JPH0266733A - 光学式情報記録再生装置の光学系 - Google Patents

光学式情報記録再生装置の光学系

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JPH0266733A
JPH0266733A JP63217834A JP21783488A JPH0266733A JP H0266733 A JPH0266733 A JP H0266733A JP 63217834 A JP63217834 A JP 63217834A JP 21783488 A JP21783488 A JP 21783488A JP H0266733 A JPH0266733 A JP H0266733A
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light
optical
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plane plate
light source
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Taku Morita
森田 卓
Takashi Takishima
俊 滝島
Isao Okuda
功 奥田
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Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、光ディスク、あるいは光磁気ディスク等の
記録媒体に対する情報の記録、再生を行なう光学式情報
記録再生装置の光学系に関するものである。
[従来の技術] この種の光学式情報記録再生装置の光学系としては、従
来から第8図に示すようなものがある。
図示した光学系Aは、光束を発する半導体レーザ1、こ
の光束を平行光束とするコリメートレンズ2、光束の断
面形状を補正する整形プリズム3、ハーフミラ−プリズ
ム4、光磁気ディスクDにスポットを結ばせる対物レン
ズ5.172波長板6、集光レンズ7、そしてこの集光
レンズ7から出射した光束を分割してそれぞれトラッキ
ングエラー検出用受光素子8及びフォーカシングエラー
検出用受光素子9に照射させる偏光ビームスプリッタ−
10、フォカシングエラー検出用受光素子9の前に配設
されたシリンドリカルレンズ11から構成されている。
上記のトラッキングエラー検出用受光素子8Fよ、隣接
する2つの受光領域の出力の差をとることにより、し)
わゆるブ・ソシュブル?去によるトラ・ンキングエラー
検出を行っており、フォーカシングエラー検出用受光素
子9は、2列2段に配列する4つの受光領域の対角同士
の出力の和の差をとることにより、非点収差法によるフ
ォーカシングエラー検出を行っている。
上記の光学系Aでは、172波長板6と偏光ビームスプ
リッタ−10とを利用することにより、磁気カー効果に
よる振動面の回転をそれぞれの受光素子8.9に照射さ
れる光の強度変化に変換し、記録情報の検出を行う。
第9図は他の従来光学系Bを示すものであり、集光レン
ズ10の前に第10図に示すようなウェッジプリズム付
き偏光ビームスプリッタ−20を設け、受光素子30と
して第11図に示したようにフォーカシングエラー検出
部31と1−ラッキングエラー検出部32とを含む6分
割型素子を用いている。このような構成とすると、第1
0図に示すようにフォーカシングエラー成分を検出する
ためのS偏光成分番ま三角プリズムとウェッジプリズム
との境界面21て反身4され、トラッキングエラー成分
を検出するためのp fi4光成分はウェッジプリズム
の裏面22 、23で2分して反射され、それぞれ受光
素子のフォーカシングエラー検出用受光部に向かう。
[発明が解決しようとする課題] ところで、このような従来の光学系A、B+こおり飄で
は、光源として用いる半導体レーザーの出射光1111
1のバラツキに起因して対物レンズに入射する平(テ光
束中の強度分布にオフセットが生だ場合、u1′、導体
レーザーの当てつけ板に対する角度を(1人のネ)11
正部材を用いて調整することにより、出射光軸と光学系
の理想光軸とを一致させるようにしてしまた。
しかしながら、このような構成で番よ調整イ1ミ業力3
困難であり、しかも出射光軸のズレ角度(こbL:じて
多種の角度の補正部組を用意しなけれiよならなし\と
いう問題があった。
]1記の強度分布のオフセットは、光束力S光ディスク
で反射して受光素子上に集光した際しこ、 トラッキン
グエラー成分中にプッシュプルオフセットとなって表れ
、正確なトラッキングを困難として信月を劣化させる。
また、特に従来の光学系Bのようにウェッジプリズムを
用いてトラッキングエラー検出用の光束を分離する構成
をとる場合には、ウェッジプリズムの位置ズレがあると
分離されるP偏光成分相互間の光量バランスが崩れてト
ラックオフセットを生じさせるため、プリズムと受光素
子との位置決めに高精度が要求される。しかも、このタ
イプではトラッキングエラーのみの補正を目的として受
光素T−30を移動させるとフォーカシングエラーにオ
フセットが生じるため、受光素子の位置を変えてトラッ
クオフセットの調整をすることができない。
[発明の目的] この発明は、」二連した各課題に鑑みてなされたもので
あり、光源の出射光軸のバラツキ、あるしXは受光素子
、ウェッジプリズム等の調整を容易に行い得る光学式情
報記録再生装置の光学系を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明は、上記目的の達成を図るため、光束を発する
光源部と、光束を光ディスク上に収束させる対物レンズ
と、光源部と対物レンズとの間の光路中に設けられて光
ディスクで反射された光束を光路から分離するビームス
プリッタ−と、分離された光束を受光素子上に集光する
集光レンズと、光源部から集光レンズまでの光路中に設
けられた平行平面板と、光ディスクに投影した際にディ
スク接線方向に相当する回動軸を有して平行平面板を回
動自在に支持する調整機構とを協えることを特徴とする
[作用] この発明に係る光学系は、上述したような構成としたた
め、平行平面板を回動調整することにより、受光素子か
ら検出されるトラッキンクオフセットを補正することが
できる。
[実施例] 以下、この発明を図面に基づいて説明する。
(第1実施例) 第1図〜第5図はこの発明の第1実施例を示したもので
ある。
図示されるようにこの光学系Cは、半導体レーザ1及び
コリメートレンズ2から成る光源部、平行平面板12、
整形プリズム一体型のビームスプリッタ−13、光束を
光磁気ディスク側へ反射させる反射プリズム14、平行
光束を集光してディスクロ上にスポットを形成する対物
レンズ5を備えている。
ディスクDで反射された光束の一部は整形プリズム付ビ
ームスプリッタ−13によって入射時とは異なる方向へ
反射され、172波長板6、ウェッジプリズム付偏光ビ
ームスプリッタ−20、集光レンズ10、シリンドリカ
ルレンズ11を介して受光素子30上に集光する。
平行平面板12は、例えば第2図に示したような調整機
構に組み付けられて光ディスクに投影した際にディスク
接線方向に相当する回動軸2回りに回動自在に支持され
ている。
この調整機構は、本体のV字溝40内に載置されて一端
に平行平面板が固定された円柱状のホルダ41と、この
ホルダー41を回動調整可能に上方から抑え込む板バネ
42と、図中の下方から本体側に穿設されたガイド穴4
3に挿入される調整部組44とから構成されている。調
整部材44の先端には、中心から偏心した位置にビン4
4aが突設されており、このビン44aをホルダー41
の切り欠き部分に係合させることにより、調整部材44
を回動させることによってホルダーを回動調整すること
ができる。平行平面板12は、このホルダー41と一体
に形成され、あるいは一体に接着固定されているため、
ホルダー41の軸中心に回動調整可能である。
平行平面板12を上記のようにコリメートレンズ2と整
形プリズム付ビームスプリッタ−13との間の光束が平
行光となる部分に配置した場合には、平行平面板12が
平行光束の光軸と垂直であれば第3図(a)に示すよう
に以降の光路に何等変化を与えないが、これを回動させ
た場合には、第3図(b)のごとく光束をδだけ平行に
シフトさせて対物レンズ5へ入射する際の光量分布を変
化させることができる。
上記のウェッジプリズム付ビームスプリッタ−20は、
第10図に示したように172波長板6を出射した光束
の光軸と略45°の角度をなす第1反射面21と、この
第1反射面21に対してそれぞれ所定の角度傾斜する屋
根形の第2、第3反射面22.23とを有している。そ
して、上記の第1反射面21には、S偏光成分を反射さ
せ、P偏光成分を透消させる偏光分離コーティングが施
されている。
また、第2、第3反射面22.23の交線となる稜線2
0aは、第1反射面21を透過した光束のトラック幅方
向に相当する方向の直径に略一致させてあり、この光束
をトラッキングエラーの極性が得られるように2分して
裏面反射させる。
前述した受光素子30は、第4図に示したように、2列
2段で並ぶ4つの受光領域31a、31b、31c、3
1dから成るフォーカシングエラー検出用受光部31と
、このフォーカシングエラー検出用受光部31を挟んで
図中左右両側に設けられた二つの受光領域32a、32
bから成るトラッキングエラー検出用受光部32とを有
している。
上記のように構成された光学系Cでは、半導体レ1〇− ザー1が発する直線偏光の光束が、コリノー1−レンズ
2で平行光束とされ、整形プリズム(qビームスプリッ
タ−13の入射端面13aで断面形状が円形に補正され
て一部が透過する。そして、反射プリズム14で反射さ
れた光束が対物レンズ5によって光磁気ディスクロ上に
スポットを結び、この光磁気ディスクDで反射されて再
び対物レンズ5を介して整形プリズム付ビームスプリッ
タ−13に入射する。
更に、このビームスプリッタ−13で反射されて172
波長板6を透過した光束は、ウェッジプリズム何ビーム
スプリッタ−20の第1反射面21に達するが、この際
第1反射面21に対するS偏光成分は、第1O図に示す
ように第1反射面21で反射され、第1反射面21に対
するP偏光成分は第1反射面21を透過すると共に、第
2、第3反射面22.23でそれぞれ異なる方向へ向け
て反射される。
そして、いずれの光束も集光レンズ10及びシリンドリ
カルレンズ11を介して受光素子30に向って集束する
なお、対物レンズ5は、光磁気ディスクDの1fri振
れや偏心に起因するフォーカシングエラー、 トラッキ
ングエラーを補正するため、後述する各エラ信号に基づ
き、図示しないアクチュエータによって駆動される。
次に、この光学系Cが設けられた光磁気ディスク用情報
記録再生装置の作用を、情報の記録時と記録された情報
の再生時とに分けて説明する。
まず、光磁気ディスクDに情報を記録する際には、半導
体レーザー1を情報信号に応じて発振させ、高出力のレ
ーザービームを微小スポットに集束させて光磁気ディス
クDのトラックに照射する。そして、このレーザービー
ムにより局所的にディスクの温度を−I−昇させてその
部分の抗磁力を低下させると共に、図示しない磁石によ
って外部から弱い磁界を印加し、昇温した部分の磁化を
反転させる。
このようにしてレーザービームが照射された部分とされ
ない部分とで磁化の方向を異ならせ、この磁化の方向に
よって情報を記録する。
一方、−1−記のようにして記録された情報の再生には
、従来と同様に磁気カー効果による偏光方向の回転を利
用する。
すなわち上記の光学系Cでは、半導体レーザから発し光
磁気ディスクDで反射した光束の偏光方向が、スポット
が結ばれた位置の磁化の方向に応じて十〇あるいは一部
だけ回転し、ハーフミラ−プリズム4で反射された後、
更に172波長板6によって45°回転させられる。
上記のようにして偏光方向が回転させられた光束は、ウ
ェッジプリズムイ」ビームスプリッタ−によりP偏光成
分とS偏光成分とに分かれてフォーカシングエラー検出
用受光部31とトラッキングエラー検出用受光部32と
に照射される。そこで、2つの受光部31と32との出
力の差をとることによって、略2θに比例したプラス、
マイナスの再生信号を得ることができる。
また、フォーカシングエラー信号は、受光領域31a、
31cの出力の和と、受光領域31b、31dの出力の
和との差をとることにより、非点収差法によって検出す
ることができる。
更に、 トラッキングエラー信号の検出は、 トラッキ
ングエラー検出用受光部32のそれぞれの受光領域32
a、32bの出力を引算することによって行っている。
それぞれの受光領域32a、32bに照射される光束の
強度は、スポットとガイド溝との相対的な位置関係によ
って変化する。
すなわち、光磁気ディスクDJ−にスポットを結んだ光
束は、ディスクに形成されたガイド溝によって回折され
るため、反射光束のファーフィールドパターンもこれら
の位置関係によって変化する。
ウェッジプリズム20の第2、第3反射面22.23は
、ファーフィールドパターンの変化による極性が得られ
るように反射光束を2分する構成とされているため、こ
れらの光束が照射された受光領域32a、32bの出力
を引算すればプッシュプル法によるトラッキングエラー
検出を行い得る。
このとき光源部の出射光軸が理恕光軸とずれており、ト
ラッキングエラー成分にオフセ・ソトが含まれる場合に
は、前記の調整機構によって平行平面板12を適宜回動
調整することにより、対物レンズに対する入射光束の強
度分布を対称形として受光素子によって検出されるプッ
シュプルオフセットを除去することができる。
なお、第4図及び第5図は調整機構の変形例を示したも
のである。
第4図の構成では、板バネ42を用いてホルダー41を
L字形の段部45に対して位置決めすることによって構
成を簡略化している。
また、第5図の構成では平行平面板12を薄形のホルダ
ー41.41で両側から保持することにより省スペース
化を図っている。
(第2実施例) 第6図及び第7図はこの発明の第2実施例を示したもの
である。
この例では、平行平面板12を172波長板6とウェッ
ジプリズム付ビームスプリッタ−20との間に設けてい
る点のみが第1実施例と異なる。調整機構についても第
1実施例と同様の構成とすることができる。
このような構成とすれば、第7図に示したように平行平
面板12の回動調整によってP偏光成分のウェッジプリ
ズムの稜線に対する位置を変化させ、分離される光束の
光量バランスを調整することができる。従って、ウェッ
ジプリズム付ビームスプリッタ−20、あるいは受光素
子30の位置精度が低い場合にもこれらに起因するトラ
ックオフセットを容易に補正することができる。
なお、これらの例では、トラッキングエラーとフォーカ
シングエラーとを1つの素子で検出できる一体型の受光
素子を用いる構成のみを示したが、この発明は、第8図
に示したような分離型の光学系に適用することも可能で
ある。
[効果コ 以上、説明してきたようにこの発明によれば、光源部の
出射光軸のバラツキに起因する強度分布のオフセットや
ウェッジプリズムと光束との位置ズレに基づくトラック
オフセットを平行平面板の回動調整によって容易に補正
することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係る光学式情報記録再生装置の光学
系の第1実施例を示す説明図、第2図は調整機構の一例
を示す説明図、第3図(a)、(b)は第1図に示した
光学系における平行平面板の作用を示す説明図、第4図
及び第5図は調整機構の変形例を示す説明図、第6図は
この発明の第2実施例を示す説明図、第7図(a)、(
b)は第6図に示した光学系における平行平面板の作用
を示す説明図、第8図は従来の光学式情報記録再生装置
の説明図、第9図は他の従来例を示す説明図、第10図
はウェッジプリズム付ビームスプリッタ−の斜視図、第
11図は受光素子の平面図である。 第 1 区 3・・・整形プリズム付ビームスプリッタ−(ビームス
プリッタ−) 5・・・対物レンズ 9・・・集光レンズ20・・・受
光素子 D・・・光磁気ディスク(光ディスク)♀1

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光束を発する光源部と、該光束を光ディスク上に
    収束させる対物レンズと、前記光源部と前記対物レンズ
    との間の光路中に設けられて前記光ディスクで反射され
    た光束を前記光路から分離するビームスプリッターと、
    分離された光束を受光素子上に集光する集光レンズと、
    前記光源部から前記集光レンズまでの光路中に設けられ
    た平行平面板と、前記光ディスクに投影した際にディス
    ク接線方向に相当する回動軸を有して前記平行平面板を
    回動自在に支持する調整機構とを備えることを特徴とす
    る光学式情報記録再生装置の光学系。
  2. (2)前記平行平面板は、前記光源部と前記ビームスプ
    リッターとの間の光路中に設けられていることを特徴と
    する請求項1記載の光学式情報記録再生装置の光学系。
  3. (3)前記平行平面板は、前記ビームスプリッターと前
    記集光レンズとの間の光路中に設けられていることを特
    徴とする請求項1記載の光学式情報記録再生装置の光学
    系。
  4. (4)前記ビームスプリッターと前記平行平面板との間
    の光路中に、1/2波長板を備え、前記平行平面板と前
    記集光レンズとの間の光路中に反射光束中の互いに直交
    する偏光成分の何れか一方を入射方向とは異なる方向へ
    反射させ他方を透過させるよう偏光分離コーティングが
    なされた第1反射面及び該第1反射面を透過した光束を
    トラッキングエラーの極性が得られるように2分してそ
    れぞれ異なる方向へ裏面反射させる第2、第3反射面を
    有するウェッジプリズムを備え、前記受光素子は、前記
    第1反射面で反射された光束が集束するフォーカシング
    エラー検出用受光部、及び該フォーカシングエラー検出
    用受光部を挟んで両側に設けられ前記第2、第3反射面
    で裏面反射された光束のそれぞれが集束する2つの受光
    領域から成るトラッキングエラー検出用受光部を有する
    ことを特徴とする請求項3記載の光学式情報記録再生装
    置の光学系。
JP63217834A 1988-08-31 1988-08-31 光学式情報記録再生装置の光学系 Pending JPH0266733A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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