JPH0297030A - キャリアテープの搬送装置,インナリードボンディング装置 - Google Patents
キャリアテープの搬送装置,インナリードボンディング装置Info
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- JPH0297030A JPH0297030A JP63249386A JP24938688A JPH0297030A JP H0297030 A JPH0297030 A JP H0297030A JP 63249386 A JP63249386 A JP 63249386A JP 24938688 A JP24938688 A JP 24938688A JP H0297030 A JPH0297030 A JP H0297030A
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- carrier tape
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- 238000005452 bending Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/50—Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は1例えば、半導体チップ部品をその表面に圧着
したキャリアテープを走行させる搬送装置に関する。
したキャリアテープを走行させる搬送装置に関する。
(従来の技術)
近時、第3図に示すように、キャリアテープ1の表面に
設けられたインナリード2を半導体チップ3の電極部4
・・・にボンディングする。いわゆるインナリードボン
ディングが普及している。すなわち、このインナリード
ボンディングは、シネフィルム状のキャリアテープ1に
設けたインナリード2と、このキャリアテープ1の下方
に置かれた半導体チップ3の電極部4・・・とを対向さ
せて位置合せした後、加熱した高温のボンディングツー
ル5によって上記インナリード2と電極部4・・・とに
同時に加圧することによって、半導体チップ3をインナ
リード2に熱溶着させるものである。ここで1図中に6
・・・で示すのは各半導体チップ3の圧着位置に開口し
た位置決め用孔である。
設けられたインナリード2を半導体チップ3の電極部4
・・・にボンディングする。いわゆるインナリードボン
ディングが普及している。すなわち、このインナリード
ボンディングは、シネフィルム状のキャリアテープ1に
設けたインナリード2と、このキャリアテープ1の下方
に置かれた半導体チップ3の電極部4・・・とを対向さ
せて位置合せした後、加熱した高温のボンディングツー
ル5によって上記インナリード2と電極部4・・・とに
同時に加圧することによって、半導体チップ3をインナ
リード2に熱溶着させるものである。ここで1図中に6
・・・で示すのは各半導体チップ3の圧着位置に開口し
た位置決め用孔である。
また2図示しないが、上記キャリアテープ1は供給リー
ルに巻かれた状態で搬送装置に装着され。
ルに巻かれた状態で搬送装置に装着され。
上記ボンディングツール5と溶芒前の半導体チップ4と
の間を通過するようにして導かれた後1巻取リールに巻
き取られている。そして、このキャリアテープ1の走行
経路には、キャリアテープ1にテンションを与えるダン
サローラ、その他の各種ローラ、スプロケット、および
テープガイド等が配置されており、供給リールから供給
されたキャリアテープ1は、これらローラやスプロケッ
ト等のガイド部材によって走行案内されて巻取リールに
巻き取られる。
の間を通過するようにして導かれた後1巻取リールに巻
き取られている。そして、このキャリアテープ1の走行
経路には、キャリアテープ1にテンションを与えるダン
サローラ、その他の各種ローラ、スプロケット、および
テープガイド等が配置されており、供給リールから供給
されたキャリアテープ1は、これらローラやスプロケッ
ト等のガイド部材によって走行案内されて巻取リールに
巻き取られる。
さらに、キャリアテープ1が、上記両リールの芯に巻き
ついたり、上記各種ローラ、スプロケット、およびテー
プガイドなどに走行案内されたりするときには、キャリ
アテープ1は上述のリールやローラ等の各曲面、すなわ
ち走行面に湾曲しながら接している。
ついたり、上記各種ローラ、スプロケット、およびテー
プガイドなどに走行案内されたりするときには、キャリ
アテープ1は上述のリールやローラ等の各曲面、すなわ
ち走行面に湾曲しながら接している。
ところで、近年は、IC製造の歩留向上に伴ってICサ
イズが大型化しており、このため2例えば−片が10m
m以上のものも頻繁に使用されるようになった。しかし
、このような大寸法の半導体チップをインナリードボン
ディングする場合。
イズが大型化しており、このため2例えば−片が10m
m以上のものも頻繁に使用されるようになった。しかし
、このような大寸法の半導体チップをインナリードボン
ディングする場合。
ボンディングしてから巻取リールに巻取られるまでの経
路において、キャリアテープ1が小さな曲率半径で湾曲
すると、第4図に示すようにインナリード2が半導体チ
ップ3のエツジ部3aに接触したり、インナリード2が
破断したりすることがあった。つまり1曲率半径が小さ
い場合、走行案内されるキャリアテープ1には急な湾曲
が生じるが、これに対して半導体チップ3は湾曲せずに
。
路において、キャリアテープ1が小さな曲率半径で湾曲
すると、第4図に示すようにインナリード2が半導体チ
ップ3のエツジ部3aに接触したり、インナリード2が
破断したりすることがあった。つまり1曲率半径が小さ
い場合、走行案内されるキャリアテープ1には急な湾曲
が生じるが、これに対して半導体チップ3は湾曲せずに
。
インナリード2をキャリアテープ1のほうへ押付けてい
た。したがって、この押圧力によりインナリード2に変
形が生じ、インナリード2が半導体チップ3のエツジ部
3aに接触したり、また、インナリード2が破断したり
することがあった。
た。したがって、この押圧力によりインナリード2に変
形が生じ、インナリード2が半導体チップ3のエツジ部
3aに接触したり、また、インナリード2が破断したり
することがあった。
(発明が解決しようとする課題)
上述のように従来のものでは、キャリアテープに急な湾
曲が生じ、これによって半導体チップと圧着したインナ
リードが半導体チップのエツジ部に接触したり、上記イ
ンナリードが破断したりすることがあった。
曲が生じ、これによって半導体チップと圧着したインナ
リードが半導体チップのエツジ部に接触したり、上記イ
ンナリードが破断したりすることがあった。
本発明の目的とするところは、キャリアテープの急な湾
曲を原因として発生するこれらの製品不良を防止するこ
とにある。
曲を原因として発生するこれらの製品不良を防止するこ
とにある。
(課題を解決するための手段及び作用)上記目的を達成
するために本発明は、キャリアテープを湾曲しながら走
行案内するガイド部材のテープ走行面の曲率半径Rを。
するために本発明は、キャリアテープを湾曲しながら走
行案内するガイド部材のテープ走行面の曲率半径Rを。
R≧1icosO+(a−b)l/sinθi:リード
の長さ a:半導体チップの搬送方向の長さの1/2b=半導体
チップ端部からインナリードと半導体チップとの接合部
までの距離 h:キャリアテープが湾曲することによって生じるイン
ナリードのバンプの高さ θ : h/b となるように構成したことにある。
の長さ a:半導体チップの搬送方向の長さの1/2b=半導体
チップ端部からインナリードと半導体チップとの接合部
までの距離 h:キャリアテープが湾曲することによって生じるイン
ナリードのバンプの高さ θ : h/b となるように構成したことにある。
こうすることによって本発明は、キャリアテープの湾曲
を緩やかにし、インナリードと半導体チップのエツジ部
との接触や、インナリードの破断などを防止し、良品率
を高めることができるようにしたことにある。
を緩やかにし、インナリードと半導体チップのエツジ部
との接触や、インナリードの破断などを防止し、良品率
を高めることができるようにしたことにある。
(実施例)
以下1本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。な
お、説明の中で従来の技術の項で説明したものと同じも
のについては同一番号を付す。
お、説明の中で従来の技術の項で説明したものと同じも
のについては同一番号を付す。
第1図は本発明の一実施例を示すもので9図中1は合成
樹脂などからなり、その一方の側面にほぼ一定間隔でイ
ンナリード2を設けた。シネフィルム状のキャリアテー
プである。このキャリアテープ1は、供給側モータ7に
よって駆動される供給リール8から例えば下方へ導出さ
れており、第1の固定ローラ9の外周に形成された曲面
、すなわちテープ走行面10の一部に接して湾曲してい
る。つぎに、キャリアテープ1は上記第1の固定ローラ
9の下方に配置された供給側ダンサローラ11に達し、
このダンサローラ11の外周に形成されたテープ走行面
12に接して湾曲したのち。
樹脂などからなり、その一方の側面にほぼ一定間隔でイ
ンナリード2を設けた。シネフィルム状のキャリアテー
プである。このキャリアテープ1は、供給側モータ7に
よって駆動される供給リール8から例えば下方へ導出さ
れており、第1の固定ローラ9の外周に形成された曲面
、すなわちテープ走行面10の一部に接して湾曲してい
る。つぎに、キャリアテープ1は上記第1の固定ローラ
9の下方に配置された供給側ダンサローラ11に達し、
このダンサローラ11の外周に形成されたテープ走行面
12に接して湾曲したのち。
この上方に配置された第2の固定ローラ13に達してい
る。ここで、上記ダンサローラ11とは。
る。ここで、上記ダンサローラ11とは。
図中に矢印Aで示すようにスライドして、キャリアテー
プ1に常にテンションを与えることができるようにする
ものである。
プ1に常にテンションを与えることができるようにする
ものである。
さらに、キャリアテープ1は、第2の固定ローラ13の
外周に形成されたテープ走行面14に接して湾曲したの
ちには、はぼ水平状態で走行して第1のスプロケット1
5に達し、このスプロケット15のテープ走行面16に
接して斜め下方へ湾曲している。なお、」二記キャリア
テープ1には一定間隔で連続して形成された送り孔(図
示しない)が設けられており、上記スプロケット15の
外周に形成された送り歯15a・・・がこの送り孔に入
り込むようになっている。
外周に形成されたテープ走行面14に接して湾曲したの
ちには、はぼ水平状態で走行して第1のスプロケット1
5に達し、このスプロケット15のテープ走行面16に
接して斜め下方へ湾曲している。なお、」二記キャリア
テープ1には一定間隔で連続して形成された送り孔(図
示しない)が設けられており、上記スプロケット15の
外周に形成された送り歯15a・・・がこの送り孔に入
り込むようになっている。
そして、キャリアテープ1は中央部を開口したテープガ
イド17のテープ走行面18に接して水平状態になって
いる。このテープガイド17の上記開口部19の上方に
はボンディングツール5が配置されており、このボンデ
ィングツール5の先端と、キャリアテープ1における上
記開口部19に案内された部分とは対向している。また
、ボンディングツール5の下方にはキャリアテープ1を
介(l:させて半導体チップ3が設置されている。そし
て、キャリアテープ1のインナリード2と半導体チップ
3とを対向させて位置合せした後、加熱したボンディン
グツール5でキャリアテープ1の所定の位置を一定時間
押付けて加圧し、半導体チップ3の電極(図示しない)
を上記インナリード2に熱溶着する。なお、半導体チッ
プ3を予め加熱しておくようにしてもよい。
イド17のテープ走行面18に接して水平状態になって
いる。このテープガイド17の上記開口部19の上方に
はボンディングツール5が配置されており、このボンデ
ィングツール5の先端と、キャリアテープ1における上
記開口部19に案内された部分とは対向している。また
、ボンディングツール5の下方にはキャリアテープ1を
介(l:させて半導体チップ3が設置されている。そし
て、キャリアテープ1のインナリード2と半導体チップ
3とを対向させて位置合せした後、加熱したボンディン
グツール5でキャリアテープ1の所定の位置を一定時間
押付けて加圧し、半導体チップ3の電極(図示しない)
を上記インナリード2に熱溶着する。なお、半導体チッ
プ3を予め加熱しておくようにしてもよい。
また、半導体チップ3をその下面に圧管したキャリアテ
ープ1は、第2のスプロケット20のテープ走行面に2
1に接して湾曲したのち、第3の固定ローラ225巻込
み側のダンサローラ23゜および第4の固定ローラ24
のそれぞれに形成された各テープ走行面25,26.2
7に接して湾曲し、」ニガへ導かれて1巻取側モータ2
8によって駆動される巻取リール29に巻き取られる。
ープ1は、第2のスプロケット20のテープ走行面に2
1に接して湾曲したのち、第3の固定ローラ225巻込
み側のダンサローラ23゜および第4の固定ローラ24
のそれぞれに形成された各テープ走行面25,26.2
7に接して湾曲し、」ニガへ導かれて1巻取側モータ2
8によって駆動される巻取リール29に巻き取られる。
ここで、第1図中に30で示すのはスペーサテープであ
る。
る。
このように、キャリアテープ1は上記両す−ルゝ8,2
9.各種ローラ、および両スプロケット15.20等の
案内部材により案内されて走行している。さらに、これ
ら各案内部材に形成された各テープ走行面(12,14
,16など)の曲率半径は50mm以上に設定されてい
る。
9.各種ローラ、および両スプロケット15.20等の
案内部材により案内されて走行している。さらに、これ
ら各案内部材に形成された各テープ走行面(12,14
,16など)の曲率半径は50mm以上に設定されてい
る。
つまり、キャリアテープ1の湾曲部における各部分を第
2図に示すように設定した場合、上記ガイド部材のテー
プ走行面(または、キャリアテープ1の湾曲部)の曲率
半径Rは。
2図に示すように設定した場合、上記ガイド部材のテー
プ走行面(または、キャリアテープ1の湾曲部)の曲率
半径Rは。
R≧1icosO+(a−b))/sinθとして求め
ることができる。
ることができる。
ここで。
i:リード長
a:半導体チップ3の、キャリアテープ1の走行方向に
対応する長さの1/2 b=半導体チップ3の端部からインナリド2と半導体チ
ップ3との接合部まで の距離 h:キャリアテープ1が湾曲することによって生じるイ
ンナリード2のバンプの 高さ θ: h/b であり、さらに、インナリード2は湾曲したキャリアテ
ープ1の接線方向にのびてバンプを生じると仮定してい
る。
対応する長さの1/2 b=半導体チップ3の端部からインナリド2と半導体チ
ップ3との接合部まで の距離 h:キャリアテープ1が湾曲することによって生じるイ
ンナリード2のバンプの 高さ θ: h/b であり、さらに、インナリード2は湾曲したキャリアテ
ープ1の接線方向にのびてバンプを生じると仮定してい
る。
そして、各部分を平均的な寸法、すなわち。
a−5mm、b−0,2mm、b=0.02mm。
i−0,5mmと仮定すると1曲率半径Rの値として約
50mmが得られる。すなわち、上記曲率半径Rの値が
50mm以上であれば、インナリード2と半導体チップ
3とが接触せず、インナリード2が半導体チップ3によ
って押圧されることかない。そして、インナリード2か
変形するということがなく、インナリード2と半導体チ
ップ3のエツジ部3aとの接触や、インナリード2の破
断などが発生することがない。したがって、上記各テー
プ走行面(12,14,16など)の曲率半径を50m
m以上に設定することにより、上述の接触や破断を原因
とする製品不良が大幅に低減し。
50mmが得られる。すなわち、上記曲率半径Rの値が
50mm以上であれば、インナリード2と半導体チップ
3とが接触せず、インナリード2が半導体チップ3によ
って押圧されることかない。そして、インナリード2か
変形するということがなく、インナリード2と半導体チ
ップ3のエツジ部3aとの接触や、インナリード2の破
断などが発生することがない。したがって、上記各テー
プ走行面(12,14,16など)の曲率半径を50m
m以上に設定することにより、上述の接触や破断を原因
とする製品不良が大幅に低減し。
良品率が高まる。
なお1本発明は、電子部品をテープキャリア化したもの
であれば上述の実施例には限定されず。
であれば上述の実施例には限定されず。
例えば電気検査を行なう検査装置、および樹脂封止など
を行なう封止装置にも適用することが可能である。
を行なう封止装置にも適用することが可能である。
以上説明したように本発明によれば、キャリアテープの
湾曲が緩やかになり、これによってインナリードと半導
体チップのエツジ部との接触や。
湾曲が緩やかになり、これによってインナリードと半導
体チップのエツジ部との接触や。
インナリードの破断などを防止でき、良品率を高めるこ
とができるという効果がある。
とができるという効果がある。
第1図および第2図は本発明の一実施例を示すもので、
第1図はキャリアテープの走行経路を示す概観図、第2
図は実施例中の数式を説明するための概略図、第3図お
よび第4図は従来例を示すもので、第3図はインナリー
ドボンディングする状態を示す一部縦断した正面図、第
4図は製品不良が生じた状態を示す同じく正面図である
。 1・・・キャリアテープ、2・・・インナリード、3・
・・半導体チップ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 〉 4も謙 イ
第1図はキャリアテープの走行経路を示す概観図、第2
図は実施例中の数式を説明するための概略図、第3図お
よび第4図は従来例を示すもので、第3図はインナリー
ドボンディングする状態を示す一部縦断した正面図、第
4図は製品不良が生じた状態を示す同じく正面図である
。 1・・・キャリアテープ、2・・・インナリード、3・
・・半導体チップ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 〉 4も謙 イ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 キャリアテープに設けられたインナリードに半導体部
品をボンディングしたのち、このキャリアテープを走行
させるキャリアテープの搬送装置において、上記キャリ
アテープを湾曲させながら走行案内するガイド部材の上
記キャリアテープ走行面の曲率半径Rを、 R≧{icosθ+(a−b)}/sinθi:リード
の長さ a:半導体チップの搬送方向の長さの1/2b:半導体
チップ端部からインナリードと 半導体チップとの接合部までの距離 h:キャリアテープが湾曲することによっ て生じるインナリードのバンプの高さ θ:h/b となるように構成したことを特徴とするキャリアテープ
の搬送装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63249386A JP2667468B2 (ja) | 1988-10-03 | 1988-10-03 | キャリアテープの搬送装置,インナリードボンディング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63249386A JP2667468B2 (ja) | 1988-10-03 | 1988-10-03 | キャリアテープの搬送装置,インナリードボンディング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0297030A true JPH0297030A (ja) | 1990-04-09 |
JP2667468B2 JP2667468B2 (ja) | 1997-10-27 |
Family
ID=17192230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63249386A Expired - Fee Related JP2667468B2 (ja) | 1988-10-03 | 1988-10-03 | キャリアテープの搬送装置,インナリードボンディング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2667468B2 (ja) |
-
1988
- 1988-10-03 JP JP63249386A patent/JP2667468B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2667468B2 (ja) | 1997-10-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |