JPH0251225A - 半導体拡散炉用炉芯管 - Google Patents

半導体拡散炉用炉芯管

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JPH0251225A
JPH0251225A JP63202828A JP20282888A JPH0251225A JP H0251225 A JPH0251225 A JP H0251225A JP 63202828 A JP63202828 A JP 63202828A JP 20282888 A JP20282888 A JP 20282888A JP H0251225 A JPH0251225 A JP H0251225A
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tube
film
furnace
core tube
insulating film
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JP63202828A
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Fukuji Matsumoto
松本 福二
Yoshio Tawara
俵 好夫
Norio Hayashi
典夫 林
Osamu Yamada
修 山田
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Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Shin Etsu Chemical Co Ltd
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    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 11直塵机肌分立 本発明は、シリコンウェハー熱処理工程における酸化、
拡散等のための熱処理炉に用いられる均熱管1反応管等
の半導体拡散炉用炉芯管に関する。
従沫9−捉権 半導体の製造過程においては、シリコンウェハーに拡散
炉(又は酸化炉)と呼ばれる熱処理炉により数回の熱処
理を施し、酸化又は拡散を行なうことがなされる。この
拡散炉でシリコンウェハーに熱処理を施す場合、シリコ
ンウェハーを均熱管。
反応管等の炉芯管内に収容し、加熱処理するものである
が、均熱管の材質としては炭化珪素質(−部ムライト使
用)が、また反応管には石英質、炭化珪素質が用いられ
る。しかし、上記拡散炉は長期間使用すると使用してい
るヒーターが劣化して垂れ下がり、均熱管や反応管に接
触するといったトラブルがしばしば発生ずる。その際、
炭化珪素質は導電性を有するため、アークによる割れが
発生し易く、結果として半導体製造における生産性低下
の大きな原因となる。
そこで、従来これら炉芯管の外面にアルミナ質やジルコ
ン質等の絶縁膜を形成することが一般に行なわれている
。この絶縁膜を形成する方法としては、アルミナ、シリ
カ、ジルコニア、ジルコン等の粉末にバインダーを添加
し、管外面にこれらを塗布した後、焼き付けるといった
方法が採られている(以下、単に焼き付は法と称する)
が  しよ゛とする しかしながら、このように焼き付けられた絶縁膜は、長
期間使用すると徐々に劣化し、剥離が生じ、最終的には
粉末化して塵状となってしまう。
このように絶縁膜の剥離が生じると当然のことながらそ
の絶縁効果が消失し、ヒーター接触時に炉芯管自体が破
損する恐れが生じる。また、絶#膜剥離部分にヒーター
が接触している場合、炉芯管に人が触れると通電の可能
性もあり、非常に危険である。更に、絶縁膜の劣化が進
み、これが塵状になるとその粉末が舞い上がり、拡散炉
の置かれているクリーンルームを汚染することとなり、
この汚染は当然半導体の製造歩留まりに大きく影響を及
ぼし、半導体の生産性を著しく低下させる。
このように、絶縁膜を焼き付は法により形成した炉芯管
は長期使用による絶縁膜の劣化を原因とする種々の問題
点を有する。
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので
、長期間使用しても絶a膜の劣化、剥離を生じるような
ことがなく、長期に亘って安定した熱処理を半導体に施
すことができる均熱管2反応管等の半導体拡散炉用炉芯
管を提供することを目的とする。
課 を  するための   び 本発明者らは、上記目的を達成すべく鋭意検討を行った
結果、絶縁膜を溶射法により形成することが膜の耐久性
の点で有効であり、これにより長期間の使用に耐え得る
炉芯管を得ることができることを見い出した。即ち、従
来の焼き付は法が種々のセラミック粉末にバインダーを
添加し、管外面に塗布した後、800〜1200℃まで
昇温し、焼き付けるのに対し、溶射法の場合、バインダ
ーを使用することなく、直接原料粉末をDCプラズマ等
により3000℃以上で瞬時に溶融し、管外面に衝突さ
せて膜を形成するため、長期間使用しても劣化、剥離等
の不都合を生じるようなことがない強固な膜が形成され
、耐久性に優れる炉芯管を得ることができることを知見
し、本発明を完成するに至ったものである・ 従って、本発明は半導体拡散炉用炉芯管本体の外周面全
面に溶射法による絶a IIIを形成したことを特徴と
する半導体拡散炉用炉芯管を提供するものである。
以下、本発明につき更に詳しく説明する。
本発明の炉芯管は、図面に示すように、半導体拡散炉用
炉芯管本体1の外周面全面に溶射法による!!!縁膜2
を形成したものである。
ここで、炉芯管本体としては、公知の材質にて形成し得
、例えば炭化珪素質にて形成することができる。なお、
炭化珪素質には反応焼結法によるもの、再結晶法による
もの等があるが、これら製造法にはなんら制限されない
。また、絶縁膜としては、アルミナ、シリカ、ジルコニ
ア、ジルコン又はこれら2種以上の混合物等、耐熱性、
絶縁性を有する物質であればよく、特に制限されるもの
ではないが、管本体との熱膨張率の差が小さいものが耐
剥離性の点から好ましい。例えば管本体としては炭化珪
素質のものが一般的であるが、この場合はジルコンが熱
膨張率の差が小さいため好適に用いられる。
本発明炉芯管は、上記[Jf膜を溶射法により管本体外
周面全面に形成する6具体的には、溶射機でアルミナ、
シリカ、ジルコニア、ジルコン等の粉末又はこれらの混
合粉末を瞬時に溶融させ、それをガスにて吹き飛ばして
噴霧状となし、これを管表面に被覆させて絶縁膜を形成
する方法を採用し得る。この場合、管本体は通常長尺チ
ューブ形状であるため、回転させながら溶射する方法が
ノリみムラをなくすために好ましい。また、溶射膜の固
着性を高めるために、予めサンドブラスト等により管本
体の外周面を粗面処理しておくことが好ましい。なお、
溶射法としては、炎溶射法、爆裂溶射法、プラズマ溶射
法等、種々の方式のものを採用し得、特に制限されるも
のではないが、溶融温度が高く、かつ溶射粒子の速度が
速いプラズマ溶射法が好適に採用され、その方法、条件
は通常の方法、条件に従うことができる。
上記方法により絶縁膜を溶射形成する場合、その膜厚は
膜の材質、溶射方法、耐電圧等に応じて適宜設定される
が、溶射法によって得られた膜は#@縁性に優れ、この
ため、焼き付は法による膜に比べてその膜厚を薄くする
ことができる。例えば、焼き付は法によって形成された
膜が100OV以上の耐電圧を得るためには膜厚0.3
on以−に、好ましくはQ、5an以上必要であるのに
対して、溶射法によって形成された膜は約Q、1mm以
上あれば十分に絶縁の効果が得られ、このため管の寸法
精度を向上させることができる。具体的にはプラズマ溶
射法によってジルコン膜を形成する場合は耐電圧の点か
ら0.1−0.5an、特に0.2n11程度とするこ
とができる。この場合、膜厚をあまり厚くすると耐電圧
は向上するものの熱サイクルにより剥離し易くなる場合
がある。
倉朝辺匁米 以」二説明したように、本発明半導体拡散炉用炉芯管は
、長期間使用しても絶縁膜の劣化、剥離を生じるような
ことがなく、長期に亘って安定した熱処理を半導体に施
すことができ、更にその製造においては管の寸法精度を
向上させることができる。
以下、実施例及び比較例を示し、本発明を具体的に説明
するが1本発明は下記実施例に制限されるものではない
〔実施例〕
外径198mmφ、内径191叫φ、長さ1800mの
炭化珪素質均熱管の外面をサンドブラストで粗面化し、
外表面を梨地状とした。次いで、ジルコンを溶射し、厚
さ0.2ff11+のジルコン膜を管外表面に形成した
。この均熱管を拡散炉内に装填し、1年間使用した。1
年経過した後、拡散炉から灼熱管を取り出し、膜の変化
を調べたところ、色。
外観共に変化は見られず剥離も見られなかった。
〔比較例〕
上記実施例で用意したものと同じ形状の炭化珪素質均熱
管を準備し、同様に表面をサンドブラスト処理した。次
いで、ジルコン粉末とアルミナセメントとを10:1(
!lt比)の混合比で混合し、さらに水を添加したスラ
リー状の水溶液を管外面に塗布した。該均熱管を室温で
24時間乾燥した後、拡散炉内に装填し、2℃/min
で250℃迄昇温し、3時間保持した。更に、5℃/m
jnで1200℃迄昇温し、3時間保持してジルコン膜
を焼き付は形成した。冷却後便から取り出し、実施例と
同じ拡散炉内に装填し、実施例と同一の条件で1年間使
用した。1年経過した後、拡散炉から均熱管を取り出し
、膜の変化を調べたところ、十数箇所に剥離が見られた
ほか、膜の劣化が激しく、手で触れると粉末が脚上がり
、容易に剥がれ落ちてしまった。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明に係る半導体拡散炉用炉芯管の一例を示す
断面図である。 1、半導体拡散炉用炉芯管本体、 2゜絶縁膜。 出願人  信越化学工業株式会社 代理人  弁理士 小 島 隆 司

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、半導体拡散炉用炉芯管本体の外周面全面に溶射法に
    よる絶縁膜を形成したことを特徴とする半導体拡散炉用
    炉芯管。
JP63202828A 1988-08-15 1988-08-15 半導体拡散炉用炉芯管 Pending JPH0251225A (ja)

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