JPH0247848A - 半導体ウェハ搬送装置 - Google Patents
半導体ウェハ搬送装置Info
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- JPH0247848A JPH0247848A JP63199388A JP19938888A JPH0247848A JP H0247848 A JPH0247848 A JP H0247848A JP 63199388 A JP63199388 A JP 63199388A JP 19938888 A JP19938888 A JP 19938888A JP H0247848 A JPH0247848 A JP H0247848A
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- JP
- Japan
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- semiconductor wafer
- wafer
- water droplets
- slider
- semiconductor
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 78
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 10
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 86
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 38
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 17
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/30—Hydrogen technology
- Y02E60/50—Fuel cells
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、半導体ウェハを搬送する搬送装置、特に洗浄
後の処理液が付着した半導体ウェハを乾燥させて次の工
程に移送する一連の半導体ウェハの搬送に使用して最適
な半導体ウェハ搬送装置に関する。
後の処理液が付着した半導体ウェハを乾燥させて次の工
程に移送する一連の半導体ウェハの搬送に使用して最適
な半導体ウェハ搬送装置に関する。
(従来の技術)
半導体装置を製造するには、一般に半導体ウェハに対す
る多くの処理工程を必要としている。この処理工程の中
で特に重要な工程として、半導体ウェハの表面に付着し
たごみ等の不要物を除去する洗浄工程がある。この洗浄
工程は、先ず半導体ウェハに付着した不要物を、例えば
回転ブラシ等で擦り取った後に純水で洗い流し、しかる
後、この洗浄による水滴を除去するものであるが、この
時、洗浄後の半導体ウェハに付着した水滴を除去するた
め、及びこの水滴除去後の半導体ウェハを次工程に運ぶ
ためにこれを順次搬送する必要がある。
る多くの処理工程を必要としている。この処理工程の中
で特に重要な工程として、半導体ウェハの表面に付着し
たごみ等の不要物を除去する洗浄工程がある。この洗浄
工程は、先ず半導体ウェハに付着した不要物を、例えば
回転ブラシ等で擦り取った後に純水で洗い流し、しかる
後、この洗浄による水滴を除去するものであるが、この
時、洗浄後の半導体ウェハに付着した水滴を除去するた
め、及びこの水滴除去後の半導体ウェハを次工程に運ぶ
ためにこれを順次搬送する必要がある。
この種の半導体ウェハ搬送装置は、一般に第3図及び第
4図に示すように、洗浄後の水滴の付着した搬入ライン
2にある半導体ウェハ1を処理部3に搬送し、この処理
部3で水滴除去の処理を施した半導体ウェハ1′を搬出
ライン4に搬送して、この搬出ライン4に運ばれた半導
体ウェハ1′を次工程に搬出するものであるが、従来こ
の搬送装置は、以下のように構成されていた。
4図に示すように、洗浄後の水滴の付着した搬入ライン
2にある半導体ウェハ1を処理部3に搬送し、この処理
部3で水滴除去の処理を施した半導体ウェハ1′を搬出
ライン4に搬送して、この搬出ライン4に運ばれた半導
体ウェハ1′を次工程に搬出するものであるが、従来こ
の搬送装置は、以下のように構成されていた。
即ち、この搬送装置は、この搬送方向に沿って平行に延
びる一対のアーム5.5と、このアーム5.5を水平ガ
イド6.6に沿って同期して内方または外方に移動させ
てこれを開閉する開閉シリンダ7.7と、上下シリンダ
8により上下方向に配置した鉛直ガイド9.9に沿って
上下動自在で、上部に上記アーム5,5を配設した支持
枠10と、上記アーム5,5の内方に夫々位置してモー
タ11.11の回転に伴って走行する無端ベルト12.
12と、上記アーム5,5の上面に夫々ストッパ駆動シ
リンダ13.13により上下動自在に配置したストッパ
14.14とを備えている。
びる一対のアーム5.5と、このアーム5.5を水平ガ
イド6.6に沿って同期して内方または外方に移動させ
てこれを開閉する開閉シリンダ7.7と、上下シリンダ
8により上下方向に配置した鉛直ガイド9.9に沿って
上下動自在で、上部に上記アーム5,5を配設した支持
枠10と、上記アーム5,5の内方に夫々位置してモー
タ11.11の回転に伴って走行する無端ベルト12.
12と、上記アーム5,5の上面に夫々ストッパ駆動シ
リンダ13.13により上下動自在に配置したストッパ
14.14とを備えている。
そして、開閉シリンダ7.7を作動させることにより、
アーム5.5を同期して内方に移動させてこれを閉じ、
更に上下シリンダ8により支持枠10を介してアーム5
.5を上昇させ、これによりこの内方に配置した無端ベ
ルト12.12で搬入ライン2上に搬入された半導体ウ
ェハ1の下面を支持してこれを持ち上げて、モータ11
,11を駆動させる。これにより半導体ウェハ1は、モ
ータ11,11の駆動によって走行する無端ベルト12
.12によって搬送される。
アーム5.5を同期して内方に移動させてこれを閉じ、
更に上下シリンダ8により支持枠10を介してアーム5
.5を上昇させ、これによりこの内方に配置した無端ベ
ルト12.12で搬入ライン2上に搬入された半導体ウ
ェハ1の下面を支持してこれを持ち上げて、モータ11
,11を駆動させる。これにより半導体ウェハ1は、モ
ータ11,11の駆動によって走行する無端ベルト12
.12によって搬送される。
一方、処理部3で水滴の除去処理が施された半導体ウェ
ハ1′ も、上記と同様に無端ベルト12゜12で支持
される。この時、ストッパ14.14を、この駆動シリ
ンダ13.13を介して上昇させておくことにより、こ
の半導体ウェハ1′をストッパ14.14の下側を通過
させて、これを搬出ライン4の方向に運び、この通過後
にストッパ14.14を下降させておく。
ハ1′ も、上記と同様に無端ベルト12゜12で支持
される。この時、ストッパ14.14を、この駆動シリ
ンダ13.13を介して上昇させておくことにより、こ
の半導体ウェハ1′をストッパ14.14の下側を通過
させて、これを搬出ライン4の方向に運び、この通過後
にストッパ14.14を下降させておく。
そして、このストッパ14.14に無端ベルト12.1
2で支持された半導体ウェハ1を当接させることにより
、この処理室3に対応する位置への位置決めを行うとと
もに、モータ11,11の駆動を停止させ、更に、上記
と反対にアーム5゜5を下降させた後、アーム5.5を
開くことにより、水滴の付着した半導体ウェハ1を処理
室3に導き、同時にアーム5,5の下降に伴って水滴を
除去した半導体ウェハ1′ も搬出ライン4に載置する
。
2で支持された半導体ウェハ1を当接させることにより
、この処理室3に対応する位置への位置決めを行うとと
もに、モータ11,11の駆動を停止させ、更に、上記
と反対にアーム5゜5を下降させた後、アーム5.5を
開くことにより、水滴の付着した半導体ウェハ1を処理
室3に導き、同時にアーム5,5の下降に伴って水滴を
除去した半導体ウェハ1′ も搬出ライン4に載置する
。
上記を順次繰り返すことにより、水滴の付着した半導体
ウェハ1の水滴除去処理を施しつつ、次工程に搬送する
ようにしたものであった。
ウェハ1の水滴除去処理を施しつつ、次工程に搬送する
ようにしたものであった。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、上記従来例では、半導体ウェハの裏面を
無端ベルトで支持して搬送するよう構成されていたため
、半導体ウェハの表面と裏面とを同時に洗浄した場合に
は、半導体ウェハの裏面に付着した水滴が、この搬送の
際に無端ベルトの表面に付着してしまう。従って、この
表面及び裏面を洗浄した水滴除去前の半導体ウェハを移
送すれば、無端ベルトの表面に水滴が付着し、この無端
ベルトに付着した水滴が水滴除去後の半導体ウェハの裏
面に付着することになる。
無端ベルトで支持して搬送するよう構成されていたため
、半導体ウェハの表面と裏面とを同時に洗浄した場合に
は、半導体ウェハの裏面に付着した水滴が、この搬送の
際に無端ベルトの表面に付着してしまう。従って、この
表面及び裏面を洗浄した水滴除去前の半導体ウェハを移
送すれば、無端ベルトの表面に水滴が付着し、この無端
ベルトに付着した水滴が水滴除去後の半導体ウェハの裏
面に付着することになる。
このため、この種の半導体ウェハ搬送装置においては、
表面のみを洗浄した半導体ウェハの移送しか使用するこ
とができないのが現状であった。
表面のみを洗浄した半導体ウェハの移送しか使用するこ
とができないのが現状であった。
本発明は上記に鑑み、半導体ウェハの表面及び裏面を同
時に洗浄した半導体ウェハと、水滴除去後の半導体ウェ
ハを同一装置で移送しても、水滴除去後の半導体ウェハ
に水滴が回付むしてしまうことがないものを提供するこ
とを目的とする。
時に洗浄した半導体ウェハと、水滴除去後の半導体ウェ
ハを同一装置で移送しても、水滴除去後の半導体ウェハ
に水滴が回付むしてしまうことがないものを提供するこ
とを目的とする。
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するため、本発明における半導体ウェハ
搬送装置は、搬送方向に沿って平行に延びる一対のアー
ムを同期して上下動及び開閉するよう構成するとともに
、この各アームに搬送力向に往復動自在なスライダを摺
動自在に夫々保持し、この各スライダに半導体ウェハの
周縁部形状に合わせた円弧状の縁を備え半導体ウェハを
下方より支持するウェハホルダを該スライダの搬送方向
の前後に位置して夫々固着したものである。
搬送装置は、搬送方向に沿って平行に延びる一対のアー
ムを同期して上下動及び開閉するよう構成するとともに
、この各アームに搬送力向に往復動自在なスライダを摺
動自在に夫々保持し、この各スライダに半導体ウェハの
周縁部形状に合わせた円弧状の縁を備え半導体ウェハを
下方より支持するウェハホルダを該スライダの搬送方向
の前後に位置して夫々固着したものである。
(作 用)
上記のように構成した本発明によれば、水滴が付着した
洗浄後の半導体ウェハをスライダに固着した搬送方向の
前方に位置するウェハホルダで、水滴除去後の半導体ウ
ェハをスライダに固着した搬送方向の後方に位置するウ
ェハホルダで夫々個別に移送することができるので、後
方のウェハホルダに洗浄後の半導体ウェハに付着した水
滴が付いてしまうことを防止して、水滴除去後の半導体
ウェハに水滴が付着してしまうことを確実に防止するこ
とができる。
洗浄後の半導体ウェハをスライダに固着した搬送方向の
前方に位置するウェハホルダで、水滴除去後の半導体ウ
ェハをスライダに固着した搬送方向の後方に位置するウ
ェハホルダで夫々個別に移送することができるので、後
方のウェハホルダに洗浄後の半導体ウェハに付着した水
滴が付いてしまうことを防止して、水滴除去後の半導体
ウェハに水滴が付着してしまうことを確実に防止するこ
とができる。
(実施例)
以下、本発明の一実施例を第1図及び第2図に基づいて
説明する。
説明する。
洗浄後の水滴が付着した半導体ウェハ1は、搬入ライン
2に上を運ばれ、処理部3に搬送されて表面及び裏面の
水滴の除去処理が施された後、この水滴除去後の半導体
ウェハ1′は、搬出ライン4上に搬送され、この搬出ラ
イン4上に載置された半導体ウェハ1″は、ここから次
工程に搬出される。
2に上を運ばれ、処理部3に搬送されて表面及び裏面の
水滴の除去処理が施された後、この水滴除去後の半導体
ウェハ1′は、搬出ライン4上に搬送され、この搬出ラ
イン4上に載置された半導体ウェハ1″は、ここから次
工程に搬出される。
上記搬入ライン2から処理部3へ、及び処理部3から搬
出ライン4へ半導体ウェハ1を夫々搬送する搬送装置に
は、この搬送方向に沿って平行に延びる一対のアーム5
,5が備えられている。
出ライン4へ半導体ウェハ1を夫々搬送する搬送装置に
は、この搬送方向に沿って平行に延びる一対のアーム5
,5が備えられている。
このアーム5,5には、水平ガイド6.6に沿って同期
して内方または外方に移動させてこれを開閉させる開閉
シリンダ7.7が連結されているとともに、このアーム
5,5は、上下シリンダ8により上下方向に配置した鉛
直ガイド9,9に沿って上下動自在な支持枠10の上部
に配置されている。
して内方または外方に移動させてこれを開閉させる開閉
シリンダ7.7が連結されているとともに、このアーム
5,5は、上下シリンダ8により上下方向に配置した鉛
直ガイド9,9に沿って上下動自在な支持枠10の上部
に配置されている。
更に、このアーム5,5には、この内部に設けた蟻溝5
a、5aを案内として摺動するスライド部15a、15
aを一体に連接したスライダ15゜15が摺動自在に装
置されているとともに、このスライダ15.15は、基
端をアーム5.5に、先端をこのスライダ15.15に
夫々連結した搬送シリンダ16.16により往復動自在
に構成されている。
a、5aを案内として摺動するスライド部15a、15
aを一体に連接したスライダ15゜15が摺動自在に装
置されているとともに、このスライダ15.15は、基
端をアーム5.5に、先端をこのスライダ15.15に
夫々連結した搬送シリンダ16.16により往復動自在
に構成されている。
上記スライダ15.15の上面には、半導体ウェハ1の
搬送方向の前方に位置して前方ウェハホルダ17.17
が、後方に位置して後方ウェハホルダ18.18が夫々
前後に固着され、これらの各ウェハホルダ17.18の
上面には、半導体ウェハ1の周縁部形状に合わせた円弧
状の縁17a。
搬送方向の前方に位置して前方ウェハホルダ17.17
が、後方に位置して後方ウェハホルダ18.18が夫々
前後に固着され、これらの各ウェハホルダ17.18の
上面には、半導体ウェハ1の周縁部形状に合わせた円弧
状の縁17a。
18aか夫々形成されている。そして、上記搬送シリン
ダ16.16により、前方ウェハホルダ17.17は、
搬入ライン2と処理部3との間を、後方ウェハホルダ1
8.18は、処理部3と搬出ライン4との間を夫々往復
動するようなされている。
ダ16.16により、前方ウェハホルダ17.17は、
搬入ライン2と処理部3との間を、後方ウェハホルダ1
8.18は、処理部3と搬出ライン4との間を夫々往復
動するようなされている。
これにより、水滴が付着した半導体ウェハ1は、この前
方ウェハホルダ17.17により支持されて搬送され、
水滴が除去された半導体ウェハ1′は、後方ウェハホル
ダ18.18により支持されて夫々個々に搬送され、水
滴を含んだ半導体ウェハ1の影響によって、後方ウェハ
ホルダ18゜18に水滴が付着してしまうことがないよ
うに構成されている。
方ウェハホルダ17.17により支持されて搬送され、
水滴が除去された半導体ウェハ1′は、後方ウェハホル
ダ18.18により支持されて夫々個々に搬送され、水
滴を含んだ半導体ウェハ1の影響によって、後方ウェハ
ホルダ18゜18に水滴が付着してしまうことがないよ
うに構成されている。
次に、上記実施例の作用について説明する。
先ず、搬送シリンダ16.16により、前方ウェハホル
ダ17.17が搬入ライン2にある半導体ウェハ]の側
方に、後方ウェハホルダ18゜18が処理部3にある半
導体ウェハ1′の側方に夫々位置するように位置させる
。この状態で、開閉シリンダ7.7を作動させることに
より、アーム5,5を同期して内方に移動させてこれを
閉じ、更に上下シリンダ8により支持枠10を介してア
ーム5,5を上昇させ、これにより前方ウェハホルダ1
7.17で搬入ライン2にある半導体ウェハ1を、後方
ウェハホルダ18.18で処理部3にある半導体ウェハ
1′を夫々その下面を支持して持ち上げる。
ダ17.17が搬入ライン2にある半導体ウェハ]の側
方に、後方ウェハホルダ18゜18が処理部3にある半
導体ウェハ1′の側方に夫々位置するように位置させる
。この状態で、開閉シリンダ7.7を作動させることに
より、アーム5,5を同期して内方に移動させてこれを
閉じ、更に上下シリンダ8により支持枠10を介してア
ーム5,5を上昇させ、これにより前方ウェハホルダ1
7.17で搬入ライン2にある半導体ウェハ1を、後方
ウェハホルダ18.18で処理部3にある半導体ウェハ
1′を夫々その下面を支持して持ち上げる。
しかる後、搬送シリンダ16.16を介してスライダ1
5,1.5を搬送方向にスライドさせ、前方ウェハホル
ダ17.17で支持した半導体つ工/11を処理部3の
上方に、後方ウェハホルダ18゜18で支持した半導体
ウェハ1′を搬出ライン4の上方に夫々位置させる。
5,1.5を搬送方向にスライドさせ、前方ウェハホル
ダ17.17で支持した半導体つ工/11を処理部3の
上方に、後方ウェハホルダ18゜18で支持した半導体
ウェハ1′を搬出ライン4の上方に夫々位置させる。
そして、上記と反対にアーム5.5を下降させた後、ア
ーム5,5を開くことにより、搬送ライン2上の半導体
ウェハ1を処理部3に導くとともに、同時に処理部3で
、水滴除去の処理を施した半導体ウェハ1′をアーム5
.5の下降に伴って搬出ライン4に載置する。
ーム5,5を開くことにより、搬送ライン2上の半導体
ウェハ1を処理部3に導くとともに、同時に処理部3で
、水滴除去の処理を施した半導体ウェハ1′をアーム5
.5の下降に伴って搬出ライン4に載置する。
しかる後、搬送シリンダ16.16を介してスライダ1
5.15を搬送方向と逆の方向にスライドさせて、前方
ウェハホルダ17.17が搬入ライン2にある半導体ウ
ェハ1の側方に、後方ウェハホルダ18.18が処理部
3にある半導体ウェハ1′の側方に夫々位置させ、これ
を順次繰り返すことにより、水滴の付着した半導体ウェ
ハ1の水滴除去処理を施しつつ、次工程に搬送するので
ある。
5.15を搬送方向と逆の方向にスライドさせて、前方
ウェハホルダ17.17が搬入ライン2にある半導体ウ
ェハ1の側方に、後方ウェハホルダ18.18が処理部
3にある半導体ウェハ1′の側方に夫々位置させ、これ
を順次繰り返すことにより、水滴の付着した半導体ウェ
ハ1の水滴除去処理を施しつつ、次工程に搬送するので
ある。
これにより、水滴の付着した半導体ウェハ1は、前方ウ
ェハホルダ17.17で、水滴が除去された半導体ウェ
ハ1′は、後方ウェハホルダ18゜18で夫々搬送され
ることになり、後方ウェハホルダ18.18に、洗浄後
の半導体ウェハ1がらの水滴が付着してしまうことを確
実に防止することができることになる。
ェハホルダ17.17で、水滴が除去された半導体ウェ
ハ1′は、後方ウェハホルダ18゜18で夫々搬送され
ることになり、後方ウェハホルダ18.18に、洗浄後
の半導体ウェハ1がらの水滴が付着してしまうことを確
実に防止することができることになる。
なお、半導体ウェハの表面または裏面のいずれか一方の
洗浄後の移送においても、確実に行うことができること
は勿論である。
洗浄後の移送においても、確実に行うことができること
は勿論である。
本発明は上記のような構成であるので、表面及び裏面を
同時に洗浄した半導体ウェハと、水滴除去後の半導体ウ
ェハとを同一の装置で同時に移送しても、水滴除去後の
半導体ウェハに水滴が再付着してしまうことがなく、し
かも、確実にこの搬送を行うことができるといった効果
がある。
同時に洗浄した半導体ウェハと、水滴除去後の半導体ウ
ェハとを同一の装置で同時に移送しても、水滴除去後の
半導体ウェハに水滴が再付着してしまうことがなく、し
かも、確実にこの搬送を行うことができるといった効果
がある。
第1図及び第2図は本発明の一実施例を示し、第1図は
平面図、第2図は第1図の■−■線断面図、第3図は従
来例を示す平面図、第4図は第3図のIV−IV線断面
図である。 1・・・半導体ウェハ、2・・・搬入ライン、3・・・
処理部、4・・・搬出ライン、5・・・アーム、7・・
・開閉シリンダ、8・・・上下シリンダ、10・・・支
持枠、15・・・スライダ、16・・・搬送シリンダ、
17・・・前方つエバホルダ、18・・・後方ウェハホ
ルダ。
平面図、第2図は第1図の■−■線断面図、第3図は従
来例を示す平面図、第4図は第3図のIV−IV線断面
図である。 1・・・半導体ウェハ、2・・・搬入ライン、3・・・
処理部、4・・・搬出ライン、5・・・アーム、7・・
・開閉シリンダ、8・・・上下シリンダ、10・・・支
持枠、15・・・スライダ、16・・・搬送シリンダ、
17・・・前方つエバホルダ、18・・・後方ウェハホ
ルダ。
Claims (1)
- 搬送方向に沿って平行に延びる一対のアームを同期して
上下動及び開閉するよう構成するとともに、この各アー
ムに搬送方向に往復動自在なスライダを摺動自在に夫々
保持し、この各スライダに半導体ウェハの周縁部形状に
合わせた円弧状の縁を備え半導体ウェハを下方より支持
するウェハホルダを該スライダの搬送方向の前後に位置
して夫々固着したことを特徴とする半導体ウェハ搬送装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63199388A JPH0247848A (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 半導体ウェハ搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63199388A JPH0247848A (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 半導体ウェハ搬送装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0247848A true JPH0247848A (ja) | 1990-02-16 |
JPH0566020B2 JPH0566020B2 (ja) | 1993-09-20 |
Family
ID=16406943
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63199388A Granted JPH0247848A (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 半導体ウェハ搬送装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0247848A (ja) |
-
1988
- 1988-08-10 JP JP63199388A patent/JPH0247848A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0566020B2 (ja) | 1993-09-20 |
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