JPH0261520A - 複数の同一プロセスをモニターする方法及び装置 - Google Patents
複数の同一プロセスをモニターする方法及び装置Info
- Publication number
- JPH0261520A JPH0261520A JP1160597A JP16059789A JPH0261520A JP H0261520 A JPH0261520 A JP H0261520A JP 1160597 A JP1160597 A JP 1160597A JP 16059789 A JP16059789 A JP 16059789A JP H0261520 A JPH0261520 A JP H0261520A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- sensor
- response
- output
- monitoring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 53
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims abstract description 37
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 31
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 30
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims description 2
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000012432 intermediate storage Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000004886 process control Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0237—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on parallel systems, e.g. comparing signals produced at the same time by same type systems and detect faulty ones by noticing differences among their responses
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（背景）
本発明は特に少なくとも１つのプロセス・パラメーター
に関しては同じである多数のプロセスが進行中の装置に
おけるプロセスのモニタリングに係わる。
に関しては同じである多数のプロセスが進行中の装置に
おけるプロセスのモニタリングに係わる。
このような装置では、進行中のプロセスのすべてをモニ
ターしなければならない場合が多く、モニター結果を利
用して個々のプロセスの状態を診断するのが普通である
。例えば、各プロセスの少なくとも１つの作用パラメー
ターをモニターし、規定の法則に従って種々の実測パラ
メーターを試験または比較することによって各プロセス
の、従って、プロセス制御成分の作用状態を示す診断を
下さねばならない場合がある。これらの作業はプログラ
ム・サブルーチンによってそれぞれの法則が構成されて
いるデジタル・コンピューターにおいて行なうことかで
きる。
ターしなければならない場合が多く、モニター結果を利
用して個々のプロセスの状態を診断するのが普通である
。例えば、各プロセスの少なくとも１つの作用パラメー
ターをモニターし、規定の法則に従って種々の実測パラ
メーターを試験または比較することによって各プロセス
の、従って、プロセス制御成分の作用状態を示す診断を
下さねばならない場合がある。これらの作業はプログラ
ム・サブルーチンによってそれぞれの法則が構成されて
いるデジタル・コンピューターにおいて行なうことかで
きる。
このような方法はきプロセスに関する情報のうちの任意
の項目を規定の法則に従って比較するかまたは組み合わ
せることによって診断情報を得る診断エキスパート・シ
ステムに採用されている。
の項目を規定の法則に従って比較するかまたは組み合わ
せることによって診断情報を得る診断エキスパート・シ
ステムに採用されている。
システムによっては、同時に進行し、かつ公称作用パラ
メーターが同じかまたは少なくとも１つの公称作用パラ
メーターが共通である多数の実質的に同じプロセスをモ
ニターする場合がある。例えば、ボイラーは加熱されな
がら水が流動させる多数の管から成る水冷壁を含むこと
がある。これらの管はいずれも流量及び熱分布条件が同
じであるという点で公称的に同じである。容管における
状態は、他の構成成分の場合も同様であるが、温度セン
サーによってモニターすればよく、各温度センサーの出
力値はモニター／診断システム全体の一部として検討し
なければならない。
メーターが同じかまたは少なくとも１つの公称作用パラ
メーターが共通である多数の実質的に同じプロセスをモ
ニターする場合がある。例えば、ボイラーは加熱されな
がら水が流動させる多数の管から成る水冷壁を含むこと
がある。これらの管はいずれも流量及び熱分布条件が同
じであるという点で公称的に同じである。容管における
状態は、他の構成成分の場合も同様であるが、温度セン
サーによってモニターすればよく、各温度センサーの出
力値はモニター／診断システム全体の一部として検討し
なければならない。
種々の状態センサーからの出力値をモニターし、モニタ
ーされる装置の運転に精通した専門家の勧告に基づいて
開発された種々の法則に従ってモニター結果をテストし
、組み合わせることは公知である。従って、これらのモ
ニター／診断システムはエキスパート・システムと呼称
される。このようなシステムの１例が１９８７年 ２月
１７日付Ｋｅｍｐｅｒ外の米国特許第４，８４４，４７
９号に開示されている。
ーされる装置の運転に精通した専門家の勧告に基づいて
開発された種々の法則に従ってモニター結果をテストし
、組み合わせることは公知である。従って、これらのモ
ニター／診断システムはエキスパート・システムと呼称
される。このようなシステムの１例が１９８７年 ２月
１７日付Ｋｅｍｐｅｒ外の米国特許第４，８４４，４７
９号に開示されている。
公知のエキスパート・システムは種々のセンサーからの
出力値を解読し、解読された出力値を組み合わせること
によってモニターされる装置の構成成分及びサブシステ
ムの作用状態を診断する。
出力値を解読し、解読された出力値を組み合わせること
によってモニターされる装置の構成成分及びサブシステ
ムの作用状態を診断する。
これらの作業はセンサー出力値の妥当性または信顆度、
診断の確実度及び不確実度、診断された誤動作の深刻度
、重要度及び優先順位などを指示する種々の法則に従っ
て行なわれる。
診断の確実度及び不確実度、診断された誤動作の深刻度
、重要度及び優先順位などを指示する種々の法則に従っ
て行なわれる。
モニターされる装置またはプラントが公称的には同じ複
数プロセスが進行中の多数の公称的には同じ構成成分を
有する場合、それぞれのセンサー出力の評価及びそれぞ
れの診断段階に関連して各法則を実行するために１組の
命令を設定しなければならない、各組の命令はメモリー
に記憶されているサブルーチンの形態を取るのが普通で
ある。
数プロセスが進行中の多数の公称的には同じ構成成分を
有する場合、それぞれのセンサー出力の評価及びそれぞ
れの診断段階に関連して各法則を実行するために１組の
命令を設定しなければならない、各組の命令はメモリー
に記憶されているサブルーチンの形態を取るのが普通で
ある。
従来は各センサーの出力に適用される各法則ごとに別々
の組の命令が設定されるのが一般的であったから、多数
の同じプロセスをモニターしなければならない場合、多
大なプログラミング時間を要し、記憶容量も大きくしな
ければならない。
の組の命令が設定されるのが一般的であったから、多数
の同じプロセスをモニターしなければならない場合、多
大なプログラミング時間を要し、記憶容量も大きくしな
ければならない。
所与の法則を実行するのに必要なプログラミング時間を
、各センサーに適用される命令を含む適当なサブルーチ
ン、いわゆるテンプレートを作成し、公称的には同じ各
センサーに対してこのサブルーチンをコピーすることに
よって短縮する試みがなされている。この方法はプログ
ラミングをある程度は簡単にするが、各サブルーチンの
コピーをすべて記憶させるにはかなり大きい記憶容量が
必要である。
、各センサーに適用される命令を含む適当なサブルーチ
ン、いわゆるテンプレートを作成し、公称的には同じ各
センサーに対してこのサブルーチンをコピーすることに
よって短縮する試みがなされている。この方法はプログ
ラミングをある程度は簡単にするが、各サブルーチンの
コピーをすべて記憶させるにはかなり大きい記憶容量が
必要である。
（要約）
本発明の目的は機能的に同じ多数の構成成分を含む装置
をモニターする診断システムにおいてセンサー出力の評
価及びセンサー出力の組み合わせに要するプログラミン
グをさらに簡単にすることにある。
をモニターする診断システムにおいてセンサー出力の評
価及びセンサー出力の組み合わせに要するプログラミン
グをさらに簡単にすることにある。
本発明の他の目的はこのようなシステムに必要な記憶容
量を著しく縮小することにある。
量を著しく縮小することにある。
本発明は上記目的を、少なくとも１つのプロセス・パラ
メーターに関しては同じである複数プロセスのそれぞれ
について前記１つのプロセス・パラメーターをモニター
するように配置され、いずれも前記１つのプロセス・パ
ラメーターに対して同じ応答を有する複数のセンサーを
使用すると共に、それぞれが各センサーと関連する一連
のセンサー応答サンプルを取るように接続されたサンプ
リング手段をも使用するようなタイプの、複数プロセス
をモニターする装置であって、前記サンプリング手段に
接続され、各サンプルを逐次受信して各サンプルによっ
て表わされるセンサー応答の所定の特性を評価し、すべ
てのサンプルを逐次供給される入力及びサンプルごとの
評価結果を供給する出力を有する処理径路を含む逐次モ
ニター手段と；評価結果を受信し、解読する診断手段を
特徴とする複数プロセスをモニターする装置によって達
成する。
メーターに関しては同じである複数プロセスのそれぞれ
について前記１つのプロセス・パラメーターをモニター
するように配置され、いずれも前記１つのプロセス・パ
ラメーターに対して同じ応答を有する複数のセンサーを
使用すると共に、それぞれが各センサーと関連する一連
のセンサー応答サンプルを取るように接続されたサンプ
リング手段をも使用するようなタイプの、複数プロセス
をモニターする装置であって、前記サンプリング手段に
接続され、各サンプルを逐次受信して各サンプルによっ
て表わされるセンサー応答の所定の特性を評価し、すべ
てのサンプルを逐次供給される入力及びサンプルごとの
評価結果を供給する出力を有する処理径路を含む逐次モ
ニター手段と；評価結果を受信し、解読する診断手段を
特徴とする複数プロセスをモニターする装置によって達
成する。
本発明の理解と実施を容易にするため、添付図面に沿っ
て好ましい実施例を以下に説明する。
て好ましい実施例を以下に説明する。
（好ましい実施例）
添付の図面は本発明の簡単なモニタ一方法を実施するた
めのシステムを示すブロックダイヤグラムである。この
システムは専用タイプでもハードワイヤー・タイプでも
よく、または汎用デジタル・コンピューターを適当にプ
ログラミングし、図示の各レジスターをそれぞれの記憶
場所群で構成することによって作成してもよい。図示シ
ステムはそれぞれの長さがＴの、連続するタイム・フレ
ームに亘りて反復的に出力２をモニターされる多数の、
例えば、９００個のボイラー水冷壁温度センサーをモニ
ターする。典型的な実施態様では、各センサーとして温
度モニター熱電対が使用される。
めのシステムを示すブロックダイヤグラムである。この
システムは専用タイプでもハードワイヤー・タイプでも
よく、または汎用デジタル・コンピューターを適当にプ
ログラミングし、図示の各レジスターをそれぞれの記憶
場所群で構成することによって作成してもよい。図示シ
ステムはそれぞれの長さがＴの、連続するタイム・フレ
ームに亘りて反復的に出力２をモニターされる多数の、
例えば、９００個のボイラー水冷壁温度センサーをモニ
ターする。典型的な実施態様では、各センサーとして温
度モニター熱電対が使用される。
各タイム・フレームＴにおいて、出力２のすべてに現れ
る信号がタイム・マルチプレクサー４を介してアナログ
／デジタル・コンバーター６へ逐次供給される。各タイ
ム・フレームＴに含まれるタイム・スロットｔの個数が
温度センサーの個数に等しくなるような長さを有するそ
れぞれのタイム・スロットｔにおいて、各センサー出力
２の信号がコンバーター６に供給される。センサーがデ
ジタル出力を形成するなら、コンバーター６は不要であ
る。
る信号がタイム・マルチプレクサー４を介してアナログ
／デジタル・コンバーター６へ逐次供給される。各タイ
ム・フレームＴに含まれるタイム・スロットｔの個数が
温度センサーの個数に等しくなるような長さを有するそ
れぞれのタイム・スロットｔにおいて、各センサー出力
２の信号がコンバーター６に供給される。センサーがデ
ジタル出力を形成するなら、コンバーター６は不要であ
る。
次いで、デジタル化されたセンサー出力サンプルはそれ
ぞれコンバーター６からタイム・マルチプレクサー８を
介して、各熱電対センサー出力値のデジタル値を記憶す
るレジスター１０のそれぞれのセルまたは記憶場所へ導
びかれる。従って、所与のタイム・フレームＴの終りに
すべてのセンサーの現在出力値のデジタル値がアレーノ
ードを構成するレジスター１０のそれぞれのセルに現わ
れる。
ぞれコンバーター６からタイム・マルチプレクサー８を
介して、各熱電対センサー出力値のデジタル値を記憶す
るレジスター１０のそれぞれのセルまたは記憶場所へ導
びかれる。従って、所与のタイム・フレームＴの終りに
すべてのセンサーの現在出力値のデジタル値がアレーノ
ードを構成するレジスター１０のそれぞれのセルに現わ
れる。
レジスター１０の各セルはタイム・マルチプレフサ−１
４の各入力と接続する出力線を有し、前記マルチプレク
サ−１４はレジスター１０のセルに記憶されているデジ
タル値をモニター・ユニット１８に逐次供給し、前記モ
ニター・ユニット１８は各センサーからの出力値が公称
作用温度の上限付近の所定値よりも高いかどうかを指示
する所与の法則γ１に従って各デジタル値を検討する。
４の各入力と接続する出力線を有し、前記マルチプレク
サ−１４はレジスター１０のセルに記憶されているデジ
タル値をモニター・ユニット１８に逐次供給し、前記モ
ニター・ユニット１８は各センサーからの出力値が公称
作用温度の上限付近の所定値よりも高いかどうかを指示
する所与の法則γ１に従って各デジタル値を検討する。
各センサーからの出力値に関するユニット１８の指導値
がタイム・デマルチプレクサ−２０を介して、第２アレ
ーノードを構成するレジスター２４の各セルまたは記憶
場所に供給される。
がタイム・デマルチプレクサ−２０を介して、第２アレ
ーノードを構成するレジスター２４の各セルまたは記憶
場所に供給される。
ユニット１８はレジスター１０に記憶されている各セン
サーからの出力値に同様に作用し、アレー法則γ１に従
ってすべてのセンサー出力値を検討する。従って、ユニ
ット１８は各センサーから逐次的に得られる出力サンプ
ルに対して反復的に作用する１組の命令または車−のサ
ブルーチンによって構成することができる。
サーからの出力値に同様に作用し、アレー法則γ１に従
ってすべてのセンサー出力値を検討する。従って、ユニ
ット１８は各センサーから逐次的に得られる出力サンプ
ルに対して反復的に作用する１組の命令または車−のサ
ブルーチンによって構成することができる。
マルチプレクサ−１４からの逐次出力はフレーム・イン
ターバルＴに等しい時間遅延Ｔを発生させる遅延素子２
８の入力にも供給される。この遅延素子２８としては、
例えば各タイム・フレームに含まれるタイム・スロット
と同数の段を有する直列レジスターを利用すればよい。
ターバルＴに等しい時間遅延Ｔを発生させる遅延素子２
８の入力にも供給される。この遅延素子２８としては、
例えば各タイム・フレームに含まれるタイム・スロット
と同数の段を有する直列レジスターを利用すればよい。
遅延素子２８の出力はマルチプレクサ−１４の出力と共
に第２モニター・ユニット３０に供給され、第２モニタ
ー・ユニット３０は各タイム・スロットの時間ｔに亘っ
てその入力におけるデジタル信号の値を法則γ２に従っ
て比較し、マルチプレクサ−１４から供給される値が遅
延素子２８から供給される値よりも所定量だけ大きけれ
ばこれを指示する。所与の時点においてユニット３０に
供給される２つの信号は同一センサーからの逐次出力値
を表わすから、ユニット３０はこのセンサーの温度値が
急上昇した場合にはこのことを表わす信号を出力する。
に第２モニター・ユニット３０に供給され、第２モニタ
ー・ユニット３０は各タイム・スロットの時間ｔに亘っ
てその入力におけるデジタル信号の値を法則γ２に従っ
て比較し、マルチプレクサ−１４から供給される値が遅
延素子２８から供給される値よりも所定量だけ大きけれ
ばこれを指示する。所与の時点においてユニット３０に
供給される２つの信号は同一センサーからの逐次出力値
を表わすから、ユニット３０はこのセンサーの温度値が
急上昇した場合にはこのことを表わす信号を出力する。
モニターされるシステムに発生すると予想される状態に
よっては、複数のフレーム時間から成るタイム・インタ
ーバルに亘って所与のセンサーから出力される値を比較
することによって上記指示が行なわれるようにしてもよ
い。この場合、遅延素子２８はｎＴに等しい遅延を発生
させるように構成する。ただし、ｎは任意の整数である
。
よっては、複数のフレーム時間から成るタイム・インタ
ーバルに亘って所与のセンサーから出力される値を比較
することによって上記指示が行なわれるようにしてもよ
い。この場合、遅延素子２８はｎＴに等しい遅延を発生
させるように構成する。ただし、ｎは任意の整数である
。
モニター・ユニット３０はユニット１８とＦ［に構成さ
れ、第２アレー法則を実行する。
れ、第２アレー法則を実行する。
ユニット３０から逐次出力される指示はデマルチプレク
サ−３２を介してレジスター３４のそれぞれの記憶場所
に供給され、−時的に記憶される。レジスター３４は第
３アレーノードを構成する。
サ−３２を介してレジスター３４のそれぞれの記憶場所
に供給され、−時的に記憶される。レジスター３４は第
３アレーノードを構成する。
マルチプレクサ−１４からの出力はまた、第３モニター
・ユニット３８の一方の入力及び第２遅延素子４０の入
力にも同時に供給され、前記第２遅延素子４０はこれに
入力される信号を１タイム・スロットの長さｔに等しい
インターバルｔだけ遅延させ、この遅延信号をモニター
・ユニット３８の第２入力に供給する。即ち、モニター
・ユニット３８は各タイム・スロットに亘って、このタ
イム・スロットに関連するセンサー信号サンプル及びそ
の直前のタイム・スロットに関連するセンサー信号サン
プルを受信する。従って、モニター・ユニット３８に供
給される２個の信号サンプルはほぼ同一時点における２
つの隣接センサーからの温度指示値を表わす。モニター
・ユニット３８は２個の隣接センサーからの温度指示値
を法則γ３に従って比較し、所与のタイム・スロットに
関連するセンサーからの温度指示値が直前のタイム・ス
ロットに関連するセンサーからの温度指示値を所定限界
量以上超えると指示信号を出力するように構成されてい
る。
・ユニット３８の一方の入力及び第２遅延素子４０の入
力にも同時に供給され、前記第２遅延素子４０はこれに
入力される信号を１タイム・スロットの長さｔに等しい
インターバルｔだけ遅延させ、この遅延信号をモニター
・ユニット３８の第２入力に供給する。即ち、モニター
・ユニット３８は各タイム・スロットに亘って、このタ
イム・スロットに関連するセンサー信号サンプル及びそ
の直前のタイム・スロットに関連するセンサー信号サン
プルを受信する。従って、モニター・ユニット３８に供
給される２個の信号サンプルはほぼ同一時点における２
つの隣接センサーからの温度指示値を表わす。モニター
・ユニット３８は２個の隣接センサーからの温度指示値
を法則γ３に従って比較し、所与のタイム・スロットに
関連するセンサーからの温度指示値が直前のタイム・ス
ロットに関連するセンサーからの温度指示値を所定限界
量以上超えると指示信号を出力するように構成されてい
る。
モニター・ユニット３８によるモニター結果はデマルチ
プレクサ−４２を介して、レジスター４４に供給される
。このレジスター４４はそれぞれが各タイム・スロット
と、従って、各センサーと連携する複数の記憶場所を有
し、第４７レーノードを構成する。
プレクサ−４２を介して、レジスター４４に供給される
。このレジスター４４はそれぞれが各タイム・スロット
と、従って、各センサーと連携する複数の記憶場所を有
し、第４７レーノードを構成する。
タイム・スロットごとにレジスター２４．３４．４４の
対応記憶場所の出力がそれぞれに対応のマルチプレクサ
−４６，４８，５０を介して診断ユニット５２に供給さ
れると、診断ユニット５２は同一タイム・スロット、従
って、同一センサーと関連する記憶場所からの出力を法
則γ４に従って結合し、このタイム・スロットを関連す
るセンサーを含むボイラご管の状態を指示する信号を出
力する。即ち、図示例の場合、所与のセンサーの温度指
示値が所定の上限よりも高く、先行タイム・スロットに
おける測定値から急上昇しており、隣接管のセンサーの
指示値よりも高ければ、法則γ４は関連の管が詰まって
いると結論し、この指示はデマルチプレクサ−５４を介
して、第５７レーノードを構成する出力レジスター５６
の対応場所へ導びかれ、各ボイラー管に関する故障指示
が前記レジスター５６から高次の診断レベル及び／また
はプラント・オペレーターがモニターする出力表示装装
置へ供給される。ユニット５２は３つの入力のうちいず
れか２つが故障指示を形成すると故障信号を出力するよ
うに構成してもよい。
対応記憶場所の出力がそれぞれに対応のマルチプレクサ
−４６，４８，５０を介して診断ユニット５２に供給さ
れると、診断ユニット５２は同一タイム・スロット、従
って、同一センサーと関連する記憶場所からの出力を法
則γ４に従って結合し、このタイム・スロットを関連す
るセンサーを含むボイラご管の状態を指示する信号を出
力する。即ち、図示例の場合、所与のセンサーの温度指
示値が所定の上限よりも高く、先行タイム・スロットに
おける測定値から急上昇しており、隣接管のセンサーの
指示値よりも高ければ、法則γ４は関連の管が詰まって
いると結論し、この指示はデマルチプレクサ−５４を介
して、第５７レーノードを構成する出力レジスター５６
の対応場所へ導びかれ、各ボイラー管に関する故障指示
が前記レジスター５６から高次の診断レベル及び／また
はプラント・オペレーターがモニターする出力表示装装
置へ供給される。ユニット５２は３つの入力のうちいず
れか２つが故障指示を形成すると故障信号を出力するよ
うに構成してもよい。
既に述べたように、本発明の特徴として、ユニット１８
．３０．３８．５２のそれぞれを１組の命令または１つ
のサブルーチンで構成し、各センサーからの出力サンプ
ルに対して反復的にこの命令またはサブルーチンを実行
する。なお、各組の命令は特定の法則（γ１、γ２、γ
３、γ４）を定義する。即ち、それぞれの法則を実行す
るために記憶させるプログラム命令は１組だけでよい。
．３０．３８．５２のそれぞれを１組の命令または１つ
のサブルーチンで構成し、各センサーからの出力サンプ
ルに対して反復的にこの命令またはサブルーチンを実行
する。なお、各組の命令は特定の法則（γ１、γ２、γ
３、γ４）を定義する。即ち、それぞれの法則を実行す
るために記憶させるプログラム命令は１組だけでよい。
なぜなら、各センサーの出力をモニターするのにこの同
−組が利用されるからである。その結果、各センサーか
らの出力信号を検討するために、対応する１組ずつのプ
ログラム命令をメモリーに記憶させる公知システムに比
較して使用メモリー・スペースがいちじるしく節約され
る。
−組が利用されるからである。その結果、各センサーか
らの出力信号を検討するために、対応する１組ずつのプ
ログラム命令をメモリーに記憶させる公知システムに比
較して使用メモリー・スペースがいちじるしく節約され
る。
本発明を、公称的には同じ多数のセンサーからの出力を
同じ態様で処理しなければならないその他のモニターま
たは診断システムにも応用できることはいうまでもない
。
同じ態様で処理しなければならないその他のモニターま
たは診断システムにも応用できることはいうまでもない
。
本発明のシステムでは、モニター・ユニットのいずれか
１つをエキスパート診断システムにおいて利用される種
々の機能を行なうように構成してもよい。前記種々の機
能としては、例えば、特定センサーの出力値の信顆度の
指示があり、この場合にはこのモニター・ユニットから
の出力が一定範囲に亘って変動し得る値を取り、ほかに
、診断の確実度及び不確実度の指示があり、この場合に
は例えばレジスター５６の各記憶場所に現われる指示信
号の値にこれを反映させることができる。
１つをエキスパート診断システムにおいて利用される種
々の機能を行なうように構成してもよい。前記種々の機
能としては、例えば、特定センサーの出力値の信顆度の
指示があり、この場合にはこのモニター・ユニットから
の出力が一定範囲に亘って変動し得る値を取り、ほかに
、診断の確実度及び不確実度の指示があり、この場合に
は例えばレジスター５６の各記憶場所に現われる指示信
号の値にこれを反映させることができる。
一般的には、各モニター・ユニットを構成するプログラ
ミングまたは回路構造に公知の診断手段を組み込めばよ
い。
ミングまたは回路構造に公知の診断手段を組み込めばよ
い。
本発明の実施例における診断作業は所与のタイム・フレ
ームに亘って得られるセンサー出力値をモニター・ユニ
ット１８，３０．３８において並列的に処理し、次のタ
イム・フレームに亘ってユニット５２で処理することに
よって行なうことができる。
ームに亘って得られるセンサー出力値をモニター・ユニ
ット１８，３０．３８において並列的に処理し、次のタ
イム・フレームに亘ってユニット５２で処理することに
よって行なうことができる。
図示のシステムは複数の中間記憶レジスター１０．２４
．３４．４４を含み、これらのレジスターから対応の出
力デバイスに種々の指示信号が供給される。この構成は
、例えば、任意の複数センサーの動作を別々にモニター
するか、または診断に寄与する指示をチエラックしたい
場合に有用である。
．３４．４４を含み、これらのレジスターから対応の出
力デバイスに種々の指示信号が供給される。この構成は
、例えば、任意の複数センサーの動作を別々にモニター
するか、または診断に寄与する指示をチエラックしたい
場合に有用である。
ただし、これらの機能を行なう必要がなければ、出力レ
ジスター５６以外のすべてのレジスター及びマルチプレ
クサ−４及びデマルチプレクサ−５４以外のすべてのマ
ルチプレクサ−及びデマルチプレクサ−を除いたシステ
ムによって本発明を実施することができる。この場合、
コンバーター６の出力はモニター・ユニット１８，３０
．３８及び遅延素子２８．４０の入力と直接接続し、モ
ニター・ユニット１８．３０．３８の出力はモニター・
ユニット５２のそれぞれ対応の入力と直接接続する。こ
の構成で構造が著しく簡単になり、１組のセンサー出力
信号サンプリングから診断結果が得られるまでの時間が
短縮される。なぜなら、センサー出力信号サンプルを第
１タイム・フレーム中に素子１８．２８．３０．３８．
４０に供給することができ、ユニット１８．３０．３８
からの出力指示信号が同じタイム・フレームまたは次の
タイム・フレーム中にユニット５２において処理され、
レジスター５６に供給ざれるからである。
ジスター５６以外のすべてのレジスター及びマルチプレ
クサ−４及びデマルチプレクサ−５４以外のすべてのマ
ルチプレクサ−及びデマルチプレクサ−を除いたシステ
ムによって本発明を実施することができる。この場合、
コンバーター６の出力はモニター・ユニット１８，３０
．３８及び遅延素子２８．４０の入力と直接接続し、モ
ニター・ユニット１８．３０．３８の出力はモニター・
ユニット５２のそれぞれ対応の入力と直接接続する。こ
の構成で構造が著しく簡単になり、１組のセンサー出力
信号サンプリングから診断結果が得られるまでの時間が
短縮される。なぜなら、センサー出力信号サンプルを第
１タイム・フレーム中に素子１８．２８．３０．３８．
４０に供給することができ、ユニット１８．３０．３８
からの出力指示信号が同じタイム・フレームまたは次の
タイム・フレーム中にユニット５２において処理され、
レジスター５６に供給ざれるからである。
各列が特定センサーと連携し、各行が前記センサーに関
するそれぞれ異なる事実を表わすメモリ・マトリックス
を作成することによっても本発明を実施することができ
る。例えば、各列の、第１行は現時点センサー出力指示
値を、第２行はこの出力値が異常に高いかどうかの指示
を、第３行は先行タイム・フレームにおけるセンサー出
力指示値を、第４行はセンサーの温度値が急上昇したか
どうかの指示を、第５行はセンサー出力値が隣接センサ
ーの出力値よりも高いかどうかの指示を、第６行は関連
の管が詰まっているかどうかの結論の指示をそれぞれ記
憶する。、概念的には、各行が図示レジスターのそれぞ
れと対応することになる。
するそれぞれ異なる事実を表わすメモリ・マトリックス
を作成することによっても本発明を実施することができ
る。例えば、各列の、第１行は現時点センサー出力指示
値を、第２行はこの出力値が異常に高いかどうかの指示
を、第３行は先行タイム・フレームにおけるセンサー出
力指示値を、第４行はセンサーの温度値が急上昇したか
どうかの指示を、第５行はセンサー出力値が隣接センサ
ーの出力値よりも高いかどうかの指示を、第６行は関連
の管が詰まっているかどうかの結論の指示をそれぞれ記
憶する。、概念的には、各行が図示レジスターのそれぞ
れと対応することになる。
この場合、マトリックスの適当な記憶場所をそれぞれの
法則に従ってリンクすることにより、所要の指示を得る
ことになる。具体的には、各センサーと連携する列の第
１行を法則γ１に従って第２行にリンクし、第１及び第
３行を法則γ２に従って第４行にリンクし、前記列の第
１行及び隣接列の第１行を法則γ３に従って前記列の第
５行にリンクシ、第２、第４及び第５行を法則γ４に従
って第６行にリンクする。
法則に従ってリンクすることにより、所要の指示を得る
ことになる。具体的には、各センサーと連携する列の第
１行を法則γ１に従って第２行にリンクし、第１及び第
３行を法則γ２に従って第４行にリンクし、前記列の第
１行及び隣接列の第１行を法則γ３に従って前記列の第
５行にリンクシ、第２、第４及び第５行を法則γ４に従
って第６行にリンクする。
このように構成すれば、それぞれの法則ごとに１組の命
令を設定し、これに各センサーに関連する指示を適用す
ることによってセンサーと関連する指示が逐次求められ
る。ここでも、法則ごとに１組の命令を設定することで
、命令を記憶するのに必要なメモリー・スペースが節約
される。
令を設定し、これに各センサーに関連する指示を適用す
ることによってセンサーと関連する指示が逐次求められ
る。ここでも、法則ごとに１組の命令を設定することで
、命令を記憶するのに必要なメモリー・スペースが節約
される。
複数の同一タイプ・センサーの出力を評価するように構
成した場合を例にとって本発明を以上に説明したが、タ
イプの異なるセンサーの出力を比較または相関させるこ
とによって他の診断機能を行なうような診断レベルにも
本発明を利用できる。この場合、所与のタイプのすべて
のセンサーを上述した態様でモニターし、同じ構成成分
またはプレセスと連携する別々のセンサーに関連して得
られた結果を多重化し、評価または診断ユニットに供給
することにより、それぞれの評価または診断ユニットが
所与の構成成分またはプロセスに関するすｈ報を同時的
に受信し、評価または診断結果の指示を適当なタイム・
シーケンスで上位診断ユニットに供給するか、または多
重分離することにより、特定構成成分またはプロセスに
関連の表示または記憶場所に供給するようにする。
成した場合を例にとって本発明を以上に説明したが、タ
イプの異なるセンサーの出力を比較または相関させるこ
とによって他の診断機能を行なうような診断レベルにも
本発明を利用できる。この場合、所与のタイプのすべて
のセンサーを上述した態様でモニターし、同じ構成成分
またはプレセスと連携する別々のセンサーに関連して得
られた結果を多重化し、評価または診断ユニットに供給
することにより、それぞれの評価または診断ユニットが
所与の構成成分またはプロセスに関するすｈ報を同時的
に受信し、評価または診断結果の指示を適当なタイム・
シーケンスで上位診断ユニットに供給するか、または多
重分離することにより、特定構成成分またはプロセスに
関連の表示または記憶場所に供給するようにする。
添付の図面は本発明を利用するシステムの好ましい実施
例を示すブロックダイヤグラムである。 ４．１４．４６，４８．５０・・・・マルチプレクサ−
６・・・・コンバータ
例を示すブロックダイヤグラムである。 ４．１４．４６，４８．５０・・・・マルチプレクサ−
６・・・・コンバータ
Claims (19)
- （１）少なくとも１つのプロセス・パラメーターに関し
ては同じである複数プロセスのそれぞれについて前記１
つのプロセス・パラメーターをモニターするように配置
され、いずれも前記１つのプロセス・パラメーターに対
して同じ応答を有する複数のセンサーを使用すると共に
、それぞれが各センサーと関連する一連のセンサー応答
サンプルを取るように接続されたサンプリング手段をも
使用するようなタイプの、複数プロセスをモニターする
装置であって、前記サンプリング手段に接続され、各サ
ンプルを逐次受信して各サンプルによって表わされるセ
ンサー応答の所定の特性を評価し、すべてのサンプルを
逐次供給される入力及びサンプルごとの評価結果を供給
する出力を有する処理径路を含む逐次モニター手段と；
評価結果を受信し、解読する診断手段とを備えたことを
特徴とする複数プロセスのモニター装置。 - （２）前記サンプリング手段がそれぞれが各センサーと
接続している複数の入力と、一連の応答サンプルを供給
する出力とを有するタイム・マルチプレクサー手段を含
むことを特徴とする請求項第（１）項に記載の装置。 - （３）前記モニター手段が応答サンプルごとに逐次反復
的に１組の命令を実行する手段を含むことを特徴とする
請求項第（２）項に記載の装置。 - （４）前記センサーがアナログ出力を形成し；前記サン
プリング手段がデジタル・サンプルを形成するためのア
ナログ／デジタル・コンバーターを含み；前記モニター
手段及び診断手段がデジタル信号に作用することを特徴
とする請求項第（３）項に記載の装置。 - （５）前記モニター手段が各サンプルに関するセンサー
応答のそれぞれ異なる複数の特性を並列的に評価すると
共に、それぞれがすべてのサンプルを逐次供給される入
力及びサンプルごとに評価結果を供給する出力を有する
複数の並列処理径路を構成し、所与のセンサーに関する
評価結果が同時に径路の出力に現われ、前記診断手段が
すべての径路の出力に現われる評価結果を受信すること
を特徴とする請求項第（４）項に記載の装置。 - （６）前記モニター手段が各サンプルに関するセンサー
応答のそれぞれ異なる複数の特性を並列的に評価すると
共に、それぞれがすべてのサンプルを逐次供給される入
力及びサンプルごとに評価結果を供給する出力を有する
複数の並列処理径路を構成し、所与のセンサーに関する
評価結果が同時に径路の出力に現われ、前記診断手段が
すべての径路の出力に現われる評価結果を受信すること
を特徴とする請求項第（３）項に記載の装置。 - （７）前記センサーがアナログ出力を形成し；前記サン
プリング手段がデジタル・サンプルを形成するためのア
ナログ／デジタル・コンバーターを含み；前記モニター
手段及び診断手段がデジタル信号に作用することを特徴
とする請求項第（２）項に記載の装置。 - （８）前記モニター手段が各サンプルに関するセンサー
応答のそれぞれ異なる複数の特性を並列的に評価すると
共に、それぞれがすべてのサンプルを逐次供給される入
力及びサンプルごとに評価結果を供給する出力を有する
複数の並列処理径路を構成し、所与のセンサーに関する
評価結果が同時に径路の出力に現われ、前記診断手段が
すべての径路の出力に現われる評価結果を受信すること
を特徴とする請求項第（２）項に記載の装置。 - （９）前記モニター手段が応答サンプルごとに逐次反復
的に１組の命令を実行する手段を含むことを特徴とする
請求項第（１）項に記載の装置。 - （１０）前記センサーがアナログ出力を形成し；前記サ
ンプリング手段がデジタル・サンプルを形成するための
アナログ／デジタル・コンバーターを含み；前記モニタ
ー手段及び診断手段がデジタル信号に作用することを特
徴とする請求項第（１）項に記載の装置。 - （１１）前記モニター手段が各サンプルに関するセンサ
ー応答のそれぞれ異なる複数の特性を並列的に評価する
と共に、それぞれがすべてのサンプルを逐次供給される
入力及びサンプルごとに評価結果を供給する出力を有す
る複数の並列処理径路を構成し、所与のセンサーに関す
る評価結果が同時に径路の出力に現われ、前記診断手段
がすべての径路の出力に現われる評価結果を受信するこ
とを特徴とする請求項第（１）項に記載の装置。 - （１２）少なくとも１つのプロセス・パラメーターに関
しては同じである複数プロセスのそれぞれについて前記
１つのプロセス・パラメーターをモニターするように配
置され、いずれも前記１つのプロセス・パラメーターに
対して同じ応答を有する複数のセンサーを使用して前記
複数プロセスをモニターする方法であって、センサー応
答からそれぞれが各センサーと関連する一連の応答サン
プルを求め；すべてのサンプルを逐次供給される入力及
び各サンプルの評価結果を供給する出力を有する処理径
路において各サンプルをモニターし、各サンプルによっ
て表わされるセンサー応答の所定の特性を評価し；各プ
ロセスの状態を指示するため各サンプルの評価結果を解
読する段階から成ることを特徴とする複数プロセスのモ
ニター方法。 - （１３）前記応答サンプルを求める段階を、それぞれが
対応のセンサーに接続している複数の入力と、一連の応
答サンプルを供給する出力を有するタイム・マルチプレ
クサー手段によって行なうことを特徴とする請求項第（
１２）項に記載の方法。 - （１４）前記モニター段階が各応答サンプルごとに逐次
反復的に１組の命令を実行する段階を含むことを特徴と
する請求項第（１３）項に記載の方法。 - （１５）センサーがアナログ出力を形成し；前記応答サ
ンプルを求める段階がデジタル・サンプル形成のためア
ナログ出力をアナログ／デジタル変換する段階を含み；
前記モニター段階及び解読段階をデジタル信号に対して
行なうことを特徴とする請求項第（１４）項に記載の方
法。 - （１６）それぞれがすべてのサンプルを逐次供給される
入力及びサンプルごとに評価結果を供給する出力を有す
る複数の並列処理径路において各サンプルに関するセン
サー応答のそれぞれ異なる特性に対する複数の並列評価
を行なうために前記モニター段階を実行して所与のセン
サーに関する評価結果が同時に径路の出力に現われるよ
うにし、すべての径路の出力に現われる評価結果に応答
して前記解読段階を実行することを特徴とする請求項第
（１５）項に記載の方法。 - （１７）前記モニター段階が各応答サンプルごとに逐次
反復的に１組の命令を実行する段階を含むことを特徴と
する請求項第（１２）項に記載の方法。 - （１８）センサーがアナログ出力を形成し；前記応答サ
ンプルを求める段階がデジタル・サンプル形成のためア
ナログ出力をアナログ／デジタル変換する段階を含み；
前記モニター段階及び解読段階をデジタル信号に対して
行なうことを特徴とする請求項第（１２）項に記載の方
法。 - （１９）それぞれがすべてのサンプルを逐次供給される
入力及びサンプルごとに評価結果を供給する出力を有す
る複数の並列処理径路において各サンプルに関するセン
サー応答のそれぞれ異なる特性に対する複数の並列評価
を行なうために前記モニター段階を実行して所与のセン
サーに関する評価結果が同時に径路の出力に現われるよ
うにし、すべての径路の出力に現われる評価結果に応答
して前記解読段階を実行することを特徴とする請求項第
（１２）項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/209,818 US4951234A (en) | 1988-06-22 | 1988-06-22 | Monitoring a plurality of identical process parameters |
| US209,818 | 1988-06-22 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0261520A true JPH0261520A (ja) | 1990-03-01 |
| JP2835452B2 JP2835452B2 (ja) | 1998-12-14 |
Family
ID=22780429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1160597A Expired - Lifetime JP2835452B2 (ja) | 1988-06-22 | 1989-06-22 | 複数の同一プロセスをモニターする方法及び装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4951234A (ja) |
| EP (1) | EP0347645A3 (ja) |
| JP (1) | JP2835452B2 (ja) |
| KR (1) | KR0136785B1 (ja) |
| CN (1) | CN1039670A (ja) |
| CA (1) | CA1325279C (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6840722B1 (en) | 1999-11-29 | 2005-01-11 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Machining apparatus and machining method |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1989011763A1 (en) * | 1988-05-17 | 1989-11-30 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Series controller |
| US5237512A (en) * | 1988-12-02 | 1993-08-17 | Detector Electronics Corporation | Signal recognition and classification for identifying a fire |
| GB2231693A (en) * | 1989-05-08 | 1990-11-21 | Philips Electronic Associated | Data processing system |
| US5089978A (en) * | 1990-02-09 | 1992-02-18 | Westinghouse Electric Corp. | Automatic plant state diagnosis system including a display selection system for selecting displays responsive to the diagnosis |
| US5122976A (en) * | 1990-03-12 | 1992-06-16 | Westinghouse Electric Corp. | Method and apparatus for remotely controlling sensor processing algorithms to expert sensor diagnoses |
| JPH06251030A (ja) * | 1993-02-24 | 1994-09-09 | Hitachi Ltd | 都市ライフライン運用管理システム |
| US6363330B1 (en) | 1998-04-10 | 2002-03-26 | Satnam Singh Sampuran Alag | Thermocouple failure detection in power generation turbines |
| JP2003242271A (ja) * | 2002-02-13 | 2003-08-29 | Toshiba Corp | プラント診断方法および診断システム |
| US20050096759A1 (en) * | 2003-10-31 | 2005-05-05 | General Electric Company | Distributed power generation plant automated event assessment and mitigation plan determination process |
| US20050260471A1 (en) * | 2004-05-18 | 2005-11-24 | Logan Victor W | Electrical current measurement in a fuel cell |
| US8275577B2 (en) * | 2006-09-19 | 2012-09-25 | Smartsignal Corporation | Kernel-based method for detecting boiler tube leaks |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51124448A (en) * | 1975-04-23 | 1976-10-29 | Hitachi Ltd | Centralized supervisory system |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5434501B2 (ja) * | 1974-02-15 | 1979-10-27 | ||
| DE3583057D1 (de) * | 1984-03-31 | 1991-07-11 | Barmag Barmer Maschf | Verfahren zur zentralen erfassung von messwerten einer vielzahl von messstellen. |
| US4644479A (en) * | 1984-07-31 | 1987-02-17 | Westinghouse Electric Corp. | Diagnostic apparatus |
| US4718025A (en) * | 1985-04-15 | 1988-01-05 | Centec Corporation | Computer management control system |
| US4802094A (en) * | 1985-07-10 | 1989-01-31 | Hitachi, Ltd. | Process monitoring apparatus for process management in production and assembly lines |
-
1988
- 1988-06-22 US US07/209,818 patent/US4951234A/en not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-06-07 EP EP19890110293 patent/EP0347645A3/en not_active Withdrawn
- 1989-06-16 CA CA000603036A patent/CA1325279C/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-06-22 KR KR1019890008636A patent/KR0136785B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1989-06-22 CN CN89104275A patent/CN1039670A/zh active Pending
- 1989-06-22 JP JP1160597A patent/JP2835452B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51124448A (en) * | 1975-04-23 | 1976-10-29 | Hitachi Ltd | Centralized supervisory system |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6840722B1 (en) | 1999-11-29 | 2005-01-11 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Machining apparatus and machining method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR0136785B1 (ko) | 1998-06-15 |
| KR900000783A (ko) | 1990-01-31 |
| EP0347645A3 (en) | 1992-08-12 |
| EP0347645A2 (en) | 1989-12-27 |
| CN1039670A (zh) | 1990-02-14 |
| CA1325279C (en) | 1993-12-14 |
| JP2835452B2 (ja) | 1998-12-14 |
| US4951234A (en) | 1990-08-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0261520A (ja) | 複数の同一プロセスをモニターする方法及び装置 | |
| EP0170516B1 (en) | Diagnostic apparatus | |
| EP0030459A1 (en) | System for monitoring steam condenser performance | |
| US7739067B2 (en) | In-service calibration of temperature measurement devices using plant monitoring system data | |
| US4953096A (en) | Test method and apparatus for distributed system | |
| JP3980760B2 (ja) | プラント監視装置 | |
| US20050114090A1 (en) | Component health assessment for reconfigurable control | |
| JPH09288512A (ja) | プラント状態可視化システム | |
| JPH07261825A (ja) | プラント運転支援装置 | |
| JP2645017B2 (ja) | プラント診断方法及びその装置 | |
| JPH07262019A (ja) | 知識情報変換装置及び有向グラフ解析装置 | |
| JP2549690B2 (ja) | チャネルプロセッサの擬似障害試験方式 | |
| JPS6277612A (ja) | プラント異常診断方法 | |
| JPH07334234A (ja) | 優先度を考慮した運転支援装置 | |
| JPS59188709A (ja) | プラント診断装置 | |
| JPS6162108A (ja) | 異常監視・診断装置 | |
| SU748424A1 (ru) | Устройство дл диагностики неисправностей | |
| Negiz et al. | Monitoring sensor performance in multivariable continuous processes | |
| KR100328705B1 (ko) | 플라즈마반응진단방법및진단장치. | |
| JPH1040126A (ja) | 回路データ用モニタ装置 | |
| JPH11306041A (ja) | 異常診断装置 | |
| JPS608715A (ja) | プラントの異常診断装置 | |
| JPS60173612A (ja) | 故障源推定方式 | |
| JPH07198784A (ja) | 演算論理診断装置 | |
| JPS59214915A (ja) | 故障波及予測・診断方式 |