JPH026747A - 超音波亀裂測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ この発明は、超音波亀裂測定装置に関し、詳しくは、材
料等の被検体の内部から種々のエコーが発生するような
測定条件のときに、その中から亀裂を測定できるような
携帯用の超音波探触子等に適する超音波亀裂測定装置に
関する。

［従来の技術］ 金属表面開口亀裂の深さとか、内部の亀裂の司法及び位
置等を超音波を用いて測定する方法の１つとして斜角端
部エコー法がある。

第５図（ａ）、（ｂ）＋　　（ｃ）は、この斜角端部エ
コー法で金属等の表面開口亀裂の深さとか、内部の亀裂
の寸法及び位置等を測定する方式とその場合のエコー受
信信号のピークレベルの変化の状態（軌跡）を示したも
のである。

各図において、Ｔは送信パルス信号であり、波形Ｆｌは
亀裂にの上部の端点からのエコーに対応し、その波形Ｆ
２は下部の端点からのエコーに対応している。また、Ｘ
ｌ、Ｎ２は、表面から亀裂にの上下の各端点までの距離
（又は計測時間）を表している。なお、図中、１は、超
音波探触子（以下探触子）であり、２は被検体である。

ここで、同図（ａ）は、内部亀裂Ｋを検出する場合であ
り、（ｂ）は、底面に達する亀裂Ｋを検出する場合、そ
して（Ｃ）は、表面開口亀裂Ｋを検出する場合である。

なお、これら各亀裂測定における屈折角は０てあり探触
子１により被検体２を走査し、その走査に対応して得ら
れるＡスコープ像の受信エコー信号のピークレベルを観
測して測定が行われる。そこで、各亀裂の両端点（（Ｃ
）の場合は一方の端点）について、ピークレベルの包絡
線を描くと、各図の下に示すようなグラフとして表すこ
とができる。

ここで、Ｎｌは、亀裂にの上の端点からのエコー受信信
号によるピークレベルの包絡線であり、Ｎ２は、亀裂に
の下の端点からのエコー受信信号によるピークレベルの
包絡線である。なお、探触子を亀裂Ｋに近づくように走
査した場合には、先に下側の端点のピークレベルが現れ
て、これらの関係は逆転する。

この場合、包絡線Ｎｌ　＋　Ｎ２における最大のピーク
レベルに対応するピークレベルを得たとき（最大ピーク
レベルの検出位置で）の時間軸」−に示された計測時間
（＝距離）　ＸＩ　、　Ｎ２を読取ることで亀裂の大き
さＨ（二Ｘ２−ＸＩ　）を得ることができる。

そこで、オペレータは、常に超音波探傷器のブラウン管
を見ながら、エコー受信信号の２つのピーク点を求め、
その時の波形の時間軸位置（ビーム路程）より亀裂深さ
、大きさを求めることになる。なお、このような測定に
当たっては、測定物と同じ材料による試験片によって超
音波探傷器の時間軸校正があらかじめ行われる。

このように従来の超音波探傷器にあっては、常にブラウ
ン管波形を見つめ波形に注意を払いながらエコー受信信
号のピークレベルの最大点を見つけてその時のビーム路
程を読んで亀裂深さとか大きさ（表面開口欠陥の長さ）
を求めている。

一方、亀裂針と同じような原理に基づいた超音波厚さ計
の中には、ブラウン管によるＡスコープ像を表示しない
でも測定できるポータプルなものがあるが、これは、単
に測定した厚さを数値的に表示するものに過ぎない。

［解決しようとする課題］ ところで、被検体のよっては、その内部に亀裂以外に、
種々の欠陥があり、また、亀裂の形状も種々のものがあ
って、必ずしも端部が最大ピークレベルでないようなエ
コー受信信号も生じる。特に、亀裂が斜めのものであっ
たり、途中で曲折していたり、また、端部の形状がシャ
ープでなかったりすると、最大ピークレベルの後に亀裂
端点のエコーが生じていることがある。したがって、最
大ピークレベルで得た測定値が必ずしも正しい測定値で
あるとは限らない。

この発明は、このような従来技術の問題点を解決するも
のであって、被検体の内部から種々のエコーが発生する
ような測定条件にあっても、その中から亀裂を安全サイ
ドで測定できるような携帯用に適した超音波亀裂測定装
置を提供することを目的とする。

［課題を解決するための手段］ このような目的を達成するための第１の発明の超音波亀
裂測定装置の構成は、亀裂の最大ピークレベルと亀裂以
外の内部エコー受信信号のレベルとの間にスレッシュホ
ールドレベルを設定して、６一 最大ピークレベルの受信状態におけるスレツシユホール
ドを越えたエコー受信信号の最後に現れるピークの計測
時間を測定値とするものである。

その第２の発明の構成は、走査に応じて得られるエコー
受信信号のピークレベルの推移を示す表示器を備えてい
て、測定対象となる亀裂の最大ピークレベルと亀裂以外
の内部エコー受信信号のレベルとの間にスレッシュホー
ルドレベルを設定し、表示器におけるピークレベルの推
移状態により亀裂を判別してその最大ピーク時における
最後に現れるピークに対応する計測時間を測定値とする
ものである。

［作用］ このように亀裂についてのピークレベルと亀裂以外の内
部エコー受信信号のレベルとの間にスレッシュホールド
レベルを設定することにより、亀裂以外の内部のエコー
受信信号をυト除でき、かつスレッシュホールドを越え
たピークレベルのうち最大ピークレベルではなく、その
ときの最後のピークを採取することで、例えば、亀裂が
斜めのものであったり、途中で曲折していたり、端部の
形状がンヤープでなかったりした場合にも、本来の亀裂
端部からのエコー受信信号に近いデータを得ることがで
きる。また、通常の亀裂であっても、測定値が深い方向
で得られるので、より確実な亀裂測定ができる。

さらに、走査に応じて得られるエコー受信信号のピーク
レベルの推移を示す表示器を設けて、この表示器におけ
るピークレベルの推移状態により亀裂であるか欠陥であ
るかを判別しながら亀裂の測定をすれば、確実に亀裂の
みの測定が可能である。

［実施例コ 以下、この発明の一実施例について図面を参照して詳細
に説明する。

第１図は、この発明の超音波探傷装置を亀裂針に適用し
た場合の一実施例の外観図であり、第２図（ａ）は、そ
の内部構成を示すブロック図、第２図（ｂ）は、その演
算処理装置の内部構成を中心としたブロック図、第３図
は、その演算処理装置に取込まれるピークレベルについ
ての説明図、第４図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）は
、それぞれ亀裂と欠陥とのピークレベルの推移の相違に
ついての説明図である。

第１図において、２１は、超音波亀裂針であって、その
構成は、第１図及び第２図（ａ）に示すように、探触子
１に対して送信パルス信号を送出するパルサ５と、探触
子１が受信したエコー受信信号を受けるレシーバ６、レ
シーバ６かラノ得うれるエコー受信信号のピークレベル
を検出して、そのピークをホールドするピークホールド
回路７、ピークホールド回路７の出力を受けるレベル表
示メータ２２、レシーバ６からの得られるエコー受信信
号とレベル設定器１０とから信号を受け、これらの電圧
値を比較してエコー受信信号がレベル設定器１０により
設定されたスレッシュホールドレベルを越えているとき
に検出信号を発生するコンパレータ８、コンパレータ８
の検出出力が発生したときに、これを受けてホールドさ
れているエコー受信信号のピーク値を読取る演算処理装
置９、そして演算処理装置９からの出力により測定結果
をデジタル表示する表示器２３とから構成されている。

ここで、演算処理装置９は、パルサ５から送出される送
信パルス信号Ｔを受け、この送信パルス信号Ｔの発生時
点からピークがホールドされた時までの時間を計測し、
スレッシュホールドを越えたピークのレベルとその計測
時間とをメモリの所定の記憶領域に記憶する。

この記憶は、コンパレータ８の検出出力が発生する都度
、そのときのピークレベルとその計測時間とがメモリの
所定の記憶領域に書込むことによりなされ、このとき、
１つ前に記憶されたピークレベルの値とその計測時間と
が書換えられる。したがって、この記憶領域にはレベル
設定器１０で設定されるスレッシュホールドレベルを越
えた最新のデータ、言い換えればスレッシュホールドレ
ベルを越えた最後のデータが記憶され、保持されること
になる。

この最後のピークのレベルは、探触子１の走査に応じて
１つ前の測定値と現在の測定値とがそれぞれ演算処理装
置９のメモリに保存されて、その最大となるピークレベ
ル状態が検出される。演算処理装置９は、この最後のピ
ークの最大値が検出されたときに、その最大のピークに
おける測定時間を距離に換算する演算をしてその値を表
示器２３に表示する処理をする。

なお、ここで、検出されたピークが最後のものであるか
否かの判定は、例えば、ピークと次のピークとの間の時
間を監視して、一定時間以上法のピークが発生しない場
合、或いは、次の送信パルス信号が発生したときに１つ
前にホールドされたものを最後のピークとすること等に
より判定するものである。

レベル表示メータ２２は、前記ピークホールド回路の出
力値により駆動され、探触子１の被検体走査に応じてそ
のときどきのエコー受信信号のピークレベルを表示する
。そこで、その推移が観察でき、そのためのに設けられ
ている。すなわち、このレベル表示メータ２２により、
第５図に示すエコー受信信号波形Ｆ１又は波形Ｆ２のピ
ーク値を走査に対応して追跡し、最大のピークレベルに
到るまでのその軌跡、或いは最大のピークレベル前後の
ピークレベルの軌跡の変化状態をその針の振れ方で読取
り、その推移の相違を観察することで亀裂か欠陥かを判
別する。

なお、第１図における２４は、ゲインボリュームであっ
て、これにより亀裂検出のための超音波亀裂針２１の感
度を設定する。２５は、受信端子であり、２６は、送受
信端子であって、送／受信別体形の探触子を使用すると
きは、受信端子２５に受信側の探触子が接続される。

さて、演算処理装置９は、スレッシュホールドレベルを
越えたピークレベルのうち最後のピークのレベルを記憶
し、その最後のピークの最大値に対応する時間計測値か
ら距離を演算するものであって、第２図（ｂ）に示すよ
うに、マイクロプロセッサを用いてプログラム処理で前
記の処理を実行する。

第２図（ｂ）において、マイクロプロセッサＩ２は、パ
ルサ５から受けた送信パルス信号Ｔの発生タイミングを
基準として時間計測をし、コンパレータ８からの検出信
号をインタフェース１５を介して受けたときに、計測し
た時間値Ｘ１を算出する。そしてピークホールド回路７
から得られるアナログ値Ｖｐ　　（第３図参照）をＡ／
Ｄ変換器１０゜インタフェース１５を介して読込み、前
記時間計測値Ｘｌ　とそのときのピークホールドされた
ピークレベルＶｐとをメインメモリ１４のピークレベル
・計測時間記憶領域１４ｃに記憶する。

ところで、１回の送信パルス信号Ｔの発生に対して得ら
れるエコー受信信号は多くある。そこでは、第２図（ａ
）に示すようにレベル設定器１０により設定されたスレ
ッシュホールドレベルを■ＴＨとし、測定対象となる亀
裂のピークレベルが最大となる位置において測定を行っ
たときのエコー受信信号の状態を示すと第３図のように
なる。なお、この場合のスレンシュホールドレベルＶＴ
Ｒは、次のような条件で経験的に決定される。

一般に、被検体２をある位置で測定したときに現れるエ
コー受信信号は１つではなく、種々の位置のピークが発
生した信号となる。通常では、このようなエコー受信信
号のうちの一番大きなピークレベルを測定対象である亀
裂の端部からのものとする。

スレッシュホールドＶＴＲは、この最大ピークレベルと
このときの他の欠陥とかノイズ等のレベルとの間に設定
する。すなわち、第３図に示すピークレベル波形Ｖｐｌ
、　Ｖｐ２．　Ｖｐ３は、スレッシュホールドレベルＶ
ＴＲを越えたエコー受信信号の波形であり、ｖＰＯは、
ノイズ又は周囲の欠陥からのエコーに対するものである
。そして、その最大値がピークレベル波形Ｖｐ２であっ
て、従来は、これを測定対象としている。

一方、この発明では、この場合、ピークレベル波形Ｖｐ
３の値が測定対象となる。そして、これは、スレッシュ
ホールドＶＴ）Ｉを越えたピークレベルのうちにその計
測時間が最大となる、−・番最後のピークである。

なお、このようなスレッシュホールドレベルＶＴ）Ｉは
、測定する亀裂に応じて経験的に設定するか、試験的な
測定によりその最大ピークレベルを測定＼ して、その値から少し低いところにスレッシュホールド
ＶＴＩＩの値をレベル設定器１０の調整において設定す
る。

そこで、探触子１により被検体２を走査したときに、亀
裂に対して最大にピークレベルが発生スる付近では、例
えば、前記のような３つのピークレベル波形のそれぞれ
について、コンパレータ８で検出信号が発生する。そし
て、演算処理装置９は、これら３つの波形それぞれのピ
ークレベル値とその計測時間とを発生順にピークホール
ド回路７から取込む。演算処理装置９は、これらデータ
を取込む都度、前に記憶したデータを書換えるために、
記憶されるデータは、最後にスレッシュホールドレベル
ＶＴ■を越えたピークレベル波形Ｖｐ３のレベル値とそ
の８１測時間だけであり、これのみがを効となる。そし
て、その最大ピーク受信状態のものを測定値とする。

最大ピークレベルの測定状態における最後のピークレベ
ルか否かは、最後のスレッシュホールドレベルを越えた
ピークレベルのうち１つ前のピークレベルＶｐｌ−１と
現在のピークレベルＶｐｌの差を比較して、その最大ピ
ークレベルを検出することで行われる。最大ピークレベ
ルが検出されると、エコー受信信号のピークレベルが最
大となるときの時間計測値ＸＩ　に基づいてそれを距離
に換算する処理を行い、この距離又はこの距離からさら
に位置若しくは長さ等を算出してそれを測定値として表
示メモリ１３に記憶し、それが測定値として表示器２３
に表示される。

ここで、探触子１を走査しているききには、最後のピー
クレベルがスレッシュホールド以下となったときには、
第３図における最大ピークレベルＶＰ２が最後のピーク
レベルとして検出されることになる。しかし、このとき
には、ピークレベルの値が不連続に高い方に飛ぶことに
なり、また、その計測時間が短い方へと移行するので、
このような状態の測定値を排除することができる。

なお、このように探触子１の走査の過程で次のピークレ
ベルを越えたものの測定時間が短いときには、前記のメ
モリに記憶された計測時間を書換えは行われないように
してもよく、探触子１の走査に応じて得られた最大ピー
クレベルが得られたときの最後のピークレベルに対応し
た最大計測時間を測定値とすればよい。

演算処理装置９の構成としては、マイクロプロセッサ（
以下ＣＰＵ）１２及びメインメモリ１４、表示メモリ１
３、表示器２３等を備えていて、これらと前記インタフ
ェース１５とが相互にバス１１により接続されている。

ＣＰＵ１２は、超音波亀裂針２１の操作パネルから指示
される指令をインタフェース１５を介して受け、この指
令に応じて、メインメモリ１４に格納されている所定の
制御プログラムを起動する。

その制御としては、エコー受信信号のうちスレッシュホ
ールドレベルＶＴＲを越えた最後のピークレベルが最大
となる状態を検出し、そのときの送信パルス信号Ｔから
亀裂に対するエコー受信信号のピーク位置までの時間を
得て、それを距離に換算し、この距離又はこの距離から
さらに位置若しくは長さ等を算出してその結果を測定値
として表示メモリ１３に記憶するものである。そして、
この表示メモリ１３に記憶されたデータは、表示器２３
により読出され、測定結果として表示される。

ここで、メインメモリ１４には、最大ピークレベル検出
処理プログラム１４ａ１亀裂深さ測定処理プログラム１
４ｂと、最後のピーク取込み処理プログラム１４ｃ１ピ
ークレベル・計測時間記憶領域１４ｄ等が設けられてい
る。

最後のピーク取込み処理プログラム１４ｃは、ピークレ
ベル・計測時間記憶領域１４ｄの現在の測定値を記憶す
る特定領域に、測定値があるときには、それを１つ前の
測定値記憶領域に転送して、コンパレータ８の検出信号
に応じて、ピークホールドされた値をＡ／Ｄ変換器１０
を介して読込み、ピークレベル・計測時間記憶領域１４
ｄの現在の測定値を記憶する特定領域にその値を読込み
、検出信号に応じてピークレベル・計測時間を更新して
行く。

最大ピークレベル検出処理プログラム１４ａは、最後の
ピーク取込み処理プログラム１４ｃによりピークレベル
・計測時間記憶領域１４ｄに記憶された現在のピークレ
ベルＶｐｉと１つ前のピークレベルＶｐｌ−１とから、
これらの差値５＝Ｖｐｊ−ｖｐＩ−１の演算を行い、最
大ピークレベルの検出をする。一方、亀裂深さ測定処理
プログラム１４ｂは、最大ピークレベル検出処理プログ
ラム１４ａによす最大ピークレベルが検出されたときに
起動されて、エコー受信信号の最後のピークレベルが最
大となるときの時間計測値に基づいてそれを距離に換算
する処理を行い、この距離又はこの距離からさらに位置
若しくは長さ等を算出してそれを測定値として表示メモ
リ１３に記憶する。その結果、測定データが表示器２３
により表示される。

ここで、測定対象が亀裂か欠陥かの判定は、レベル表示
メータ２２が最大振れに到るまで、又は最大振れから戻
るまでの間の振れの状態を観察することで行う。すなわ
ち、第４図（ａ）に見るように、欠陥Ｆを測定している
ときには、探触子１を走査することに伴って順次現れる
ピークレベルの軌跡は、同図（ｂ）のグラフＰＩ　のよ
うに比較的急峻なカーブを措いて最大のピークレベルに
到り、そこから急に落ちる。

一方、表面開口亀裂等の亀裂Ｋを測定しているときには
、第４図（ｃ）に見るように、探触子１を走査すること
に伴って順次現れるピークレベルの軌跡は、同図（ｄ）
のグラフＰ２のように比較的緩やかなカーブを描いて最
大のピークレベルに到り、そこからゆっくりと落ちる。

そこで、これら（ｂ）と（ｄ）との最大のピークレベル
が現れる状態を比較すると分かるように、欠陥Ｆの測定
では、最大のピークレベルの前後の特性か急峻であるの
に対し、亀裂にでは、それが緩やかとなっている。した
がって、これらの相違を観察できる表示器があれば、測
定対象が亀裂なのか欠陥なのかの判定か可能となる。

このピークレベルの軌跡を観察するために設けられたの
が、前記のレベル表示メータ２２であり、レベル表示メ
ータ２２の振れ状態により単なる欠陥であるか亀裂であ
るかを判定することができる。

そこで、オペレータは、亀裂探傷中は、常にレベル表示
メータ２２の針の振れ方をチエツクし、レベル表示メー
タ２２の最大振れまでが緩やかであれば亀裂とし、その
時の測定結果をデジタル値で表示する表示器２３から読
取る。このことで亀裂の深さを知ることができる。なお
、この場合の亀裂深さは、送信パルス信号Ｔから端点に
対するエコー受信信号までの計測時間Ｘｔ　Ｉ　Ｘ２或
いはＸｔであって、超音波亀裂計２１の計測時間Ｘｌ。

Ｘ２或いはＸｌは、演算処理装置９で距離（ｍ＋＊：１
に換算されて、デジタル数値の形で表示器２３に供給さ
れて亀裂深さとして表される。

なお、人間の手によって探触子を走査させて被検体を探
傷している場合には、その探触子による探傷スピードが
ほぼ一定となるので、前記のような針の振れ方の相違は
十分判別できるものとなる。

ところで、このように超音波亀裂ｉｆとしては、Ａスコ
ープ波形を表示するブラウン管がなくてもよく、エコー
受信信号のピークレベルを簡単なレベル表示メータで振
らせ、送信タイミングよりエコー受信信号までの計測時
間を亀裂深さに換算して表示することでポータプルで使
い勝手のよい超音波亀裂計が実現できる。

以上説明してきたが、実施例では、演算処理装置に最大
ピークレベルを検出する判定手段を設けているが、レベ
ル表示メータを観察して亀裂の最大ピーク測定状態で測
定値を表示するようにすれば、最後のピークレベルでの
最後のピークレベルの測定値を得ることができるため、
最大ピークレベルの判定をするような手段は不要となる
。さらに最大計測時間を測定値とするような処理もいら
ない。

また、実施例では、ピークレベルの推移をレベル表示メ
ータで観察して最大のピークレベルの測定結果を示す表
示器の値を読取るようにしているが、ピークレベルの値
が前の値より大きくなった時、その表示の値を順次変え
て表示器に表示するようにしてもよい。なお、さらに、
レベル表示メータによることなく、マイクロプロセッサ
とその制御プロセッサとにより基準値を参照して亀裂か
欠陥かを判定する判定処理プログラムを設けて、亀裂の
部分のみの測定データを得ることができる。

必すしも、このようなレベル表示メータを設ける必要は
ない。

実施例では、１つのエコー受信信号についての測定を中
心に説明しているが、−回の測定で複数のエコー受信信
号が得られ、そのそれぞれの最大のピークレベルが２つ
の山となるようなときには、それぞれについて連続して
測定できることはもちろんである。

「発明の効果コ 以」二の説明から理解できるように、この発明にあって
は、亀裂についてのピークレベルと亀裂以外の内部エコ
ー受信信号のレベルとの間にスレッシュホールドレベル
を設定することにより、亀裂以外の内部のエコー受信信
号を排除でき、かつスレッシュホールドを越えたピーク
レベルのうち最大ピークレベルではなく、そのときの最
後のピークを採取することで、例えば、亀裂が斜めのも
のであったり、途中で曲折していたり、端部の形状がシ
ャープてなかったりした場合にも、本来の亀裂端部から
のエコー受信信号に近いデータを得ることができる。ま
た、通常の亀裂であっても、測定値が深い方向で得られ
るので、より確実な亀裂測定ができる。

さらに、走査に応じて得られるエコー受信信号のピーク
レベルの推移を示す表示器を設けて、この表示器におけ
るピークレベルの推移状態により亀裂であるか欠陥であ
るかを判別しながら亀裂の測定をすれば、確実に亀裂の
みの測定が可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の超音波探傷装置を亀裂針に適用し
た場合の一実施例の外観図、第２図（ａ）は、その内部
構成を示すブロック図、第２図（ｂ）は、その演算処理
装置の内部構成を中心としたブロック図、第３図は、そ
の演算処理装置に取込まれるピークレベルについての説
明図、第４図（ａ）（ｂ）、（ｃＬ　　（ｄ）は、それ
ぞれ亀裂と欠陥とのピークレベルの推移の相違について
の説明図、第５図は、従来の斜角端部エコー法とその場
合のピークレベルの包絡線を示す説明図である。 １・・・探触子、２・・・被検体、５・・・パルサ、６
・・・レシーバ、７・・・ピークホールド回路、８・・
・コンパレータ、９・・・演算処理装置、１０・・・レ
ベル設定器、１２・・・マイクロプロセッサ（ＣＰＵ）
　、１１・・・バス、 １３・・・表示メモリ、１４・・・メインメモリ、１４
ａ・・・最大ピークレベル検出処理プログラム、１４ｂ
・・・亀裂深さ測定処理プログラム、１４ｃ・・・ピー
クレベル寺計測時間記憶領域、１４ｄ・・・その他のデ
ータ記憶領域、２１・・・超音波亀裂針、２２・・・レ
ベル表示メータ、２３・・・表示器、２４・・・ゲイン
ボリューム、２５・・・送受信端子、２６・・・受信端
子。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）被検体を超音波探触子により走査して亀裂からの
   エコー受信信号を受信し、そのピークを検出して前記被
   検体の表面から前記亀裂までの距離、位置又は長さ等の
   測定値を算出する超音波亀裂測定装置において、前記亀
   裂の最大ピークレベルと亀裂以外の内部エコー受信信号
   のレベルとの間にスレッシュホールドレベルを設定して
   、前記最大ピークレベルの受信状態における前記スレッ
   シュホールドを越えた前記エコー受信信号の最後に現れ
   るピークの計測時間を測定値とすることを特徴とする超
   音波亀裂測定装置。
2. （２）最大ピークレベルの受信状態におけるスレッシュ
   ホールドを越えたエコー受信信号の最後に現れるピーク
   レベルの計測時間は、前記スレッシュホールドを越えた
   エコー受信信号のピークレベルの最後に現れるピークレ
   ベルの計測時間のうちの最大の計測時間を検出すること
   により得ることを特徴とする請求項１記載の超音波亀裂
   測定装置。
3. （３）被検体を超音波探触子により走査して亀裂からの
   エコー受信信号を受信し、そのピークを検出して前記被
   検体の表面から前記亀裂までの距離、位置又は長さ等の
   測定値を算出する超音波亀裂測定装置において、走査に
   応じて得られるエコー受信信号のピークレベルの推移を
   示す表示器を備え、測定対象となる亀裂の最大ピークレ
   ベルと亀裂以外の内部エコー受信信号のレベルとの間に
   スレッシュホールドレベルを設定し、前記表示器におけ
   るピークレベルの推移状態により亀裂を判別してその最
   大ピーク時における最後に現れるピークに対応する計測
   時間を測定値とすることを特徴とする超音波亀裂測定装
   置。