JPH05180883A - 抵抗値測定装置 - Google Patents

抵抗値測定装置

Info

Publication number
JPH05180883A
JPH05180883A JP170392A JP170392A JPH05180883A JP H05180883 A JPH05180883 A JP H05180883A JP 170392 A JP170392 A JP 170392A JP 170392 A JP170392 A JP 170392A JP H05180883 A JPH05180883 A JP H05180883A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistance
resistance value
circuit
value
data collector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP170392A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Kawai
正志 河合
Taiichi Miho
泰一 美保
Takeo Ogawa
武男 小川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP170392A priority Critical patent/JPH05180883A/ja
Publication of JPH05180883A publication Critical patent/JPH05180883A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は複数個の抵抗素子の抵抗値に対し判
定して、その結果をデータ収集器に転送する抵抗値測定
装置に関し、所定基準値との差を判定する判定回路によ
り抵抗素子を当初に区分けし、大きなエラーのある抵抗
素子について測定器で実測することにより、多数の抵抗
素子の抵抗値を高速に測定する抵抗値測定装置を提供す
ることを目的とする。 【構成】 抵抗値測定回路1のデータ出力を収集するデ
ータ収集器2を具備する抵抗値測定装置において、抵抗
値測定回路1の端子に複数個並列接続された抵抗値判定
回路7-1,7-2 〜7-n を有し、該抵抗値判定回路7-1,7-2
〜7-n は抵抗値判定回路出力に接続した被測定抵抗素子
5-1,5-2 〜5-n に対し、所定値と比較しての大小状態を
判断し、判断結果を前記データ収集器2に転送すること
で構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は複数個の抵抗素子の抵抗
値を基準値に対し判定して、その結果をデータ収集器に
転送する抵抗値測定装置に関する。
【0002】プリント基板上のパターンについて抵抗値
測定を行うときなど、接近して配置されている抵抗素子
の抵抗値を測定するには長時間を要していた。電子化製
品の生産量が増加しているとき、抵抗値測定を高速化す
ることが益々要望されるようになった。
【0003】
【従来の技術】図3に示す従来の抵抗値測定装置におい
て、1は処理制御用のマイクロプロセッサ、2はデータ
収集器、3は定電圧源、4は電流計、5-1,5-2 〜5-n は
被測定抵抗素子、6は切換スイッチを示す。マイクロプ
ロセッサ1は所定の被測定抵抗素子5を選択するよう
に、切換スイッチを切換制御する。選択された抵抗素子
5に対し定電圧源3から与えられた定電圧のため流れた
電流を電流計4により測定し、マイクロプロセッサ1に
通知する。マイクロプロセッサ1は電圧と電流の比を演
算して抵抗素子5の抵抗値を得る。抵抗値はマイクロプ
ロセッサ1によりデータ収集器2へ通知され、次の抵抗
素子を測定するように切換スイッチ6を切換える。その
処理制御は抵抗素子5が所定位置に配置され、切換スイ
ッチ6を順次に切換えることによりスムーズに実行され
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】図3に示す装置ではデ
ータ収集器2に転送されるデータの数は測定器としての
マイクロプロセッサ1の数と同数で、順次に処理される
に過ぎない。同時に複数の抵抗素子を測定することが出
来ないから、測定器を増設した場合、抵抗素子は同時に
多数の素子を測定することが出来ても、装置が高価にな
り、且つ処理制御が複雑となる欠点が生じていた。
【0005】本発明の目的は前述の欠点を改善し、所定
基準値との差を判定する判定回路により抵抗素子を当初
に区分けし、大きなエラーのある抵抗素子について測定
器で実測することにより、多数の抵抗素子の抵抗値を高
速に測定する抵抗値測定装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理構成
を示す図である。図1において、1は抵抗素子の抵抗値
測定器としてのマイクロプロセッサ、2はデータ収集
器、5-1,5-2 〜5-n は被測定抵抗素子、7-1,7-2 〜7-n
は抵抗値判定回路を示し、被測定抵抗素子5と対応して
接続され、且つ判定データはデータ収集器2へ転送でき
るように接続線が設けてある。
【0007】抵抗値測定回路1のデータ出力を収集する
データ収集器2を具備する抵抗値測定回路において、本
発明は下記の構成とする。即ち、抵抗値測定回路1の端
子に複数個並列接続された抵抗値判定回路7-1,7-2 〜7-
n を有し、該抵抗値判定回路7-1,7-2 〜7-n は抵抗値判
定回路出力に接続した被測定抵抗素子5-1,5-2 〜5-n に
対し、所定値と比較しての大小状態を判断し、判断結果
を前記データ収集器2に転送することで構成する。
【0008】
【作用】マイクロプロセッサ1は被測定抵抗素子5の所
定のものを選択し、対応する抵抗値判定回路7を動作さ
せる。図示しない切換スイッチのオンオフを制御するこ
と等で回路への接続と切離しが出来る。被測定抵抗素子
の抵抗値を所定値と比較しての差が所定範囲内であれ
ば、判定回路7は抵抗素子が良品であると判定し、その
旨のデータをデータ収集器2へ転送する。
【0009】若し抵抗素子が所定範囲を外れた抵抗値を
示すときは、データ収集器2は全素子の判定が終了した
後に、測定回路1に対し何番目が不良品である旨を通知
する。そこで、測定回路1は例えば破線の経路を経て判
定回路7を素通りし、抵抗素子5と直結して抵抗値を読
取れば良い。
【0010】抵抗値判定回路7は複数の素子を同時に判
定しても、データ収集器2へ転送する時期を僅かにずら
すことで、大量のデータを収集器2へ短時間に収集する
ことが出来る。不良品についてのみ抵抗値を測定するか
ら、多量の抵抗素子について抵抗値を素早く測定したこ
ととなる。
【0011】
【実施例】図2は本発明の実施例として特に抵抗値判定
回路7を具体的に示す回路である。図2において、8
a,8b,8cはスイッチ、9は電圧源、10は電圧測
定端子、11,13は増幅回路、12は基準抵抗で、被
測定抵抗素子5と比較して低抵抗値であって、被測定抵
抗素子5の抵抗値に比例する電流が流れるように選定さ
れる。。14は電圧比較器、15はデータ収集器2から
の電圧端子、16は抵抗値判定結果をデータ収集器2へ
転送する端子を示す。
【0012】当初にスイッチ8a,8bをオン、8cを
オフとして抵抗素子5に測定回路1から或る電圧を印加
し、抵抗素子5の両端に得られた電圧を端子10におい
て取り出す。その電圧は測定回路1において絶対値を測
定することなく同一電圧値を保持して次の判定に備え
る。
【0013】次にスイッチ8aをオフ、8cをオン、8
bをオンとする。端子15から電圧比較器14の一方の
端子 (−)へ印加する電圧は抵抗素子5が所定値のもの
であったとき、基準抵抗12により取り出されるべき値
を演算して与えている。そして端子10の電圧を増幅回
路11を経てトランジスタ回路を導通させているから、
電圧源9からの電流が基準抵抗12を介してスイッチ8
c,8bと抵抗素子5へ流れる。基準抵抗12の抵抗値
が小さいため、電圧源9から抵抗素子5へ流れる電流は
抵抗素子5によって定まる値と略等しいから、その抵抗
12の両端の電圧を増幅回路13によって増幅し、電圧
比較器14によって前記電圧と比較する。電圧の大小に
より端子16から“1”“0”の信号が得られるから、
データ収集器2において結果データを収集して置く。
【0014】第1回の判定により例えば基準値より大の
ものに対し“1”が得られたとき、その素子に対しデー
タ収集器2から例えば10%大きい抵抗値に対する電圧
を端子15に与えて比較する。再び“1”が得られたな
らばその素子は不良であると判定し、抵抗値の測定を行
う。
【0015】また第1回の判定のとき基準値より小であ
れば“0”であるから、例えば10%低い抵抗値に対す
る電圧に対する比較を行う。再び“0”となったものは
不良とする。この処理により基準抵抗値より10%以上
大または小となったものを選別することが出来る。
【0016】
【発明の効果】このようにして本発明によると、判定回
路における判定の動作は、データ収集器へのデータ転送
が出来る程度の時間差を有して行えば良いため、複数の
判定回路が殆ど同時に動作するので、抵抗値を基準と比
較して判定することの処理が極めて高速となる。そして
判定回路により不良と判定されたもののみについて、必
要ならば抵抗値を測定するから、多数の抵抗素子の抵抗
値を短時間に測定したこととなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理構成を示す図である。
【図2】本発明の実施例の構成を示す図である。
【図3】従来技術を示す図である。
【符号の説明】
1 抵抗値測定回路 2 データ収集器 5-1,5-2 〜5-n 被測定抵抗素子 7-1,7-2 〜7-n 抵抗値判定回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 抵抗値測定回路(1) のデータ出力を収集
    するデータ収集器(2) を具備する抵抗値測定装置におい
    て、 抵抗値測定回路(1) の端子に複数個並列接続された抵抗
    値判定回路(7-1)(7-2)〜(7-n) を有し、 該抵抗値判定回路(7-1)(7-2)〜(7-n) は抵抗値判定回路
    出力に接続した被測定抵抗素子(5-1)(5-2)〜(5-n) に対
    し、所定値と比較しての大小状態を判断し、判断結果を
    前記データ収集器(2) に転送することを特徴とする抵抗
    値測定装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の抵抗値判定回路は被測定
    素子と直列接続された抵抗素子の何れよりも低い値の基
    準抵抗素子と、基準抵抗素子両端の電圧と、予め設定し
    ておいた判定電圧とを比較する電圧比較回路とで構成さ
    れ、該電圧比較回路出力を前記データ収集器に伝送する
    ことを特徴とする抵抗値測定装置。
JP170392A 1992-01-08 1992-01-08 抵抗値測定装置 Withdrawn JPH05180883A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP170392A JPH05180883A (ja) 1992-01-08 1992-01-08 抵抗値測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP170392A JPH05180883A (ja) 1992-01-08 1992-01-08 抵抗値測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05180883A true JPH05180883A (ja) 1993-07-23

Family

ID=11508912

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP170392A Withdrawn JPH05180883A (ja) 1992-01-08 1992-01-08 抵抗値測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05180883A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100862094B1 (ko) * 2006-10-11 2008-10-09 한국표준과학연구원 2진법식 비율증가에 의한 저항 비율교정 장치와 이를이용한 비율오차 측정방법
CN104267263A (zh) * 2014-09-15 2015-01-07 北京东方计量测试研究所 一种地线网络支路电阻测量方法和装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100862094B1 (ko) * 2006-10-11 2008-10-09 한국표준과학연구원 2진법식 비율증가에 의한 저항 비율교정 장치와 이를이용한 비율오차 측정방법
CN104267263A (zh) * 2014-09-15 2015-01-07 北京东方计量测试研究所 一种地线网络支路电阻测量方法和装置
CN104267263B (zh) * 2014-09-15 2017-05-03 北京东方计量测试研究所 一种地线网络支路电阻测量方法和装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3546046B2 (ja) 回路基板の絶縁検査装置及び絶縁検査方法
US6297659B1 (en) Test system for testing semiconductor device
JP4117917B2 (ja) パワートランジスタの電流監視回路の動作を試験する回路配置
JPH05180883A (ja) 抵抗値測定装置
JP2000243795A (ja) バーンインテスタにおける電源電流測定回路
US6320399B1 (en) Measuring method for detecting a short-circuit between the turns of a coil integrated on a chip, and integrated circuit structure adapted to such a measuring method
JP3918344B2 (ja) 半導体試験装置
JP2003028901A (ja) マルチソースmosを用いた電流検出回路
JPH11326441A (ja) 半導体試験装置
JP3098726B2 (ja) プリント基板の検査装置
JP3241777B2 (ja) インサーキットテスタ用オープンテスト装置
JP2004184374A (ja) インピーダンス測定装置
JP2002228695A (ja) 抵抗測定装置
CN220043382U (zh) 一种精密输出放大电路、应用该电路的负载检测电路及装置
JP3353288B2 (ja) Lsi試験装置
JP2002311082A (ja) 電源電流検出回路および電源電流検出装置
JP2003014825A (ja) 電源装置、及び試験装置
JPH0438303Y2 (ja)
JPH095368A (ja) 巻線抵抗の測定方法
JP2003337150A (ja) インピーダンス測定装置
JPH0756514Y2 (ja) Lsiテストシステム
JPS61155873A (ja) 半導体素子の測定装置
JPS63193615A (ja) テスト回路
JPH0634705Y2 (ja) Ic試験装置
JPH01169370A (ja) 測定レンジ設定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19990408