JPH0290816A - 誤り訂正方法および回路 - Google Patents
誤り訂正方法および回路Info
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- JPH0290816A JPH0290816A JP63240979A JP24097988A JPH0290816A JP H0290816 A JPH0290816 A JP H0290816A JP 63240979 A JP63240979 A JP 63240979A JP 24097988 A JP24097988 A JP 24097988A JP H0290816 A JPH0290816 A JP H0290816A
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- error correction
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- parity check
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 28
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 81
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 19
- 208000011580 syndromic disease Diseases 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 description 1
- 101000941450 Lasioglossum laticeps Lasioglossin-1 Proteins 0.000 description 1
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- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1076—Parity data used in redundant arrays of independent storages, e.g. in RAID systems
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/14—Error detection or correction of the data by redundancy in operation
- G06F11/1402—Saving, restoring, recovering or retrying
- G06F11/1415—Saving, restoring, recovering or retrying at system level
- G06F11/1443—Transmit or communication errors
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気記録装置に係り、特に情報をより正しく記
録再生することに好適な誤り訂正方法及び回路。
録再生することに好適な誤り訂正方法及び回路。
〔従来の技術〕
従来の誤り訂正方法を第20図および図21図により説
明する。従来のデータフォーマットニ対しである訂正能
力を持った誤り訂正符号5(以下ECCとよぶ)が付加
しである。これらデータおよびECC5を第21図の入
力データ33として誤り訂正回路34に入力する。誤り
訂正回路34では、訂正能力内のエラーならば正しいデ
ータに訂正し出力データ35を出力する。訂正能力を越
えた場合には、再読み込み(以下リトライと言う)をお
こなうが、それでも訂正能力を越えたエラーがある場合
には、正しいデータの再生は不可能となる。
明する。従来のデータフォーマットニ対しである訂正能
力を持った誤り訂正符号5(以下ECCとよぶ)が付加
しである。これらデータおよびECC5を第21図の入
力データ33として誤り訂正回路34に入力する。誤り
訂正回路34では、訂正能力内のエラーならば正しいデ
ータに訂正し出力データ35を出力する。訂正能力を越
えた場合には、再読み込み(以下リトライと言う)をお
こなうが、それでも訂正能力を越えたエラーがある場合
には、正しいデータの再生は不可能となる。
上記した従来技術は特開昭48−74753、特開昭4
9−91560、 特開昭53−132951などに記載されている。
9−91560、 特開昭53−132951などに記載されている。
上記従来技術は、誤り訂正符号の訂正能力を越えたエラ
ーが生じた場合には情報の正しい復元が不可能であった
。例えば、一箇所のバーストエラーが訂正可能な誤り訂
正符号を使用した時に、二部所以上のバーストエラーが
発生した場合には。
ーが生じた場合には情報の正しい復元が不可能であった
。例えば、一箇所のバーストエラーが訂正可能な誤り訂
正符号を使用した時に、二部所以上のバーストエラーが
発生した場合には。
情報の正しい復元が不可能であった。本発明の目的は、
このように従来では訂正不可能なエラーが生じた場合に
も情報の正しい復元を可能とすることにある。
このように従来では訂正不可能なエラーが生じた場合に
も情報の正しい復元を可能とすることにある。
上記目的は、情報の再生にエラーが生した場合に、情報
の再読み込み(リトライト)を行い、元の情報の内エラ
ー箇所のデータを正しいデータに置換することにより達
成される。
の再読み込み(リトライト)を行い、元の情報の内エラ
ー箇所のデータを正しいデータに置換することにより達
成される。
まず第一に、エラーが生じたデータの情報を最大限利用
することが重要である。それには、データを一時格納し
ておくレジスタ等を使用することで可能となる。第二に
、正しいデータに置換するために、エラーの生じた箇所
の特定が必要である。
することが重要である。それには、データを一時格納し
ておくレジスタ等を使用することで可能となる。第二に
、正しいデータに置換するために、エラーの生じた箇所
の特定が必要である。
それには、データがエラーしたかどうかの簡単なチエツ
クピット等を新たに設けることにより可能となる。さら
にそのエラーのアドレスの情報によりレジスタの内容を
正しく置換しながらデータを送り出す制御回路により正
しいデータを得ることが可能となる。
クピット等を新たに設けることにより可能となる。さら
にそのエラーのアドレスの情報によりレジスタの内容を
正しく置換しながらデータを送り出す制御回路により正
しいデータを得ることが可能となる。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明の基本的な実施例を第1図に示す。
磁気ファイル駆動装置101で読み込んだブタ−は、磁
気ファイル制御装置102の中で様々な処理を行った後
チャネルを通してCPUに送る。
気ファイル制御装置102の中で様々な処理を行った後
チャネルを通してCPUに送る。
データ制御回路103では、複数接続された磁気ファイ
ル駆動装置101にデータを読み置きする時、ど駆動装
置にアクセスするのかを制御する。
ル駆動装置101にデータを読み置きする時、ど駆動装
置にアクセスするのかを制御する。
第1図には省略して一つの駆動装置のみを示しである。
磁気ファイル駆動装置101で読み込んだデータにはエ
ラーを含んでいることが有り、それをなんらかの方法で
正しいデータに直す処理も磁気ファイル制御装置102
の役割の一つである。
ラーを含んでいることが有り、それをなんらかの方法で
正しいデータに直す処理も磁気ファイル制御装置102
の役割の一つである。
本実施例はこのエラーを含んだデータを正しいデータに
直すために、磁気ファイル制御装置102に新しい制御
回路すなわちデータ置換制御回路3を適用したものであ
る。
直すために、磁気ファイル制御装置102に新しい制御
回路すなわちデータ置換制御回路3を適用したものであ
る。
磁気ファイル駆動装置101のある情報のひとまとまり
(これをレコードと呼ぶ)を再生したデータ1にエラー
が有ったと仮定する。このデータ1をエラー箇所特定回
路3Aに入力する。このエラー箇所特定回路3Aの機能
は、データ1の中のどの部分にエラーが有ったかを特定
することである。そのためにはパリティチエツクやFC
Cなどによりエラー箇所の特定の行う。ここでFCCの
誤り訂正能力を超えた場合などは、正しいデータになお
すことが不可能である。そこで、情報の再読み込み(リ
トライ)を行う。一般にエラーはランダムに生じること
が知られており、同一のレコードから再生したデータ1
とリトライしたデータ2とのエラー箇所は異なることが
多い。本実施例ではこのことを利用し、データ1のより
正しいデータを得ようとするものである。このためには
データ置換回路3Bにより、データ1のうちで二う一箇
所特定回路3Aにより特定した場所を、リトライしたデ
ータ2で置き換えればよい。データを置換するために必
要な機能は、データの中の場所(アドレス)を管理する
ためのカウンタやメモリのほか、データを置換するため
に必要なスイッチなどの制御回路である。
(これをレコードと呼ぶ)を再生したデータ1にエラー
が有ったと仮定する。このデータ1をエラー箇所特定回
路3Aに入力する。このエラー箇所特定回路3Aの機能
は、データ1の中のどの部分にエラーが有ったかを特定
することである。そのためにはパリティチエツクやFC
Cなどによりエラー箇所の特定の行う。ここでFCCの
誤り訂正能力を超えた場合などは、正しいデータになお
すことが不可能である。そこで、情報の再読み込み(リ
トライ)を行う。一般にエラーはランダムに生じること
が知られており、同一のレコードから再生したデータ1
とリトライしたデータ2とのエラー箇所は異なることが
多い。本実施例ではこのことを利用し、データ1のより
正しいデータを得ようとするものである。このためには
データ置換回路3Bにより、データ1のうちで二う一箇
所特定回路3Aにより特定した場所を、リトライしたデ
ータ2で置き換えればよい。データを置換するために必
要な機能は、データの中の場所(アドレス)を管理する
ためのカウンタやメモリのほか、データを置換するため
に必要なスイッチなどの制御回路である。
以上のように正しいデータが得られる原理を第2図によ
り説明する。データ1にエラー5があったと仮定する。
り説明する。データ1にエラー5があったと仮定する。
データ1と同一のレコードから再生したデータ2には、
データ1と同一の箇所にはエラーがないとするとエラー
5の部分をデータ2に置銀することにより、正しいデー
タ4を得ることができる。ここで、データあるいはデー
タ2にエラーが含まれない場合、あるいは何らかの手段
でエラーが訂正可能な場合には、それをそのまま正しい
データ4とすればよい。例えば、一般的な誤り訂正符号
(FCC)を用いた時に、その符号の誤り訂正能力以内
のエラーが生じた場合にはその訂正後のデータを正しい
データ4とすればよい。
データ1と同一の箇所にはエラーがないとするとエラー
5の部分をデータ2に置銀することにより、正しいデー
タ4を得ることができる。ここで、データあるいはデー
タ2にエラーが含まれない場合、あるいは何らかの手段
でエラーが訂正可能な場合には、それをそのまま正しい
データ4とすればよい。例えば、一般的な誤り訂正符号
(FCC)を用いた時に、その符号の誤り訂正能力以内
のエラーが生じた場合にはその訂正後のデータを正しい
データ4とすればよい。
本実施例においてデータ置換制御回路3に入力されるデ
ータは2つに限らず3つ以上に容易に拡張可能である。
ータは2つに限らず3つ以上に容易に拡張可能である。
以下の実施例においても同様であるが、説明の簡略化の
ため以下データは2つとする。
ため以下データは2つとする。
また、本実施例におけるデータおよびデータについては
、様々なデータに対して利用可能である。
、様々なデータに対して利用可能である。
典型的な場合は、上記に説明したようにデータ1が通常
の再生データであり、データ2がリトライデータである
。また第3図、第4図に示すように、複数の磁気ヘッド
により同一のデータを再生する場合のそれぞれのデータ
に対しても利用可能である。以下の実施例は、前者のエ
ラーを含んだ再生データとりトライデータの場合につい
て説明するが、後者の場合にも適用可能であることは明
白である。また、データ1.2はパラレルに同時に入力
されるということに限定する必要はなく、2種類以上の
データがシリアルに入力されることも含む。例えば、上
記再生データとりトライデータの場合にはシリアルとな
り、入力端子は一つで良い。
の再生データであり、データ2がリトライデータである
。また第3図、第4図に示すように、複数の磁気ヘッド
により同一のデータを再生する場合のそれぞれのデータ
に対しても利用可能である。以下の実施例は、前者のエ
ラーを含んだ再生データとりトライデータの場合につい
て説明するが、後者の場合にも適用可能であることは明
白である。また、データ1.2はパラレルに同時に入力
されるということに限定する必要はなく、2種類以上の
データがシリアルに入力されることも含む。例えば、上
記再生データとりトライデータの場合にはシリアルとな
り、入力端子は一つで良い。
第1図には、便宜上1と2の線を別に描いである。
次に、第2の実施例を第5図に示す。
第2の実施例では、データを置換するために。
エラーを含んだ再生データ1を格納するためのレジスタ
を持つことを特徴とする。動作はまず、再生データ1を
パス11を通してレジスタ8に格納する。次に、データ
置換制御回路3によりデータ1の中のエラー箇所の検出
を行うとともに、スイッチ9をパス12へ切り換えた後
データ1と同一のレコードの再読み込み(リトライ)を
行う。次に、データを上位′−!A置に送る場合には、
データ置換制御回路3によりスイッチ10を切り換える
ことにより正しいデータを得る。具体的には、レジスタ
8の再生データ1の内、正しいデータの箇所はパス13
へ切り換え、エラーデータの箇所はパス14へ切り換え
リトライデータを選択する。この時、データ置換制御回
路3によってりトライデータの中のエラー箇所の検出を
行い、再生データ1のエラー箇所と同じ箇所にはりトラ
イデータの中にエラーが無い場合のみ有効なデー・夕と
して上位装青に送るようにすればよい。
を持つことを特徴とする。動作はまず、再生データ1を
パス11を通してレジスタ8に格納する。次に、データ
置換制御回路3によりデータ1の中のエラー箇所の検出
を行うとともに、スイッチ9をパス12へ切り換えた後
データ1と同一のレコードの再読み込み(リトライ)を
行う。次に、データを上位′−!A置に送る場合には、
データ置換制御回路3によりスイッチ10を切り換える
ことにより正しいデータを得る。具体的には、レジスタ
8の再生データ1の内、正しいデータの箇所はパス13
へ切り換え、エラーデータの箇所はパス14へ切り換え
リトライデータを選択する。この時、データ置換制御回
路3によってりトライデータの中のエラー箇所の検出を
行い、再生データ1のエラー箇所と同じ箇所にはりトラ
イデータの中にエラーが無い場合のみ有効なデー・夕と
して上位装青に送るようにすればよい。
第2の実施例において、第6図のようにパス12とパス
14の間にリトライデータを格納するためのレジスタ1
5を設けてもよい。これらのレジスタ8.15の長さは
データを処理する単位長、すなわちルコート分あれば充
分である。またスイッチ9および10は、同様な機能が
あれば別の構成でも可能である。
14の間にリトライデータを格納するためのレジスタ1
5を設けてもよい。これらのレジスタ8.15の長さは
データを処理する単位長、すなわちルコート分あれば充
分である。またスイッチ9および10は、同様な機能が
あれば別の構成でも可能である。
次に、第3の実施例を第7図および第8図に示す。
第3の実施例は、データの中のエラー箇所を検出するた
めのパリティチエツクピッ1−を有するデータフォーマ
ットを持ったデータを対象とした誤り訂正方式である。
めのパリティチエツクピッ1−を有するデータフォーマ
ットを持ったデータを対象とした誤り訂正方式である。
このパリティチエツクピノ1−は、データの定められた
ビット長(nビット)毎に設けられ、データおよびチエ
ツクビットを検査することによりそのピッI・長円しこ
エラーがあったかどうかがわかる。従って、レコード内
のどの箇所にエラーがあったかがわかる。パリティチェ
ックビットの典型的な例は、偶数パリティである。
ビット長(nビット)毎に設けられ、データおよびチエ
ツクビットを検査することによりそのピッI・長円しこ
エラーがあったかどうかがわかる。従って、レコード内
のどの箇所にエラーがあったかがわかる。パリティチェ
ックビットの典型的な例は、偶数パリティである。
偶数パリティは、r】ビットのデータとチェックビット
のLL I I+の合計が必ず偶数となるようにチエツ
クピットを付加する方式である。エラー箇所が明らかに
なれば他のパリティチエツク方式でも有効であることは
明白である。
のLL I I+の合計が必ず偶数となるようにチエツ
クピットを付加する方式である。エラー箇所が明らかに
なれば他のパリティチエツク方式でも有効であることは
明白である。
また第3の実施例では、第7図のようにnビット毎のパ
リテイチェックビット18をデータの中に配置する方式
と、第8図のように全データのパリティチェックビット
19をデータの後に配置する方式とあり、どちらでも同
様である。
リテイチェックビット18をデータの中に配置する方式
と、第8図のように全データのパリティチェックビット
19をデータの後に配置する方式とあり、どちらでも同
様である。
第3の実施例における回路の構成を第9図に示す。
データ置換制御回路3は、パリティチエツク回路2oと
アドレス制御回路21とから構成される。
アドレス制御回路21とから構成される。
再生データおよびリトライデータのエラー箇所をパリテ
ィチエツク回路20により検出し、その情報をアドレス
制御回路21へ送り、アドレス制御回路21によりエラ
ーの無いほうのデータをスイッチ10を切り換えること
により選択して正しいデータ4を得る。
ィチエツク回路20により検出し、その情報をアドレス
制御回路21へ送り、アドレス制御回路21によりエラ
ーの無いほうのデータをスイッチ10を切り換えること
により選択して正しいデータ4を得る。
以上の動作の詳細を以下の第22図から第24図を用い
て説明する。第22図はデータフォーマットを示し、第
23図は第9図の詳細を示し、第24図は第23図の動
作を示すタイムチャートである。第7図のデータフォー
マットにおけるデータとパリティチエツクピッ1への一
つのかたまりをセルと呼ぶ、今データの中に第22図に
示すようにセル2とセルとにエラーが有ったと仮定する
。
て説明する。第22図はデータフォーマットを示し、第
23図は第9図の詳細を示し、第24図は第23図の動
作を示すタイムチャートである。第7図のデータフォー
マットにおけるデータとパリティチエツクピッ1への一
つのかたまりをセルと呼ぶ、今データの中に第22図に
示すようにセル2とセルとにエラーが有ったと仮定する
。
このデータを第23図における入力データとする。
データ1はパリティチエツク回路20に入力されるとと
もにレジスタ8に記憶される。この時レジスタ8にデー
タを入力するために、入力データ選択回路21Dはスイ
ッチ9の端子11を選択しておく。パリティチエツク回
路20ではセルクロック21Aのタイミングでパリティ
チエツクを行う。
もにレジスタ8に記憶される。この時レジスタ8にデー
タを入力するために、入力データ選択回路21Dはスイ
ッチ9の端子11を選択しておく。パリティチエツク回
路20ではセルクロック21Aのタイミングでパリティ
チエツクを行う。
パリティチエツクは第22図に示すように、データビッ
トとパリティチェックビット全てのMod2の加算を行
うことにより得られる。従ってセルとセル4のパリティ
チエツク結果は1となり、そのほかはOとなる。このパ
リティチエツク結果とセルアドレスカウンタ21Cのア
ドレスとから、データ1のエラー箇所であるセル“2”
4”をエラーセルメモリ21Bに記憶する0次に、
データ1にエラーが有ったので情報の再読み込みすなわ
ちリトライを行う。このリトライの命令発行は、パリテ
ィチエツク結果を見て判断すればよい。リトライを行う
ときにはレジスタ8にはデータ1が記憶されているため
、リトライデータ2をスルーパス側を通すために入力デ
ータ選択回路21Dによりスイッチ9の端子12側を選
択する。リトライを行うことによったレジスタ8に有る
データ1のエラー箇所のみリトライデータ2に置き換え
、出力データとするわけである。その方法は、データ2
を読み込んでいる間に、セルアドレスカウンタ21Cに
よりカウントしているアドレスとエラーセルファドレス
メモリ21Bのアドレスとを比較回路21Eにより比較
し、一致した場合すなわちデータ1の中にエラーの有っ
たセルのみスイッチ10の端子14を選択してデータ2
を出力し、そのほかは端子13を選択してレジスタ8の
中のデータ1を出力する。データ1とデータ2のタイミ
ングはセルロック21Aにより同期をとる。このとき、
リトライデータ2についてもパリティチエツク回gzo
によりパリティチエツクを行い、データ1と同じ箇所に
エラーのない場合のみ、正しい出力データとして送り出
すものとする。もし同じ箇所にエラーが有った場合には
再度リトライを行う。以上のように動作させることによ
り、データ1の中に有るエラー箇所のみ、リトライデー
タ2に置換することが可能になり正しい出力データを得
ることができる。
トとパリティチェックビット全てのMod2の加算を行
うことにより得られる。従ってセルとセル4のパリティ
チエツク結果は1となり、そのほかはOとなる。このパ
リティチエツク結果とセルアドレスカウンタ21Cのア
ドレスとから、データ1のエラー箇所であるセル“2”
4”をエラーセルメモリ21Bに記憶する0次に、
データ1にエラーが有ったので情報の再読み込みすなわ
ちリトライを行う。このリトライの命令発行は、パリテ
ィチエツク結果を見て判断すればよい。リトライを行う
ときにはレジスタ8にはデータ1が記憶されているため
、リトライデータ2をスルーパス側を通すために入力デ
ータ選択回路21Dによりスイッチ9の端子12側を選
択する。リトライを行うことによったレジスタ8に有る
データ1のエラー箇所のみリトライデータ2に置き換え
、出力データとするわけである。その方法は、データ2
を読み込んでいる間に、セルアドレスカウンタ21Cに
よりカウントしているアドレスとエラーセルファドレス
メモリ21Bのアドレスとを比較回路21Eにより比較
し、一致した場合すなわちデータ1の中にエラーの有っ
たセルのみスイッチ10の端子14を選択してデータ2
を出力し、そのほかは端子13を選択してレジスタ8の
中のデータ1を出力する。データ1とデータ2のタイミ
ングはセルロック21Aにより同期をとる。このとき、
リトライデータ2についてもパリティチエツク回gzo
によりパリティチエツクを行い、データ1と同じ箇所に
エラーのない場合のみ、正しい出力データとして送り出
すものとする。もし同じ箇所にエラーが有った場合には
再度リトライを行う。以上のように動作させることによ
り、データ1の中に有るエラー箇所のみ、リトライデー
タ2に置換することが可能になり正しい出力データを得
ることができる。
また第25図と第26図には本実施例の別の回路構成と
その動作を示す。第25図では、リトライデータ2を読
み込んでいる間、比較回路21Eの出力とデータ2を用
いて、レジスタ置換制御回路21Fにより、レジスタ8
の中のデータ1のエラー箇所のセルをデータ2の同じセ
ルのデータに直接置き換える。この結果、レジスタ8の
中は、セル2と4のみがデータ2でその他はデータ1と
なる。このデータを出力データとすればよい。そのほか
の動作は第23.24図と同様である。
その動作を示す。第25図では、リトライデータ2を読
み込んでいる間、比較回路21Eの出力とデータ2を用
いて、レジスタ置換制御回路21Fにより、レジスタ8
の中のデータ1のエラー箇所のセルをデータ2の同じセ
ルのデータに直接置き換える。この結果、レジスタ8の
中は、セル2と4のみがデータ2でその他はデータ1と
なる。このデータを出力データとすればよい。そのほか
の動作は第23.24図と同様である。
次に、第4の実施例を第10図および第11図に示す。
第4の実施例は従来の磁気記録装置に一般的に使用され
ているECCを持ったデータフォーマットに、本発明を
適用した実施例である。第4の実施例は、データフォー
マットとしてパリテイチェックビット18あるいは19
の他にECC22を持つ。
ているECCを持ったデータフォーマットに、本発明を
適用した実施例である。第4の実施例は、データフォー
マットとしてパリテイチェックビット18あるいは19
の他にECC22を持つ。
第4の実施例における回路の構成を第12図に示す。デ
ータ置換制御回路3は、パリティチエツク回路20とア
ドレス制御回路21とエラー訂正制御回路23とから構
成される。エラー訂正制御回路23により再生データお
よびリトライデータのECCチエツクを行い、訂正不可
能なエラーがあった場合のみパリティチエツク回路20
とアドレス制御回路21とを起動する。パリティチエツ
ク回路20とアドレス制御回路21との動作は実施例3
と同様であり、データ1の中のエラー箇所をリトライデ
ータ2に置換することにより正しいデータ4を復元する
。
ータ置換制御回路3は、パリティチエツク回路20とア
ドレス制御回路21とエラー訂正制御回路23とから構
成される。エラー訂正制御回路23により再生データお
よびリトライデータのECCチエツクを行い、訂正不可
能なエラーがあった場合のみパリティチエツク回路20
とアドレス制御回路21とを起動する。パリティチエツ
ク回路20とアドレス制御回路21との動作は実施例3
と同様であり、データ1の中のエラー箇所をリトライデ
ータ2に置換することにより正しいデータ4を復元する
。
以上の動作を第27図を用いて説明する。まずエラー訂
正制御回路23に入力された入力データから、シンドロ
ーム生成回路23Aによりシンドロームを算出する。こ
のシンドロームからエラーアドレス計算回路23Bによ
りどこがエラーしたかを求める。ここで、エラーアドレ
スが矛盾なく正しく計算できればエラー訂正回路23C
で正しいデータに訂正し、その訂正後データ23Dをレ
ジスタ8に送るかあるいはそのまま正しいデータ4とし
て外部へ送れがよい。上記の動作は、通常のECCを用
いた誤り訂正方法と同様である。本実施例では上記のう
ち、エラーアドレスが正しく計算できない時、すなわち
エラーの訂正不能な時は5その旨を示す信号すなわち、
エラー訂正不能信号23Eをエラーアドレス計算回路か
ら送り出し、パリティチエツク回路20とアドレス制御
回路21とに起動をかける。起動後は、実施例3と同様
である。以上のように、本実施例では、エラーがあって
もFCCによりエラー訂正可能な時にはデータの置換を
行なわないですむ。
正制御回路23に入力された入力データから、シンドロ
ーム生成回路23Aによりシンドロームを算出する。こ
のシンドロームからエラーアドレス計算回路23Bによ
りどこがエラーしたかを求める。ここで、エラーアドレ
スが矛盾なく正しく計算できればエラー訂正回路23C
で正しいデータに訂正し、その訂正後データ23Dをレ
ジスタ8に送るかあるいはそのまま正しいデータ4とし
て外部へ送れがよい。上記の動作は、通常のECCを用
いた誤り訂正方法と同様である。本実施例では上記のう
ち、エラーアドレスが正しく計算できない時、すなわち
エラーの訂正不能な時は5その旨を示す信号すなわち、
エラー訂正不能信号23Eをエラーアドレス計算回路か
ら送り出し、パリティチエツク回路20とアドレス制御
回路21とに起動をかける。起動後は、実施例3と同様
である。以上のように、本実施例では、エラーがあって
もFCCによりエラー訂正可能な時にはデータの置換を
行なわないですむ。
次に、第5図の実施例を第13図および第14図に示す
。
。
第5の実施例は第4の実施例のパリティチエツクピント
専用のECC24を持つ。このことによりパリティチエ
ツクの(a頼性すなわちエラー箇所検出の(g頼性が向
」二する。
専用のECC24を持つ。このことによりパリティチエ
ツクの(a頼性すなわちエラー箇所検出の(g頼性が向
」二する。
第5の実施例における回路の構成を第15図に示す。
データ置換制御回路3は、パリティチエツク回路20と
アドレス制御回路21とエラー訂正制御回路23とパリ
ティチェックビット専用のエラー訂正制御回路25とか
ら構成される。パリティチエツクピッt”がエラー訂正
制御回路25により訂1Fされたのちの動作は、実施例
4と同様である。
アドレス制御回路21とエラー訂正制御回路23とパリ
ティチェックビット専用のエラー訂正制御回路25とか
ら構成される。パリティチエツクピッt”がエラー訂正
制御回路25により訂1Fされたのちの動作は、実施例
4と同様である。
以上の動作を第28図を用いて説明する。エラー訂正制
御回路23によりエラー訂正不能信号23Dが出力され
た時のみ、パリティチエツク回路S)、O,アドレス制
御回路21およびパリティチェックビット用エラー訂正
制御回路25が勃起ぎれる。パリティチェックビット用
エラー、訂正制御回路25では、まず、入7’Jデータ
のう5、パリティチェックビット18あるいは19とパ
リティチエツクピント用ECC24を、パリティ部取出
し回路25Aにより取出す。そのパリティ部のみのエラ
ーは、シンドローム生成回路25B、エラーアドレス計
算回路25Cおよびエラー訂正回路25Dにより訂正し
、訂正後パリティチェックビット25Eを得る。このパ
リテイチェックビットを用いてパリティチエツク回路2
0でパリティチエツクを行なう。従って本実施例では、
パリテイチェックビットに、ある程度のエラーがあって
も、訂正してしまうので、よl]正しいデータ置換が行
なえる。
御回路23によりエラー訂正不能信号23Dが出力され
た時のみ、パリティチエツク回路S)、O,アドレス制
御回路21およびパリティチェックビット用エラー訂正
制御回路25が勃起ぎれる。パリティチェックビット用
エラー、訂正制御回路25では、まず、入7’Jデータ
のう5、パリティチェックビット18あるいは19とパ
リティチエツクピント用ECC24を、パリティ部取出
し回路25Aにより取出す。そのパリティ部のみのエラ
ーは、シンドローム生成回路25B、エラーアドレス計
算回路25Cおよびエラー訂正回路25Dにより訂正し
、訂正後パリティチェックビット25Eを得る。このパ
リテイチェックビットを用いてパリティチエツク回路2
0でパリティチエツクを行なう。従って本実施例では、
パリテイチェックビットに、ある程度のエラーがあって
も、訂正してしまうので、よl]正しいデータ置換が行
なえる。
次に、第6の実施例を第16図に示4゜第6の実施例は
、従来のFCCの代わりにエラー訂正不可能な場合でも
エラー箇所の特定が可能なECC50を用いることに特
徴がある。この場合、パリテイチェックビットは不要と
なる。ここで使用するFCCとしては、数ビットのセル
をm位として二つ−の訂正や検出を行うことの可能なF
CCであもことが必ig ζ、j−3る。また、二、
ラー訂正能力はそれほど高くなくても、エラー検出能力
が高いことが望ましい。すなわち、M箇所のエラーを訂
正可能で、N箇所のエラーを検出可能なECCとすると
、Nが大きいことが望ましい。
、従来のFCCの代わりにエラー訂正不可能な場合でも
エラー箇所の特定が可能なECC50を用いることに特
徴がある。この場合、パリテイチェックビットは不要と
なる。ここで使用するFCCとしては、数ビットのセル
をm位として二つ−の訂正や検出を行うことの可能なF
CCであもことが必ig ζ、j−3る。また、二、
ラー訂正能力はそれほど高くなくても、エラー検出能力
が高いことが望ましい。すなわち、M箇所のエラーを訂
正可能で、N箇所のエラーを検出可能なECCとすると
、Nが大きいことが望ましい。
第6図の実施例における回路の構成を第17図に示す。
データ置換制御回路3は、アドレス制御回路21とエラ
ー訂正制御回路23とから構成される。
ー訂正制御回路23とから構成される。
エラー訂正制御回路23によりエラー箇所の特定が可能
なため直接その情報をアドレス制御回路21に送ること
ができる。
なため直接その情報をアドレス制御回路21に送ること
ができる。
以上の動作を第29図を用いて説明する。まず、シンド
ローム23Aとエラーアドレス計算回路23Bとにより
どこにエラーがあったかを求める。
ローム23Aとエラーアドレス計算回路23Bとにより
どこにエラーがあったかを求める。
本実施例で用いるFCCは、エラー訂正不可能な場合で
もエラー箇所の検出が可能なため、エラーアドレスが特
定できる。従ってこのエラーセルアドレス23Fを直接
にアドレス制御回路21のエラーセルアドレスメモリ2
1Bへ入力してやれば、データの置換が可能となる。こ
こで使用するECC50は、エラー訂正および検出の対
象が、数ビットをひとまとめにしたセル単位に行なうた
め、エラーアドレスもセル単位になるので、上記のよう
に直接エラーセルアドレスメモリ21Bへ入力できる。
もエラー箇所の検出が可能なため、エラーアドレスが特
定できる。従ってこのエラーセルアドレス23Fを直接
にアドレス制御回路21のエラーセルアドレスメモリ2
1Bへ入力してやれば、データの置換が可能となる。こ
こで使用するECC50は、エラー訂正および検出の対
象が、数ビットをひとまとめにしたセル単位に行なうた
め、エラーアドレスもセル単位になるので、上記のよう
に直接エラーセルアドレスメモリ21Bへ入力できる。
次に、第7図の実施例を第18図および第19図に示す
。
。
第7の実施例は、従来のFCCを分割し小さな範囲のみ
を訂正の対象としたECC5Lおよびその集合のECC
32を持つデータフォーマットを特徴とする。この場合
、ECC31の長さは従来のECC22よりも短くてす
む。
を訂正の対象としたECC5Lおよびその集合のECC
32を持つデータフォーマットを特徴とする。この場合
、ECC31の長さは従来のECC22よりも短くてす
む。
第7の実施例における回路の構成は第6の実施例と同様
である。
である。
本発明によれば再生データの中のエラー箇所を特定でき
、正しいデータに置換することが可能となり、従来技術
では正しく復元できなかった場合でも正しくデータの再
生が可能となる。従って、データの信頼性が向上し、ま
たリトライ回数を減少することができスループット向上
にも効果がある。
、正しいデータに置換することが可能となり、従来技術
では正しく復元できなかった場合でも正しくデータの再
生が可能となる。従って、データの信頼性が向上し、ま
たリトライ回数を減少することができスループット向上
にも効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は本発
明の原理図、第3図及び第4図は本発明に適用可能な磁
気ヘットの配置図、第5図及び第6図は本発明の異なる
実施例を示す構成図、第7図及び第8図は本発明の一実
施例を説明するためのデータの概念図、第9図は本発明
の一実施例の回路図、第10図及び第11図は本発明の
一実施例を説明するためのデータの概念図、第12図は
本発明の一実施例の回路図、第13図及び第14図は本
発明の一実施例を説明するためのデータの概念図、第1
5図は本発明の一実施例の回路図、第16図は本発明の
一実施例を説明するためのデータの概念図、第17図は
本発明の一実施例の回路図、第18図及び第19図は本
゛斉明の一実施例を説明するためのデータの概念図、第
20図及び第21図は従来技術の説明図、第22図は本
発明の一実施例の説明のためのデータフォーマット第2
3図は本発明の一実施例の回路を詳細に示す図、第24
図は本発明の一実施例の説明のためのタイムチャート、
第25図は本発明の一実施例の回路図、第26図は本発
明の一実施例のためのデータ概念図、第27図〜第29
図は本発明の一実施例のブロック回路図。 符号の説明 3・・・データ置換制御回路 8.15・・・レジスタ 9.10・・・スイッチ 20・・・パリティチエツク回路 21・・・アドレス制御回路 23・・・エラー訂正制御回路。 2 エラー之+んr、デー7 J テゾ1按ル用回イ( エフ− 私瓦へ・ド ・ρ/壬尤−シ凡ム歓乃 )az ごミ豐\ファイ、ン釈とン下りデlノI3 ラ
・−クルクチ11回ゴ4に 積り図 づル/ −0【ノVη1−/<ル1フ1 居2薗 λθ パリラζケエ・ツク回外 ノi、ノデバリモξヶ
巧7ビツト2/ アシレス譲j労ロシ( 第ダ図 ζ2 垢1図 /、/ダbシヌク /J)4 /X A 城/ρ図 コ朽 ノ/ 匹a 第72図 、)、) (CC 231ラー釘正ヤ1151司シ4 よi ノJ 図 252濱ゴ騙霜 予ツタ圀 ■Za回 福2/回 3〕 \刀テ′−ノ 葛/2扁 ネ ・7臣 グ ツρ セル4 / 慴 膚 第2φ口 r!:軒回話衣刀 スイ7セノρ入カ ー−「二一一ロコー 匹F=匪ヨ=ゴロ工 第21口 、l乏す メ(+1 (:〕Lガウ〉! 連射1箔云η 一=]■■7エ王 []フゴゴ=■=I 「−コ ニー] (ソLライノ 第 2り 図 不 回 ネ 2? 旧 第 2ゾ ロ
明の原理図、第3図及び第4図は本発明に適用可能な磁
気ヘットの配置図、第5図及び第6図は本発明の異なる
実施例を示す構成図、第7図及び第8図は本発明の一実
施例を説明するためのデータの概念図、第9図は本発明
の一実施例の回路図、第10図及び第11図は本発明の
一実施例を説明するためのデータの概念図、第12図は
本発明の一実施例の回路図、第13図及び第14図は本
発明の一実施例を説明するためのデータの概念図、第1
5図は本発明の一実施例の回路図、第16図は本発明の
一実施例を説明するためのデータの概念図、第17図は
本発明の一実施例の回路図、第18図及び第19図は本
゛斉明の一実施例を説明するためのデータの概念図、第
20図及び第21図は従来技術の説明図、第22図は本
発明の一実施例の説明のためのデータフォーマット第2
3図は本発明の一実施例の回路を詳細に示す図、第24
図は本発明の一実施例の説明のためのタイムチャート、
第25図は本発明の一実施例の回路図、第26図は本発
明の一実施例のためのデータ概念図、第27図〜第29
図は本発明の一実施例のブロック回路図。 符号の説明 3・・・データ置換制御回路 8.15・・・レジスタ 9.10・・・スイッチ 20・・・パリティチエツク回路 21・・・アドレス制御回路 23・・・エラー訂正制御回路。 2 エラー之+んr、デー7 J テゾ1按ル用回イ( エフ− 私瓦へ・ド ・ρ/壬尤−シ凡ム歓乃 )az ごミ豐\ファイ、ン釈とン下りデlノI3 ラ
・−クルクチ11回ゴ4に 積り図 づル/ −0【ノVη1−/<ル1フ1 居2薗 λθ パリラζケエ・ツク回外 ノi、ノデバリモξヶ
巧7ビツト2/ アシレス譲j労ロシ( 第ダ図 ζ2 垢1図 /、/ダbシヌク /J)4 /X A 城/ρ図 コ朽 ノ/ 匹a 第72図 、)、) (CC 231ラー釘正ヤ1151司シ4 よi ノJ 図 252濱ゴ騙霜 予ツタ圀 ■Za回 福2/回 3〕 \刀テ′−ノ 葛/2扁 ネ ・7臣 グ ツρ セル4 / 慴 膚 第2φ口 r!:軒回話衣刀 スイ7セノρ入カ ー−「二一一ロコー 匹F=匪ヨ=ゴロ工 第21口 、l乏す メ(+1 (:〕Lガウ〉! 連射1箔云η 一=]■■7エ王 []フゴゴ=■=I 「−コ ニー] (ソLライノ 第 2り 図 不 回 ネ 2? 旧 第 2ゾ ロ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ディジタルデータの誤りを訂正する方法において、
同一の情報源に対しそれぞれ再生した二つ以上のデータ
について、データの中の複数のエラー箇所がどこにあっ
たかを特定し、上記エラー箇所を記憶し、上記データの
うち一方のデータの複数のエラー箇所を、他方のデータ
の中で上記エラー箇所と同一箇所の正しいデータに置き
換えることを特徴とする誤り訂正方法。 2、特許請求の範囲第1項の方法において、少なくとも
1つのレジスタを用いて、データを格納することを特徴
とする誤り訂正方法。 3、特許請求の範囲第2項の方法において、パリテイチ
ェックビットを持ったデータフォーマットを用いること
を特徴とする誤り訂正方法。 4、特許請求の範囲第2項の方法において、パリテイチ
ェックビットおよび誤り訂正符号を持ったデータフォー
マットを用いることを特徴とする誤り訂正方法。 5、特許請求の範囲第4項の方法において、パリティチ
ェックビット専用の誤り訂正符号を持ったデータフォー
マットを用いることを特徴とする誤り訂正方法。 6、特許請求の範囲第2項の方法において、エラー訂正
不可能な場合でもエラー箇所の特定が可能な誤り訂正符
号を用いることを特徴とする誤り訂正方法。 7、特許請求の範囲第2項の方法において、1レコード
のデータの一部分のデータを誤り訂正する誤り訂正符号
を複数用いることを特徴とする誤り訂正方法。 8、ディジタルデータの誤り訂正する回路において、同
一の情報源に対しそれぞれ再生した二つ以上のデータに
ついて、データの中の複数のエラー箇所がどこにあった
かを特定する回路を持ち、上記エラー箇所を記憶する回
路を持ち、上記データのうち一方のデータの複数のエラ
ー箇所を、他方のデータの中で上記エラー箇所と同一箇
所の正しいデータに置き換える手段を有することを特徴
とする誤り訂正回路。 9、特許請求の範囲第8項のものにおいて、データを格
納するためのレジスタを少なくとも一つ持つことを特徴
とする誤り訂正回路。 10、特許請求の範囲第9項のものにおいて、パリテイ
チェックビットを持ったデータフォーマットを用いるこ
とを特徴とする誤り訂正回路。 11、特許請求の範囲第9項のものにおいて、パリテイ
チェックビットおよび誤り訂正符号を持ったデータフォ
ーマツトを用いることを特徴とする誤り訂正回路。 12、特許請求の範囲第11項のものにおいて、パリテ
イチェックビット専用の誤り訂正符号を持ったデータフ
ォーマットを用いることを特徴とする誤り訂正回路。 13、特許請求の範囲第9項のものにおいて、エラー訂
正不可能な場合でもエラー箇所の特定が可能な誤り訂正
符号を用いることを特徴とする誤り訂正回路。 14、特許請求の範囲第9項のものにおいて、1レコー
ドのデータの一部分のデータを誤り訂正する誤り訂正符
号を複数用いることを特徴とする誤り訂正回路。 15、特許請求の範囲第1項の方法において、データの
エラー箇所を、再読み込みした正しいデータに置換する
ことを特徴とする誤り訂正方法。 16、特許請求の範囲第15項方法において、データを
格納するためのレジスタを少なくとも一つ持つことを特
徴とする誤り訂正方法。 17、特許請求の範囲第16項の方法において、パリテ
イチェックビットを持ったデータフォーマットを用いる
ことを特徴とする誤り訂正方法。 18、特許請求の範囲第16項の方法において、パリテ
イチェックビットおよび誤り訂正符号を持ったデータフ
ォーマットを用いることを特徴とする誤り訂正方法。 19、特許請求の範囲第18項の方法において、パリテ
イチェックビット専用の誤り訂正符号を持ったデータフ
ォーマットを用いることを特徴とする誤り訂正方法。 20、特許請求の範囲第16項の方法において、エラー
訂正不可能な場合でもエラー箇所の特定が可能な誤り訂
正符号を用いることを特徴とする誤り訂正符号を用いる
ことを特徴とする誤り訂正方法。 21、特許請求の範囲第16項の方法において、1レコ
ードのデータの一部分のデータを誤り訂正する誤り訂正
符号を複数用いることを特徴とする誤り訂正方法。 22、特許特許の範囲第8項のものにおいて、データの
エラー箇所を、再読み込みした正しいデータに置換する
回路を有することを特徴とする誤り訂正回路。 23、特許請求の範囲第22項のものにおいて、データ
を格納するためのレジスタを少なくとも一つ持つことを
特徴とする誤り訂正回路。 24、特許請求の範囲第23項のものにおいて、パリテ
ィチェックビットを持ったデータフォーマットを用いる
ことを特徴とする誤り訂正回路。 25、特許請求の範囲第23項のものにおいて、パリテ
イチェックビットおよび誤り訂正符号を持ったデータフ
ォーマットを用いることを特徴とする誤り訂正回路。 26、特許請求の範囲第25項のものにおいて、パリテ
イチェックビット専用の誤り訂正符号を持ったデータフ
ォーマットを用いることを特徴とする誤り訂正回路。 27、特許請求の範囲第23項のものにおいて、エラー
訂正不可能な場合でもエラー箇所の特定が可能な誤り訂
正符号を用いることを特徴とする誤り訂正回路。 28、特許請求の範囲第23項のものにおいて、1レコ
ードのデータの一部分のデータを誤り訂正する誤り訂正
符号を複数用いることを特徴とする誤り訂正回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63240979A JPH0290816A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 誤り訂正方法および回路 |
US07/412,514 US5325364A (en) | 1988-09-28 | 1989-09-26 | Method for error correction and circuit for realizing same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63240979A JPH0290816A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 誤り訂正方法および回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0290816A true JPH0290816A (ja) | 1990-03-30 |
Family
ID=17067511
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63240979A Pending JPH0290816A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 誤り訂正方法および回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5325364A (ja) |
JP (1) | JPH0290816A (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR100264631B1 (ko) * | 1995-06-29 | 2000-10-02 | 포만 제프리 엘 | 신호 기록 재생 장치 및 에러 회복 처리 실행 순서 변경 방법 |
US6683854B1 (en) * | 1998-03-20 | 2004-01-27 | International Business Machines Corporation | System for checking data integrity in a high speed packet switching network node |
JPH11339405A (ja) * | 1998-05-27 | 1999-12-10 | Sony Corp | ディジタル記録再生装置 |
US7506226B2 (en) * | 2006-05-23 | 2009-03-17 | Micron Technology, Inc. | System and method for more efficiently using error correction codes to facilitate memory device testing |
KR20090087077A (ko) * | 2006-11-21 | 2009-08-14 | 프리스케일 세미컨덕터, 인크. | Ecc-유닛 및 부가 프로세싱 장치를 갖는 메모리 시스템 |
KR20130136341A (ko) * | 2012-06-04 | 2013-12-12 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 그 동작 방법 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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NL8300961A (nl) * | 1983-03-17 | 1984-10-16 | Philips Nv | Werkwijze voor het opslaan op en weergeven van een optisch uitleesbare registratiedrager, registratiedrager voor toepassing in de werkwijze en inrichtingen voor toepassing in de werkwijze. |
JPS6170637A (ja) * | 1984-09-11 | 1986-04-11 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 多数決によるエラ−検出訂正方法 |
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JPH01252037A (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-06 | Toshiba Corp | 伝送誤り修正方式 |
JPH0746322B2 (ja) * | 1988-05-23 | 1995-05-17 | 日本電気株式会社 | 障害装置特定システム |
-
1988
- 1988-09-28 JP JP63240979A patent/JPH0290816A/ja active Pending
-
1989
- 1989-09-26 US US07/412,514 patent/US5325364A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPS62161220A (ja) * | 1986-01-10 | 1987-07-17 | Sony Corp | 積符号の復号装置 |
JPS6390074A (ja) * | 1986-10-03 | 1988-04-20 | Hitachi Ltd | デイスク装置制御方式 |
JPS6442075A (en) * | 1987-08-10 | 1989-02-14 | Mitsubishi Electric Corp | Disk reproducing device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5325364A (en) | 1994-06-28 |
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