JPH09283611A - 試料容器および試料搬送方法 - Google Patents

試料容器および試料搬送方法

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JPH09283611A
JPH09283611A JP9654596A JP9654596A JPH09283611A JP H09283611 A JPH09283611 A JP H09283611A JP 9654596 A JP9654596 A JP 9654596A JP 9654596 A JP9654596 A JP 9654596A JP H09283611 A JPH09283611 A JP H09283611A
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JP
Japan
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sample
chamber
sample container
mask
sub
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Pending
Application number
JP9654596A
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English (en)
Inventor
Kenji Morita
憲司 守田
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 真空排気に伴う試料温度低下を防ぐととも
に、試料をダストの汚染から防止する。 【解決手段】 マスク100を真空状態に保持して収容
する収容室2aと、マスク100を収容室2aに装填
し、収容室2aから取り出すために開閉する蓋4と、バ
ルブ7とを備え、収容室2aを真空排気して外部と遮断
することによって収容室2aを真空に保持することがで
きる。その結果、試料容器1aの収容室2aに収納され
たマスク100はダスト等による汚染から防止されると
ともに、試料容器1aからマスク100への熱伝達を低
減することができ、マスク100の温度変化を抑えるこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、荷電粒子線転写装
置等に用いられるマスクやウエハ等の試料を収納する試
料容器および荷電ビーム転写装置等における試料搬送方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、荷電ビーム転写装置では、真空排
気されたメインチャンバ内に配置されたステージにマス
クやウエハ等の試料が載置され、荷電ビームがそれらの
試料に照射される。この試料を装置の外部からステージ
に搬送する際には、先ずメインチャンバの前段に設けら
れたサブチャンバをメインチャンバと隔離した上で大気
に開放し、そのサブチャンバに試料を搬送し、その後サ
ブチャンバが真空排気される。サブチャンバが所定の真
空度に達したならば、サブチャンバとメインチャンバと
を連通した後、試料はサブチャンバからメインチャンバ
に搬送されステージに載置される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、サブチ
ャンバを真空排気した際に、断熱膨張によってサブチャ
ンバおよび試料の温度低下が生じる。例えば、サブチャ
ンバの容積が数十リットル程度の場合、断熱膨張によっ
て試料の温度は1℃程度低下する。8インチシリコンウ
エハの場合、1℃の温度変化があると約0.7μmの寸
法変化を招きパターン精度が悪化するので、通常では試
料を1時間程度放置して試料温度の恒温化を図ってい
る。そのため、作業時間が増大するという欠点があっ
た。
【0004】また、真空排気による気体分子の流れによ
ってサブチャンバ内のダストが舞い上がり、そのダスト
が試料表面に付着することによってパターン不良が発生
しやすくなるという欠点があった。このダストの舞い上
がりは、露光工程が終了して試料を取り出すときにサブ
チャンバをリークした際にも発生する。従来は、スロー
排気およびスローリークすることによって舞い上がりを
低減しているが、これらのスロー工程を取り入れること
により作業時間が増加してスループットが低下するとい
う欠点を有していた。
【0005】本発明の目的は、真空排気に伴う試料温度
低下を防ぐとともに、試料をダストによる汚染から防止
する試料容器およびその試料容器を用いた荷電ビーム転
写装置の試料搬送方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】発明の実施の形態を示す
図1に対応付けて説明すると、請求項1の発明による試
料容器は、ウエハやマスク等の試料100を真空状態に
保持して収容する収容室2aと、試料100を収容室2
aに装填し、収容室2aから取り出すために開閉する蓋
4と、収容室2aを真空排気して外部と遮断するととも
に、収容室2aを大気に連通するバルブ7とを備えて上
述の目的を達成する。図3に対応付けて説明すると、請
求項2の発明は、請求項1に記載の試料容器を用いた荷
電ビーム転写装置の試料搬送方法に適用され、(a)試
料100を荷電ビーム転写装置のメインチャンバ16に
装填する場合には、試料100を試料容器1aに収納し
た後に容器内を真空排気し、次いで試料100が収納さ
れた試料容器1aを装置のサブチャンバ22aに搬送
し、さらにサブチャンバ22a内を真空排気した後に試
料100を試料容器1aから取り出してメインチャンバ
16に搬送し、(b)試料100をメインチャンバ16
から装置外に取り出す場合には、試料100をメインチ
ャンバ16からサブチャンバ22aに搬送して試料容器
1aに収納した後に扉4を閉じて密封し、次いでサブチ
ャンバ22a内を大気圧に戻した後に試料100を内部
が真空に保たれた試料容器1aに収納したままでサブチ
ャンバ22aから取り出すことによって上述の目的を達
成する。
【0007】請求項1の発明では、試料容器1aに収納
された試料100は試料容器1aの外部雰囲気から遮断
される。また、バルブ7より試料容器1a内を真空排気
することにより、試料容器1aに収納された試料100
の周囲が真空に保持される。請求項2の発明では、サブ
チャンバ22aを真空排気する際には、サブチャンバ2
2aが真空排気にされた後に試料100が試料容器1a
から取り出され、また、サブチャンバ22aの圧力を真
空から大気圧にする際には、試料100を試料容器1a
に収納した後にサブチャンバ22aが大気圧にされる。
【0008】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段の項では、本発明を分かり易くする
ために発明の実施の形態の図を用いたが、これにより本
発明が発明の実施の形態に限定されるものではない。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図4を参照して本発
明の実施の形態を説明する。図1は本発明による試料容
器をマスクを収容する容器に適用した場合の一実施の形
態を示す図であり、(a)は試料容器1aの斜視図、
(b)は側面図である。2は底板であり、底板2には底
板2の片面を覆う蓋4がヒンジ5によって取り付けられ
ている。底板2には支柱3が設けられており、各支柱3
の面3a上にマスク100が載置される。蓋4の内側に
は凹部4aが形成され、凹部4aの底面には板ばね6が
設けられている。そのため、蓋4を閉じたときには板ば
ね6によってマスク100が支柱3の面3aに押さえつ
けられて固定される。すなわち、凹部4aと底板2とで
区画された収容室2aにマスク100が収容される。1
0は蓋4に形成された排気口であり、蓋4の外周面には
排気口10と連通するバルブ7が取り付けられている。
このバルブ7を介して試料容器1a内が真空排気され
る。また、蓋4を閉じると、Oリング8によって試料容
器1a内が気密に保持される。
【0010】図2は本発明による試料容器をウエハを収
容する容器に適用した場合の図である。試料容器1bの
収容室2aには試料容器1aと同様の支柱3が形成され
た複数の仕切棚9が設けらており、各仕切棚9にはウエ
ハ110がそれぞれ収納される。試料容器1bの上壁に
は排気口10が設けられ、試料容器1bの上面には排気
口10と連通するバルブ7が設けられている。
【0011】図3は電子ビーム転写装置の概略図であ
り、この図を参照しながら試料容器1a,1bによりマ
スク100とウエハ110をメインチャンバに搬送する
方法を説明する。先ず電子ビーム転写装置の構成を説明
すると、11aは照明光学系、11bは投影光学系、1
2はマスクステージ、13は試料ステージであり、それ
ぞれ鏡筒16に収納されている。14は鏡筒16上部、
すなわち、照明光学系11a,マスクステージ12およ
び投影光学系11bが設けられる上部空間を排気するた
めの真空排気装置であり、15は鏡筒16下部、すなわ
ち、試料ステージ13が設けられる下部空間を排気する
ための真空排気装置である。
【0012】鏡筒16のマスクステージ12が納められ
る部分にはバルブ17aを介して供給室18aが設けら
れており、この供給室18aは真空排気装置19aによ
って排気されることにより鏡筒16のマスクステージ1
2が納められた部分と同程度の真空度に保たれる。20
aは搬送装置であり、マスクステージ12および後述す
るサブチャンバ22a間でマスク100の搬送を行う。
供給室18aにはバルブ21aを介してサブチャンバ2
2aが接続されており、サブチャンバ22aにはリーク
装置24aが取り付けられているとともにバルブ25a
を介して真空排気装置23aが取り付けられている。マ
スク100は試料容器1aに収納された状態でサブチャ
ンバ22a内への搬入・搬出が行われる。
【0013】鏡筒16のウエハステージ13が納められ
た部分にもマスクステージ12部分と同様の搬送系が設
けられている。すなわち、18bは供給室、20bは搬
送装置、22bはサブチャンバ、24bはリーク装置、
17b,21bおよび25bはバルブ、19bおよび2
3bは真空排気装置である。また、供給室18bは真空
排気装置19bによりウエハステージ13が納められた
部分と同程度の真空度に保たれる。ウエハ110は収試
料容器1bに収納された状態でサブチャンバ22b内へ
の搬入・搬出が行われる。
【0014】次に、マスク100の搬送手順を説明す
る。マスク100は、マスク製造工程,検査工程および
洗浄工程終了後直ちに図1に示すように試料容器1aに
収納され、バルブ7より試料容器1a内が真空排気され
る。これにより、蓋4が機械的な錠止機構を設けること
なく閉じられ、マスク100はこの状態で保管される。
マスク100をサブチャンバ22aに搬入する際には、
バルブ21aを閉じてサブチャンバ22aを供給室18
aと隔離してリーク装置24aで大気圧にし、その上で
扉をを開いておく。マスク100を収納した試料容器1
aをサブチャンバ22aに搬入して扉を閉じ、真空排気
装置23aによりサブチャンバ22aを真空排気し、所
定の真空度に達したならばバルブ21aを開ける。次い
で、試料容器1aの蓋4を開け、搬送装置20aにより
マスク100を把持して供給室18aに搬送しバルブ2
1aを閉じる。さらに、バルブ17aを開けてマスク1
00をマスクステージ12に搬送し、バルブ17aを閉
じて露光工程が行われる。ここで、サブチャンバ22a
には試料容器1aの蓋4の開閉機構が設けられる。
【0015】図4は開閉機構の一例を示す図であり、試
料容器1aはサブチャンバ22aに設けられた搬送用ア
ーム30に載置される。なお、試料容器1aの蓋4の側
面にはピン4aが設けられている。31はピンホルダで
あり、その側面にはピン4bと係合可能な溝31aが形
成されている。32はピンホルダ31と螺合する駆動ネ
ジ、33はピンホルダ31を図示上下方向にガイドする
ガイドであり、駆動ネジ32が不図示の駆動源によって
回転されるとピンホルダ31が上下方向に駆動される。
搬送用アーム30に載置された試料容器1aは図の矢印
A方向に搬送され、蓋4のピン4aがピンホルダ31の
溝31aに係合する。次いで、駆動ネジ32によってピ
ンホルダ31が上方に駆動される。このとき、搬送用ア
ーム30のA方向の移動とピンホルダ31の上方への移
動とを連動して制御することにより、試料容器1aの蓋
4が開けられる。蓋4を閉じる場合には、上述した開動
作の逆の動作を行う。
【0016】露光終了後、バルブ17aを開けてマスク
100を搬送装置20aにより供給室18aに搬送す
る。次いで、バルブ17aを閉じた後にバルブ21aを
開いてマスク100をサブチャンバ22aの試料容器1
aに戻し、蓋4が閉じられる。その後、バルブ21aを
閉じてリーク装置24aによりサブチャンバ22a内を
大気圧に戻した後に、試料容器1aが取り出される。こ
のとき、試料容器1a内は真空に保たれている。ウエハ
110の搬送手順もマスクの場合と同様なので説明を省
略する。
【0017】上述したように、サブチャンバ22aを真
空排気する際またはリークして大気圧へ戻す際には、マ
スク100は試料容器1aに収納されているため、たと
えダストが舞い上がってもマスク100の表面にダスト
が付着することがない。さらに、マスク100は試料容
器1aに収納されたまま保管しておくことができるの
で、保管時にマスク100が汚染されることがない。ま
た、サブチャンバ22aを真空排気した際に断熱膨張に
よって試料容器1aの温度が変化しても、試料容器1a
内が真空に保たれているため、試料容器1aからマスク
100への熱伝達は支柱3のみを通じてしか行われず、
支柱3とマスク100との接触面積を小さくすることに
よって、例えば、面3aの面積を小さくしたり支柱3の
数を3個にして3点支持する等して、マスク100の温
度変化をパターン精度に影響が無い程度に小さくするこ
とができる。ウエハ110についても同様である。
【0018】上述した実施の形態と特許請求の範囲との
対応において、鏡筒16はメインチャンバを構成する。
なお、試料としてマスク,ウエハについて例示したが、
液晶プレート等その他の試料にも同様に本発明を適用で
きる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
請求項1の発明によれば、試料容器の収容室に収納され
た試料は試料容器の外部雰囲気から遮断されるため、ダ
スト等によって試料が汚染されることがない。また、試
料の周囲が真空に保たれるため、試料容器から試料への
熱伝達を低減することができ、試料の温度変化を抑える
ことができる。請求項2の発明によれば、サブチャンバ
を真空排気する際には、サブチャンバが真空排気にされ
た後に試料が試料容器から取り出され、また、サブチャ
ンバの圧力を真空から大気圧にする際には、試料を試料
容器に収納した後にサブチャンバが大気圧にされるた
め、真空排気や大気圧に戻す際に舞い上がるダスト等に
よって試料が汚染されることがなく、さらに、真空排気
の際の断熱膨張による試料の温度変化を低減することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による試料容器の一実施の形態を示す図
であり、(a)は試料容器の斜視図、(b)は側面図。
【図2】本発明による試料容器をウエハを収容する容器
に適用した例を示す図。
【図3】マスクおよびウエハの搬送方法を説明する図。
【図4】試料容器1aの蓋4の開閉機構を示す図。
【符号の説明】
1a,1b 試料容器 2 底板 2a 収容室 4 蓋 7 バルブ 16 鏡筒 22a,22b サブチャンバ 30 搬送用アーム 31 ピンホルダ 32 駆動ネジ 33 ガイド 100 マスク 110 ウエハ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエハやマスク等の試料を真空状態に保
    持して収容する収容室と、 前記試料を前記収容室に装填し、前記収容室から取り出
    すために開閉する蓋と、 前記収容室を真空排気して外部と遮断するとともに、前
    記収容室を大気に連通するバルブとを備えることを特徴
    とする試料容器。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の試料容器を用いた荷電
    ビーム転写装置の試料搬送方法において、 (a)前記試料を前記荷電ビーム転写装置のメインチャ
    ンバに装填する場合には、前記試料を前記試料容器に収
    納した後に容器内を真空排気し、次いで前記試料が収納
    された前記試料容器を前記装置のサブチャンバに搬送
    し、さらに前記サブチャンバ内を真空排気した後に前記
    試料を前記試料容器から取り出して前記メインチャンバ
    に搬送し、 (b)前記試料を前記メインチャンバから前記装置外に
    取り出す場合には、前記試料を前記メインチャンバから
    前記サブチャンバに搬送して前記試料容器に収納した後
    に前記扉を閉じて密封し、次いで前記サブチャンバ内を
    大気圧に戻した後に前記試料を内部が真空に保たれた前
    記試料容器に収納したままで前記サブチャンバから取り
    出すことを特徴とする荷電ビーム転写装置の試料搬送方
    法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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