JPH0243640U - - Google Patents

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JPH0243640U
JPH0243640U JP12195888U JP12195888U JPH0243640U JP H0243640 U JPH0243640 U JP H0243640U JP 12195888 U JP12195888 U JP 12195888U JP 12195888 U JP12195888 U JP 12195888U JP H0243640 U JPH0243640 U JP H0243640U
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の第１のガス分析装置を例示す
る構成図、第２図は第２のガス分析装置を例示す
る構成図、第３図は第１のガス分析装置の一実施
例の構成図、第４図はその効果を説明する線図、
第５図は第２のガス分析装置の一実施例の構成図
、第６図はそれに使用する流れ方向検出器の説明
図、第７図は従来のガス分析装置の構成図、第８
図はその測定値を変動を示す線図である。 Ｊ１，Ｍ４，９……試料ガス吸引部（エゼクタ
ポンプ）、Ｊ２，Ｍ２，１……試料ガス採取部（
除埃フイルタ）、Ｊ３，Ｍ１，５……分析部、Ｊ
４……試料ガス圧力調整部、Ｊ５……圧力センサ
、Ｊ６……電磁弁、Ｍ１０，１５……試料ガス圧
力調整部（試料ガス圧力調整手段）、Ｍ１１，２
５……エゼクタポンプ、Ｍ１３，２７……駆動用
エア圧力調整手段、Ｍ２０，３０……試料ガス圧
力調整部（試料ガス圧力調整手段）、Ｍ２２，３
３……電磁弁、Ｍ２３，３７……流れ方向検出手
段、Ｍ２４，３５……電磁弁制御手段、２１……
圧力センサ、２３……電磁弁、３１……圧力セン
サ、３９……筒状体、４１……移動体、４７……
環状閉止部材、４９……ストツパ、５１……電極
、５５……導電部材、５７……間隙。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 試料ガスの分析を行う分析部と、 試料ガスを吸引し、試料ガス採取部より分析部
    に主流路を介して供給する試料ガス吸引部と、 上記試料ガス彩取部の下流であり、かつ上記分
    析部および上記試料ガス吸引部の上流に設けられ
    、採取された試料ガス圧の変動を一定に調整する
    試料ガス圧力調整部と、 を備えたガス分析装置において、 上記試料ガス圧力調整部が、 上記主流路と大気とを連通するバイパス流路に
    設けられ、上記主流路の試料ガスを大気に放出す
    るよう動作するエゼクタポンプと、 該エゼクタポンプ駆動用のエアの圧力を一定に
    調整する駆動用エア圧力調整手段と、 を備えることを特徴とするガス分析装置。 ２ 試料ガスの分析を行う分析部と、 試料ガスを吸引し、試料ガス採取部より分析部
    に主流路を介して供給する試料ガス吸引部と、 上記試料ガス採取部の下流であり、かつ上記分
    析部および上記試料ガス吸引部の上流に設けられ
    、採取された試料ガス圧の変動を一定に調整する
    試料ガス圧力調整部と、 を備えたガス分析装置において、 上記試料ガス圧力調整部が、 上記主流路と大気とを連通するバイパス流路に
    設けられた電磁弁と、 該電磁弁を流れる流体の向きが、上記主流路か
    ら大気方向であるか否かを検出する流れ方向検出
    手段と、 該流れ方向検出手段にて検出された流体の流れ
    方向が、上記主流路から大気方向であるときには
    上記電磁弁を開き、それ以外の場合には上記電磁
    弁を閉じるよう制御する電磁弁制御手段と を備えることを特徴とするガス分析装置。
JP12195888U 1988-09-16 1988-09-16 ガス分析装置 Expired - Lifetime JPH0648379Y2 (ja)

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JPH0648379Y2 JPH0648379Y2 (ja) 1994-12-12

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