品固定架18连接,绝缘碗17内形成氩气激发环境,绝缘碗17可沿样品台长度方向滑动;下电极采用纯银电极,更换纯银电极时,通过量规调整分析间隙,以修复纯银电极项角。
样品室上1设有位于分析火花架11后侧的石英窗19,靠近石英窗19一侧的样品室1上设有向样品室1内充入氩气的氩气瓶,样品室1上设有将激发样品时产生的废气进行过滤的废氩气过滤器,废氩气过滤器内填充有阻止静态氩排放的真空泵油或水。
本发明中,样品板15是在氩气环境下进行激发,由激发火花光源13向试样夹16下的样品板15和下电极之间提供放电,其中样品夹16夹持的磷青铜螺丝,导电性好,能通过调整不同的高度以适应不同厚度的样品板15,氮化硼柱通过O形环设置在样品台112上,氮化硼柱使激发孔坚实,耐高温绝缘,O形环起密封作用。分析火花架11顶上的安全开关与继电器14相连,在激发样品时,必须关好样品室1的门,开启安全开关,方能正常工作,同时保证了操作人员的人身安全。样品室1上的石英窗19可以检查氩气瓶是否存在漏气,氩气从分析火花架11后部进入,从分析火花架11前部流出,以免试样残渣沉积在石英窗19上。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种光电直读光谱分析仪的样品激发系统,其特征在于,包括样品室(1),设置在样品室(1)内的装载样品的分析火花架(11)、可产生基体线的Hg灯光源(12)、控制电极激发样品发射特征光谱线的激发火花光源(13),分析火花架(11)上设有与Hg灯光源(12)、激发火花光源(13)连接的继电器(14),分析火花架(11)包括固定在样品室(1)侧壁上的连接片(111)和与连接片垂直设置的样品台(112),样品台(112)上部设有样品板(15),样品台(112)上部中部设有氮化硼柱,样品板(15)贯穿氮化硼柱并平放在样品台(112)上,氮化硼柱上转动安装有样品夹(16),样品夹(16)上夹持有与样品板(15)相抵的磷青铜螺丝,样品台(112)下部设有绝缘碗(17),绝缘碗(17)内设有下电极和密封圈,绝缘碗(17)通过紧固件与样品板(15)上的样品固定架(18)连接,绝缘碗(17)内形成氩气激发环境,绝缘碗(17)可沿样品台长度方向滑动;样品室(1)上设有位于分析火花架(11)后侧的石英窗(19),靠近石英窗(19)一侧的样品室上设有向样品室内充入氩气的氩气瓶,样品室(1)上设有将激发样品时产生的废气进行过滤的废氩气过滤器;
样品室(1)内设有对Hg灯光源(12)、激发火花光源(13)进行冷却的第一循环水冷却装置和对分析火花架(11)进行冷却的第二循环水冷装置;
分析火花架(11)上设有与继电器(14)连接的安全开关。
2.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪的样品激发系统,其特征在于,废氩气过滤器内填充有阻止静态氩排放的真空泵油或水。
3.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪的样品激发系统,其特征在于,下电极采用纯银电极,更换纯银电极时,通过量规调整分析间隙,以修复纯银电极项角。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2581192B1 (fr) * 1985-04-25 1988-10-07 Siderurgie Fse Inst Rech Procede de determination par spectrometrie d'emission optique de la teneur d'un acier en un element, tel que l'aluminium, dissous et precipite.
JPH0676967B2 (ja) * 1989-06-08 1994-09-28 株式会社島津製作所 発光分析装置
CN101949959B (zh) * 2010-09-13 2012-09-05 中国科学院物理研究所 高温电阻率测量台
CN202886269U (zh) * 2012-08-22 2013-04-17 天津雅奥科技发展有限公司 多通道光电直读光谱仪
CN103868892B (zh) * 2014-02-27 2016-09-14 烟台东方分析仪器有限公司 光谱仪氩气激发系统
CN103969245B (zh) * 2014-05-20 2016-03-23 江苏鑫知源仪器有限公司 一种真空光电直读光谱仪

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