JPS60227147A - 光フアイバ端面検査装置 - Google Patents
光フアイバ端面検査装置Info
- Publication number
- JPS60227147A JPS60227147A JP8529884A JP8529884A JPS60227147A JP S60227147 A JPS60227147 A JP S60227147A JP 8529884 A JP8529884 A JP 8529884A JP 8529884 A JP8529884 A JP 8529884A JP S60227147 A JPS60227147 A JP S60227147A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- end surface
- light
- face
- emitting element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は光フアイバ端面の処理状態を検査する装置に関
する。
する。
一般に光ファイバは、その端面を研磨あるいは熱等によ
り処理し、鏡面あるいは鏡面に近い端面を得る。従来、
この端面の処理状態の検査は、顕微鏡あるいは拡大鏡を
用いた目視観察により行なっていた。この場合、端面の
処理状態の良否判断の規準を定量的に行なうことができ
ないという欠点があった。
り処理し、鏡面あるいは鏡面に近い端面を得る。従来、
この端面の処理状態の検査は、顕微鏡あるいは拡大鏡を
用いた目視観察により行なっていた。この場合、端面の
処理状態の良否判断の規準を定量的に行なうことができ
ないという欠点があった。
本発明は上記の点を改善するために成したものであって
、その目的とするとこうは、光ファイバの端面処理状態
を、容易に且つ精度良く検査できる光フアイバ端面検査
装置を提供することにある。
、その目的とするとこうは、光ファイバの端面処理状態
を、容易に且つ精度良く検査できる光フアイバ端面検査
装置を提供することにある。
本発明の動作原理を第1図及び第2図により説明する。
光ファイバ1の軸上にある発光素子2から出射された光
3は、端面1aで反射され、受光素子4で上記反射光を
検出する。ここで上記端面1aが鏡面に近い状態に処理
されている場合は、上記反射光は図中実線で示す反射光
5となるが、端面1aにクラックや凹凸がおる場合は、
散乱により図中点線で示すように、広がったり、偏った
りした反射光5′となる。本発明では、上記反射光5.
5′の放射分布を検出できるような受光素子4を用い、
上記受光素子4の出力により、光7フイバ1の端面1a
の処理状態を定量的に検査する。また第2図のように、
端面1aが光7アイパ1の軸に対して垂直でない場合は
1反射光5″は偏光するので、その偏光量を受光素子4
により検出すれば、上記端面1aの傾斜の検出ができる
。
3は、端面1aで反射され、受光素子4で上記反射光を
検出する。ここで上記端面1aが鏡面に近い状態に処理
されている場合は、上記反射光は図中実線で示す反射光
5となるが、端面1aにクラックや凹凸がおる場合は、
散乱により図中点線で示すように、広がったり、偏った
りした反射光5′となる。本発明では、上記反射光5.
5′の放射分布を検出できるような受光素子4を用い、
上記受光素子4の出力により、光7フイバ1の端面1a
の処理状態を定量的に検査する。また第2図のように、
端面1aが光7アイパ1の軸に対して垂直でない場合は
1反射光5″は偏光するので、その偏光量を受光素子4
により検出すれば、上記端面1aの傾斜の検出ができる
。
本発明の一実施例を第3図により説明する。光ファイバ
1は光フアイバ保持具6により、発光素子2や受光素子
4に対して垂直に固定される。発光素子2は受光素子4
の中央部に設置され、受光素子4としては、第3図に示
した扇形の分割形フォトダイオードアレイや、第4図1
alに示した一次元検出可能な位置検出素子PSDの組
み合わせたものや、第4図(6)の同心円形7會トダイ
オードアレイ等を用いる。受光素子4からの信号は、信
号線7を通し、信号処理部8へ伝送され、定量的なテー
クへと処理される。
1は光フアイバ保持具6により、発光素子2や受光素子
4に対して垂直に固定される。発光素子2は受光素子4
の中央部に設置され、受光素子4としては、第3図に示
した扇形の分割形フォトダイオードアレイや、第4図1
alに示した一次元検出可能な位置検出素子PSDの組
み合わせたものや、第4図(6)の同心円形7會トダイ
オードアレイ等を用いる。受光素子4からの信号は、信
号線7を通し、信号処理部8へ伝送され、定量的なテー
クへと処理される。
上記のように本発明によれば、光ファイバの端面処理状
態を、発光素子から発せられた光の上記端面での反射光
の放射分布を受光素子を用いて把握することにより、容
易に、しかも精度良く検査できると共に、端面状態の検
査に上記反射光を利用しているので、発光素子からの光
を、光フアイバ内を通過させる必要がなく、敷設した状
態の光ファイバの端面状態の検査等も容易に行なえるよ
うな光ファイバ端面検査装置番提供できた。
態を、発光素子から発せられた光の上記端面での反射光
の放射分布を受光素子を用いて把握することにより、容
易に、しかも精度良く検査できると共に、端面状態の検
査に上記反射光を利用しているので、発光素子からの光
を、光フアイバ内を通過させる必要がなく、敷設した状
態の光ファイバの端面状態の検査等も容易に行なえるよ
うな光ファイバ端面検査装置番提供できた。
第1図、第2図は本発明の動作原理を示す断面図、第3
図は本発明の一実施例を示す斜視図、第4図は本発明に
係る受光素子の平面図である。 1・・・光ファイバ、2・・・発光素子、4・・・受光
素子、5・・・反射光、6・・・光フアイバ保持具、8
・・・信号処理部。 特許出願人 松下電工株式会社 代理人弁理士 竹 元 敏 九 (ほか2名) 第1図 第3図
図は本発明の一実施例を示す斜視図、第4図は本発明に
係る受光素子の平面図である。 1・・・光ファイバ、2・・・発光素子、4・・・受光
素子、5・・・反射光、6・・・光フアイバ保持具、8
・・・信号処理部。 特許出願人 松下電工株式会社 代理人弁理士 竹 元 敏 九 (ほか2名) 第1図 第3図
Claims (1)
- (1)被検査光ファイバ端面に光を照射する発光素子と
、上記端面からの反射光の放射分布を検出する受光素子
と、上記端面を、光ファイバの光軸が上記発光素子及び
受光素子と垂直な位置に固定する光フアイバ保持具と、
上記反射光の放射分布により、上記光フアイバ端面の処
理状態を判断する信号処理部とより成る光フアイバ端面
検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8529884A JPS60227147A (ja) | 1984-04-25 | 1984-04-25 | 光フアイバ端面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8529884A JPS60227147A (ja) | 1984-04-25 | 1984-04-25 | 光フアイバ端面検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60227147A true JPS60227147A (ja) | 1985-11-12 |
Family
ID=13854679
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8529884A Pending JPS60227147A (ja) | 1984-04-25 | 1984-04-25 | 光フアイバ端面検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60227147A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5200794A (en) * | 1989-08-11 | 1993-04-06 | Nhk Spring Co., Ltd. | Optical head for an optical authenticity identifing system |
-
1984
- 1984-04-25 JP JP8529884A patent/JPS60227147A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5200794A (en) * | 1989-08-11 | 1993-04-06 | Nhk Spring Co., Ltd. | Optical head for an optical authenticity identifing system |
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