JPH0290009A - ヘリックスピッチ測定装置 - Google Patents
ヘリックスピッチ測定装置Info
- Publication number
- JPH0290009A JPH0290009A JP24365088A JP24365088A JPH0290009A JP H0290009 A JPH0290009 A JP H0290009A JP 24365088 A JP24365088 A JP 24365088A JP 24365088 A JP24365088 A JP 24365088A JP H0290009 A JPH0290009 A JP H0290009A
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- JP
- Japan
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- helix
- block
- pitch
- parallel light
- light
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- Pending
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は画像処理による寸法測定装置に関する。
従来、この種のヘリックスピッチ測定は、第２図に示す
ように光ｇ４からハーフミラ−７を介してヘリックス２
に照射しその反射光を受光索子６にて検出し、この位置
をヘリックス２の中心とし、ピッチを測定する方法や、
第３図のようにヘリックス２の下方にガラステージ８及
び鏡面９を設け。
ように光ｇ４からハーフミラ−７を介してヘリックス２
に照射しその反射光を受光索子６にて検出し、この位置
をヘリックス２の中心とし、ピッチを測定する方法や、
第３図のようにヘリックス２の下方にガラステージ８及
び鏡面９を設け。
反射照明によりヘリックス２の上側像のエツジをカメラ
５にて検出し、画像処理によって中心を出すピッチ測定
方法がある。
５にて検出し、画像処理によって中心を出すピッチ測定
方法がある。
前述した従来のへリックスからの反射光による測定方法
では、反射光が弱く、かつヘリックスがテープ状の場合
にはへリックス材の表面の凹凸によりエツジ部分の反射
光が検出されたりして精度の高い測定は困難である。ま
た、ヘリックスの下部に鏡面を設ける反射照明ではへリ
ックスを固定する方法として、第４図のような側方の固
定治具１０、１１による固定方法が考えられるが、ヘリ
ックスの外周が異なる場合、その都度セツティングを行
い、センタ出しをしなければならないという欠点がある
。
では、反射光が弱く、かつヘリックスがテープ状の場合
にはへリックス材の表面の凹凸によりエツジ部分の反射
光が検出されたりして精度の高い測定は困難である。ま
た、ヘリックスの下部に鏡面を設ける反射照明ではへリ
ックスを固定する方法として、第４図のような側方の固
定治具１０、１１による固定方法が考えられるが、ヘリ
ックスの外周が異なる場合、その都度セツティングを行
い、センタ出しをしなければならないという欠点がある
。
本発明の目的は前記課題を解決したヘリックスピッチ測
定装置を提供することにある。
定装置を提供することにある。
上述した従来のヘリックスピッチ測定装置に対し１本発
明は外周の異なる種々のへリックスを容易にセツティン
グし、かつ、透過照明を用いることにより、ヘリックス
の像を鮮明に検出できるという相違点を有する。
明は外周の異なる種々のへリックスを容易にセツティン
グし、かつ、透過照明を用いることにより、ヘリックス
の像を鮮明に検出できるという相違点を有する。
前記目的を達成するため、本発明は透過照明を用い、ヘ
リックスの像を画像処理により検出するヘリックスピッ
チ測定装置において、上面にヘリックスを受け入れてそ
の位置出しを行うＶ字状口部を有し、下面に照射された
平行光を上方に透過させる透過性Ｖブロックを装備した
ものである。
リックスの像を画像処理により検出するヘリックスピッ
チ測定装置において、上面にヘリックスを受け入れてそ
の位置出しを行うＶ字状口部を有し、下面に照射された
平行光を上方に透過させる透過性Ｖブロックを装備した
ものである。
以下１本発明の一実施例を図により説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す構成図である。
図において１本発明は、上面にヘリックス２を受け入れ
てその位置出しを行うＶ字状臼部１ａを備えた光透過性
Ｖブロック１と、■ブロック１の底部に平行光を照射す
る光源４と、■ブロック１にて位置出しされたヘリック
ス２の像を検出するカメラ５とを有する。■ブロック１
はガラス製であり、ヘリックス２のセンタを出すＶ字状
臼部１ａの底面１ｂとＶブロック１の外面をなす底面１
ｃとは平行に形成してあり、これらの凹部１ａ及び底面
１ｃによりガラス製Ｖブロック１は下方がらの垂直上方
の平行光３が媒質の境において屈折しても垂直上方に透
過可能に構成しである。
てその位置出しを行うＶ字状臼部１ａを備えた光透過性
Ｖブロック１と、■ブロック１の底部に平行光を照射す
る光源４と、■ブロック１にて位置出しされたヘリック
ス２の像を検出するカメラ５とを有する。■ブロック１
はガラス製であり、ヘリックス２のセンタを出すＶ字状
臼部１ａの底面１ｂとＶブロック１の外面をなす底面１
ｃとは平行に形成してあり、これらの凹部１ａ及び底面
１ｃによりガラス製Ｖブロック１は下方がらの垂直上方
の平行光３が媒質の境において屈折しても垂直上方に透
過可能に構成しである。
この媒質の境において、 ｎ、ｓｉｎθ＝ｎ、ｓｉｎ
Ｄ ’で計算される角度で屈折が起こり、これに伴い反
射が起こるが、この凹部１ａ及び底面１ｃをｎ２／ｎ１
ｔａｎθに示されるブルースター角にすることにより１
反射を最小限に押え効果的に平行光を透過することも考
えられる。このときの各定数は入射のときはｎｌが空気
の屈折率（約１．０）、 ｎ、がガラスの屈折率（約Ｌ
５）； θが入射角、θ′が屈折角である。凹部１ａ
の透過のときは屈折率が逆になる。光源４は平行光３を
ヘリックス２に与え、カメラ５はこのへリックス２の像
よりエツジを検出してピッチを測定するためのポイント
とすることができる。
Ｄ ’で計算される角度で屈折が起こり、これに伴い反
射が起こるが、この凹部１ａ及び底面１ｃをｎ２／ｎ１
ｔａｎθに示されるブルースター角にすることにより１
反射を最小限に押え効果的に平行光を透過することも考
えられる。このときの各定数は入射のときはｎｌが空気
の屈折率（約１．０）、 ｎ、がガラスの屈折率（約Ｌ
５）； θが入射角、θ′が屈折角である。凹部１ａ
の透過のときは屈折率が逆になる。光源４は平行光３を
ヘリックス２に与え、カメラ５はこのへリックス２の像
よりエツジを検出してピッチを測定するためのポイント
とすることができる。
以上説明したように本発明はへリックスのセンタ出しを
容易にし、かつ垂直上方の透過照明にょる画像処理がで
きるという効果がある。
容易にし、かつ垂直上方の透過照明にょる画像処理がで
きるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示す断面図、第２図は従来
の反射光による検出方式を示す図、第３図は従来の反射
照明による画像検出方式を示す図、第４図は従来の反射
照明時のへリックス固定構造を示す断面図である。 １・・・ガラス製ｖブロック ２・・・ヘリックス３
・・・平行光 ４・・・平行光の光源５
・・・カメラ
の反射光による検出方式を示す図、第３図は従来の反射
照明による画像検出方式を示す図、第４図は従来の反射
照明時のへリックス固定構造を示す断面図である。 １・・・ガラス製ｖブロック ２・・・ヘリックス３
・・・平行光 ４・・・平行光の光源５
・・・カメラ
Claims (1)
- （１）透過照明を用い、ヘリックスの像を画像処理によ
り検出するヘリックスピッチ測定装置において、上面に
ヘリックスを受け入れてその位置出しを行うＶ字状凹部
を有し、下面に照射された平行光を上方に透過させる透
過性Ｖブロックを装備したことを特徴とするヘリックス
ピッチ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24365088A JPH0290009A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | ヘリックスピッチ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24365088A JPH0290009A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | ヘリックスピッチ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0290009A true JPH0290009A (ja) | 1990-03-29 |
Family
ID=17106974
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24365088A Pending JPH0290009A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | ヘリックスピッチ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0290009A (ja) |
-
1988
- 1988-09-28 JP JP24365088A patent/JPH0290009A/ja active Pending
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