JPH0253148A - 入出力装置用試験プログラムのデバツグ方法 - Google Patents

入出力装置用試験プログラムのデバツグ方法

Info

Publication number
JPH0253148A
JPH0253148A JP63203879A JP20387988A JPH0253148A JP H0253148 A JPH0253148 A JP H0253148A JP 63203879 A JP63203879 A JP 63203879A JP 20387988 A JP20387988 A JP 20387988A JP H0253148 A JPH0253148 A JP H0253148A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test program
input
monitor
output command
actual value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63203879A
Other languages
English (en)
Inventor
Sadao Nasu
那須 貞夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP63203879A priority Critical patent/JPH0253148A/ja
Publication of JPH0253148A publication Critical patent/JPH0253148A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は試験プログラムのデバッグ方法に関し、特に、
被試験装置を使用しないで行なう試験プログラムのデバ
ッグ方法に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、この種の試験プログラムのデバッグは、被試験装
置を使用する前は、類似の装置を利用しかつ試験プログ
ラムにバッチする等して行なっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の試験プログラムのデバッグ方法は、類似
の装置を利用しかつデバッグしようとする試験プログラ
ムにバッチをする等して行なっていたので、類似の装置
を必要とするという欠点があり、また、試験プログラム
にバッチをしてデバッグするため、実際に使用するプロ
グラムと異なるという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
このような課題を解決するために本発明は、試験プログ
ラムの正常処理または異常処理のどちらをデバッグする
かを示すモードを備え、試験プログラムモニタからの要
求に従って、入出力指令実行要求に対しては試験プログ
ラムモニタの割込処理を起動し、入出力指令実行結果チ
ェック要求に対しては動的モード設定手段によりデバッ
グのモードを設定し、正常処理モードが設定された場合
は試験プログラムが用意した期待値をそのまま試験プロ
グラムデバッグ用モジュールにより実際値領域に格納し
、異常処理モードが設定された場合は実際値データ入力
手段により実際値データを入力してこの実際値データを
試験プログラムデバッグ用モジュールにより実際値領域
に格納し、試験プログラムから試験プロ久ラムモニタに
被試験装置への入出力指令実行要求があれば、試験プロ
グラムモニタは試験プログラムデバッグ用モジュールに
入出力指令実行要求を行なった後に割込待ちとなり、試
験プログラムデバッグ用モジュールからの割込処理起動
により試験プログラムモニタが動作再開し、入出力指令
実行要求を行なった試験プログラムに制御を戻し、試験
プログラムは期待値を用意して試験プログラムモニタに
入出力指令実行結果チェック要求を行ない、試験プログ
ラムモニタは試験プログラムデバッグ用モジュールをコ
ールして、動的モード設定手段により設定したモードに
従い、正常処理モードの場合には試験プログラムデバッ
グ用モジュールにより試験プログラムが用意した期待値
をそのまま格納し、異常処理モードの場合には実際値デ
ータ入力手段により実際値データを入力し、この実際値
データを実際値領域に格納した後、入出力指令実行結果
のチェックを行なって、試験プログラムに制御を戻すよ
うにしたものである。
〔作用〕
本発明による入出力装置用試験プログラムのデバッグ方
法においては、被試験装置を必要とせず、また試験プロ
グラムをバッチ等により変更することなく、試験プログ
ラムのデバッグが容易に行なえる。
〔実施例〕
第1図は、本発明の一実施例に係る試験プログラムシス
テムのプログラム構成図である。第2図は第1図の試験
プログラム(TP)モニタ1の5YSIN処理ルーチン
10のフローチャートである。第3図は第1図の試験プ
ログラムデバッグ用モジュール2内のモード設定および
データ入力処理ルーチン20のフローチャートである。
第4図は第1図の試験プログラムモニタ1の部分的なフ
ローチャートである。第5図は第1図の試験プログラム
3をデバッグする時のシステム構成図であり、中央処理
装置4 (CPU)に主記憶装置(MMU)5と入出力
制御装置(IOP)6とが接続され、入出力制御装置6
にラインプリンタ(L P)61とコンソール(CSリ
 62と磁気テープ装置(MT)63とフロッピィディ
スク装置(FD)64とが接続されている。第6図は第
1図の試験プログラムデバッグ用モジュール2のフロー
チャートである。第7図は第1図の試験プログラム3の
フローチャートである。第8図は試験プログラム3デバ
ツグ時の入力データの内容の一部を示すデータ構成図で
ある。
次に、第5図のシステムにおいて、被試験装置が存在し
ない場合の試験プログラム3のデバッグで、最初の入出
力指令で異常終了し、2番目の入出力指令で正常終了す
る時の動作について説明する。システム立上げ時に磁気
テープ装置63から試験プログラムモニタ1および試験
プログラムデバッグ用モジュール2が主記憶装置5にロ
ードされ、試験プログラムモニタ1が動作可能となり、
コマンド入力待ちの状態となる。最初にデバッグのモー
ドを動的に設定可能とする為および入出力指令異常終了
時に実際値データを設定可能とする為、フロッピィディ
スク装置64に、第8図に示すコマンド列が書かれたフ
ロッピィディスクを装填する。フロッピィディスクが装
填されたことを試験プログラムモニタ1が認識すると、
SYS IN処理ルーチン10に制御が渡る。5YSI
N処理ルーチン10のフローチャートを示す第2図のス
テップ101では、フロッピィディスク入力処理に関連
する各種ポインタ、カウンタ類(図示せず)を初期化す
る。また、この時点で、試験プログラムデバッグ用モジ
ュール2で使用する後述の正常モードカウンタも“O”
に初期化される。ステップ102では、フロッピィディ
スク装置64に装填したフロッピィディスクから第8図
のコマンドデータ7を読み取る。コマンドデータとして
は第3レコード73にDEBUG  ERROR1第2
レコード72に“DATA  12345678”、第
3レコード73に’DEBUG  NORMAL、1”
が設定されている。ルーチン10の5YSIN入力処理
が終了したら、次にコンソール62から試験プログラム
モニタ1のコマンド(図示せず)にて試験プログラム3
を起動する。
試験プログラムモニタ1は磁気テープ装置63から試験
プログラム3を主記憶装置5にロードして、試験プログ
ラム3に制御を渡す。
試験プログラム3に制御が渡ると、第7図のステップ3
1の処理を実行する。この処理は試験の前処理であり、
試験プログラム3で使用するテーブル等(図示せず)の
初期設定を行なう。次に、ステップ32では、被試験装
置に対して実行すべき入出力コマンドを含むチャネルプ
ログラム(図示せず)を用意して、試験プログラムモニ
タ1に“入出力指令実行および終了報告待”要求を出す
本要求により第4図のステップ11に制御が渡る。
ステップ11の判断では、試験プログラム3からの要求
に従ってステップ12か15に分岐する。
いま要求は“入出力指令実行および終了報告待”である
ので、ステップ12の処理を実行する。このステップ1
2では、被試験装置に対して入出力指令を実行する代わ
りに、パラメータとして“入出力指令実行要求” (図
示せず)を設定し、試験プログラムデバッグ用モジュー
ル2を起動し、ステップ13に移る。ステップ13の処
理は終了報告待処理であり、試験プログラムモニタlは
待状態となる。この状態になると、ステップ12で起動
された試験プログラムデバッグ用モジュール2に制御が
渡る。試験プログラムデバッグ用モジュール2に制御が
渡ると、第6図のステップ21の判断が実行される。
第6図のステップ21においては、起動された時のパラ
メータに従って、ステップ22の処理が、ステップ23
の判断を実行する。いまパラメータは“入出力指令実行
要求”であり、ステップ22の処理を実行する。ステッ
プ22では入出力指令を実行せず、終了報告に必要な情
報を主記憶装置5に格納し、試験プログラムモニタエの
割込処理(図示せず)を起動し、試験プログラムデバッ
グ用モジュール2の処理を終了する。
次に、ステップ22で起動された試験プログラムモニタ
1の割込処理ルーチン(図示せず)は、終了割込時の情
報により終了割込時となっているステップ13の処理を
起動し、ステップ14に制御を渡す、ステップ14&処
理では“入出力指令実行および終了報告待”の要求を出
した第7図のステップ32の次のステップ33に制御を
渡す。
ステップ33では、入出力指令の実行結果をチェックす
るために、期待値を設定して“結果チェック”要求を試
験プログラムモニタ1に出す0次に、第4図のステップ
11に移る。
第4図のステップ11の判断では、要求が“結果チェッ
ク°であるので、ステップ15の処理を実行する。ステ
ップ15においては、パラメータとして“データ転送要
求”を設定し、試験プログラムデバッグ用モジュール2
を呼び出す。これにより、第6図のステップ21に制御
が渡る。
第6図のステップ21の判断では、パラメータをチェッ
クし、パラメータが“結果チェック”であるので、ステ
ップ23に進む。ステップ23では、正常モードカウン
タの内容が“0”か否かを判断する。“0”であればス
テップ24に進み、°0”以外であればステップ26に
進む、正常モードカウンタは5YSIN入力時に“0”
が設定されており、ステップ24に進む、ステップ24
では、第3図の“モード設定およびデータ入力処理”ル
ーチン20を呼び出し、第3図のステップ201に制御
を渡す。
第3図のステップ201では、5YSIN入力処理ルー
チン10で読み込んだ第8図の入力データからルコード
取り出す、初めての取出しであり、第2レコード72を
取り出す0次に、ステップ202では、ステップ201
で取り出したデータのコマンドをチェックし、コマンド
が”DEBUG”以外であればモニタのコマンド処理(
図示せず)を呼び出し、コマンドが’DEBUG”であ
ればステップ203に進む。いまコマンドは6DEBU
G”であり、ステップ203に進む。ステップ203で
は、処理中のコマンドの第1パラメータをチェックし、
第1パラメータが“NORMAL”であればステップ2
04に進み、”ERROR″であればステップ206に
進む。いま第1パラメータは“ERROR″であるので
ステップ206に進む、ステップ206ではデバッグモ
ードフラグ(図示せず)を異常処理モードに設定し、ス
テップ207に進む、ステップ207では、次のルーコ
ードである第2レコード72を取り出し、ステップ20
8に進む。ステップ208では、ステップ207で取り
出したデータのコマンドをチェックし、“DATA″で
あればステップ209に進み、” DATA”以外であ
ればモニタのコマンド処理(図示せず)を呼び出す。い
まコマンドは“DATAゝであり、ステップ209に進
む。
ステップ209では、処理中のコマンドのパラメータの
内容を要求元とのインタフェース領域(図示せず)に格
納し、要求元である第6図のステップ25に戻る。
第6図のステップ25では、デバッグモードフラグをチ
ェックし、異常処理モードが設定されていればステップ
28に進み、正常処理モードが設定されていればステッ
プ26に進む。いま異常処理モードが設定されているの
でステップ28に進む、ステップ28では、インタフェ
ース領域(図示せず)に設定されたDATA”コマンド
のパラメータの内容“12345678”を実際値領域
に格納する。ステップ28の処理を終了すると、第4図
のステップ16に戻る。
第4図のステップ1Gでは、入出力指令の結果のチェッ
クのため、期待値と実際値とを比較する。
いま実際値は試験プログラム3の異常処理デバッグのた
め外部から与えられた値“12345678゛であり、
これは期待値と異なる値としている。
従って、ステップ16での結果チェックではエラー検出
にて試験プログラム3すなわち第7図のステップ34に
戻る。
第7図のステップ34では、結果がエラー検出であるの
でステップ35に進む、ステップ35では、エラーメツ
セージを第5図のラインプリンタ61およびコンソール
62に出力し、ステップ36に進む、ステップ36の処
理は前述のステップ32の処理と同様の処理であり、第
4図のステップ11. 12. 13.第6図のステッ
プ21,22、第4図のステップ14の各判断、処理を
順次実行し、第7図のステップ37に進む。
第7図のステップ37(7)J!理は前述のステンプ3
3の処理と同様の処理であり、第4図のステップ11.
15.第6図のステップ21.23.24の各判断、処
理を実行し、第3図のステップ201に進む。
第3図のステップ201では、ルーチン10の5YSI
N入力処理で取り込んだ第8図の入力データフの内容を
取り出す、既に第2レコード72まで取り出されている
ので、今度は第3レコード73を取り出し、ステップ2
02に進む、ステップ202ではコマンドチェックを行
なうが、コマンドは“DEBUG″でありステップ20
3に進む。ステップ203では、処理中のコマンドの第
1パラメータをチェックする。上記のように第1パラメ
ータはNORMALでありステップ204に進む、ステ
ップ204では、デバッグモードフラグ(図示せず)を
正常処理モードに設定し、ステップ205に進む。ステ
ップ205では、処理中のコマンドの第2のパラメータ
の内容“1″を正常モードカウンタ(図示せず)に格納
する。ステップ205の処理を終了すると、要求元であ
る第6図のステップ25に戻る。
第6図のステップ25では、デバッグモードフラグ(図
示せず)をチェックする。いまデバッグモードフラグ(
図示せず)は正常モードが設定されているのでステップ
26に進む、ステップ26では、試験プログラム3が用
意した期待値データをそのまま実際値領域に格納し、ス
テップ27に進む、ステップ27では、正常モードカウ
ンタの内容を“1”減算する。正常モードカウンタの内
容は“1”であったので、“1″減算され“0”になる
、ステップ27を終了すると、第4図のステップ16に
戻る。
第4図のステップ16では、入出力指令の結果のチェッ
クのため、期待値と実際値を比較する。
いま実際値と期待値は等しいので、エラー未検出にて第
7図のステップ38に戻る。
第7図のステップ38では、試験プログラムモニタ1で
チェックした入出力指令の結果チェックの結果を調べ、
エラー検出であればステップ39に進み、エラー未検出
であ、ネ、ばステップ39を実行しないで次に進む。い
ま結果はエラー未検出であるので、ステップ39をスキ
ップする。以降、同様の動作を繰り返し、後処理40に
て試験プログラムで変更した状態を元に戻して試験プロ
グラム3の実行を終了する。
以上の説明では、試験プログラム3の最初の入出力指令
でエラーとなり、2番目の入出力指令は正常に終了する
場合について説明したが、第8図のコマンドを変更する
ことにより、任意の入出力指令で任意の結果とすること
が可能であり、また、異常処理デバッグでは任意の実際
値を設定できることは言うまでもない。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、試験プログラムデバッグ
用モードを動的に設定し、異常処理デバッグモード時に
実際値データを外部入力装置から入力し、動的に設定さ
れた試験プログラムデバッグ用モードに従い入出力指令
を簡易的にシミュレーションすることにより、被試験装
置を必要とせず、また、試験プログラムをパッチ等によ
り変更することなく、任意の入出力指令に対して正常終
了または異常終了を発生させて、異常終了の時には任意
のデータを設定可能とすることにより試験プログラムの
デバッグが容易に行なえるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のデバッグ方法に係る試験プログラムシ
ステムのプログラム構成図、第2図は第1図のプログラ
ムを構成する試験プログラムモニタのSYS IN処理
を示すフローチャート、第3図は第1図のプログラムを
構成する試験プログラムデバッグ用モジュール内のモー
ド設定およびデータ入力処理を示すフローチャート、第
4図は第1図の試験プログラムモニタの部分的なフロー
チャート、第5図は第1図の試験プログラムをデバッグ
する時のシステム構成図、第6図は第1図の試験プログ
ラムデバッグ用モジュールのフローチャート、第7図は
第1図の試験プログラムのフローチャート、第8図は試
験プログラムデバッグ時の入力データの内容の一部を示
すデータ構成図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  入出力装置を試験する試験プログラムと、この試験プ
    ログラムの実行制御と被試験装置への入出力指令実行と
    入出力指令実行結果のチェックとを前記試験プログラム
    からの要求に従って実行する試験プログラムモニタとか
    ら構成される試験プログラムシステムにおいて、試験プ
    ログラムの正常処理または異常処理のどちらをデバッグ
    するかを示すモードを備え、前記試験プログラムモニタ
    からの要求に従って、前記入出力指令実行要求に対して
    は前記試験プログラムモニタの割込処理を起動し、前記
    入出力指令実行結果チェック要求に対しては動的モード
    設定手段によりデバッグのモードを設定し、正常処理モ
    ードが設定された場合は前記試験プログラムが用意した
    期待値をそのまま試験プログラムデバッグ用モジュール
    により実際値領域に格納し、異常処理モードが設定され
    た場合は実際値データ入力手段により実際値データを入
    力してこの実際値データを前記試験プログラムデバッグ
    用モジュールにより前記実際値領域に格納し、前記試験
    プログラムから前記試験プログラムモニタに被試験装置
    への入出力指令実行要求があれば、前記試験プログラム
    モニタは前記試験プログラムデバッグ用モジュールに入
    出力指令実行要求を行なった後に割込待ちとなり、前記
    試験プログラムデバッグ用モジュールからの割込処理起
    動により前記試験プログラムモニタが動作再開し、入出
    力指令実行要求を行なった前記試験プログラムに制御を
    戻し、前記試験プログラムは期待値を用意して前記試験
    プログラムモニタに入出力指令実行結果チェック要求を
    行ない、前記試験プログラムモニタは前記試験プログラ
    ムデバッグ用モジュールをコールして、前記動的モード
    設定手段により設定したモードに従い、正常処理モード
    の場合には前記試験プログラムデバッグ用モジュールに
    より前記試験プログラムが用意した期待値をそのまま格
    納し、異常処理モードの場合には前記実際値データ入力
    手段により実際値データを入力し、この実際値データを
    実際値領域に格納した後、前記入出力指令実行結果のチ
    ェックを行なって、前記試験プログラムに制御を戻すよ
    うにしたことを特徴とする入出力装置用試験プログラム
    のデバッグ方法。
JP63203879A 1988-08-18 1988-08-18 入出力装置用試験プログラムのデバツグ方法 Pending JPH0253148A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63203879A JPH0253148A (ja) 1988-08-18 1988-08-18 入出力装置用試験プログラムのデバツグ方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63203879A JPH0253148A (ja) 1988-08-18 1988-08-18 入出力装置用試験プログラムのデバツグ方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0253148A true JPH0253148A (ja) 1990-02-22

Family

ID=16481230

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63203879A Pending JPH0253148A (ja) 1988-08-18 1988-08-18 入出力装置用試験プログラムのデバツグ方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0253148A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06318161A (ja) * 1993-05-07 1994-11-15 Nec Corp シミュレーションシステムにおける交換機プログラム評価方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06318161A (ja) * 1993-05-07 1994-11-15 Nec Corp シミュレーションシステムにおける交換機プログラム評価方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5574892A (en) Use of between-instruction breaks to implement complex in-circuit emulation features
JP2526688B2 (ja) プログラマブルコントロ―ラおよびシ―ケンスプログラムの部分実行方法
JPH0253148A (ja) 入出力装置用試験プログラムのデバツグ方法
JPH07191876A (ja) プログラム試験装置とその使用方法
JPH02118733A (ja) タスクの実行制御方式
JPS63177231A (ja) 並列プログラムデバグ方式
JP2788353B2 (ja) タスクトレース方法
JPH04225442A (ja) コンピュータファイルシステムの整合性検査方式
JPS61138184A (ja) テストプログラムによる試験機ハ−ドウエア確認方式
JPS6225340A (ja) 検査装置
JPH04309152A (ja) 情報処理システム
CN112597717A (zh) Ip核验证方法、装置及电子设备
JPS6214240A (ja) プログラム検査方式
JPH03252826A (ja) テストデータ処理方式
JPH0397040A (ja) 試験プログラムの検査方式
JPH01114945A (ja) データ処理装置のトレース方式
JPH01244547A (ja) プログラム開発デバッグ支援方式
JPS63268040A (ja) プログラムデバツグ方式
JPH07295860A (ja) ソフトウエア試験方法およびそのための装置
JPH01118947A (ja) 入出力処理の試験方式
JPH01171039A (ja) プログラムデバック方式
JPH04332050A (ja) 再起動時中断点からの再開可能なデバガ
JPS6167146A (ja) 擬似障害発生方式
JPH03282739A (ja) デバック制御方式
JPH01114947A (ja) データ処理装置のトレース方式