JPH0269957A - マスクカセット - Google Patents
マスクカセットInfo
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- JPH0269957A JPH0269957A JP63221270A JP22127088A JPH0269957A JP H0269957 A JPH0269957 A JP H0269957A JP 63221270 A JP63221270 A JP 63221270A JP 22127088 A JP22127088 A JP 22127088A JP H0269957 A JPH0269957 A JP H0269957A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
Landscapes
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Warehouses Or Storage Devices (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、マスクカセットに関し、特にX線を用いて露
光する半導体製造装置に適用して好適なマスクカセット
に関するものである。
光する半導体製造装置に適用して好適なマスクカセット
に関するものである。
[従来の技術]
従来、半導体製造装置(例えば、ステッパおよびアライ
ナ)に使用される転写板(以後「マスク」と呼ぶが「レ
チクル」を含むものとする)は、方形ガラス基板にクロ
ムメツキによるパターンが配されているものであった。
ナ)に使用される転写板(以後「マスク」と呼ぶが「レ
チクル」を含むものとする)は、方形ガラス基板にクロ
ムメツキによるパターンが配されているものであった。
このようなマスク基板を収納する容器(以後「カセット
」と呼ぶ)は2通りに分類される。まず1つはマスクを
直接手動にて半導体製造装置に装着する場合等に用いら
れるもので、使用されるカセットは簡易な樹脂容器で構
成されており、複数枚のマスクを縦に差し込み収納する
よう構成されている。
」と呼ぶ)は2通りに分類される。まず1つはマスクを
直接手動にて半導体製造装置に装着する場合等に用いら
れるもので、使用されるカセットは簡易な樹脂容器で構
成されており、複数枚のマスクを縦に差し込み収納する
よう構成されている。
もう1つは、前記カセットを直接半導体製造装置に装着
する場合等に用いられるもので、マスクはカセットに1
枚のみ寝かせて(横置)収納されている。そして、カセ
ットのフタは半導体製造装置内のカセット開閉機構に連
動し、開閉できるようになフている。かかるカセットは
、例えは特開昭61−130127号に開示されている
ものであり、樹脂容器が用いられている。
する場合等に用いられるもので、マスクはカセットに1
枚のみ寝かせて(横置)収納されている。そして、カセ
ットのフタは半導体製造装置内のカセット開閉機構に連
動し、開閉できるようになフている。かかるカセットは
、例えは特開昭61−130127号に開示されている
ものであり、樹脂容器が用いられている。
第4図に、従来使用されているマスク(レチクル)カセ
ットを示す。
ットを示す。
同図において、CFはカセットフレーム、CMはカセッ
ト本体、RMがマスク(レチクル)を示す。上述した如
く1カセツト内には1マスクしか収納できない。また、
完全密閉容器とはいえない構造をしている。
ト本体、RMがマスク(レチクル)を示す。上述した如
く1カセツト内には1マスクしか収納できない。また、
完全密閉容器とはいえない構造をしている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記従来例では使用されるマスクは方形
ガラス基板であり、また使用環境は大気中であった。と
ころが、X線露光装置に使用されるマスクは従来のマス
クとは異なり、Siウェハ上のSiN薄膜をリング状支
持材で保持した形態もしくはリング状支持材に有機膜を
張った形態であって、金もしくはタングステンなどの金
属によってパターンを切フたものが使用されている。
ガラス基板であり、また使用環境は大気中であった。と
ころが、X線露光装置に使用されるマスクは従来のマス
クとは異なり、Siウェハ上のSiN薄膜をリング状支
持材で保持した形態もしくはリング状支持材に有機膜を
張った形態であって、金もしくはタングステンなどの金
属によってパターンを切フたものが使用されている。
さらに、X線露光装置の露光は(100〜200Tor
r程度の減圧He中で行なわれる。
r程度の減圧He中で行なわれる。
また、X線露光のL/S (ライン・アンド・スペース
)は例えば0/、25μL/Sであるが、等信置光であ
るため従来まて容認されてきたゴミ・チリ等のサイズも
L/Sか縮少されるに伴って縮少され、0.025 μ
径のゴミ・チリ等までが対象となる。
)は例えば0/、25μL/Sであるが、等信置光であ
るため従来まて容認されてきたゴミ・チリ等のサイズも
L/Sか縮少されるに伴って縮少され、0.025 μ
径のゴミ・チリ等までが対象となる。
従って、従来のマスクカセットをX線マスクのカセット
として使用した場合には、以下のような問題点があった
。
として使用した場合には、以下のような問題点があった
。
(1)マスクカセット交換時に、大気中にさらされたと
き、大気中の水蒸気および02により酸化の問題が発生
し、マスクの劣化を引き起こす。
き、大気中の水蒸気および02により酸化の問題が発生
し、マスクの劣化を引き起こす。
(2)X線露光機による露光は前述した如<Heチャン
バ内で行なう。したがって、チャンバ内でカセットのロ
ーディングを行なう必要かある。このとき、1マスク1
カセツトではローディングのたびにチャンバ内にゴミや
チリ等を発生させる可能性がある。
バ内で行なう。したがって、チャンバ内でカセットのロ
ーディングを行なう必要かある。このとき、1マスク1
カセツトではローディングのたびにチャンバ内にゴミや
チリ等を発生させる可能性がある。
(3)保管時におけるゴミやチリ等の前記マスクカセッ
ト内への侵入防止が不完全である。
ト内への侵入防止が不完全である。
本発明の目的は、上述の従来形における問題点に鑑み、
X線露光装置に適用してゴミやチリ等を極力発生させる
ことなく外気を遮断してマスクのローディングを行なう
ことかでき、マスク保管時にも外気を遮断してゴミやチ
リ等の侵入を抑えることのできるマスクカセットを提供
することにある。
X線露光装置に適用してゴミやチリ等を極力発生させる
ことなく外気を遮断してマスクのローディングを行なう
ことかでき、マスク保管時にも外気を遮断してゴミやチ
リ等の侵入を抑えることのできるマスクカセットを提供
することにある。
[課題を解決するための手段]
上記の目的を達成するため、本発明に係るX線露光装置
に使用されるマスクカセットは、以下の構成をしている
。
に使用されるマスクカセットは、以下の構成をしている
。
本発明に係るマスクカセットは、少なくとも1枚以上の
X線マスクを複数枚−括して収納および保持可能なカセ
ット本体部、カセット本体を実質的に密閉するカバー部
および前記カセット本体と前記カバーを密閉時に連結す
るロック機構部の三要素から成る。
X線マスクを複数枚−括して収納および保持可能なカセ
ット本体部、カセット本体を実質的に密閉するカバー部
および前記カセット本体と前記カバーを密閉時に連結す
るロック機構部の三要素から成る。
そして上記に述べた前記カセット本体と前記カバーは、
一方向からのみアクセスでき、その突き当り側にシール
材が配しである。この実質密閉するためのシール材は、
密閉状態において少なくとも外圧に耐えられる設計がな
されている。また、カセット内部のガスの給排等のため
少なくとも1つのパルプがある。
一方向からのみアクセスでき、その突き当り側にシール
材が配しである。この実質密閉するためのシール材は、
密閉状態において少なくとも外圧に耐えられる設計がな
されている。また、カセット内部のガスの給排等のため
少なくとも1つのパルプがある。
[作 用]
上記の構成によれば、実質的に外気と前記カセット内部
とを遮断できる。例えば前記カセット内を非反応ガスで
封じ込めておくことで、内部のマスクは長期保管時にお
いても酸化等のマスク劣化を防ぐことができる。
とを遮断できる。例えば前記カセット内を非反応ガスで
封じ込めておくことで、内部のマスクは長期保管時にお
いても酸化等のマスク劣化を防ぐことができる。
また、複数枚の前記マスクを収納可能であり、カセット
のローディングはX線露光機のチャンバ内で一度しか行
なわない。よってローディングによる発塵の機会も減少
する。
のローディングはX線露光機のチャンバ内で一度しか行
なわない。よってローディングによる発塵の機会も減少
する。
さらに、密閉度が高いので外部からのゴミ・チリ等の侵
入は実質的にない。
入は実質的にない。
[実施例]
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第1図は、本発明の一実施例に係るX線マスクカセット
の外観構成を示す斜視図(一部切り欠き)である。
の外観構成を示す斜視図(一部切り欠き)である。
同図において、CMはカセット本体、Ccはカバーを示
す。カセット本体CMとカバー〇〇との分離は、カセッ
ト本体CMがカバー〇〇の上方へ抜けるか、カバー〇〇
がカセット本体CMの下方に抜けることて行なわれる。
す。カセット本体CMとカバー〇〇との分離は、カセッ
ト本体CMがカバー〇〇の上方へ抜けるか、カバー〇〇
がカセット本体CMの下方に抜けることて行なわれる。
MSはマスクステージ、XMはマスクを示す。
本実施例では、マスクステージMSが放射状に20枚縦
置に配列されており、マスクXMはそれぞれのマスクス
テージMSに1〜20枚まで収納可能である。マスクス
テージMSの配列は放射状に限らず並列でもよい。また
、縦置でも横置でもよい。さらに、配列数は20枚以上
でも以下でもよい。また、本実施例でマスクMSの保持
方法は磁気吸着方式を用いているか、保持方法はメカニ
カル方式でもそれ以外でもよい。
置に配列されており、マスクXMはそれぞれのマスクス
テージMSに1〜20枚まで収納可能である。マスクス
テージMSの配列は放射状に限らず並列でもよい。また
、縦置でも横置でもよい。さらに、配列数は20枚以上
でも以下でもよい。また、本実施例でマスクMSの保持
方法は磁気吸着方式を用いているか、保持方法はメカニ
カル方式でもそれ以外でもよい。
CRはカセットロック機構の納まっている場所を示す。
この詳細な説明は後述する。
Slはカバー〇Cの上部のシール、S2はカバーCCの
下部にあるシールを示す。シールS1およびシールS2
は、第1図の拡大図に示す通り耐外圧仕様となっている
。なお、耐外圧仕様が望ましいのは以下の理由による。
下部にあるシールを示す。シールS1およびシールS2
は、第1図の拡大図に示す通り耐外圧仕様となっている
。なお、耐外圧仕様が望ましいのは以下の理由による。
まずカセット本体CMとカバー〇〇が連結され密閉され
ると、前記カセット内の圧力は決定されてしまう。この
とき、外気圧の方が前記カセット内圧より高い場合には
差圧により外気がカセット内へ侵入しようとするが、耐
外圧設計とされていればカセット内は密閉状態を保つ。
ると、前記カセット内の圧力は決定されてしまう。この
とき、外気圧の方が前記カセット内圧より高い場合には
差圧により外気がカセット内へ侵入しようとするが、耐
外圧設計とされていればカセット内は密閉状態を保つ。
外気圧が前記カセット内圧より低い場合には、差圧によ
りカセット内のガスは外部へ洩れようとする。しかし、
耐外圧設計であれは、若干のガスの外部放出は可能性と
してはあるが、この場合外気が前記カセット内に侵入す
るわけでもなく、またこの流れに伴うゴミ等の移動方向
もマスクXMの保護から言えば問題にならない。したが
って、本実施例はシール向きの設計を耐外圧仕様として
いる。
りカセット内のガスは外部へ洩れようとする。しかし、
耐外圧設計であれは、若干のガスの外部放出は可能性と
してはあるが、この場合外気が前記カセット内に侵入す
るわけでもなく、またこの流れに伴うゴミ等の移動方向
もマスクXMの保護から言えば問題にならない。したが
って、本実施例はシール向きの設計を耐外圧仕様として
いる。
シールSl、S2のシール面は、第1図に示すようにカ
セット本体CMとカバー〇〇とが分離または連結される
方向に面している。したがって、摺動側にはシール面を
配していない。これによりシールSl、S2はシール面
と当たるまで、どの部分ともこすれない。したがって、
発塵を起こさないのである。
セット本体CMとカバー〇〇とが分離または連結される
方向に面している。したがって、摺動側にはシール面を
配していない。これによりシールSl、S2はシール面
と当たるまで、どの部分ともこすれない。したがって、
発塵を起こさないのである。
CMはパージバルブである。本実施例においては、手動
で開閉を行ない、また継手を用いて給排系と接続が可能
である。マスクXMを保管時に交換するときにはカセッ
ト本体CMとカバーCCとを分離するが、これらは交換
終了後にまた連結される。このとき、パージバルブC■
はカセット内部のガスを置換するためにも使用できる。
で開閉を行ない、また継手を用いて給排系と接続が可能
である。マスクXMを保管時に交換するときにはカセッ
ト本体CMとカバーCCとを分離するが、これらは交換
終了後にまた連結される。このとき、パージバルブC■
はカセット内部のガスを置換するためにも使用できる。
第2図は、カセットロック機構CRの詳細な平面図を示
す。第2図は、第1図で示した本実施例のカセット本体
CMを下方から見た図であり、左半分はさらに外装を取
り除いた図である。
す。第2図は、第1図で示した本実施例のカセット本体
CMを下方から見た図であり、左半分はさらに外装を取
り除いた図である。
第2図において、ROはカバー〇Cとカセット本体CM
とを連結するための爪、RIはカセット本体CMとこの
カセット本体CMを載せるテーブル(不図示)とを連結
するための爪である。爪ROはカセット本体とカバーを
連結し密閉状態を維持するためにあるが、ネジ等の他の
手段を用いてもよい。また、R1は本実施例には記載さ
れているが、なくともよい。
とを連結するための爪、RIはカセット本体CMとこの
カセット本体CMを載せるテーブル(不図示)とを連結
するための爪である。爪ROはカセット本体とカバーを
連結し密閉状態を維持するためにあるが、ネジ等の他の
手段を用いてもよい。また、R1は本実施例には記載さ
れているが、なくともよい。
RLは前記爪RO,RIを駆動するレバーである。レバ
ーRLが回転すると、爪RO,RIは、連動してカセッ
ト本体CMから出入する。このとき、ROは第1図で示
すカバーCCの下方の溝に入り込み、カセット本体CM
とカバー〇〇が連結され密閉状態が維持できる。
ーRLが回転すると、爪RO,RIは、連動してカセッ
ト本体CMから出入する。このとき、ROは第1図で示
すカバーCCの下方の溝に入り込み、カセット本体CM
とカバー〇〇が連結され密閉状態が維持できる。
本実施例においては、レバーRLを回転させることで爪
RI、ROを駆動しているが、連動機構については他の
手段を用いてもよい。また、このレバーRLもしくはレ
バーRLに代るものの駆動部は手動でもアクチュエータ
で行なってもよい。
RI、ROを駆動しているが、連動機構については他の
手段を用いてもよい。また、このレバーRLもしくはレ
バーRLに代るものの駆動部は手動でもアクチュエータ
で行なってもよい。
また、アクチュエータによる駆動を行なう場合、アクチ
ュエータ部がカセット本体CM内もしくは外部にあって
よい。本実施例はアクチュエータを外部にもち、前記レ
バーRLを伝達ビン(不図示)を介して動作を行なうこ
ととしている。
ュエータ部がカセット本体CM内もしくは外部にあって
よい。本実施例はアクチュエータを外部にもち、前記レ
バーRLを伝達ビン(不図示)を介して動作を行なうこ
ととしている。
カセットロック機構CRは前記カセットの密閉されてい
る部分とは区別される位置にあり、なお発塵の可能性の
ある部分であるので、本実施例のように下方にある方が
よい。
る部分とは区別される位置にあり、なお発塵の可能性の
ある部分であるので、本実施例のように下方にある方が
よい。
次に、本実施例のマスクカセットにおけるロディング手
順を説明する。カセットはあらかじめN2ガスなどが封
入され密閉されており、カセット内部には必要な枚数の
マスクXMが用意されている。
順を説明する。カセットはあらかじめN2ガスなどが封
入され密閉されており、カセット内部には必要な枚数の
マスクXMが用意されている。
まずカセットは、チャンバ内でカセット本体CMとカバ
ーCCに分離される。そして、カセット本体のみが、第
1図には不図示のマスクXMをハンドリングするマスク
ハンドのアクセスできる位置に移動される。このときチ
ャンバ内の不図示のレバーRLを駆動するアクチュエー
タが、カセット本体CMとカバー〇〇の分離をアシスト
する。
ーCCに分離される。そして、カセット本体のみが、第
1図には不図示のマスクXMをハンドリングするマスク
ハンドのアクセスできる位置に移動される。このときチ
ャンバ内の不図示のレバーRLを駆動するアクチュエー
タが、カセット本体CMとカバー〇〇の分離をアシスト
する。
露光終了後は前記チャンバ内を一端N2で満たしく圧力
は大気圧と同じ760Torrとする)、カセット本体
CMとカバーCCを連結する。したがって、この時点で
前記カセット内部は所望のガスおよびその圧力に維持さ
れ密閉される。なお、この連結は、前記チャンバ内の不
図示のアクチュエータにてアシストされることにより行
なわれる。その後、前記チャンバの扉を開いて前記カセ
ットを取り出し保管する。
は大気圧と同じ760Torrとする)、カセット本体
CMとカバーCCを連結する。したがって、この時点で
前記カセット内部は所望のガスおよびその圧力に維持さ
れ密閉される。なお、この連結は、前記チャンバ内の不
図示のアクチュエータにてアシストされることにより行
なわれる。その後、前記チャンバの扉を開いて前記カセ
ットを取り出し保管する。
本実施例によれば以下のような効果がある。
(1)シールSt、S2を用いることで、実質的に外気
とマスクカセット内部を遮断できる。したがって、N2
などの不反応もしくは無害なカスを封じこめることによ
り、X線マスクXMは長期間保持されても酸化等の劣化
を起こさない。
とマスクカセット内部を遮断できる。したがって、N2
などの不反応もしくは無害なカスを封じこめることによ
り、X線マスクXMは長期間保持されても酸化等の劣化
を起こさない。
(2)複数枚の前記マスクXMを一括して収納すること
で、カセット本体CMとカバーCCの分離もしくは連結
動作は前記チャンバ内で一度行なうだけで済む。したか
って、発塵の機会が減少しチャンバ内およびカセット内
がより清浄に保たれる。
で、カセット本体CMとカバーCCの分離もしくは連結
動作は前記チャンバ内で一度行なうだけで済む。したか
って、発塵の機会が減少しチャンバ内およびカセット内
がより清浄に保たれる。
(3)前記カセットは耐外圧設計となっており密閉度の
信頼性が高いため、外部のゴミ・チリ等の侵入がない。
信頼性が高いため、外部のゴミ・チリ等の侵入がない。
(4)本実施例では磁気吸着方式によりマスクXMを縦
置保持しているため、特にゴミ・チリ等がマスクハンド
に載りにくい。
置保持しているため、特にゴミ・チリ等がマスクハンド
に載りにくい。
[他の実施例]
第3図は、本発明の第2の実施例に係るX線マスクカセ
ットの外観構成を示す斜視図(一部切り欠き)である。
ットの外観構成を示す斜視図(一部切り欠き)である。
これはX線マスクの保持方式が前記実施例とは異る例で
ある。
ある。
同図において、CMはマスクカセット本体、MSはマス
クステージを表わす。XMは本実施例で使用されるX線
マスク、CCはカバーである。そして、SlはカバーC
Cの上部にあるシール、S2はカバーCCの下部にある
シールで、ともにカセット本体CMを密閉する。
クステージを表わす。XMは本実施例で使用されるX線
マスク、CCはカバーである。そして、SlはカバーC
Cの上部にあるシール、S2はカバーCCの下部にある
シールで、ともにカセット本体CMを密閉する。
SVはパージバルブ、CRはカセット本体CMとカバー
CCを密閉後連結するためのカセットロック機構収納部
である。
CCを密閉後連結するためのカセットロック機構収納部
である。
特に本実施例の動作手順は前記第1の実施例と変らない
。
。
本実施例においては、マスクXMが横置となりマスクス
テージMS上に単に載せであるたりて、マスクステージ
MS上に切り欠いである溝にマスクハンド(不図示)が
挿入され、マスクXMを持ち上げマスクXMが搬送され
る。
テージMS上に単に載せであるたりて、マスクステージ
MS上に切り欠いである溝にマスクハンド(不図示)が
挿入され、マスクXMを持ち上げマスクXMが搬送され
る。
本実施例によれば前記実施例と異なる次のような効果が
ある。すなわち、上述した如くマスクXMは横置にあり
、したがって前記磁気吸着方式と異なりマスクステージ
MS内に磁気ユニットを配置する必要がない。
ある。すなわち、上述した如くマスクXMは横置にあり
、したがって前記磁気吸着方式と異なりマスクステージ
MS内に磁気ユニットを配置する必要がない。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明に係るマスクカセットは次
に述べる効果がある。
に述べる効果がある。
(1)外気と密閉できるカセットであるため、外気によ
るマスク劣化やゴミによるマスク不良が減少しマスク寿
命が伸びる。
るマスク劣化やゴミによるマスク不良が減少しマスク寿
命が伸びる。
(2)−括収納によりチャンバ内のカセットローディン
グが減少し、チャンバ内の清浄度を保つ効果がある。
グが減少し、チャンバ内の清浄度を保つ効果がある。
第1図は、本発明の一実施例に係るX線マスクカセット
の外観構成を示す斜視図、 第2図は、マスクカセットのロック機構部を示す平面図
、 第3図は、本発明の第2の実施例に係るX線マスクカセ
ットの外観構成を示す斜視図、第4図は、従来使用され
ているマスク(レチクル)カセットを示す斜視図である
。 RL+レバー
の外観構成を示す斜視図、 第2図は、マスクカセットのロック機構部を示す平面図
、 第3図は、本発明の第2の実施例に係るX線マスクカセ
ットの外観構成を示す斜視図、第4図は、従来使用され
ているマスク(レチクル)カセットを示す斜視図である
。 RL+レバー
Claims (4)
- (1)少なくとも1枚以上複数枚のX線マスクを一括し
て収納および保持可能なカセット本体部と、前記カセッ
ト本体部を密閉するカバー部と、前記カセット本体部と
前記カバー部とを連結するロック機構部とを具備するこ
とを特徴とするマスクカセット。 - (2)前記カセット本体部と前記カバー部とは一方向か
らのみ分離および結合が可能で、その突き合せ部に密閉
用シール材がある請求項1に記載のマスクカセット。 - (3)前記密閉用シール材が、密閉状態において少なく
とも外圧に耐える設計となっている請求項2に記載のマ
スクカセット。 - (4)前記カセット本体が前記カバーに少なくとも一つ
のバルブを有する請求項1、2または3に記載のマスク
カセット。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63221270A JP2743181B2 (ja) | 1988-09-06 | 1988-09-06 | マスクカセット |
US07/402,601 US5026239A (en) | 1988-09-06 | 1989-09-05 | Mask cassette and mask cassette loading device |
DE68928460T DE68928460T2 (de) | 1988-09-06 | 1989-09-05 | Maskenkassetten-Ladevorrichtung |
EP89308963A EP0358443B1 (en) | 1988-09-06 | 1989-09-05 | Mask cassette loading device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63221270A JP2743181B2 (ja) | 1988-09-06 | 1988-09-06 | マスクカセット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0269957A true JPH0269957A (ja) | 1990-03-08 |
JP2743181B2 JP2743181B2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=16764146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63221270A Expired - Fee Related JP2743181B2 (ja) | 1988-09-06 | 1988-09-06 | マスクカセット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2743181B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008137981A (ja) * | 2006-12-05 | 2008-06-19 | Nichi-Iko Pharmaceutical Co Ltd | フェノフィブラート含有製剤組成物の製造方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57113245A (en) * | 1980-12-29 | 1982-07-14 | Fujitsu Ltd | Sample conveying method into vacuum device |
JPS60194516A (ja) * | 1984-03-16 | 1985-10-03 | Hitachi Ltd | ウエハケ−ス |
JPS62102525A (ja) * | 1985-10-29 | 1987-05-13 | Canon Inc | マスクライブラリ− |
JPS62102524A (ja) * | 1985-10-29 | 1987-05-13 | Canon Inc | マスクチエンジヤ− |
JPS6322410A (ja) * | 1986-07-11 | 1988-01-29 | Canon Inc | 基板収納ラツク |
-
1988
- 1988-09-06 JP JP63221270A patent/JP2743181B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2743181B2 (ja) | 1998-04-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |