SU1456794A1 - Способ формировани светового п тна на образце при измерении индикатрис рассе ни на гониофотометре - Google Patents

Способ формировани светового п тна на образце при измерении индикатрис рассе ни на гониофотометре Download PDF

Info

Publication number
SU1456794A1
SU1456794A1 SU843791215A SU3791215A SU1456794A1 SU 1456794 A1 SU1456794 A1 SU 1456794A1 SU 843791215 A SU843791215 A SU 843791215A SU 3791215 A SU3791215 A SU 3791215A SU 1456794 A1 SU1456794 A1 SU 1456794A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
light beam
light spot
angle
goniophotometer
Prior art date
Application number
SU843791215A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Тихонович Крылов
Римма Борисовна Воронова
Original Assignee
В).Т.Крылов и Р.Б.Воронова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В).Т.Крылов и Р.Б.Воронова filed Critical В).Т.Крылов и Р.Б.Воронова
Priority to SU843791215A priority Critical patent/SU1456794A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1456794A1 publication Critical patent/SU1456794A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к оптико электрическому приборостроению, преимущественно к устройствам, позвол ющим замер ть зоны рассе ни  отраженного светового пучка образцами (индикатрисы рассе ни ), и может быть использовано в гониофотометрах, а также при подсветке исследуемых объектов микроскопом.
Целью изобретени   вл етс  сохранение посто нства по площади и форме светового п тна на образце при изменении угла падени  светового пучка на образецi
На фиг. 1 и 2 представлена схема устройства и горизонтальный разрез по оси прохождени  светового пучка при двух углах падени  светового пучка; на фиг. 3 - разрез А-Анафиг. 2.
Способ осу1цествл етс  следующим образом.
Включают осветитель и пропускают через стабилизирующую оптическую систему (не показаны) световой пучок 1 тубуса 2 проецировани , который жест- ко св зан со стаканом 3. Сменна  полева  диафрагма 4 установлена на корпусе 5, который через подшипник 6 помещен внутрь стакана 3. Часть светового пучка 1 вырезают и направл ют на образец 7, укрепленный на предметном столике 8, который через подшипник 9 размещен в корпусе устройства 10. На образце 7 получают посто нное световое п тно. Отраженный световой пучок 1I регистрируют фотоэлектрическим приемником 12. Затем приводом поворачивают в подшипнике 9 предметный столик 8 с образцом 7 на некоторый угол о . При помощи щкива, ременной передачи и второго шкива поворачивают корпус 5 с полевой диафм
U
рагмой 4 на тот же угол (так как диаметры шкивов одинаковы). Поворачива  относительно оси светового пучка 1 полевук) диафрагму 4, как бы мен ют ее раскрытие. Часть светового пучка 1 перекрывают и на образец 7 направл ют Колее узкий световой пучок 1. Это можно описать формулой
X XoCOscC,
где X - раскрытие полевой диафрагмы . 4:
ширина щели полевой диафрагмы 4;
- угол падени  светового пучка на образец.
0
Таким образом, чем больше угол падени  о(, тем меньша  П1ель полевой диафрагмы 4 пропускает световой пучок 1 . Так как полева  диафрагма 4 и образец 7 всегда параллельны, то и световое п тно на образце 7 при любом угле падени  светового пучка 1 всегда посто нно.
12
//
Фиг.1
/ 5
2 4
23
8
Фае. 2
А-А
1 78

Claims (1)

  1. СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ СВЕТОВОГО ПЯТНА НА ОБРАЗЦЕ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ ИНДИКАТРИС РАССЕЯНИЯ на гониофотометре, заключается в том, что направляют световой пучок на образец, изме няют его угол падения и изменяют величину ракрытия полевой диафрагмы, отличающийся тем, что, с целью сохранения постоянства по площади и форме светового пятна на образце, изменение угла падения светового пучка осуществляют синхронным поворотом плоскости образца и плоскости полевой диафрагмы, сориентированных параллельно друг другу, а изменение величины раскрытия полевой диафрагмы выполняют путем поворота полевой диафрагмы в плоскости, перпендикулярной оси светового пучка в пределах прямого угла.
SU843791215A 1984-07-11 1984-07-11 Способ формировани светового п тна на образце при измерении индикатрис рассе ни на гониофотометре SU1456794A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843791215A SU1456794A1 (ru) 1984-07-11 1984-07-11 Способ формировани светового п тна на образце при измерении индикатрис рассе ни на гониофотометре

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843791215A SU1456794A1 (ru) 1984-07-11 1984-07-11 Способ формировани светового п тна на образце при измерении индикатрис рассе ни на гониофотометре

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1456794A1 true SU1456794A1 (ru) 1989-02-07

Family

ID=21138707

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843791215A SU1456794A1 (ru) 1984-07-11 1984-07-11 Способ формировани светового п тна на образце при измерении индикатрис рассе ни на гониофотометре

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1456794A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 252070, кл. G 03 В 9/06, 1969. Оптикомеханическа промьшлен- ность, 1966, с. 28-32. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4022529A (en) Feature extraction system for extracting a predetermined feature from a signal
KR100293126B1 (ko) 검사장치
ES2359968T3 (es) Unidad de detección espectrofotométrica y nefelométrica.
SU961570A3 (ru) Скоростной спектроанализатор
US4645340A (en) Optically reflective sphere for efficient collection of Raman scattered light
US4053229A (en) 2°/90° Laboratory scattering photometer
JPS63200040A (ja) 無接触測定のための拡散反射率測定装置
DE3468979D1 (en) Unit for coupling operational light in an eye examination apparatus
HU206771B (en) Method and arrangement for determining stratification of a sample placed in a rotary centrifuge by optical process and arrangement for sorting sample having stratification formed by centrifuging
KR100425412B1 (ko) 물체의 측광 및 측색 특성을 측정하는 장치
JPS61153546A (ja) 粒子解析装置
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
USRE32598E (en) Feature extraction system for extracting a predetermined feature from a signal
US4124302A (en) Device for photometering a substance placed in a cylinder-shaped cell
US3834821A (en) Multiple photometer assembly
CN212963235U (zh) 一种检测装置
SU1456794A1 (ru) Способ формировани светового п тна на образце при измерении индикатрис рассе ни на гониофотометре
US4640589A (en) Microscope illuminator
JPS5924378B2 (ja) 回転キュベット式の迅速分析装置
JPH04116452A (ja) 顕微赤外atr測定装置
JPH11211990A (ja) 全反射照明型顕微鏡装置および試料ステージ
SU1143992A1 (ru) Двухлучевой микроспектрофотометр
JPS6244649A (ja) 粒子解析装置
SU1122095A1 (ru) Устройство дл измерени размеров и концентрации аэрозольных частиц
JPH051991A (ja) 反射光測定装置用プローブ