JPH0291734A - Ｌｓｉの試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［概要］ プリント基板に装着されたＬＳＩの試験方式に関し、 各ＬＳＩを電気的に接断することにより、プリント基板
に実装された状態でも試験を簡単に行なうことができる
試験方式を提供することを目的とし、 バスラインを介して内蔵されている各バスマクロ同士が
接続されるとともにプリント基板上に装着された複数個
のＬＳＩｋ：おいて、前記バスマクロ間にゲート手段と
、該ゲート手段を制御する制御手段と、を設け、試験時
には前記ゲート手段により前記ＬＳＩをそれぞれ電気的
に接断するように構成した。

［産業上の利用分野］ 本発明は、プリント基板に装着されたＬＳＩの試験方式
に関する。

ＬＳＩはドライバーとレシーバ−からなるバスマクロを
内蔵しているが、ＬＳＩ単体の場合には、バスマクロを
含めたＬＳＩの試験を容易に行なうことができる。しか
しながら、ＬＳＩをプリント基板上に実装した場合には
、各バスマクロはバスラインを介して接続されているた
め、電気的に接続された状態にあり、この状態では試験
を行なうことができない。このため、プリント基板にＬ
ＳＩを実装した状態でも、バスマクロを含めたＬＳＩの
試験を容易に行なうことができる試験方式の開発が要望
されていた。

［従来の技術］ 従来のＬＳＩの試験方式を第４図に示す。

第４図において、１〜Ｎは複数個のＬＳＩであり、複数
個のＬＳＩＩ〜Ｎはプリント基板１１上に装着されてい
る。ＬＳ　Ｉ　１〜Ｎはドライバー１２とレシーバ−１
３からなるバスマクロ１４をそれぞれ内蔵しており、バ
スマクロ１４はバスライン１５を介してそれぞれ接続さ
れている。

バスマクロ１４を含むＬＳＩＩ〜Ｎを試験するときは、
ＬＳ　Ｉ　１〜Ｎをプリント基板１１から取りはずして
、単体としてから試験を行なっていた。

バスマクロ１４は電気的に接続されており、バスマクロ
１４の出力端子をみても、他のバスマクロ１４の影響を
受けてしまうからである。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、このような従来の試験方式にあっては、
各バスマクロがバスラインを介して接続されているため
、バスマクロを含むＬＳＩの試験を行なうためには、Ｌ
ＳＩをプリント板から取りはずして、単体としなければ
試験を行なうことができなかった。その結果、試験のた
めの作業に手間がかかるという問題点があった。

本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたも
のであって、各ＬＳＩを電気的に接断することにより、
プリント基板に実装された状態でも試験を簡単に行なう
ことができる試験方式を提供することを目的としている
。

［課題を解決するための手段］ 第１図は本発明の原理説明図である。

第１図において、１〜Ｎはバスライン１５を介して内蔵
されている各パスマクロ１４同士が接続されるとともに
プリント基板１１上に装着された複数個のＬＳＩ、１６
は前記バスマクロ１４間に設けられたゲート手段、２．
１は該ゲート手段１６を制御する制御手段である。

［作用］ ＬＳＩをプリント基板上に実装した状態でバスマクロを
含めたＬＳＩを試験するときは、制御手段によりゲート
手段をオフ（非導通）として、バスラインを電気的に接
断する。したがってＬＳＩは単体と同じ状態となるので
、ＬＳＩをプリント基板から取りはずさなくても簡単に
試験を行なうことができ、試験のための作業に手間がか
かることがない。

［実施例］ 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第２図は本発明の一実施例を示す図である。

第２図において、１〜ＮはＬＳＩであり、ＬＳ１１〜Ｎ
はプリント基板１１上に装着されている。

ＬＳ１１〜Ｎは各バスマクロ１４をそれぞれ内蔵してお
り、バスマクロ１４は入力信号へを制御信号Ｃで制御す
るドライバー１２と、ドライバー１２の出力信号Ｘの入
力により信号Ｂが出力されるレシーバ−１３で構成され
ている。なお、バスマクロ１４の真理値表を第３図に示
す。

バスマクロ１４間はバスライン１５を介して接続されて
おり、バスライン上のＬＳＩ２〜Ｎ内にはゲート手段と
してのトランスミッションゲート１６がそれぞれ設けら
れている。トランスミッションゲート１６は入力端子１
７と、レシーバ−１８と、ノット回路１９，２０からな
る制御手段２１によりオン・オフ刺部される。すなわち
、一方のノット回路１９はトランスミツショクゲート１
６の一端に、他方のノット回路２０はトランスミッショ
ンゲート１６の他端に、それぞれ接続されており、入力
端子１７にＯ１１を入力すると、トランスミッションゲ
ート１６はオン（導通）となり、入力端子１７に“１″
を入力すると、トランスミッションゲート１６はオフ（
非導通）となる。

したがって、バスマクロ１４を含めたＬＳ１１〜Ｎをプ
リント基板１１に実装した状態で試験を行なうときは、
入力端子１７に“１パを入力する。

この信号“１′°は、一方のノット回路１９で信号′“
ＯＩｆどなって、トランスミッションゲート１６の一端
側に印加され、一方、信号゛Ｏｐｔは他方のノット回路
２０で再び信号“１′′となり、トランスミッションゲ
ート１６の他端側に印加されるので、トランスミッショ
ンゲート１６はオフになる。

トランスミッションゲート１６がオフになると、バスラ
イン１５は電気的に接断され、ＬＳ１１〜Ｎは、それぞ
れ単体と同じ状態となる。したがって、バスライン１４
を含むＬＳ　Ｉ　１〜Ｎの試験を簡単に行なうことがで
きる。すなわち、ＬＳ１１〜Ｎがプリント基板１１上に
実装された状態であっても、簡単に試験を行なうことが
できる。その結果、ＬＳ１１〜Ｎをプリント基板１１か
ら取りはずす必要がなく、試験作業に手間がかからない
。

［発明の効果］ 以上説明してきたように本発明によれば、トランスミッ
ションゲートを用いることにより、バスラインを電気的
に接断することができるので、ＬＳＩをプリント基板か
ら取りはずすことなく、簡単にＬＳＩの試験を行なうこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理説明図、 第２図は本発明の一実施例を示す図、 第３図はバスマクロの真理値表を示す図、第４図は従来
例の説明図でおる。 図中、 １〜Ｎ・・・ＬＳＩ。 １１・・・プリント基板、 １２・・・ドライバー １３．１８・・・レシーバ− １４・・・バスマクロ、 １５・・・バスライン、 １６・・・トランスミッションゲート（ゲート手段）、
１７・・・入力端子、 １９．２０・・・ノット回路、 ２１・・・制御手段。 第１図 第２図 バスマクロの真理値表を示す図 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. バスライン（１５）を介して内蔵されている各バスマク
   ロ（１４）同士が接続されるとともにプリント基板（１
   １）上に装着された複数個のＬＳＩ（１〜Ｎ）において
   、前記バスマクロ（１４）間にゲート手段（１６）と、
   該ゲート手段（１６）を制御する制御手段（２１）と、
   を設け、試験時には前記ゲート手段（１６）により前記
   ＬＳＩ（１〜Ｎ）をそれぞれ電気的に接断するようにし
   たことを特徴とするＬＳＩの試験方式。