JPH0259553B2 - - Google Patents

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JPH0259553B2
JPH0259553B2 JP58030640A JP3064083A JPH0259553B2 JP H0259553 B2 JPH0259553 B2 JP H0259553B2 JP 58030640 A JP58030640 A JP 58030640A JP 3064083 A JP3064083 A JP 3064083A JP H0259553 B2 JPH0259553 B2 JP H0259553B2
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JP
Japan
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array
lines
flip
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JP58030640A
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English (en)
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JPS58189896A (ja
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Fuakuwan Chan Danieru
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Northrop Grumman Space and Mission Systems Corp
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TRW Inc
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Publication date
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Publication of JPS58189896A publication Critical patent/JPS58189896A/ja
Publication of JPH0259553B2 publication Critical patent/JPH0259553B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/411Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using bipolar transistors only
    • G11C11/4116Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using bipolar transistors only with at least one cell access via separately connected emittors of said transistors or via multiple emittors, e.g. T2L, ECL
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/16Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一般に半導体記憶配列体に係り、特
に、2つ以上の入力ポート又は出力ポートを通し
て同時にアクセスすることを必要とするような集
積回路型即ちモノリシツク型の記憶配列体に係
る。半導体記憶配列体即ちレジスタフアイルは
種々様々なデジタルの用途に使用されている。こ
れら用途の多くでは、記憶配列体に対して読み取
りアクセス及び書き込みアクセスを同時に行なう
ことが必要とされるだけでなく、記憶配列体へデ
ータを書き込む入力ポートが2つ以上あり且つ記
憶配列体からデータを読み取る出力ポートが2つ
以上あることも必要とされ、或いは少なくともこ
のようなことが強く要望される。デジタル信号処
理の分野における典型的な用途は、高速フーリエ
交換(FFT)を実行する。“同位置”アルゴリズ
ムである。この同位置アルゴリズムにおいては、
入力データが配列体にロードされ、次いでデータ
エレメントが配列体から繰返し読み取られ、この
アルゴリズムに基いて処理され、そして配列体に
戻され、配列体はプロセス終了時の出力データを
含む。このような用途で、高速計算を行なうため
には、多数のポートを経て配列体に同時にアクセ
スすることが重要である。
これまでにも、入力又は出力アクセスポートを
2つ以上有する記憶装置は色々なものが提案され
ている。例えば、Eardley氏等の米国特許第
4287575号には、2つのアクセスポートを有して
いて、これらが同時読み取りポートとして使用さ
れるか或いは単1書き込みポートとして一緒に使
用されるような記憶セルが開示されている。然し
乍ら、このEardley氏の装置では、書き込みと読
み取りとを同時に行なうことができない。2ポー
トのメモリ装置について開示したその他の特許と
しては、Robinson氏の米国特許第4138739号、
Chlig氏の米国特許第4280197号、及びDachtera
氏の米国特許第4127899号等がある。
Sechler氏の米国特許第3675218号にも2ポート
のメモリセルが開示されており、その第4図に
は、4ポート装置が開示されているが、これにつ
いては詳細に説明しない。本発明は、Sechler氏
の第4図の装置と同じ目的をもつ改良された多ポ
ート装置に係り、即ち本発明は2つ以上の読み取
りポートを経て同時に読み取りアクセスを行なう
と共に2つ以上の書き込みポートを経て同時に書
き込みアクセスを行なうものである。Sechler氏
の装置でもこの目的は一応は達成されるが、彼の
第4図の回路は、ポート間のノイズ及び干渉に対
する裕度と、モノリシツク形態で効率よく実施す
るための適合性という2つの点から考えて完全に
満足なものではない。
以上の説明から、半導体記憶配列体の分野で
は、多数の入力ポートと多数の出力ポートとを有
していてこれらが同時にアクセスされるような改
良された装置がなおも強く要望されていることが
明らかであろう。本発明はこの要望を満足すると
共に公知技術の欠点を解消するものである。
本発明は、多数の入力ポート及び多数の出力ポ
ートの組合せ体を通して各セルをアクセスするこ
とができ、ノイズやポート間の障害に対する裕度
が高く、然もモノリシツク形態での実施に非常に
良く適した多ポートレジスタフアイルを提供す
る。本発明のレジスタフアイルは、多数の読み取
り作動を同時に行なつたり、多数の書き込み作動
を同時に行なつたり、或いは多数の読み取り及び
書き込み作動を同時に行なつたりするようにアク
セスされ、これらのいずれの場合にもノイズの影
響に対して高い裕度を有している。
簡単に、一般的に説明すると、本発明の多ポー
トレジスタフアイルは、行アドレス及び列アドレ
スを参照することによつて識別できる記憶セルの
2次元配列体と、この配列体の選択されたセルに
データを記憶するように各々接続できる少なくと
も2つのデータ書き込みポートと、上記配列体の
選択されたセルからデータを検索するように各々
接続できる少なくとも2つのデータ読み取りポー
トとを備えている。上記のデータ読み取りポート
及びデータ書き込みポートを適当に組合わせて同
時に使用して、上記配列体の選択されたセルへデ
ータを書き込んだりそこからデータを読み取つた
りすることができる。上記配列体の各セルは、ノ
イズの影響や読み取りポート間の障害の影響を少
なくするように、各々の読み取りポートごとに
個々の記憶ユニツトを有していることが重要であ
る。更に、読み取りの目的で行をアドレスすると
いう作動は、選択された行の選択された記憶ユニ
ツトへ高い電圧を印加することによつて行なわれ
る。これにより他の行からのノイズに対する裕度
が高くされる。
本発明のここに示す実施例では、配列体の各セ
ルが16個のNPNトランジスタを備えている。然
し乍ら、これらのトランジスタは、4個の完全に
アイソレートされたコレクタのみを使用するよう
に相互接続される。これによりコレクタをアイソ
レートするという必要性が減ずるために、装置の
密度が高くなると共にチツプの表面積がより効率
的に使用されることになる。
特に、各々のデータ書き込みポートは、書き込
みの目的で配列体の選択された行を選択的に作動
する複数本の行アドレスラインと、書き込みの目
的で配列体の選択された列を作動する複数本の列
アドレスラインと、適当な行アドレスライン及び
列アドレスラインへ選択信号を与える行列アドレ
スデコード手段とを備えている。同様に、各々の
データ読み取りポートも、複数本の行アドレスラ
インと、複数本の列アドレスラインと、行列アド
レスデコード手段とを備えている。配列体の選択
されたセルとデータをやり取りする手段も設けね
ばならない。実際には、個別のデータラインは使
用されず、行アドレスライン又は列アドレスライ
ンがデータのやり取りにも使用される。例えば、
列アドレスラインは別々の信号を送るライン対で
あり、これらの信号は記憶又は検索に対して異な
つたデータ状態を示すように反転されたり或いは
交換されたりする。又、各々のデータ読み取りポ
ートは、配列体の選択されたセルに記憶されたデ
ータを置数するために、複数対の感知増巾器結合
トランジスタも備えている。
本発明のここに示す実施例では、記憶配列体の
各セルが2つの2進記憶ユニツトを備え、これら
は同じ記憶2進状態にセツトされる。これらの2
進記憶ユニツトは、これらの中の選択された1つ
のユニツトに対応する選択された読み取りポート
を経てセルの状態を感知できるように、個々の行
アドレスライン、個々の列アドレスライン、及び
個々の感知増巾器結合トランジスタに接続され
る。
又、配列体の各セルは、書き込みポートの行及
び列アドレスラインを経て送られる信号と、記憶
さるべきデータとに基いて、両記憶ユニツトにデ
ータを記憶するスイツチ手段も備えている。特
に、このスイツチ手段は、データ書き込みポート
の1つに組合わされた行アドレスライン及び列ア
ドレスラインの信号によつてセルが正しくアドレ
スされたとすれば、セルに記憶さるべきデータに
基いて、セルの両記憶ユニツトをセツトする信号
か、又はこれら記憶ユニツトをリセツトする信号
かのいずれかを発生する手段を備えている。
データセルのここに示す実施例では、2つの記
憶ユニツトの各々がフリツプ−フロツプであり、
上記スイツチ手段は4対のトランジスタを備えて
いる。最初の2対のトランジスタのベースは第1
の書き込みポートの行選択ラインに接続され、そ
して他の2対のトランジスタのベースは第2の書
き込みポートの行選択ラインに接続される。第1
の書き込みポートには列選択ライン及びデータ転
送ラインの別の対が組合わされている。これらラ
インの各々は最初の2対のトランジスタの対へ接
続されている。これら最初の2対のトランジスタ
の一方の対のコレクタ端子は、2つの記憶ユニツ
トを特定の状態にセツトするようにこれら両ユニ
ツトのコレクタ端子に接続され、他方のトランジ
スタ対のコレクタは上記記憶ユニツトを逆の状態
にリセツトするように上記記憶ユニツトに接続さ
れる。同様に、第2の2対のトランジスタは、第
2の書き込みポートに組合わされた列選択ライン
及びデータ転送ラインを経て別々の信号を受け取
ると共に2つの記憶ユニツトへ適当なセツト信号
又はリセツト信号を発生するように接続される。
以上の説明から、本発明は、マルチアクセスの
半導体記憶配列体の分野に著しい進歩をもたらす
ことが明らかであろう。特に、本発明は、ノイズ
裕度が高く、多数の読み取りポート及び多数の書
き込みポートを有していてこれら全てを適当な組
合わせで同時にアクセスできるような効率の高い
モノリシツク型記憶配列体を提供する。又、実際
上或る程度の制約はあるが本発明は本明細書に詳
細に述べる4ポート装置以上のものにも拡張でき
ることが明らかであろう。本発明の他の特徴及び
効果は添付図面を参照した以下の詳細な説明より
明らかとなろう。
解説の目的で添付図面に示されたように、本発
明は、特に、多数のデータ読み取りポート又は書
き込みポートを通してアクセスされる型式の半導
体記憶配列体に関する。このような装置は、種々
のデジタル回路に有用であるが、特に、読み取り
又は書き込み或いはその両方のために記憶配列体
へ同時にアクセスすることを必要とするパイプラ
イン式の処理即ち並列の処理を用いたデジタル信
号処理回路に有用である。
本発明によれば、記憶配列体は少なくとも2つ
の書き込みポートと少なくとも2つの読み取りポ
ートとを有し、これらポートは記憶配列体の選択
されたセルをアクセスするように同時に使用さ
れ、配列体の各セルは高いノイズ裕度を与えると
共に高密度のモノリシツク型装置に適するように
構成される。特に第1図に示されたように、本発
明の装置は、記憶配列体10と、2つの書き込み
ポート12及び14と、2つの読み取りポート1
6及び18とを備えている。又、第1図に示され
たように、第1の書き込みポート12は、データ
入力ライン20と、書き込みアドレスライン22
と、書き込み可能化ライン24と、ポート選択ラ
イン26とを含んでいる。ここに詳細に述べる実
施例では、データ入力ライン20は1つの2進デ
ジツト(ビツト)の情報を転送し、書き込みアド
レスライン22は行及び列によつて記憶配列体1
0をアドレスするのに必要な数のビツトを含み、
書き込み可能化ライン24は1ビツトの情報を転
送し、そしてライン26のポート選択信号も1ビ
ツト情報であるが、これは別の信号ライン対を経
で送られてもよい。
同様に、第2の書き込みポート14は、データ
入力ライン28と、書き込みアドレスライン30
と、書き込み可能化ライン32と、ポート選択ラ
イン34とを受け入れる。書き込みポート12及
び14は巾の広い矢印36及び38で示されたよ
うに記憶配列体10へ接続されるが、その詳細に
ついては第2図ないし第4図を参照して説明す
る。同様に、読み取りポート16及び18は40
及び42で示された巾の広い矢印によつて記憶配
列体へ接続される。第1の読み取りポート16に
はライン44を経てポート選択信号が送られそし
てライン46を経て読み取りアドレスが送られ、
この読み取りポートからの出力はライン48を経
て送られるデータ出力である。同様に、もう1つ
の読み取りポート18は、データ出力ライン50
と、読み取りアドレスライン52と、ポート選択
ライン54とを有している。
書き込みポート12及び14並びに読み取りポ
ート16及び18は、その各々が互いに他のポー
トに対して別々に且つ同時に使用されるという点
で、互いに完全に独立している。記憶配列体10
内の同じメモリセルへデータを書き込むという要
求が同時に生じると、そのセルに記憶されるデー
タが不安なものになることがある。このような場
合にセルに記憶されるデータは、最も長い書き込
み可能化信号を有するポートを経て送られるデー
タとなる。それ故、多ポート装置を介して記憶配
列体10にアクセスする利用者の回路が合理的に
決まり、通常は同じ記憶セルへ同時に競合する情
報を書き込むことはないものとする。
第2図は本発明の多ポート装置を詳細に示して
いる。第1の書き込みポート12は、ポート作動
可能化回路60と、y書き込みアドレスデコーダ
62と、x書き込みアドレスデコーダ64とを備
えている。同様に、書き込みポート14は、作動
可能化回路65と、y書き込みアドレスデコーダ
66と、x書き込みアドレスデコーダ68とを備
えている。同様に、読み取りポート16は、ポー
ト作動可能化回路70と、y読み取りアドレスデ
コーダ兼感知増巾器72と、x読み取りアドレス
デコーダ74とを備えている。更に、読み取りポ
ート18は、ポート作動可能化回路76と、y読
み取りアドレスデコーダ兼感知増巾器78と、x
読み取りアドレスデコーダ80とを備えている。
書き込みポート12及び14のポート作動可能
化回路60及び65は機能的に同じものであり、
その入力ではライン26及び34を各々経てポー
ト選択信号を受けると共にライン24及び32を
各々経て書き込み可能化信号を受け取る。ポート
作動可能化回路60は、ライン26にポート選択
信号がありそしてライン24に書き込み可能化信
号がある時に、ライン82を経てアドレスデコー
ダ62及び64へ出力を発生する。ライン82の
この作動可能化信号は、アドレスデコーダ62及
び64が行及び列によつて成るセルを選択するの
に適した出力信号を発生するように、これらアド
レスデコーダを調整する。同様に、第2の書き込
みポート14のポート作動可能化回路65は、ラ
イン34にポート選択信号がありそしてライン3
2に書き込み可能化信号がある時に、ライン84
を経てアドレスデコーダ66及び68へ作動可能
化信号を発生する。
読み取りポート16及び18の場合の作動可能
化回路70及び76は、適当なデコーダを作動可
能にするのにライン44及び54のポート選択信
号しか各々必要とされないので、上記の作動可能
化回路60及び65よりも簡単である。実際に
は、ポート選択信号は別々の信号対であり、作動
可能化回路70及び76は一方のポート選択信号
ラインの高レベル信号及び他方のポート選択信号
ラインの低レベル信号の両方を検出することが必
要とされる。いずれにせよ、作動可能化回路70
はライン86を経てアドレスデコーダ72及び7
4へ作動可能化信号を発生する。同様に、第2の
読み取りポート18の作動可能化回路76は、ラ
イン88を経てyデコーダ兼感知増巾器78及び
xアドレスデコーダ80へ作動可能化信号を発生
する。
各々の記憶セルの回路を検討することによつて
明らかなように、書き込み作動で記憶さるべきデ
ータは、配列体の列をアドレスするのに用いられ
る別々のライン対に対してエンコードされる。従
つて、第2図では図示簡単化のため、データライ
ン20はy書き込みアドレスデコーダ62への入
力として示されている。同様に、データライン2
8はy書き込みアドレスデコーダ66へと入力と
して示されている。又、以下で明らかとなるよう
に、配列体10の記憶セルから読み取られたデー
タは、配列体の列をアドレスするのに用いられる
別々のライン対に接続された回路によつて感知さ
れる。従つて、データ出力ライン48はy読み取
りデコーダ兼感知増巾器72からの出力として示
されており、そしてデータ出力ライン50はy読
み取りデコーダ兼感知増巾器78からの出力とし
て示されている。
各々のアドレスデコーダ62,64,66,6
8,72,74,78及び80は機能的に同じも
のであり、記憶配列体10の選択されたセルの行
又は列アドレスを入力として受け入れる。説明
上、配列体10は16×16即ち256個のセルを有す
るものとして示され、それ故、各々の行アドレス
又は列アドレスは4ビツトワードのデータとして
入力される。各アドレスデコーダは、4ビツトの
アドレスを出力信号に変換し、そのデコーダから
の16本の出力ラインの1つに送出する。特に、y
書き込みアドレスデコーダ62は16本の出力ライ
ンYW1−0ないしYW1−15を有している。
もう1つのy書き込みアドレスデコーダ66は16
本の出力ラインYW2−0ないしYW2−15を
有している。これら2組のラインは記憶配列体1
0のセルに列ごとに接続された列アドレスライン
である。従つて、列選択ラインYW1−0及び
YW2−0は、ゼロ列の全セル、即ち第2図のセ
ル0−0、セル1−0、……セル15−0を通つ
て延びている。
同様に、列アドレスラインYW1−1及びYW
2−1は列1のセルを通つて延びており、そして
列アドレスラインYW1−15及びYW2−15
は最後の即ち第15列のセルを通つて延びている。
x書き込みアドレスデコーダ64及びもう1つの
x書き込みアドレスデコーダ68も同様に配列体
10の行アドレスに各々用いられる16個の出力を
有している。特に、x書き込みアドレスデコーダ
64はラインW1−0ないしW1−15に出力を
発生し、そしてx書き込みアドレスデコーダ68
は出力ラインW2−0ないしW2−15を有して
いる。この場合も、ラインW1−0及びW2−0
は配列体の最初の行即ちゼロ行の各セルを通つて
延び、ラインW1−1及びW2−1は配列体の第
1行のセルを通つて延び、……というようにし
て、ラインW1−15及びW2−15は配列体の
最後の行即ち第15行のセルを通つて延びている。
同様に、読み取りポート16及び18のデコー
ダ72,74,78及び80も2組の16本のアド
レスラインを有している。特に、y読みデコーダ
兼感知増巾器72はラインDL1−0ないしDL1
−15に出力を与える。もう一方のy読み取りデ
コーダ兼感知増巾器78は出力ラインDL2−0
ないしDL2−15を有している。ラインDL1−
0及びDL2−0は配列体の最初の列即ちゼロ列
に接続され、ラインDL1−1及びDL2−1は配
列体の次の列即ち第1列に接続され、……という
ようにして、ラインDL1−15及びDL2−15
は配列体の最後の列即ち第15列の各セルに接続さ
れる。x読み取りアドレスデコーダ74はライン
WL1−0ないしWL1−15に出力を発生し、
x読み取りアドレスデコーダ80はラインWL2
−0ないしWL2−15に出力を発生する。これ
らのxアドレスライン即ち行アドレスラインは行
方向に配列体を通して延びている。即ち、ライン
WL1−0及びWL2−0は最初の行即ちゼロ行
のセルを通り、ラインWL1−1及びWL2−1
は次の行即ち第1行のセルを通り、そしてライン
WL1−15及びWL2−15は最後の行即ち第
15行のセルを通る。
以上の説明及び第2図から明らかなように、配
列体の各セルは、書き込みのための2本の列アド
レスラインと、読み取りのための2本の列アドレ
スラインと、書き込みのための2本の行アドレス
ラインと、読み取りのための2本の行アドレスラ
インとを有している。配列体の記憶セルの説明か
ら明らかなように、4ポート配列体のこれら8本
のアドレスラインの幾つかは実際にはライン対で
あるが、第2図の論理構成は本装置の原理を説明
するためのものである。
配列体10の各セルは、個々の読み取り及び書
き込みポート12,14,16及び18から送ら
れる信号に対して個々に応答する。従つて、行番
号をrとしてそして列番号をcとすれば、セルr
−cへ書き込む場合には、第1の書き込みポート
12はラインYW1−c及びW1−rに信号を与
えるように働く。第2の書き込みポート14を経
て書き込みを行なう場合には、ラインYW2−c
及びW2−rに信号が与えられる。データはYW
ラインにおいてエンコードされる。というのは、
これらラインの各々は実際には1ビツトのデータ
を転送できると共に列アドレス情報を与えること
のできる別々のライン対だからである。第1の読
み取りポート16からセルr−cを読み取る場合
には、ラインDL1−c及びWL1−rに適当な
信号が送られる。第2の読み取りポート18から
読み取りを行なう場合には、ラインDL2−c及
びWL2−rに信号が送られる。
第3図に示されたように、記憶配列体10(第
1図)の各セルは、16個のNPNトランジスタQ
1ないしQ16と、4個の抵抗R1,R2,R3
及びR4とを備えている。トランジスタQ1及び
Q2は一体的なトランジスタ対として形成され、
これらは共通のベース及び共通のコレクタを有し
ているが、エミツタ端子は2つの別々の端子であ
る。トランジスタQ3及びQ4,Q5及びQ6,
Q7及びQ8についても同じことが言える。読み
取りのための行アドレスラインはWL1,WL2,
WL1′及びWL2′で示され、セルを通して横方
向に延びるように示されており、書き込みのため
の行アドレスラインはW1及びW2で示され、こ
れもセルを通して横に延びるように示されてい
る。読み取りのための列アドレスラインはDL1
及び1並びにDL2及び2で示されている。
書き込みのための列選択・データ転送ラインは
YW1及びYW2並びにこれらに対応する反転ラ
イン1及び2である。
トランジスタQ1及びQ2のコレクタ端子は抵
抗R1を経てラインWL1に接続されている。同
様に、トランジスタQ3及びQ4のコレクタは抵
抗R2を経てラインWL1に接続され、トランジ
スタQ5及びQ6のコレクタは抵抗R3を経てラ
インWL2に接続され、そしてトランジスタQ7
及びQ8のコレクタは抵抗R4を経てラインWL
2に接続されている。トランジスタQ1及びQ4
のエミツタ端子はラインWL1′に接続され、ト
ランジスタQ5及びQ8のエミツタ端子はライン
WL2′に接続されている。トランジスタQ2の
エミツタはラインDL1に接続され、トランジス
タQ3のエミツタはライン1に接続され、ト
ランジスタQ6のエミツタはライン2に接続
され、そしてトランジスタQ7のエミツタはライ
ンDL2に接続されている。トランジスタQ1及
びQ4はフリツプ−フロツプを形成するように交
差接続され、即ち、トランジスタQ1/Q2のベ
ースはトランジスタQ3/Q4のコレクタに接続
され、そしてトランジスタQ3/Q4のベースは
トランジスタQ1/Q2のコレクタに接続され
る。同様に、トランジスタQ5及びQ8もフリツ
プ−フロツプを形成するように交差接続される。
即ち、トランジスタQ5/Q6のベースはトラン
ジスタQ7/Q8のコレクタに接続され、そして
トランジスタQ7/Q8のベースはトランジスタ
Q5/Q6のコレクタに接続される。
トランジスタQ1が導通すると、抵抗R1間の
電圧降下によりトランジスタQ1/Q2のコレク
タは比較的低電圧状態にされる。この低レベル状
態はトランジスタQ4のベースに伝わるので、ト
ランジスタQ4は非導通状態のままであり、トラ
ンジスタQ3/Q4のコレクタは比較的高い電圧
レベルに保たれる。従来の単1ポート記憶セルに
おいては、トランジスタQ1及びQ4より成るこ
のフリツプ−フロツプの状態は、ラインDL1又
は1の一方に電流を流すことによつて変えら
れる。例えば、ライン1に電流が流された場
合には、トランジスタQ3を経て電流が引き出さ
れ、トランジスタQ1がオフになる。然し乍ら、
本発明の装置では、ラインDL1及び1は以下
で簡単に述べるように読み取りのみに使用される
のであつて、書き込みには使用されない。セルへ
のデータの書き込みは、トランジスタQ1ないし
Q4より成る4トランジスタ記憶ユニツトのコレ
クタの一方又は他方へ信号を直接与えることによ
り行なわれる。
トランジスタQ9ないしQ16は次のように接
続される。トランジスタQ9ないしQ12のベー
スはラインW1に共通接続され、トランジスタQ
13ないしQ16のベースはラインW2へ共通接
続される。トランジスタQ9及びQ10のエミツ
タはラインYW1へ接続されそしてトランジスタ
Q13及びQ14のエミツタはラインYW2へ接
続される。トランジスタQ11及びQ12のエミ
ツタはライン1へ接続され、そしてトランジ
スタQ15及びQ16のエミツタはライン2
へ接続される。トランジスタQ9及びQ13のコ
レクタはトランジスタQ3及びQ4のコレクタへ
接続される。トランジスタQ10及びQ14のコ
レクタはトランジスタQ5及びQ6のコレクタへ
接続される。トランジスタQ11及びQ15のコ
レクタはトランジスタQ3及びQ4のベースへ接
続され、これはトランジスタQ1及びQ2のコレ
クタへ直結されている。更に、トランジスタQ1
2及びQ16のコレクタはトランジスタQ5及び
Q6のベースへ接続され、これはトランジスタQ
7及びQ8のコレクタへ直結される。
トランジスタQ9ないしQ16より成るスイツ
チ回路を検討することにより明らかなように、記
憶セルの状態は、ラインW1又はW2の行選択信
号と、ラインYW1及び1又はYW2及び
YW2の列選択信号と、列アドレス信号の相対値
によつて伝達されるデータビツトとによつて適当
に作用を受ける。例えば、第1の書き込みポート
を用いた場合には、ラインW1が高レベルにされ
て特定の行がアドレスされ、トランジスタQ9な
いしQ12のみがオンにされる。ラインYW1及
び1に列選択信号が送られると、これらライ
ンYW1及び1に与えられた信号レベルの相
対値に基いて、トランジスタQ9及びQ10か又
はトランジスタQ11及びQ12かのいずれかが
作動される。YW1が高レベルでありそして
1が低レベルであれば、トランジスタQ9及びQ
10がオンにされ、これにより抵抗R2及びR3
を経て電流が引き出される。従つてトランジスタ
Q4及びQ5のコレクタは低電圧となり、トラン
ジスタQ1及びQ8のコレクタは高電圧となる。
これとは逆方向にデータを記憶するためには、
YW1が低レベルにされ、トランジスタQ11及
びQ12並びに抵抗R1及びR4に電流が流さ
れ、これによりトランジスタQ1及びQ8のコレ
クタ電圧が低下される。同様に、第2の書き込み
ポートを用いた場合には、ラインW2がトランジ
スタQ13ないしQ16のみのベースに作用し、
ラインYW2及び2の相対的なレベル状態に
基いて、トランジスタQ13及びQ14が作動さ
れるか、又はトランジスタQ15及びQ16が作
動される。トランジスタQ13及びQ14のコレ
クタはトランジスタQ9及びQ10のコレクタに
各々接続されておりそしてトランジスタQ15及
びQ16のコレクタはトランジスタQ11及びQ
12のコレクタに各々接続されているので、この
チヤンネルを通してのデータの記憶は、最初に述
べた書き込みチヤンネルを介してのデータの記憶
と同じ作用をもつことが明らかであろう。
記憶セルからデータを読み取る場合には、行の
選択としてラインWL1か又はラインWL2かの
いずれかを選択し、そして列の選択としてライン
DL1及び1か又はラインDL2及び2かの
いずれかを選択することによつて行なわれる。配
列体の各列には、選択されたデータセルの状態を
乱すことなくこの状態を取り出すために1対の感
知増巾器結合トランジスタが組合わされている。
これに対する回路は一般的なものであり、第1ポ
ート記憶セルに用いられるものと同様である。第
4図には一例としてその簡単な回路が示されてお
り、感知増巾器結合トランジスタQS1及びQS2
がラインDL1及び1に各々接続されている。
特に、トランジスタQS1のエミツタはラインDL
1に接続されそしてトランジスタQS2のエミツ
タはライン1に接続されている。トランジス
タQS1のコレクタは抵抗R5を経て電源電圧ラ
インに接続されそしてトランジスタQS2のコレ
クタは抵抗R6を経て同じ電源電圧ラインに接続
されている。これらトランジスタQS1及びQS2
のコレクタは、後述するように、感知されたデー
タを指示する。トランジスタQS1及びQS2のベ
ースはバイアス電圧VTHのラインに共通接続され
る。VTHは、記憶セルのフリツプ−フロツプ例え
ばQ1−Q4フリツプ−フロツプの論理高電圧と
論理低電圧との間の値に選択される。例えば、ト
ランジスタQ4がオンであり、トランジスタQ1
及びQ2のコレクタが高電圧状態にあり、そして
トランジスタQ3及びQ4のコレクタが低電圧状
態にある場合には、トランジスタQ3及びQ4の
ベースも高レベルとなる。又、トランジスタQ3
のエミツタも高レベルとなる。このエミツタはト
ランジスタQS2のエミツタに接続されているの
で、このトランジスタは導通しない。一方、トラ
ンジスタQ1及びQ2のベースはトランジスタ
QS1のエミツタと同様に低レベルに保たれ、ト
ランジスタQS1は導通する。
このようにして、トランジスタQ1及びQ4よ
り成るフリツプ−フロツプの状態はトランジスタ
QS1及びQS2のコレクタ端子において感知でき
る。ラインWL1の電圧は選択された行に対して
のみ高くなることに注意されたい。選択されない
行に対するラインWL1は低電圧レベルのままに
され、トランジスタQ1又はQ4のいずれかにス
タンバイ電流を流して、セルの記憶データ状態を
維持する。読み取りを行なうためにラインDL1
及び1に電流が流された時には、選択された
セルのトランジスタQ2又はQ3のいずれかにも
電流が流される。同じ例を用いると、トランジス
タQ4がオンの場合に、トランジスタQ3は読み
取り時にはオンにされるが、トランジスタQ2は
オンにされず、トランジスタQS1にはDL1電流
が流れる。選択されなかつた行のセルに対して
は、ラインDL1及び1の読み取り電流により
トランジスタQ2もQ3もオにされない。
16個のトランジスタにおいて4個のアイソレー
トされたコレクタのみが使用されることが第3図
から明らかであろう。これは、装置の実装密度を
高くすると共に、モノリシツク形態での製造に適
するようにする。又、重要な技術は読み取り技術
であり、スイツチングトランジスタを用いて行が
選択されるのではなく、電源電圧を上げることに
よつてその行が選択される。選択された行の電源
電圧を上げるようにすることにより、ノイズ裕度
が非常に高くされると共に、その他の障害のおそ
れも非常にわずかとなる。
以上の説明より、本発明は、モノリシツク型半
導体記憶配列体の分野に著しい進歩をもたらすこ
とが明らかであろう。又、解説のために本発明の
特定の実施例を詳細に説明したが、本発明の精神
及び範囲から逸脱せずに種々の変更がなされ得る
ことも明らかであろう。従つて、本発明は特許請
求の範囲のみによつて規定されるものとする。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明により構成された多ポートレジ
スタフアイルのブロツク図、第2図は第1図の多
ポートレジスタフアイルの詳細なブロツク図、第
3図は第1図及び第2図の装置に用いられる記憶
セルの回路図、そして第4図は本発明装置のデー
タセルからデータをいかに読み取るかを示した部
分回路図である。 10……記憶配列体、12,14……書き込み
ポート、16,18……読み取りポート、20,
28……データ入力ライン、22,30……書き
込みアドレスライン、24,32……書き込み可
能化ライン、26,34……ポート選択ライン、
44,54……ポート選択ライン、46,52…
…読み取りアドレスライン、48,50……デー
タ出力ライン、60,65,70,76……ポー
ト作動可能化回路、62,66……y書き込みア
ドレスデコーダ、64,68……x書き込みアド
レスデコーダ、72,78……y読み取りアドレ
スデコーダ兼感知増巾器、74,80……x読み
取りアドレスデコーダ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ノイズ裕度の大きい高密度モノリシツク型多
    ポートレジスタフアイルにおいて、このレジスタ
    フアイルは、行アドレス及び列アドレスを参照す
    ることによつて識別できる記憶セルの2次元配列
    体と、この配列体の選択されたセルにデータを記
    憶するように各々接続できる複数個のn個の書き
    込みポートと、上記配列体の選択されたセルから
    データを検索するように各々接続できる複数個の
    m個の読み取りポートとを備え、上記書き込みポ
    ート及び読み取りポートはこれらを組合わせて同
    時に作動することができ、上記配列体の各セル
    は、選択されたデータ状態を記憶するm個のフリ
    ツプ−フロツプと、各書き込みポートごとに1対
    ずつあるn対のトランジスタスイツチとを備え、
    各対の一方のスイツチは上記フリツプ−フロツプ
    に第1データ状態を記憶するように作動し、そし
    て各対の他方のスイツチは上記フリツプ−フロツ
    プに第2データ状態を記憶するように作動し、上
    記配列体は、各行のセルを通して延びて上記各フ
    リツプ−フロツプに接続されていて、上記読み取
    りポートの1つによつて選択されなかつた行には
    第1の電圧レベルを与えそして選択された行には
    その第1の電圧レベルより高い電圧レベルを与え
    るm本の電源ラインと、上記配列体の各列を通し
    て延びて上記フリツプ−フロツプの対応するもの
    に接続されていて、上記フリツプ−フロツプのデ
    ータ状態を決定するm対の読み取りデータライン
    と、上記配列体の各行を通して延びていて、選択
    された行の各セルに含まれた1対の上記トランジ
    スタスイツチを作動可能にさせるn本の行選択ラ
    インと、上記配列体の各列を通して延びていて、
    上記配列体の選択された列にある作動可能にされ
    たトランジスタスイツチ対の1つを選択して、上
    記フリツプ−フロツプへ選択されたデータ状態を
    書き込むn対の列選択ラインとを備えたことを特
    徴とする多ポートレジスタフアイル。 2 各々の上記フリツプ−フロツプは、1対の交
    差結合されたNPNトランジスタを含み、その
    各々は更に別のエミツタを有し、上記読み取りデ
    ータラインは上記更に別のエミツタを経て上記ト
    ランジスタへ接続され、各々の上記トランジスタ
    スイツチは上記m個のフリツプ−フロツプの各々
    にデータ信号を送るようにm個のNPNトランジ
    スタを備えている特許請求の範囲第1項に記載の
    多ポートレジスタフアイル。 3 m及びnは各々2である特許請求の範囲第2
    項に記載の多ポートレジスタフアイル。 4 ノイズ裕度の大きい高密度モノリシツク型多
    ポートレジスタフアイルにおいて、このレジスタ
    フアイルは、行アドレス及び列アドレスを参照す
    ることにより識別できる記憶セルの2次元配列体
    を備え、各々の記憶セルは、選択されたデータ状
    態を記憶する2つのフリツプ−フロツプと、2対
    のトランジスタスイツチとを備え、各対の一方の
    スイツチは上記フリツプ−フロツプに第1データ
    状態を記憶するように働き、各対の他方のスイツ
    チは上記フリツプ−フロツプに第2データ状態を
    記憶するように働き、記憶セルの上記配列体は、
    上記配列体の各行を通つて延びて上記2つのフリ
    ツプ−フロツプの各々に接続された2組の電源ラ
    インを備え、この電源ラインは選択された行に大
    きな電圧を送ることにより読み取りのための行ア
    ドレスを選択するように働き、更に上記配列体は
    上記配列体の各行を通つて延びている2対の列選
    択書き込みラインを備え、これらの2対の列選択
    書き込みラインはその一方の対にデータ状態信号
    が与えられた時に上記トランジスタスイツチの1
    つを作動可能にするように上記トランジスタスイ
    ツチに接続され、更に、上記配列体は2つの読み
    取りポートを備え、該読み取りポートは、各行の
    上記2組の電源ライン及び各列の上記2対の読み
    取りデータラインに接続されていて選択された記
    憶セルからいずれかの読み取りポートを経てデー
    タを読み取るようなアドレスデコード手段を含
    み、そして更に、上記配列体は2つの書き込みポ
    ートを備え、該書き込みポートは、各行の上記2
    つの行選択書き込みライン及び各列の上記2対の
    列選択書き込みラインに接続されていていずれか
    の書き込みポートを経て選択された記憶セルにデ
    ータを書き込むようなアドレスデコード手段を含
    み、これにより上記読み取りポート及び書き込み
    ポートは何らかの組合せで同時に作動されること
    を特徴とする多ポートレジスタフアイル。 5 各々の上記フリツプ−フロツプは2つの交差
    接続されたNPNトランジスタを含み、各々のト
    ランジスタは第2のエミツタを有し、各対の読み
    取りデータラインは上記第2のエミツタを経て上
    記フリツプ−フロツプに接続される特許請求の範
    囲第4項に記載のレジスタフアイル。 6 各々の上記トランジスタスイツチは2つの
    NPNトランジスタを含み、各トランジスタのコ
    レクタは個々の上記フリツプ−フロツプのトラン
    ジスタのコレクタに接続され、両トランジスタの
    ベースは上記行選択書き込みラインの1つに接続
    され、上記トランジスタのエミツタは上記列選択
    書き込みラインの1つに接続され、上記トランジ
    スタスイツチには全部で8個のNPNトランジス
    タがあるが、これらスイツチングトランジスタ及
    び上記フリツプ−フロツプを構成するトランジス
    タにおいてアイソレートされたコレクタは4つだ
    けである特許請求の範囲第5項に記載のレジスタ
    フアイル。 7 ノイズ裕度の大きい高密度のモノリシツク型
    多ポートレジスタフアイルにおいて、このレジス
    タフアイルは、行アドレス及び列アドレスを参照
    することにより識別できる記憶セルの2次元配列
    体と、この配列体の選択されたセルにデータを記
    憶するように各々接続できる少なくとも2つの書
    き込みポートと、上記配列体の選択されたセルか
    らデータを検索するように各々接続できる少なく
    とも2つの読み取りポートとを備え、上記書き込
    みポート及び読み取りポートはこれらを組合わせ
    て同時に使用して上記配列体の選択されたセルヘ
    データを書き込んだりそこからデータを読み取つ
    たりすることができ、上記配列体の各セルは、コ
    レクタとベースとが交差接続されたフリツプ−フ
    ロツプを形成するような第1及び第2の2重エミ
    ツタトランジスタを各々含む複数個の記憶手段
    と、上記セルを通して行方向に延びる上記と同数
    の複数対のフリツプ−フロツプ電源ラインとを備
    え、各対の一方のラインは上記トランジスタのコ
    レクタに抵抗性結合されそして他方のラインは
    各々の上記トランジスタの一方のエミツタに接続
    され、更に上記配列体の各セルは、上記セルを通
    して列方向に延びる上記と同数の複数対の読み取
    りデータラインを備え、その一方のラインは上記
    第1のトランジスタの他方のエミツタに接続され
    そして他方のラインは上記第2のトランジスタの
    他方のエミツタに接続され、更に上記配列体の各
    セルは、各書き込みポートごとに1つずつあつて
    上記セルを通して行方向に延びている複数本の行
    選択書き込みラインと、書き込みポートごとに1
    対ずつあつて上記セルを通して列方向に延びてい
    る複数対の列選択・書き込みデータラインと、上
    記記憶手段へデータを記憶するように上記列選
    択・書き込みデータライン、上記行選択書き込み
    ライン、及び上記2重エミツタトランジスタのコ
    レクタへ接続された複数個のトランジスタスイツ
    チとを備え、各々の上記読み取りポートは個々の
    上記記憶手段を介して機能し、そして上記書き込
    みポートは上記読み取りポートには拘りなく上記
    行選択書き込みライン及び上記列選択・書き込み
    データラインを介して作動することを特徴とする
    多ポートレジスタフアイル。
JP58030640A 1982-02-25 1983-02-25 多ポ−トレジスタフアイル Granted JPS58189896A (ja)

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US352293 1982-02-25

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JPS58189896A JPS58189896A (ja) 1983-11-05
JPH0259553B2 true JPH0259553B2 (ja) 1990-12-12

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Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4541076A (en) * 1982-05-13 1985-09-10 Storage Technology Corporation Dual port CMOS random access memory
JPS59146345A (ja) * 1983-02-10 1984-08-22 Masahiro Sowa コントロ−ルフロ−並列計算機方式
US4737933A (en) * 1983-02-22 1988-04-12 Storage Technology Partners CMOS multiport general purpose register
US4654788A (en) * 1983-06-15 1987-03-31 Honeywell Information Systems Inc. Asynchronous multiport parallel access memory system for use in a single board computer system
US5179734A (en) * 1984-03-02 1993-01-12 Texas Instruments Incorporated Threaded interpretive data processor
US4610004A (en) * 1984-10-10 1986-09-02 Advanced Micro Devices, Inc. Expandable four-port register file
EP0730370B1 (en) * 1985-11-18 2002-02-06 Canon Kabushiki Kaisha Image forming apparatus
US4905189B1 (en) * 1985-12-18 1993-06-01 System for reading and writing information
US4719596A (en) * 1986-03-19 1988-01-12 International Business Machines Corporation Register providing simultaneous reading and writing to multiple ports
JPH0734586B2 (ja) * 1986-06-20 1995-04-12 ソニー株式会社 映像記憶装置
NL8700843A (nl) * 1987-04-10 1988-11-01 Philips Nv Televisie-overdrachtsysteem met transformcoding.
US4852061A (en) * 1987-04-30 1989-07-25 International Business Machines Corporation High density, high performance register file having improved clocking means
JP2961733B2 (ja) * 1988-05-18 1999-10-12 ソニー株式会社 画像メモリ装置
DE3835116A1 (de) * 1988-10-14 1990-04-19 Siemens Ag Adressverstaerkerschaltung mit selbstverriegelung und sicherung gegen mehrfachadressierung zur verwendung in statischen gaas-rams
US5150328A (en) * 1988-10-25 1992-09-22 Internation Business Machines Corporation Memory organization with arrays having an alternate data port facility
US5166903A (en) * 1988-10-25 1992-11-24 International Business Machines Corporation Memory organization with arrays having an alternate data port facility
US4995001A (en) * 1988-10-31 1991-02-19 International Business Machines Corporation Memory cell and read circuit
US6370623B1 (en) * 1988-12-28 2002-04-09 Philips Electronics North America Corporation Multiport register file to accommodate data of differing lengths
KR930007185B1 (ko) * 1989-01-13 1993-07-31 가부시키가이샤 도시바 레지스터뱅크회로
US5301350A (en) * 1989-10-10 1994-04-05 Unisys Corporation Real time storage/retrieval subsystem for document processing in banking operations
JP2747944B2 (ja) * 1989-11-21 1998-05-06 松下電器産業株式会社 半導体記憶装置
KR920009059B1 (ko) * 1989-12-29 1992-10-13 삼성전자 주식회사 반도체 메모리 장치의 병렬 테스트 방법
US5367680A (en) * 1990-02-13 1994-11-22 International Business Machines Corporation Rendering context manager for display adapters supporting multiple domains
JPH04356793A (ja) * 1990-08-18 1992-12-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH05503390A (ja) * 1990-10-26 1993-06-03 マイクロン・テクノロジー・インコーポレイテッド 同時読み書き機能およびクロック歪みに対する耐性を有する高速5ポートレジスタファイル
US5130809A (en) * 1991-05-06 1992-07-14 Fuji Xerox Co., Ltd. Electrophotographic copier with constant rate data compression and simultaneous storage and decompression of compressed data received on a mutually coupled data bus
GB2278698B (en) * 1993-05-05 1997-09-03 Hewlett Packard Co Multi-ported data storage device with improved cell stability
US6880056B2 (en) * 2002-03-28 2005-04-12 Hewlett-Packard Development, L.P. Memory array and method with simultaneous read/write capability
US7581079B2 (en) * 2005-03-28 2009-08-25 Gerald George Pechanek Processor composed of memory nodes that execute memory access instructions and cooperate with execution nodes to execute function instructions
KR102251241B1 (ko) * 2013-11-29 2021-05-12 삼성전자주식회사 재구성 가능 프로세서의 레지스터를 제어하는 방법 및 장치와 재구성 가능 프로세서의 레지스터를 제어하는 명령어를 생성하는 방법 및 장치

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3675218A (en) * 1970-01-15 1972-07-04 Ibm Independent read-write monolithic memory array
US4150392A (en) * 1976-07-31 1979-04-17 Nippon Gakki Seizo Kabushiki Kaisha Semiconductor integrated flip-flop circuit device including merged bipolar and field effect transistors
US4127899A (en) * 1977-12-05 1978-11-28 International Business Machines Corporation Self-quenching memory cell
US4287575A (en) * 1979-12-28 1981-09-01 International Business Machines Corporation High speed high density, multi-port random access memory cell

Also Published As

Publication number Publication date
JPS58189896A (ja) 1983-11-05
US4491937A (en) 1985-01-01
DE3382705D1 (de) 1993-09-02
IL67795A (en) 1986-02-28
EP0087857A3 (en) 1986-08-20
DE3382705T2 (de) 1993-11-04
EP0087857A2 (en) 1983-09-07
EP0087857B1 (en) 1993-07-28
IL67795A0 (en) 1983-05-15

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