JPH026393A - Ti:Al↓2O↓3―チューナブルレーザー結晶のレーザー発光を高める方法 - Google Patents
Ti:Al↓2O↓3―チューナブルレーザー結晶のレーザー発光を高める方法Info
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- JPH026393A JPH026393A JP1027717A JP2771789A JPH026393A JP H026393 A JPH026393 A JP H026393A JP 1027717 A JP1027717 A JP 1027717A JP 2771789 A JP2771789 A JP 2771789A JP H026393 A JPH026393 A JP H026393A
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-
- H—ELECTRICITY
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
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- C30B29/16—Oxides
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- C30B33/00—After-treatment of single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は米国海軍省によって承認された契約番号第N
66001−86〜c−oo5t 号に上って米国政
府の支持のもとになされたものである。政府はこの発明
に一定の権利を宵する。
66001−86〜c−oo5t 号に上って米国政
府の支持のもとになされたものである。政府はこの発明
に一定の権利を宵する。
本発明は一般的にはレーザーの分野に関する。
より特別にはこの発明はチタンドープされたチューナプ
ルサファイアTi :Al2O3のレーザー発光効率を
改善する方法に関する。
ルサファイアTi :Al2O3のレーザー発光効率を
改善する方法に関する。
(従来の技術)
固体のチューナブルレーザー物質はこの技術分野におい
て1960年代はじめ頃から既に知られており、モして
P、F、 Moulton (雑誌La5er Fo
cus1963 年5月号)によってTi:八I2O
3は750 nmから 900 nmまでの有効レーザ
ー発光チューニング範囲を存するチューナブルレーザー
物質として見出された。Ti:A1□03の吸収スペク
トル範囲は約650 nmまで広がると報告されている
が、しかしながらチタンドープしたサファイアTi :
Al2O3の製造過程において特別な注意を払わない限
り、その吸収スペクトルは約650 r+mにおいて最
小値に達するが、その全レーザー発光領域に及び、そく
ない結果をもたらす。
て1960年代はじめ頃から既に知られており、モして
P、F、 Moulton (雑誌La5er Fo
cus1963 年5月号)によってTi:八I2O
3は750 nmから 900 nmまでの有効レーザ
ー発光チューニング範囲を存するチューナブルレーザー
物質として見出された。Ti:A1□03の吸収スペク
トル範囲は約650 nmまで広がると報告されている
が、しかしながらチタンドープしたサファイアTi :
Al2O3の製造過程において特別な注意を払わない限
り、その吸収スペクトルは約650 r+mにおいて最
小値に達するが、その全レーザー発光領域に及び、そく
ない結果をもたらす。
その上に、レーザー発光用結晶として使用するのに適し
たTi:Al2O,材料を作るのに、チタンの比較的僅
かな量しか使われないことが見出されている。溶融物中
のチタンの含有量が1%のときでさえ従来技術によって
作られた結晶は650 nmから1100 nmまでの
範囲において1 cm当り 12%の光吸収率を有す
る。しばしば望ましくない吸収ピークがそのチューナプ
ル帯域幅の中央部分において、すなわち約8500mに
おいて現われる。
たTi:Al2O,材料を作るのに、チタンの比較的僅
かな量しか使われないことが見出されている。溶融物中
のチタンの含有量が1%のときでさえ従来技術によって
作られた結晶は650 nmから1100 nmまでの
範囲において1 cm当り 12%の光吸収率を有す
る。しばしば望ましくない吸収ピークがそのチューナプ
ル帯域幅の中央部分において、すなわち約8500mに
おいて現われる。
ァイアレーザー物質のレーザー発光効率を改善すること
か望まれていた。
か望まれていた。
の一つが本発明者の米国特許第4.711,696
号に記述されており、これは本願において参考文献とし
て採用される。この特許公報に開示された方法は、その
結晶を製造するのに用いられるプロセス条件によってそ
のチタンでドープされたサファイア結晶のレーザー発光
効率を高めることを包含する。一般に、上記のプロセス
条件はその結晶のための前駆体混合物を、溶融温度へ向
フて加熱されつつある一酸化炭素含有霊囲気のもとで準
備することを含む。有利には一酸化炭素は混合物が液化
する前に存在しているのがよい。この−酸化炭素含有雰
囲気はしばしば、その溶融温度において、また冷却の過
程において、水素含有雰囲気で置き換えられる。−酸化
炭素はその溶融物の温度、すなわち約1600ないし2
050℃及びそれ以上の温度において分解し得る。上述
の各段階は例えば窒素、アルゴン又は他の不活性ガスの
ような非反応性雰囲気の中で行なわれ、その際上記の還
元性ガスはこの雰囲気の中へ供給される。この非反応性
雰囲気は好ましくは容積で約5 ppm から1%
までの水素を含むが、しかしながら例えば5 pp!
I+から20容積%までと言うようなより高い水素濃度
を用いることもでき、但し安全性の考慮のもとにこのよ
うな高い濃度は一般には回避される。
号に記述されており、これは本願において参考文献とし
て採用される。この特許公報に開示された方法は、その
結晶を製造するのに用いられるプロセス条件によってそ
のチタンでドープされたサファイア結晶のレーザー発光
効率を高めることを包含する。一般に、上記のプロセス
条件はその結晶のための前駆体混合物を、溶融温度へ向
フて加熱されつつある一酸化炭素含有霊囲気のもとで準
備することを含む。有利には一酸化炭素は混合物が液化
する前に存在しているのがよい。この−酸化炭素含有雰
囲気はしばしば、その溶融温度において、また冷却の過
程において、水素含有雰囲気で置き換えられる。−酸化
炭素はその溶融物の温度、すなわち約1600ないし2
050℃及びそれ以上の温度において分解し得る。上述
の各段階は例えば窒素、アルゴン又は他の不活性ガスの
ような非反応性雰囲気の中で行なわれ、その際上記の還
元性ガスはこの雰囲気の中へ供給される。この非反応性
雰囲気は好ましくは容積で約5 ppm から1%
までの水素を含むが、しかしながら例えば5 pp!
I+から20容積%までと言うようなより高い水素濃度
を用いることもでき、但し安全性の考慮のもとにこのよ
うな高い濃度は一般には回避される。
上述の技術によって作られた結晶は好ましい高められた
レーザー発光特性を有する。チタンでドープされたレー
ザー物質のレーザー発光特性を記述する際の宵月なパラ
メータの一つとして良度指数(Figure of M
erit )が用いられる。この良度指数はその結晶の
830 nmの波長における透過率(c[o当りの%)
とこの結晶の490 nmの波長における透過率との比
で表わされる。この出願の明細書に記述される方法によ
フて良度指数1.00 以上を存するチタントープさ
れたサファイア結晶が得られているか、良度指数60な
いし80の結晶は容易に作られる。上述した方法を用い
て作られる結晶は従来得られているものよりも著しい改
善をもたらすけれども、更に高い、例えば120 以
上の良度指数のチタンドープされたサファイアレーザー
結晶への要求が生じた。
レーザー発光特性を有する。チタンでドープされたレー
ザー物質のレーザー発光特性を記述する際の宵月なパラ
メータの一つとして良度指数(Figure of M
erit )が用いられる。この良度指数はその結晶の
830 nmの波長における透過率(c[o当りの%)
とこの結晶の490 nmの波長における透過率との比
で表わされる。この出願の明細書に記述される方法によ
フて良度指数1.00 以上を存するチタントープさ
れたサファイア結晶が得られているか、良度指数60な
いし80の結晶は容易に作られる。上述した方法を用い
て作られる結晶は従来得られているものよりも著しい改
善をもたらすけれども、更に高い、例えば120 以
上の良度指数のチタンドープされたサファイアレーザー
結晶への要求が生じた。
(課題を解決するための手段)
本願明細書に開示された方法を用いて達成されるチタン
ドープされたサファイア結晶の良度指数の著しい改善が
容易に得られるということは嘗て証明されたことがない
。理論に制限されることを望むものではないけれとも、
本発明者等はこのレーザー結晶を製造するのに用いるア
ルミナ溶融物が反応性酸素又は反応性酸素含有化学種の
存在する成る平衡状態を示すものと信じている。この反
応性酸素又は酸素含有化字種はチタンの酸化状態に逆の
itを及ぼすことができて良度指数を低下させるチタン
化学種を作り出す。これらのチタン化学種はTi“3:
Ti“4 のカップルであると信じられる。従ってチタ
ンでドープされたサファイアレーザー結晶を用いて得ら
れるその良度指数に実際的な限度が存在すると考えられ
る。
ドープされたサファイア結晶の良度指数の著しい改善が
容易に得られるということは嘗て証明されたことがない
。理論に制限されることを望むものではないけれとも、
本発明者等はこのレーザー結晶を製造するのに用いるア
ルミナ溶融物が反応性酸素又は反応性酸素含有化学種の
存在する成る平衡状態を示すものと信じている。この反
応性酸素又は酸素含有化字種はチタンの酸化状態に逆の
itを及ぼすことができて良度指数を低下させるチタン
化学種を作り出す。これらのチタン化学種はTi“3:
Ti“4 のカップルであると信じられる。従ってチタ
ンでドープされたサファイアレーザー結晶を用いて得ら
れるその良度指数に実際的な限度が存在すると考えられ
る。
本発明者キに与えられた米国特許第4,587,035
号公報はチタンドープされたレーザー物質結晶をレーザ
ー発光効率の上昇のために真空焼なまし処理することを
開示している。
号公報はチタンドープされたレーザー物質結晶をレーザ
ー発光効率の上昇のために真空焼なまし処理することを
開示している。
この発明において本発明者キは、少なくとも約120以
上、好ましくは少なくとも約200 以上の良度指数
を有するチタンドープされたサファイアレーザー結晶及
びこのようなチタンドープされたサファイアレーザー結
晶の良度指数を高める方法を提供するものである。本発
明の方法によればチタンでドープされたサファイア結晶
を少なくとも約1750℃からこの結晶が結晶性を失う
に到る温度以下の温度まで、例えば約1750℃から2
025°Cまでの温度において十分な水素の含まれた:
囲気の中でこの結晶の良度指数の上昇に十分な時間にわ
たり保持する。本発明に従い得られる結晶は特に所望の
レーザー発光特性を有するチューナブルレーザー物質と
して有用である。本願発明の一つは650 nmから
1100 nm までの範囲において有利な光透過率
特性を有するチタントープされたサファイア結晶に関す
る。特に望ましいレーザー用結晶は、この結晶を作るた
めの溶融物中におけるチタンの?ift%の2乗の10
倍以下、しばしば8倍以下、好ましくは5倍よりも少な
い光吸収率(cm当りの%)を上記の屍囲内において(
しばしば850 ntnで測定して)を示す。すなわち
例えば1.5重量%のチタンを含む溶融物についてはこ
の光吸収率はcan当り (1,5)2X 10 、
すなわち22.5 %よりも低い。実際に本発明に従
う方法によってその溶融物中のチタン含有1約1.5
重1%のものを用いて作った結晶はセンチルードル当
り約3ないし4%の光吸収率をもたらした。チタンでド
ープされたサファイア (Al2O2) の結晶はし
ばしば約0.02から 2.0 アトム%、しばしば
0.02 から 1.0 アトム%のチタンを含む
溶融物から作られる。この溶融物は高純度のTiO2(
(:r、Fe、 Si、Ca の含有量50 ppm
以下)と、及ヒ高純度Al2O3、すなわち例えばSi
、 Cr、 Fe及びMg のような不純物を10
0 ppm よりも僅かしか含まないようなサファイ
ア「クララクル」との混合物を、約2020℃から20
80℃までの範囲の溶融温度に加熱することによって作
られる。
上、好ましくは少なくとも約200 以上の良度指数
を有するチタンドープされたサファイアレーザー結晶及
びこのようなチタンドープされたサファイアレーザー結
晶の良度指数を高める方法を提供するものである。本発
明の方法によればチタンでドープされたサファイア結晶
を少なくとも約1750℃からこの結晶が結晶性を失う
に到る温度以下の温度まで、例えば約1750℃から2
025°Cまでの温度において十分な水素の含まれた:
囲気の中でこの結晶の良度指数の上昇に十分な時間にわ
たり保持する。本発明に従い得られる結晶は特に所望の
レーザー発光特性を有するチューナブルレーザー物質と
して有用である。本願発明の一つは650 nmから
1100 nm までの範囲において有利な光透過率
特性を有するチタントープされたサファイア結晶に関す
る。特に望ましいレーザー用結晶は、この結晶を作るた
めの溶融物中におけるチタンの?ift%の2乗の10
倍以下、しばしば8倍以下、好ましくは5倍よりも少な
い光吸収率(cm当りの%)を上記の屍囲内において(
しばしば850 ntnで測定して)を示す。すなわち
例えば1.5重量%のチタンを含む溶融物についてはこ
の光吸収率はcan当り (1,5)2X 10 、
すなわち22.5 %よりも低い。実際に本発明に従
う方法によってその溶融物中のチタン含有1約1.5
重1%のものを用いて作った結晶はセンチルードル当
り約3ないし4%の光吸収率をもたらした。チタンでド
ープされたサファイア (Al2O2) の結晶はし
ばしば約0.02から 2.0 アトム%、しばしば
0.02 から 1.0 アトム%のチタンを含む
溶融物から作られる。この溶融物は高純度のTiO2(
(:r、Fe、 Si、Ca の含有量50 ppm
以下)と、及ヒ高純度Al2O3、すなわち例えばSi
、 Cr、 Fe及びMg のような不純物を10
0 ppm よりも僅かしか含まないようなサファイ
ア「クララクル」との混合物を、約2020℃から20
80℃までの範囲の溶融温度に加熱することによって作
られる。
Ti:AI□03結晶の一つは例えばよく知られている
Czochralski 法による溶融物から作るこ
とがば゛、このような結晶は例えば容積で約59[][
l+ から1%までの還元性ガスを含む非反応性雰囲
気の存在において作ることができる。この還元性ガス水
素ガスと置き換えられる。このように高温度における一
酸化炭素の置換は一酸化炭素の分解に基づくカーボン汚
染を防ぐために要求される。
Czochralski 法による溶融物から作るこ
とがば゛、このような結晶は例えば容積で約59[][
l+ から1%までの還元性ガスを含む非反応性雰囲
気の存在において作ることができる。この還元性ガス水
素ガスと置き換えられる。このように高温度における一
酸化炭素の置換は一酸化炭素の分解に基づくカーボン汚
染を防ぐために要求される。
本発明の方法はいかなる便利な形のチタンドープされた
サファイア結晶を処理するのにも用いることができる。
サファイア結晶を処理するのにも用いることができる。
例えば、溶融物から作られた結晶歪は本発明に従って処
理することができ、また例えばレーザー棒の形の結晶の
ような、その溶融物から得られるいかなる結晶生成物も
同様である。
理することができ、また例えばレーザー棒の形の結晶の
ような、その溶融物から得られるいかなる結晶生成物も
同様である。
しばしば、その結晶は約10 cm 以下、好ましく
は5 CDI以下の最小平均断面厚さを有している。
は5 CDI以下の最小平均断面厚さを有している。
それよりも大きな結晶も使用することはできるけれども
、その場合にはその処理はより長い時間をかけて行なわ
なければならない。
、その場合にはその処理はより長い時間をかけて行なわ
なければならない。
1600℃との間の温度において還元性ガスとして用い
ることもできるが、これは結晶形成のための、例えば2
050℃と言うような高い温度の場合には度を使用する
こともできるか、その結晶の良度指数の改善の速度は一
般に経済的に可能なものよりも遅過ぎる。結晶製品はそ
れが認め得る可塑化の開始する温度まで加熱してはなら
ない。溶融が起ったならば酸素又は酸素含有化学種が生
じてこれかそのチタンの酸化状態に逆の影響をもたらす
。
ることもできるが、これは結晶形成のための、例えば2
050℃と言うような高い温度の場合には度を使用する
こともできるか、その結晶の良度指数の改善の速度は一
般に経済的に可能なものよりも遅過ぎる。結晶製品はそ
れが認め得る可塑化の開始する温度まで加熱してはなら
ない。溶融が起ったならば酸素又は酸素含有化学種が生
じてこれかそのチタンの酸化状態に逆の影響をもたらす
。
従って最高温度は一般に約2025℃である。温度をこ
の範囲内で丘昇させた場合にその良度指数の改善をもた
らすに必要な時間が減少する。従フて例えば約1850
℃ないし2025℃の温度、例えば約1900℃ないし
2000℃の温度がしばしば用いられる。
の範囲内で丘昇させた場合にその良度指数の改善をもた
らすに必要な時間が減少する。従フて例えば約1850
℃ないし2025℃の温度、例えば約1900℃ないし
2000℃の温度がしばしば用いられる。
その結晶製品の加熱と冷却の速度はその製品の中に過剰
の歪が形成されるのを避けるのに十分な程に遅くなけれ
ばならない。従ってこの速度はその結晶製品の大きさと
形状とに依存する。通常この加熱及び冷却の速度は1時
間当り 50”Cよりも低い。
の歪が形成されるのを避けるのに十分な程に遅くなけれ
ばならない。従ってこの速度はその結晶製品の大きさと
形状とに依存する。通常この加熱及び冷却の速度は1時
間当り 50”Cよりも低い。
処理雰囲気中に存在する水素の看は良度指数の改善の速
度に成る影響を存する。一般に水素はその7囲気の容積
について少なくとも約20%から]00%までの量で存
在する。最も好ましくは水素はその雰囲気の容積につい
て少なくとも約40%以上、例えば50ないし100%
、好ましくは75ないし100%の量で存在する。この
:囲気は例えば窒素ガスやアルゴンのような不活性成分
を含むことができる。その処理は例えば0.001
バールおいても実施することができる。好ましくはこの
〆。
度に成る影響を存する。一般に水素はその7囲気の容積
について少なくとも約20%から]00%までの量で存
在する。最も好ましくは水素はその雰囲気の容積につい
て少なくとも約40%以上、例えば50ないし100%
、好ましくは75ないし100%の量で存在する。この
:囲気は例えば窒素ガスやアルゴンのような不活性成分
を含むことができる。その処理は例えば0.001
バールおいても実施することができる。好ましくはこの
〆。
処理は安全性の考慮に基づいて大気圧以下の低い圧力に
おいて行なわれるが、但し高い全圧は水素のより高い分
圧に好ましい影響をもたらす。この圧力はしばしば約0
.01ないしIOバール(ゲージ)であることができる
。
おいて行なわれるが、但し高い全圧は水素のより高い分
圧に好ましい影響をもたらす。この圧力はしばしば約0
.01ないしIOバール(ゲージ)であることができる
。
水素の濃度及び水素分圧は良度指数の改善速度に影響を
有する。一般には水素濃度が高ければ高いほど改善の速
度は速くなる。約40容積%以下の水素濃度においては
この改善速度は経済的な操業に不都合なほどに遅くなり
得る。
有する。一般には水素濃度が高ければ高いほど改善の速
度は速くなる。約40容積%以下の水素濃度においては
この改善速度は経済的な操業に不都合なほどに遅くなり
得る。
その処理時間は対象とする結晶について想定される所望
の良度指数、並びに用いた温度及び水素濃度によって左
右される。すなわち(この処理は1時間程度から数週間
以上に及ぶことができる。
の良度指数、並びに用いた温度及び水素濃度によって左
右される。すなわち(この処理は1時間程度から数週間
以上に及ぶことができる。
しばしば、筒状の形状及び約5 cmの直径を有する結
晶を良度指数約60〜80か6120 以上にまで品
質を高めるために、処理温度1900ないし2000℃
及び水素濃度約50容積%において処理時間(浸漬時間
)約20ないし100 時間、例えば約40ないし7
0時間が用いられる。
晶を良度指数約60〜80か6120 以上にまで品
質を高めるために、処理温度1900ないし2000℃
及び水素濃度約50容積%において処理時間(浸漬時間
)約20ないし100 時間、例えば約40ないし7
0時間が用いられる。
好ましくはこの時間はその良度指数を少なくとも約10
0以上させるのに十分であり、そして最も好ましくはそ
の結晶が処理の後で少なくとも約100以上の良度指数
、例えば少なくとも約120、そして最も好ましくは少
なくとも約150 ないし200の値を有するように
するのに十分な時間である。 1000以上の良度指数
においてはその良度指数を測定する際のいかなる精度も
分析誤差によってしばしば制限され得る。本発明の方法
はいかなる良度指数の値を有するTi :A1□03結
晶を用いても適用することができるが、通常はその結晶
は処理に先立って少なくとも約40以上、好ましくは少
なくとも約50以上の良度指数を有するのがよい。
0以上させるのに十分であり、そして最も好ましくはそ
の結晶が処理の後で少なくとも約100以上の良度指数
、例えば少なくとも約120、そして最も好ましくは少
なくとも約150 ないし200の値を有するように
するのに十分な時間である。 1000以上の良度指数
においてはその良度指数を測定する際のいかなる精度も
分析誤差によってしばしば制限され得る。本発明の方法
はいかなる良度指数の値を有するTi :A1□03結
晶を用いても適用することができるが、通常はその結晶
は処理に先立って少なくとも約40以上、好ましくは少
なくとも約50以上の良度指数を有するのがよい。
本発明の方法はチタンでドープされたサファイア結晶の
レーザー発光効率を高めるための簡便な手段の一つを提
供するものである。この方法の特に有利な特徴は現存の
チタンドープされた種々のサファイア結晶製品の品質を
上昇させる効率及び能力である。
レーザー発光効率を高めるための簡便な手段の一つを提
供するものである。この方法の特に有利な特徴は現存の
チタンドープされた種々のサファイア結晶製品の品質を
上昇させる効率及び能力である。
(発明の実施例〕
以下本発明を実施例によって更に詳細に説明するか、本
発明はこれらによってなんら制限を受けるものではない
。
発明はこれらによってなんら制限を受けるものではない
。
例
円筒形棒体の形の種々のチタンドープされたサファイア
結晶を焼なまし炉の中で処理する。それぞれの結晶の良
度指数をこの処理の桶と後とで測定する。下記表■ に
用いた結晶の諸元を、そして表IIにそれら結晶の処理
条件と良度指数とをあげる。
結晶を焼なまし炉の中で処理する。それぞれの結晶の良
度指数をこの処理の桶と後とで測定する。下記表■ に
用いた結晶の諸元を、そして表IIにそれら結晶の処理
条件と良度指数とをあげる。
各結晶は処理の後でより低いレーザー発光効率)W、例
えば結晶Bのレーザースレスホ−ルドは処理の前に約4
2ミリジユールであったけれども、処理の後ではこれは
8.6 ミリジュールになっている。レーザー出力も
上昇する。結晶Bについては処理の前にレーザー出力は
約46.5ミリワツトであったのに対し、処理の後では
これは205 ミリワットになっている。結晶Hにつ
いては成長に伴う気泡が内部散乱を生じてこれが良度指
数をもともと低下させている。
えば結晶Bのレーザースレスホ−ルドは処理の前に約4
2ミリジユールであったけれども、処理の後ではこれは
8.6 ミリジュールになっている。レーザー出力も
上昇する。結晶Bについては処理の前にレーザー出力は
約46.5ミリワツトであったのに対し、処理の後では
これは205 ミリワットになっている。結晶Hにつ
いては成長に伴う気泡が内部散乱を生じてこれが良度指
数をもともと低下させている。
表 I
* :
この結晶は成長時気泡を含んでいた。
Claims (8)
- (1)レーザー物質として適した、Tiでドープされた
Al_2O_3結晶のレーザー発光を高める方法におい
て、この結晶を十分な水素の含まれた不活性雰囲気の中
で約1750℃ないし2025℃の温度において、この
結晶の良度指数の高揚に十分な時間保持することよりな
る方法。 - (2)水素が上記の雰囲気の中に少なくとも約20容積
%の量で存在している、請求項1記載の方法。 - (3)水素が上記の雰囲気の中に少なくとも約40容積
%の量で存在している、請求項1記載の方法。 - (4)結晶が約1850℃から2000℃までの温度に
保持される、請求項1記載の方法。 - (5)固相混合物が約0.02から1.0アトム%のチ
タンを含んでいる、請求項1記載の方法。 - (6)結晶の良度指数が少なくとも約10%まで改善さ
れる、請求項1記載の方法。 - (7)結晶の良度指数が少なくとも約120に高められ
る、請求項1記載の方法。 - (8)約0.02から1.0アトム%のチタンを含み、
そして少なくとも約150の良度指数を有する、チタン
でドープされたアルミナよりなるチューナブルレーザー
結晶。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US154,033 | 1988-02-09 | ||
| US07/154,033 US4836953A (en) | 1988-02-09 | 1988-02-09 | Processes for enhancing fluorescence of TI:A1203 tunable laser crystals |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH026393A true JPH026393A (ja) | 1990-01-10 |
| JPH0513914B2 JPH0513914B2 (ja) | 1993-02-23 |
Family
ID=22549725
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1027717A Granted JPH026393A (ja) | 1988-02-09 | 1989-02-08 | Ti:Al↓2O↓3―チューナブルレーザー結晶のレーザー発光を高める方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4836953A (ja) |
| EP (1) | EP0328073B1 (ja) |
| JP (1) | JPH026393A (ja) |
| CA (1) | CA1321122C (ja) |
| DE (1) | DE68903228T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010079779A1 (ja) * | 2009-01-07 | 2010-07-15 | 財団法人新産業創造研究機構 | 波長可変レーザー発振酸化物結晶の作製方法 |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4988402A (en) * | 1988-02-09 | 1991-01-29 | Union Carbide Chemicals And Plastics Company Inc. | Processes for enhancing fluorescence of tunable titanium-doped oxide laser crystals |
| US5037200A (en) * | 1989-07-11 | 1991-08-06 | Tosoh Corporation | Laser-operated detector |
| JP3351477B2 (ja) * | 1993-02-04 | 2002-11-25 | 理化学研究所 | 固体レーザー結晶薄膜作成方法および固体レーザー結晶薄膜作成装置 |
| JPH0667310U (ja) * | 1993-02-23 | 1994-09-22 | 節子 金田 | ペット・ボトル |
| US5307358A (en) * | 1993-05-20 | 1994-04-26 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Wavelength dispersive gain element for a tunable laser |
| US6996137B2 (en) * | 2002-08-06 | 2006-02-07 | Raytheon Company | Solid-state devices with radial dopant valence profile |
| WO2012077022A1 (en) * | 2010-12-06 | 2012-06-14 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method for increasing the content of ce3+ in laser materials |
| CZ306642B6 (cs) * | 2016-01-12 | 2017-04-12 | Preciosa, A.S. | Způsob zvýšení luminiscenční účinnosti titanem dopovaného oxidového krystalu |
| CN108048908A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-05-18 | 天通银厦新材料有限公司 | 一种大尺寸掺钛蓝宝石激光晶体及其制造工艺 |
| RU2692128C1 (ru) * | 2018-04-02 | 2019-06-21 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" (УрФУ) | СПОСОБ СОЗДАНИЯ ЛАЗЕРНО-АКТИВНЫХ ЦЕНТРОВ ОКРАСКИ В α-Al2O3 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4038117A (en) * | 1975-09-04 | 1977-07-26 | Ilc Technology, Inc. | Process for gas polishing sapphire and the like |
| US4587035A (en) * | 1985-05-20 | 1986-05-06 | Union Carbide Corporation | Process for enhancing Ti:Al2 O3 tunable laser crystal fluorescence by annealing |
| US4711696A (en) * | 1985-05-20 | 1987-12-08 | Union Carbide Corporation | Process for enhancing Ti:Al2 O3 tunable laser crystal fluorescence by controlling crystal growth atmosphere |
-
1988
- 1988-02-09 US US07/154,033 patent/US4836953A/en not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-02-08 DE DE8989102157T patent/DE68903228T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-02-08 EP EP89102157A patent/EP0328073B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-02-08 CA CA000590463A patent/CA1321122C/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-02-08 JP JP1027717A patent/JPH026393A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010079779A1 (ja) * | 2009-01-07 | 2010-07-15 | 財団法人新産業創造研究機構 | 波長可変レーザー発振酸化物結晶の作製方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE68903228T2 (de) | 1993-03-04 |
| EP0328073B1 (en) | 1992-10-21 |
| DE68903228D1 (de) | 1992-11-26 |
| JPH0513914B2 (ja) | 1993-02-23 |
| CA1321122C (en) | 1993-08-10 |
| US4836953A (en) | 1989-06-06 |
| EP0328073A1 (en) | 1989-08-16 |
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