JPH0242740A - 半導体集積回路の識別装置 - Google Patents
半導体集積回路の識別装置Info
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- JPH0242740A JPH0242740A JP63193025A JP19302588A JPH0242740A JP H0242740 A JPH0242740 A JP H0242740A JP 63193025 A JP63193025 A JP 63193025A JP 19302588 A JP19302588 A JP 19302588A JP H0242740 A JPH0242740 A JP H0242740A
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- JP
- Japan
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- integrated circuit
- specific
- resistance
- probes
- short
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 12
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は、半導体基板上に基板識別用の複数の特定回路
パターンが備えられている半導体集積回路の識別装置に
関するものである。
パターンが備えられている半導体集積回路の識別装置に
関するものである。
（ロ）従来の技術
半導体基板上に、基板識別用の複数の特定回路パターン
が備えられている半導体集積回路は、既に提案されてい
る（特開昭６２−１４５７６４号公報参照）。
が備えられている半導体集積回路は、既に提案されてい
る（特開昭６２−１４５７６４号公報参照）。
而して、この半導体集積回路を識別する罠は、第２図に
示すように、各回路パターン（ｌａ）（１ｂ）（ｌｃ）
（ｌｄ） に対応する複数のグローブ（２ａ）（２ｂ
）（２Ｃ）（２ｄ）が備えられ、各プローブ（２ａ ）
（２ｂ ）（２ｃ ）（２ｄ ）は２個の切替スイッチ
（３ａ）（３ｂ）に夫々接続されて、スイッチングマト
リクス（４）が形成されている。前記切替スイッチ（３
ｇ）（３ｂ）は夫々抵抗測足器（５）に接続されている
。
示すように、各回路パターン（ｌａ）（１ｂ）（ｌｃ）
（ｌｄ） に対応する複数のグローブ（２ａ）（２ｂ
）（２Ｃ）（２ｄ）が備えられ、各プローブ（２ａ ）
（２ｂ ）（２ｃ ）（２ｄ ）は２個の切替スイッチ
（３ａ）（３ｂ）に夫々接続されて、スイッチングマト
リクス（４）が形成されている。前記切替スイッチ（３
ｇ）（３ｂ）は夫々抵抗測足器（５）に接続されている
。
而して、各回路パターン（ｌａ）（ｌｂ）（ｌｃ）（１
ｄ）間の抵抗（短絡若しくは開放）を測定し、予め定め
られた集積回路（６）と短絡パターン（７ａ）との関係
から、集積回路（６）の種類を識別していた。
ｄ）間の抵抗（短絡若しくは開放）を測定し、予め定め
られた集積回路（６）と短絡パターン（７ａ）との関係
から、集積回路（６）の種類を識別していた。
（ハ）発明が解決しようとする課題
前述のようｋ、従来の技術では、各特定回路パターン間
の抵抗を順次測定し、その後、集積回路の種類を識別判
定していたので、この減刑に長時間を要していた。
の抵抗を順次測定し、その後、集積回路の種類を識別判
定していたので、この減刑に長時間を要していた。
本発明は、斯る従来の技術の為する課題に鑑みてなされ
たもので、極めて短時間に集積回路の識別を行なわんと
するものである。
たもので、極めて短時間に集積回路の識別を行なわんと
するものである。
に）課題を解決するための手段
本発明は、半導体基板上に基板識別用の複数の特定回路
パターンが備えられている半導体集積回路の識別装置に
おいて、前記各特定回路パターンに対応して並設され、
各特定回路パターンに接触し得るグローブと前記各グロ
ーブ間に電気的に接続されている検出抵抗と、両端部の
プローブ間の電圧を測定する電圧測定手段とが具備きれ
ていることを特徴とするものである。
パターンが備えられている半導体集積回路の識別装置に
おいて、前記各特定回路パターンに対応して並設され、
各特定回路パターンに接触し得るグローブと前記各グロ
ーブ間に電気的に接続されている検出抵抗と、両端部の
プローブ間の電圧を測定する電圧測定手段とが具備きれ
ていることを特徴とするものである。
（ホ）作 用
本発明では、両端の１０一プ間の電圧を測定することＫ
よって、どのパターンが短絡されているかが判別される
ので、この両端のグローブ間の電圧を測定するだけで集
積回路の種類が識別される。
よって、どのパターンが短絡されているかが判別される
ので、この両端のグローブ間の電圧を測定するだけで集
積回路の種類が識別される。
（へ）実施例
第１図は本発明の一実施例を示す模式図である。
この図において、（８）はプローブカードで、集積回路
（６）Ｋ形成されている特定回路パターン（１ａ）（ｌ
ｂ）（ＩＣ）（ｌｄ）に向けて延圧するグローブ（２ａ
）（２ｂ）（２ｃ）（２ｄ）が固設されておシ、このグ
ローブ（２ａ ）（２ｂ ）（２ｃ ）（２ｄ ）にプ
リント配線（９ａ）（９ｂ）（９ｃ）（９ｄ）が接続さ
れている。
（６）Ｋ形成されている特定回路パターン（１ａ）（ｌ
ｂ）（ＩＣ）（ｌｄ）に向けて延圧するグローブ（２ａ
）（２ｂ）（２ｃ）（２ｄ）が固設されておシ、このグ
ローブ（２ａ ）（２ｂ ）（２ｃ ）（２ｄ ）にプ
リント配線（９ａ）（９ｂ）（９ｃ）（９ｄ）が接続さ
れている。
このプリント配線（９ａ）（９ｂ）（９ｃＨ９ｄ）のう
ち、両端のもの（９ａ）（９ｄ）は、プローブカード（
８）の外縁部にまで延在しておシ、これらの４本のプリ
ント配線（９ａ）（９ｂ）（９Ｃ）（９ｄ）のｍＫ、２
°Ωの検出抵抗（１０ａ）、２１Ωの検出抵抗（１０ｂ
）および２ Ωの検出抵抗（１０ｃ ）が夫々電気的に
接続されている。
ち、両端のもの（９ａ）（９ｄ）は、プローブカード（
８）の外縁部にまで延在しておシ、これらの４本のプリ
ント配線（９ａ）（９ｂ）（９Ｃ）（９ｄ）のｍＫ、２
°Ωの検出抵抗（１０ａ）、２１Ωの検出抵抗（１０ｂ
）および２ Ωの検出抵抗（１０ｃ ）が夫々電気的に
接続されている。
また、プローブカード（８）の外縁部にまで延在してい
るプリント配線（９ａ）（９ｄ）は、夫々抵抗測定器（
５）Ｋ接続されている。
るプリント配線（９ａ）（９ｄ）は、夫々抵抗測定器（
５）Ｋ接続されている。
なお、第１図に示す集積回路（６）では、左端の特定回
路パターン（１ａ）と、左側から３番目の特定回路パタ
ーン（１ｃ）とが短絡パターン（７ａ）Ｋて短絡されて
いる。
路パターン（１ａ）と、左側から３番目の特定回路パタ
ーン（１ｃ）とが短絡パターン（７ａ）Ｋて短絡されて
いる。
従うて、両端の１０−ブ（２ａ）（２ｄ）ｍの抵抗は４
０になる。
０になる。
第１図に示す集積回路（６）Ｋおける特定回路パターン
（ｌａ）（ｌｃ）は前述のように短絡されているが、短
絡パターン（７ａ）は８種類（集積口＆Ｓ （６）の種
類が８種）のものが用意されておシ、両端のプローブ（
２ａ）（：２ｄ）開の抵抗と短絡パターン（７ａ）との
関係は第３図のとおりである。
（ｌａ）（ｌｃ）は前述のように短絡されているが、短
絡パターン（７ａ）は８種類（集積口＆Ｓ （６）の種
類が８種）のものが用意されておシ、両端のプローブ（
２ａ）（：２ｄ）開の抵抗と短絡パターン（７ａ）との
関係は第３図のとおりである。
従うて、例えば両端のプローブ（２ａ）（２ｄ）間の抵
抗が２０なら、当該集積回路の種類はＣと判断され、６
ΩならＧと判断されることになる。
抗が２０なら、当該集積回路の種類はＣと判断され、６
ΩならＧと判断されることになる。
本実施例では、特定回路パターン（ｌａ）（ｌｂ）（ｌ
ｃ ）（ｌｄ ）が４個設けられているので、２４−１
＝８の種類の集積回路（６）を、瞬時に識別することが
可能となる。
ｃ ）（ｌｄ ）が４個設けられているので、２４−１
＝８の種類の集積回路（６）を、瞬時に識別することが
可能となる。
なお、前記特定回路パターン（１ａ）・・・の数ｎと識
別できる集積回路（６）の種類にとの＠係は、Ｋ＝２ｎ
−１となる。
別できる集積回路（６）の種類にとの＠係は、Ｋ＝２ｎ
−１となる。
（ト） 発明の効果
本発明では、集積回路の種類が多数あっても、両端の特
定回路パターン間の抵抗を測定することによって、直ち
に特定の集積回路を識別することができる。
定回路パターン間の抵抗を測定することによって、直ち
に特定の集積回路を識別することができる。
従うて、従来例のように特定回路パターン間の抵抗を順
次測定する場合に比較して、測定時間が極めて短時間に
でき、堆積回路の識別コストの削減を企図し祷る。
次測定する場合に比較して、測定時間が極めて短時間に
でき、堆積回路の識別コストの削減を企図し祷る。
第１図は本発明の一実施例を示す模式図、第２図は従来
例の模式図、第３図は特定回路の数と集積回路の関係を
示す表口である。 （ｌａ ）（ｌｂ ）（ｌｃ ）（Ｉｄ ） ・・・＃
ｉ’ｔＲ回路パターン、（２ａ）（２ｂ）（２ｃ）（２
ｄ）・・・プローブ、（５）−・・抵抗測定器、（６）
・・・集積回路、（７ａ）・・・短絡パターン（８）
・・・グローブカード、（９ａ ）（９ｂ ）（９ｃ
）（９ｄ ）・・・プリント配線、 （１０ａ）（１０ｂ）（１０ｃ）−検出抵抗。 出顯人 三洋電機株式会社 第り図
例の模式図、第３図は特定回路の数と集積回路の関係を
示す表口である。 （ｌａ ）（ｌｂ ）（ｌｃ ）（Ｉｄ ） ・・・＃
ｉ’ｔＲ回路パターン、（２ａ）（２ｂ）（２ｃ）（２
ｄ）・・・プローブ、（５）−・・抵抗測定器、（６）
・・・集積回路、（７ａ）・・・短絡パターン（８）
・・・グローブカード、（９ａ ）（９ｂ ）（９ｃ
）（９ｄ ）・・・プリント配線、 （１０ａ）（１０ｂ）（１０ｃ）−検出抵抗。 出顯人 三洋電機株式会社 第り図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、半導体基板上に基板識別用の複数の特定回路パター
ンが備えられている半導体集積回路の識別装置において
、 前記各特定回路パターンに対応して並設され、各特定回
路パターンに接触し得るプローブと、前設各プローブ間
に電気的に接続されている検出抵抗と、両端部のプロー
ブ間の電圧を測定する電圧測定手段とが具備されている
ことを特徴とする半導体集積回路の識別装置。 ２、検出抵抗は、一端部のものが１Ωで、順次２＾ｎ＾
−＾２Ω（ｎは３から連続する整数）に設定されている
請求項１記載の半導体集積回路の識別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63193025A JPH0242740A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 半導体集積回路の識別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63193025A JPH0242740A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 半導体集積回路の識別装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0242740A true JPH0242740A (ja) | 1990-02-13 |
Family
ID=16300922
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63193025A Pending JPH0242740A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 半導体集積回路の識別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0242740A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4596590B2 (ja) * | 2000-03-03 | 2010-12-08 | シャープ株式会社 | ドライバ制御方法及びその方法を利用する表示装置 |
-
1988
- 1988-08-02 JP JP63193025A patent/JPH0242740A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4596590B2 (ja) * | 2000-03-03 | 2010-12-08 | シャープ株式会社 | ドライバ制御方法及びその方法を利用する表示装置 |
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