JPH0241109B2 - - Google Patents
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- JPH0241109B2 JPH0241109B2 JP55004377A JP437780A JPH0241109B2 JP H0241109 B2 JPH0241109 B2 JP H0241109B2 JP 55004377 A JP55004377 A JP 55004377A JP 437780 A JP437780 A JP 437780A JP H0241109 B2 JPH0241109 B2 JP H0241109B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4093—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体素子によつて構成された回路に
関し、特に絶縁ゲート型電界効果トランジスタを
用いた集積回路に関するものである。
関し、特に絶縁ゲート型電界効果トランジスタを
用いた集積回路に関するものである。
以下の説明はすべて絶縁ゲート型電界効果トラ
ンジスタのうち代表的なMOSトランジスタ(以
下MOSTと称す)を用い、かつNチヤネル
MOSTで行ない高レベルが論理“1”レベルで
あり、低レベルが論理“0”レベルである。しか
し、回路的には、PチヤネルMOSTでも、本質
的に同様である。
ンジスタのうち代表的なMOSトランジスタ(以
下MOSTと称す)を用い、かつNチヤネル
MOSTで行ない高レベルが論理“1”レベルで
あり、低レベルが論理“0”レベルである。しか
し、回路的には、PチヤネルMOSTでも、本質
的に同様である。
行ストローブ信号()及び列ストローブ
信号()の2本のクロツクを有するマル
チ・アドレス入力形式のMOSダイナミツク・ラ
ンダムアクセスメモリ(RAM)のデータ出力は
通常次のような条件が課せられる。以下図面を用
いて説明する。
信号()の2本のクロツクを有するマル
チ・アドレス入力形式のMOSダイナミツク・ラ
ンダムアクセスメモリ(RAM)のデータ出力は
通常次のような条件が課せられる。以下図面を用
いて説明する。
(1) 第1図Aに示すようにを活性化し次に
CASが活性化されるがが活生化されてか
ら、共に活生状態にある期間、書き
込みコントロール・クロツクが非活生であ
れば、リード・サイクルとなり活性化に
よりアクセスタイム経過後、データ出力に読み
出しデータがあらわれ高インピーダンス状態か
ら“1”或いは“0”が出力状態に移行する。
この読み出しデータは、がリセツトされ
るまで、有効に維持する必要があり、通常10μs
のデータ出力保持が要求されるが無限時間を条
件とする規格もある。従つて、この場合、充分
なデータ出力保持、及びバツク・アツプ機能が
必要となる。特にがより先にリセツ
トされる場合、RAS系回路と共にCAS系回路
もリセツト・プリチヤージ状態に入り、出力回
路だけでデータ出力の保持を計らねばならな
い。
CASが活性化されるがが活生化されてか
ら、共に活生状態にある期間、書き
込みコントロール・クロツクが非活生であ
れば、リード・サイクルとなり活性化に
よりアクセスタイム経過後、データ出力に読み
出しデータがあらわれ高インピーダンス状態か
ら“1”或いは“0”が出力状態に移行する。
この読み出しデータは、がリセツトされ
るまで、有効に維持する必要があり、通常10μs
のデータ出力保持が要求されるが無限時間を条
件とする規格もある。従つて、この場合、充分
なデータ出力保持、及びバツク・アツプ機能が
必要となる。特にがより先にリセツ
トされる場合、RAS系回路と共にCAS系回路
もリセツト・プリチヤージ状態に入り、出力回
路だけでデータ出力の保持を計らねばならな
い。
(2) 第1図Bに示すようにが活性化される
とき、が活性状態にあると、アーリイ・ラ
イト・サイクルであり、出力はサイクルを通し
て高インピーダンス状態に保つ必要がある。
とき、が活性状態にあると、アーリイ・ラ
イト・サイクルであり、出力はサイクルを通し
て高インピーダンス状態に保つ必要がある。
(3) 第1図Cに示すようにを活性化してか
ら充分遅らせてを活性化すると読み出しデ
ータが出力にあらわれると共に書き込み動作も
行なわれる。とWEの活性化の時間差がア
クセスタイム以下であれば、リード・ライト・
サイクル、アクセスタイム以上であればリー
ド・モデイフアイ・ライト・サイクルである。
データ出力は上記(1)と同様で、がリセツ
トされるまで、読み出しデータのまま、有効に
維持しなければならず、書き込み動作が出力状
態に影響しないようにする必要がある。
ら充分遅らせてを活性化すると読み出しデ
ータが出力にあらわれると共に書き込み動作も
行なわれる。とWEの活性化の時間差がア
クセスタイム以下であれば、リード・ライト・
サイクル、アクセスタイム以上であればリー
ド・モデイフアイ・ライト・サイクルである。
データ出力は上記(1)と同様で、がリセツ
トされるまで、読み出しデータのまま、有効に
維持しなければならず、書き込み動作が出力状
態に影響しないようにする必要がある。
2クロツクMOSダイナミツクRAMでは、これ
らの条件を満たし、かつ高速に動作する出力バツ
フア回路が当然ながら要求される。従来の出力バ
ツフア回路の第1の例を第2図に示す。選択され
たXデコーダのバツフア出力MOST Q1を通し、
ワード線駆動クロツクRAを受けて、選択ワード
線節点1のレベルが上昇する。選択ワード線上の
メモリセル及びフアレンスセル(第2図のそれぞ
れC及びD)の情報がデイジツト線2〜7にあら
われ、次にセンスアツプSAが活性化されて、メ
モリセルCの情報がリフレツシユされる。これま
でがクロツクの活性化に基づく動作である。
RASに続きが活性化されて、Yデコーダ出
力Yiが選択されてそのレベルが上昇するとすれ
ば、MOST Q4及びQ5が導通し、デイジツト
線節点4及び節点5のセンスアンプ活性化後のレ
ベルがそれぞれ入出力バス及びIOに移される。
この後、入出力バス・データアンプの活性化タイ
ミングDEのレベルが上昇しMOST Q8〜Q1
0から成るデータアンプが活性化されてIO及び
IO上のレベルが論理的に増幅される。節点9及
び節点11はタイミングYPによりプリチヤージ
されており、さらにCASは、が活性化(低
レベル)されると直ちにレベル上昇するクロツク
でMOST Q15及びQ22を通し、節点12も
同電位にプリチヤージされている。IOが高レベ
ル、が低レベルに移行する場合を考えると
MOST Q10の導通により節点8が大地電位に
なるため、MOST Q26が導通し、節点11及
び節点12のプリチヤージ電荷がMOST Q26
及びQ10を通して放電し、共に大地電位に移行
する。一方、MOST Q11は非導通のままに置
かれ、節点9及び節点10は、プリチヤージ電位
を維持する。続いて、出力バツフア活性化タイミ
ングOEを上昇させるとMOST Q17は導通、
MOST Q19は非導通の状態にあるから、節点
13は、OEにほぼ同期して上昇するのに対し、
節点14は低レベルのままでMOST Q20に導
通により、大地電位になる。従つてMOST Q2
7は導通、MOST Q28は非導通なり出力
DATA OUTには高レベル出力が得られる。出
力バツフアの動作は以上のように説明されるが、
前述の(1)〜(3)の条件は次のように満されている。
RASがより先にリセツトされると、系
タイミングと共に系タイミングもリセツト
され、まずCASが低レベルに移行し、次にYPが
上昇する。OEだけはに同期して動作するク
ロツクになつており、この間、高レベルのまま維
持される。そこで、MOST Q15及びQ22が
非導通になり、節点10及び節点12にはレベル
変化はなく、節点9及び節点11は、プリチヤー
ジ・レベルに移行する。節点13及び節点14も
レベルは変化せず、従つてデータ出力には読み出
しデータがそのまま残る。節点13及び節点14
は高インピーダンス状態ではなく、この場合、節
点10は高インピーダンス高レベルでMOST Q
17は導通したままであり、節点13は、
MOST Q17を通し、OEに連がつている。節
点14は導通したMOST Q20により大地電位
に保たれる。このようにデータ出力の保持につい
ては問題はない。アーリイ・ライト・サイクルで
は書き込みデータ出力DI、の活性化以降、出
力バツフアに入出力バスのレベルが伝わらないよ
うにしてある。が活性化されCASが上昇す
ると、節点10及び節点12はプリチヤージ・レ
ベルに移行し、MOST Q17及びQ19が導通
するが、このときOEは大地電位にあり、節点1
3及び節点14は大地電位に維持されて、データ
出力はがリセツトされてからの高インピー
ダンス状態を保つ。OEが活性化される前に、書
き込みデータが決まり、DI、のいずれかが上
昇すると、MOST Q12,Q14及びMOST
Q24,Q25により、節点9及び節点111が
放電され、MOST Q15及びQ22を通して、
節点10及び節点12も放電されて大地電位に移
行する。MOST Q17及びQ19は非導通にな
り、OEがその後活性化されても、節点13及び
節点14は低レベルのままで、データ出力には変
化なくサイクルを通して高インピーダンス状態に
維持される。OEが活性化される時点で、節点1
0及び節点12に前述の動作に従つて、読み出し
データに対応するレベルがあらわれていれば、出
力データが生じ、その後DI或いはが活性化さ
れると、節点10及び節点12が放電されて、
MOST Q17及び19が非導通となり、節点1
3及び節点14の高レベルの方は高インピーダン
ス状態で保たれ、低レベルの方はMOST Q18
或いはQ20により大地電位に置かれる。DI、
DIの活性化レベルは書き込みゲートを介して、
それぞれIO、に送られ、Yデコーダ・バツフ
アを通して、メモリセルに書き込まれるが同時に
節点9及び節点11が放電されるため、節点13
及び節点14とIO及びは完全に切り離される。
従つて出力に読み出しデータが維持されたまま、
書き込み動作が行なわれ、リード・ライト・サイ
クル或いはリードモデイフアイト・サイクルとな
る。アーリイ・ライト・サイクルと、リード・ラ
イト・サイクルの区分、即ち、出力が高インピー
ダンス状態のままか或いは読み出しデータを生じ
るかはOEの活性化と、DI、の活性化の時間位
置に依存し、DI、が先行すれば前者、OEが充
分先行すれば後者に対応する。第2図の回路は、
IO、と、節点13、節点14のバツフア出力
との間にレベル転送用のMOSTが2個、即ち
MOST Q11,Q15及びMOST Q26,Q
22があり、これにより動作の遅れが生じること
と、及びリード(モデイフアイ)・ライト・サイ
クルで、バツフア出力即ち節点13或いは節点1
4の高レベルが高インピーダンス状態により、リ
ークによりレベルが低下して、出力に影響が生じ
る可能性があるというのが欠点である。
らの条件を満たし、かつ高速に動作する出力バツ
フア回路が当然ながら要求される。従来の出力バ
ツフア回路の第1の例を第2図に示す。選択され
たXデコーダのバツフア出力MOST Q1を通し、
ワード線駆動クロツクRAを受けて、選択ワード
線節点1のレベルが上昇する。選択ワード線上の
メモリセル及びフアレンスセル(第2図のそれぞ
れC及びD)の情報がデイジツト線2〜7にあら
われ、次にセンスアツプSAが活性化されて、メ
モリセルCの情報がリフレツシユされる。これま
でがクロツクの活性化に基づく動作である。
RASに続きが活性化されて、Yデコーダ出
力Yiが選択されてそのレベルが上昇するとすれ
ば、MOST Q4及びQ5が導通し、デイジツト
線節点4及び節点5のセンスアンプ活性化後のレ
ベルがそれぞれ入出力バス及びIOに移される。
この後、入出力バス・データアンプの活性化タイ
ミングDEのレベルが上昇しMOST Q8〜Q1
0から成るデータアンプが活性化されてIO及び
IO上のレベルが論理的に増幅される。節点9及
び節点11はタイミングYPによりプリチヤージ
されており、さらにCASは、が活性化(低
レベル)されると直ちにレベル上昇するクロツク
でMOST Q15及びQ22を通し、節点12も
同電位にプリチヤージされている。IOが高レベ
ル、が低レベルに移行する場合を考えると
MOST Q10の導通により節点8が大地電位に
なるため、MOST Q26が導通し、節点11及
び節点12のプリチヤージ電荷がMOST Q26
及びQ10を通して放電し、共に大地電位に移行
する。一方、MOST Q11は非導通のままに置
かれ、節点9及び節点10は、プリチヤージ電位
を維持する。続いて、出力バツフア活性化タイミ
ングOEを上昇させるとMOST Q17は導通、
MOST Q19は非導通の状態にあるから、節点
13は、OEにほぼ同期して上昇するのに対し、
節点14は低レベルのままでMOST Q20に導
通により、大地電位になる。従つてMOST Q2
7は導通、MOST Q28は非導通なり出力
DATA OUTには高レベル出力が得られる。出
力バツフアの動作は以上のように説明されるが、
前述の(1)〜(3)の条件は次のように満されている。
RASがより先にリセツトされると、系
タイミングと共に系タイミングもリセツト
され、まずCASが低レベルに移行し、次にYPが
上昇する。OEだけはに同期して動作するク
ロツクになつており、この間、高レベルのまま維
持される。そこで、MOST Q15及びQ22が
非導通になり、節点10及び節点12にはレベル
変化はなく、節点9及び節点11は、プリチヤー
ジ・レベルに移行する。節点13及び節点14も
レベルは変化せず、従つてデータ出力には読み出
しデータがそのまま残る。節点13及び節点14
は高インピーダンス状態ではなく、この場合、節
点10は高インピーダンス高レベルでMOST Q
17は導通したままであり、節点13は、
MOST Q17を通し、OEに連がつている。節
点14は導通したMOST Q20により大地電位
に保たれる。このようにデータ出力の保持につい
ては問題はない。アーリイ・ライト・サイクルで
は書き込みデータ出力DI、の活性化以降、出
力バツフアに入出力バスのレベルが伝わらないよ
うにしてある。が活性化されCASが上昇す
ると、節点10及び節点12はプリチヤージ・レ
ベルに移行し、MOST Q17及びQ19が導通
するが、このときOEは大地電位にあり、節点1
3及び節点14は大地電位に維持されて、データ
出力はがリセツトされてからの高インピー
ダンス状態を保つ。OEが活性化される前に、書
き込みデータが決まり、DI、のいずれかが上
昇すると、MOST Q12,Q14及びMOST
Q24,Q25により、節点9及び節点111が
放電され、MOST Q15及びQ22を通して、
節点10及び節点12も放電されて大地電位に移
行する。MOST Q17及びQ19は非導通にな
り、OEがその後活性化されても、節点13及び
節点14は低レベルのままで、データ出力には変
化なくサイクルを通して高インピーダンス状態に
維持される。OEが活性化される時点で、節点1
0及び節点12に前述の動作に従つて、読み出し
データに対応するレベルがあらわれていれば、出
力データが生じ、その後DI或いはが活性化さ
れると、節点10及び節点12が放電されて、
MOST Q17及び19が非導通となり、節点1
3及び節点14の高レベルの方は高インピーダン
ス状態で保たれ、低レベルの方はMOST Q18
或いはQ20により大地電位に置かれる。DI、
DIの活性化レベルは書き込みゲートを介して、
それぞれIO、に送られ、Yデコーダ・バツフ
アを通して、メモリセルに書き込まれるが同時に
節点9及び節点11が放電されるため、節点13
及び節点14とIO及びは完全に切り離される。
従つて出力に読み出しデータが維持されたまま、
書き込み動作が行なわれ、リード・ライト・サイ
クル或いはリードモデイフアイト・サイクルとな
る。アーリイ・ライト・サイクルと、リード・ラ
イト・サイクルの区分、即ち、出力が高インピー
ダンス状態のままか或いは読み出しデータを生じ
るかはOEの活性化と、DI、の活性化の時間位
置に依存し、DI、が先行すれば前者、OEが充
分先行すれば後者に対応する。第2図の回路は、
IO、と、節点13、節点14のバツフア出力
との間にレベル転送用のMOSTが2個、即ち
MOST Q11,Q15及びMOST Q26,Q
22があり、これにより動作の遅れが生じること
と、及びリード(モデイフアイ)・ライト・サイ
クルで、バツフア出力即ち節点13或いは節点1
4の高レベルが高インピーダンス状態により、リ
ークによりレベルが低下して、出力に影響が生じ
る可能性があるというのが欠点である。
2番目の従来例を第3図に示す。データアンプ
D・Aが信号DE1により活性化されて、入出力
バスIO、にそれぞれ高レベル、低レベルがあ
らわれるとすると、MOST Q20は導通のまま
MOST Q3は非導通になる。DE1に続いて、
DE2が活性化されると、MOST Q10及びQ
12を通してそれぞれ節点5及び節点6が上昇し
ようとするが、MOST Q20の電流能力を
MOST Q10より充分大きくとることにより、
節点5は低レベルに抑えられ、節点6はDE2に
追随して上昇する。MOST Q5により節点1の
プリチヤージ電荷が放電され、MOST Q7及び
Q10が非導通になるため、MOST Q8及びQ
11により、それぞれ節点4及び節点5が大地電
位に置かれる。節点6の上昇を受けて、ブート・
ストラツプ・コンデンサC7F及びC10Fによ
りそれぞれ節点7及び節点10が電源VDDレベル
より充分高く持ち上げられる。MOST Q17は
非導通であるから、MOST Q15及びQ16は
非飽和領域に駆動され、節点9はDE2に追随し
て上昇する。この結果、MOST Q22が導通、
MOST Q23が非導通になり、高レベルデータ
出力が得られる。動作は以上の通りであるが
RASがより先にリセツトされる場合、まず
CASが低レベルに移行し、MOST Q9及びQ1
4を通して節点2及び節点7が低レベルになる。
次にYPが上昇し、DE1、DE2が大地電位に移
行して、節点5及び節点6はMOST Q10及び
Q12を通して大地電位になるMOST Q6,Q
15,Q8及びQ17が非導通になるため、節点
4及び節点9のレベルは共に高インピーダンス状
態で保たれ、読み出しデータ出力が維持される。
WEの活性化により上昇する書き込みタイミング
クロツクW1とDE2の立ち上りの時間関係によ
り、出力が高インピーダンス状態のまま即ちアー
リイ・ライト・サイクルか出力に読み出しデータ
を生じたまま、書き込み動作が行なわれる。即ち
リード(モデイフアイ)・ライト・サイクルかが
決められる。W1が上昇すると、MOST Q2及
びQ21により節点1及び節点10がそれぞれ放
電され、大地電位になつて、MOST Q7,Q1
0,Q12及びQ16が非導通になる。従つて、
この時点での節点4及び節点9のレベルが高イン
ピーダンス状態で保たれ、出力もそのままとな
る。W1の上昇がDE2より早い場合、節点4及
び節点9は、それぞれMOST Q6,Q7及び
MOST Q15,Q16を通してDE2と等しく
大地電位であり、このまま高インピーダンス状態
で保たれて、出力はサイクルを通し、高インピー
ダンス状態にある。DE2が活性化され、出力に
読み出しデータが生じてから、W1が上昇する
と、節点4及び節点9は読み出し時のレベルが高
インピーダンス状態でそのまま残り、出力の読み
出し時のレベルが高インピーダンス状態でそのま
ま残り、出力の読み出しデータが維持される。こ
のように、前述の(1)〜(3)の場合についてすべて、
節点4及び節点9は高インピーダンス状態で、レ
ベルが維持されリーク或いはノイズにより出力に
影響が生じる可能性があるというのが第3図の回
路の欠点である。節点4及び節点9の充電は、そ
れぞれMOST Q6,Q7及びMOST Q15,
Q16の2個の直列のMOSTで行なわれるため、
1個の場合と比べ、同等の立ち上り速度を得るの
に2倍程度の電流能力が各MOSTに必要になる
ことも難点である。
D・Aが信号DE1により活性化されて、入出力
バスIO、にそれぞれ高レベル、低レベルがあ
らわれるとすると、MOST Q20は導通のまま
MOST Q3は非導通になる。DE1に続いて、
DE2が活性化されると、MOST Q10及びQ
12を通してそれぞれ節点5及び節点6が上昇し
ようとするが、MOST Q20の電流能力を
MOST Q10より充分大きくとることにより、
節点5は低レベルに抑えられ、節点6はDE2に
追随して上昇する。MOST Q5により節点1の
プリチヤージ電荷が放電され、MOST Q7及び
Q10が非導通になるため、MOST Q8及びQ
11により、それぞれ節点4及び節点5が大地電
位に置かれる。節点6の上昇を受けて、ブート・
ストラツプ・コンデンサC7F及びC10Fによ
りそれぞれ節点7及び節点10が電源VDDレベル
より充分高く持ち上げられる。MOST Q17は
非導通であるから、MOST Q15及びQ16は
非飽和領域に駆動され、節点9はDE2に追随し
て上昇する。この結果、MOST Q22が導通、
MOST Q23が非導通になり、高レベルデータ
出力が得られる。動作は以上の通りであるが
RASがより先にリセツトされる場合、まず
CASが低レベルに移行し、MOST Q9及びQ1
4を通して節点2及び節点7が低レベルになる。
次にYPが上昇し、DE1、DE2が大地電位に移
行して、節点5及び節点6はMOST Q10及び
Q12を通して大地電位になるMOST Q6,Q
15,Q8及びQ17が非導通になるため、節点
4及び節点9のレベルは共に高インピーダンス状
態で保たれ、読み出しデータ出力が維持される。
WEの活性化により上昇する書き込みタイミング
クロツクW1とDE2の立ち上りの時間関係によ
り、出力が高インピーダンス状態のまま即ちアー
リイ・ライト・サイクルか出力に読み出しデータ
を生じたまま、書き込み動作が行なわれる。即ち
リード(モデイフアイ)・ライト・サイクルかが
決められる。W1が上昇すると、MOST Q2及
びQ21により節点1及び節点10がそれぞれ放
電され、大地電位になつて、MOST Q7,Q1
0,Q12及びQ16が非導通になる。従つて、
この時点での節点4及び節点9のレベルが高イン
ピーダンス状態で保たれ、出力もそのままとな
る。W1の上昇がDE2より早い場合、節点4及
び節点9は、それぞれMOST Q6,Q7及び
MOST Q15,Q16を通してDE2と等しく
大地電位であり、このまま高インピーダンス状態
で保たれて、出力はサイクルを通し、高インピー
ダンス状態にある。DE2が活性化され、出力に
読み出しデータが生じてから、W1が上昇する
と、節点4及び節点9は読み出し時のレベルが高
インピーダンス状態でそのまま残り、出力の読み
出し時のレベルが高インピーダンス状態でそのま
ま残り、出力の読み出しデータが維持される。こ
のように、前述の(1)〜(3)の場合についてすべて、
節点4及び節点9は高インピーダンス状態で、レ
ベルが維持されリーク或いはノイズにより出力に
影響が生じる可能性があるというのが第3図の回
路の欠点である。節点4及び節点9の充電は、そ
れぞれMOST Q6,Q7及びMOST Q15,
Q16の2個の直列のMOSTで行なわれるため、
1個の場合と比べ、同等の立ち上り速度を得るの
に2倍程度の電流能力が各MOSTに必要になる
ことも難点である。
3番目の従来例を第4図に示す。データアンプ
D・Aが信号DE1により活性化されて、入出力
バスIO、にそれぞれ高レベル、低レベルがあ
らわれるとすると、MOST Q3が導通、MOST
Q4が非導通になり、節点1がMOST Q1及び
Q3により放電されて大地電位になる一方、節点
には、プリチヤージ・レベルのまま保たれる。続
いてDE2が上昇すると、MOST Q9及びQ1
3を通して、それぞれ節点4及び節点5が追随し
ようとするが、MOST Q14の電流能力を
MOST Q13より充分大きすることにより、節
点5は低レベルに抑えられ、節点4はDE2に追
随して上昇する。MOST Q16により節点6が
放電されて、MOST Q13は非導通になり、節
点5は大地電位に落ち着く。節点4及び節点5の
レベル変化がそれぞれMOST Q18及びQ19
を通して節点7及び節点8に転送され、高レベル
データ出力が得られる。読み出し動作は以上の通
りであり、がより先にリセツトされる
と、CASが低レベルで移行してMOST Q18及
びQ19が非導通になり、節点7及び節点8のレ
ベルは、そのまま高インピーダンス状態で保たれ
る。続いてYPが上昇し、DE1、DE2が大地電
位に移行して、節点4及び節点5は大地電位にリ
セツトされる。即ち、バツフア出力をMOST Q
18及びQ19でリセツト状態及びレベル保持の
状態に分離し、読み出しデータ出力を維持してい
る。第3図と同様W1とDE2の立ち上りの時間
関係により、アーリイ・ライト・サイクルとリー
ド(モデイフアイ)・ライト・サイクルの区分が
行なわれ、W1がDE2より早く上昇すると、
MOST Q6及びQ17により、それぞれ節点3
及び節点6が放電されて、MOST Q9及びQ1
3が非導通になり、節点4及び節点5はリセツト
時のレベルが高インピーダンス状態で保たれる。
節点7及び節点8も同様の状態となり、出力はサ
イクルを通して高インピーダンス状態になる。
DE2が上昇し、出力に読み出しデータが生じて
からW1が上昇すれば、節点4及び節点5はレベ
ルはそのままで、高インピーダンス状態に移行す
る。節点7及び節点8も同様で、出力には読み出
しデータが維持される。IO、に読み出しデー
タとは逆のデータを書き込む場合、節点1及び節
点2は共に大地電位になりMOST Q10及びQ
14は非導通となつて、節点4及び節点5のレベ
ルに影響することはない。第4図の回路は、IO、
IOが出力バツフアに直接入らず節点1、節点2
が介在すること、出力バツフアの出力節点にトラ
ンスフアMOST Q18及び19が入ることか
ら、データ出力の応答に遅れを生じるという欠点
がある。さらに上述の(1)〜(3)についてすべて、節
点7及び節点8は高インピーダンス状態になるこ
とも、前述のように欠点である。
D・Aが信号DE1により活性化されて、入出力
バスIO、にそれぞれ高レベル、低レベルがあ
らわれるとすると、MOST Q3が導通、MOST
Q4が非導通になり、節点1がMOST Q1及び
Q3により放電されて大地電位になる一方、節点
には、プリチヤージ・レベルのまま保たれる。続
いてDE2が上昇すると、MOST Q9及びQ1
3を通して、それぞれ節点4及び節点5が追随し
ようとするが、MOST Q14の電流能力を
MOST Q13より充分大きすることにより、節
点5は低レベルに抑えられ、節点4はDE2に追
随して上昇する。MOST Q16により節点6が
放電されて、MOST Q13は非導通になり、節
点5は大地電位に落ち着く。節点4及び節点5の
レベル変化がそれぞれMOST Q18及びQ19
を通して節点7及び節点8に転送され、高レベル
データ出力が得られる。読み出し動作は以上の通
りであり、がより先にリセツトされる
と、CASが低レベルで移行してMOST Q18及
びQ19が非導通になり、節点7及び節点8のレ
ベルは、そのまま高インピーダンス状態で保たれ
る。続いてYPが上昇し、DE1、DE2が大地電
位に移行して、節点4及び節点5は大地電位にリ
セツトされる。即ち、バツフア出力をMOST Q
18及びQ19でリセツト状態及びレベル保持の
状態に分離し、読み出しデータ出力を維持してい
る。第3図と同様W1とDE2の立ち上りの時間
関係により、アーリイ・ライト・サイクルとリー
ド(モデイフアイ)・ライト・サイクルの区分が
行なわれ、W1がDE2より早く上昇すると、
MOST Q6及びQ17により、それぞれ節点3
及び節点6が放電されて、MOST Q9及びQ1
3が非導通になり、節点4及び節点5はリセツト
時のレベルが高インピーダンス状態で保たれる。
節点7及び節点8も同様の状態となり、出力はサ
イクルを通して高インピーダンス状態になる。
DE2が上昇し、出力に読み出しデータが生じて
からW1が上昇すれば、節点4及び節点5はレベ
ルはそのままで、高インピーダンス状態に移行す
る。節点7及び節点8も同様で、出力には読み出
しデータが維持される。IO、に読み出しデー
タとは逆のデータを書き込む場合、節点1及び節
点2は共に大地電位になりMOST Q10及びQ
14は非導通となつて、節点4及び節点5のレベ
ルに影響することはない。第4図の回路は、IO、
IOが出力バツフアに直接入らず節点1、節点2
が介在すること、出力バツフアの出力節点にトラ
ンスフアMOST Q18及び19が入ることか
ら、データ出力の応答に遅れを生じるという欠点
がある。さらに上述の(1)〜(3)についてすべて、節
点7及び節点8は高インピーダンス状態になるこ
とも、前述のように欠点である。
本発明は、直接、IO、が入力となり、介在
節点及びトランスフアMOSTを含まないことか
ら、高速に動作し、かつ上述の(1)〜(3)の出力状態
の維持について、出力プツシユプルMOSTのゲ
ート節点を高インピーダンス状態ではなく、電気
的にレベルを保証することにより、安定化できる
という従来の回路における欠点を取り除いた2ク
ロツクMOSダイナミツクRAMにおける出力バツ
フア回路を提供することを目的とする。
節点及びトランスフアMOSTを含まないことか
ら、高速に動作し、かつ上述の(1)〜(3)の出力状態
の維持について、出力プツシユプルMOSTのゲ
ート節点を高インピーダンス状態ではなく、電気
的にレベルを保証することにより、安定化できる
という従来の回路における欠点を取り除いた2ク
ロツクMOSダイナミツクRAMにおける出力バツ
フア回路を提供することを目的とする。
本発明の半導体回路は、第1の入力をゲートに
受ける第1の絶縁ゲート型電界効果トランジスタ
と、ゲートがプリチヤージされるとともに第1の
入力に応答して前記第1のトランジスタと同相で
導通・非導通する第2の絶縁ゲート型電界効果ト
ランジスタと、ゲートがプリチヤージされる第3
の絶縁ゲート型電界効果トランジスタとを直列接
続して第1の直列接続体とし、第2の入力をゲー
トに受ける第4の絶縁ゲート型電界効果トランジ
スタと、ゲートがプリチヤージされるとともに第
2の入力に応答して前記第4のトランジスタと同
相で導通・非導通する第5の絶縁ゲート型電界効
果トランジスタと、ゲートがプリチヤージされる
第6の絶縁ゲート型電界効果トランジスタとを直
列接続して第2の直列接続体とし、前記第1およ
び第2の直列接続体を並列に接続し、前記第2お
よび第5のトランジスタによつて前記第1および
第4のトランジスタからそれぞれ分離された点か
ら出力を得ることを特徴とする。
受ける第1の絶縁ゲート型電界効果トランジスタ
と、ゲートがプリチヤージされるとともに第1の
入力に応答して前記第1のトランジスタと同相で
導通・非導通する第2の絶縁ゲート型電界効果ト
ランジスタと、ゲートがプリチヤージされる第3
の絶縁ゲート型電界効果トランジスタとを直列接
続して第1の直列接続体とし、第2の入力をゲー
トに受ける第4の絶縁ゲート型電界効果トランジ
スタと、ゲートがプリチヤージされるとともに第
2の入力に応答して前記第4のトランジスタと同
相で導通・非導通する第5の絶縁ゲート型電界効
果トランジスタと、ゲートがプリチヤージされる
第6の絶縁ゲート型電界効果トランジスタとを直
列接続して第2の直列接続体とし、前記第1およ
び第2の直列接続体を並列に接続し、前記第2お
よび第5のトランジスタによつて前記第1および
第4のトランジスタからそれぞれ分離された点か
ら出力を得ることを特徴とする。
すなわち本発明によれば、ゲートが真入力節点
に接続される第1の絶縁ゲート型電界効果トラン
ジスタと、前記第1のトランジスタと並列に接続
されゲートが補入力節点に接続される第2の絶縁
ゲート型電界効果トランジスタと、第1節点と前
記第1のトランジスタとの間に接続されゲートが
第2接点に接続される第3の絶縁ゲート型電界効
果トランジスタと、第3節点と前記第2のトラン
ジスタとの間に接続されゲートが第4節点に接続
される第4の絶縁ゲート型電界効果トランジスタ
と、前記第1節点を駆動する第1の駆動手段と、
前記第1節点を駆動する第2の駆動手段と、前記
真入力節点と前記第2節点との間に接続されゲー
トが補入力節点に接続される第5の絶縁ゲート型
電界効果トランジスタと、前記補入力節点と前記
第4節点との間に接続されゲートが真入力節点に
接続される第6の絶縁ゲート型電界効果トランジ
スタと、前記第2節点をプリチヤージする第1の
充電手段と、前記第4節点をプリチヤージする第
2の充電手段とを含み、前記第3節点に真出力、
第1節点に補出力を発生することを特徴とする半
導体回路が得られる。
に接続される第1の絶縁ゲート型電界効果トラン
ジスタと、前記第1のトランジスタと並列に接続
されゲートが補入力節点に接続される第2の絶縁
ゲート型電界効果トランジスタと、第1節点と前
記第1のトランジスタとの間に接続されゲートが
第2接点に接続される第3の絶縁ゲート型電界効
果トランジスタと、第3節点と前記第2のトラン
ジスタとの間に接続されゲートが第4節点に接続
される第4の絶縁ゲート型電界効果トランジスタ
と、前記第1節点を駆動する第1の駆動手段と、
前記第1節点を駆動する第2の駆動手段と、前記
真入力節点と前記第2節点との間に接続されゲー
トが補入力節点に接続される第5の絶縁ゲート型
電界効果トランジスタと、前記補入力節点と前記
第4節点との間に接続されゲートが真入力節点に
接続される第6の絶縁ゲート型電界効果トランジ
スタと、前記第2節点をプリチヤージする第1の
充電手段と、前記第4節点をプリチヤージする第
2の充電手段とを含み、前記第3節点に真出力、
第1節点に補出力を発生することを特徴とする半
導体回路が得られる。
本発明の基本回路構成を第5図、クロツク・タ
イミング及び主要節点の動作波形を第6図に示
す。外部クロツクが高レベルから低レベル
に移行して活性化されると、まずCASが上昇し、
これに追随してOPが上昇する。節点1、節点6、
節点7及び節点10が充電されるがOPは、デー
タアンプ活性化と同時かあるいは以前に低レベル
に移行し、これらの節点は出力バツフア活性化時
には、高インピーダンス高レベルとなる。データ
アンプが活性化されてIOが高レベル、が低レ
ベルになるとすると、MOST Q15は導通のま
まで、MOST Q13が非導通になる。MOST
Q14及びQ16はゲートがCASで共に導通し
ており、節点10は、MOST Q15及びQ16
を通し、の低レベルへの移行に追随して放電
される。一方、節点7は、MOST Q13が非導
通になるため、充電レベルが高インピーダンス状
態で保たれる。従つて、IOが高レベルのままで
IOが低レベルに移行するのを受けて、MOST Q
4及びQ5は導通のままで、まずMOST Q8が
非導通になり続いて直ちにMOST Q7が非導通
になる。この後、OEが活性化されると、MOST
Q3及びQ6を通して、それぞれ節点2及び節点
4が追随して上昇しようとするが、直列接続の
MOST Q4及びQ5の電流能力を、MOST Q
3より充分大きくとることにより節点2は低レベ
ルに抑えられる。節点4はOEに追随して上昇し、
MOST Q2により節点1が放電されるため、
MOST Q3は非導通になり、節点2は大地電位
となる。節点4及び節点2をプツシユプル
MOST(P・P−OUT)(図示せず)で受けて、
高レベルデータ出力が得られる。前述(1)〜(3)の対
応動作は次のようになる。がより先に
リセツトされる場合について、まずCASが低レ
ベルに移行し、次にYPが上昇する。OEは、第2
図の従来例と同様とは関係なく、に同
期するように構成されるタイミングである。YP
の上昇を受け、節点7及び節点10が共に大地電
位になりMOST Q4及びQ7が非導通になる。
節点1及び節点6のレベルはそのまま高レベルは
高インピーダンス状態で低レベルは大地電位に維
持され、節点2及び節点4には、MOST Q3及
びQ6により支えられたまま、読み出しデータレ
ベルが残ることになる。アーリイ・ライト・サイ
クル及びリード(モデイフアイ)・ライト・サイ
クルでのデータ出力の条件は、アーリイ・ライ
ト・サイクルでのみ活性化されるタイミング
EWOFFを用い、MOST Q19及びQ20によ
りそれぞれ節点1及び節点6を放電するだけで満
たされる。アーリイ・ライト・サイクルでは、
EWOFFがOEより先に上昇し、MOST Q3及び
Q6が非導通になり、節点2及び節点4は高イン
ピーダンス状態の低レベルとなる。これは従来と
同様の動作であるが、節点2及び節点4を
EWOFFにより、大地電位に置くことができる。
即ち、EWOFFは、アーリイ・ライト・サイクル
でのみ上昇するので節点2及び節点4の抑えとし
ても使用できる。リード(モデイフアイ)・ライ
トサイクルではEWOFFは低レベルに保たれ、
OEの活性化により節点2及び節点4に読み出し
データ・レベルが生じる。IO、がそれぞれ高
レベル、低レベルにあるとし、この後逆データが
書き込まれるとすると、IOは高レベルから低レ
ベルに、は低レベルから高レベルに変化する。
MOST Q15は導通から非導通になり、節点1
0はMOST Q15及びQ16を通し、に連が
つて大地電位にあつたのがレベルはそのまま高イ
ンピーダンス状態に移行する。MOST Q13は
非導通から導通になり、MOST Q13及びQ1
4を通して、節点7の高インピーダンス状態で維
持された充電電荷がIOに向かい放電され、節点
7は大地電位となる。従つてMOST Q7は非導
通のまま、MOST Q4も非導通になつて、節点
2及び節点4には読み出しデータレベルがそのま
ま残る。EWOFFは上昇しないため、節点1及び
節点6では読み出し時のレベルが維持され、節点
2及び節点4のレベルは、MOST Q3及びQ6
により支えられる。第5図の出力バツフア回路
は、IO、が介在節点がなく直接入力となり、
且つトランスフアMOSTも含まれず、高速に動
作する。節点2及び節点4の充電も、MOST Q
3及びQ6のそれぞれ1個のMOSTで行なわれ
るため、充電能力も大きくとることができる。(1)
〜(3)についてデータ出力を決める節点2及び節点
4のレベルはすべて高インピーダンス状態でな
く、安定に維持される。即ち、がより
先にリセツトされた場合、及びリード(モデイフ
アイ)・ライト・サイクルでの読み出しデータ出
力は、MOST Q3及びQ6によりそれぞれ節点
2及び節点4のレベルが支えられ、安定となる。
アーリイ・ライト・サイクルでは、節点2及び節
点4がEWOFFにより大地電位に置かれて出力は
高インピーダンス状態になる。
イミング及び主要節点の動作波形を第6図に示
す。外部クロツクが高レベルから低レベル
に移行して活性化されると、まずCASが上昇し、
これに追随してOPが上昇する。節点1、節点6、
節点7及び節点10が充電されるがOPは、デー
タアンプ活性化と同時かあるいは以前に低レベル
に移行し、これらの節点は出力バツフア活性化時
には、高インピーダンス高レベルとなる。データ
アンプが活性化されてIOが高レベル、が低レ
ベルになるとすると、MOST Q15は導通のま
まで、MOST Q13が非導通になる。MOST
Q14及びQ16はゲートがCASで共に導通し
ており、節点10は、MOST Q15及びQ16
を通し、の低レベルへの移行に追随して放電
される。一方、節点7は、MOST Q13が非導
通になるため、充電レベルが高インピーダンス状
態で保たれる。従つて、IOが高レベルのままで
IOが低レベルに移行するのを受けて、MOST Q
4及びQ5は導通のままで、まずMOST Q8が
非導通になり続いて直ちにMOST Q7が非導通
になる。この後、OEが活性化されると、MOST
Q3及びQ6を通して、それぞれ節点2及び節点
4が追随して上昇しようとするが、直列接続の
MOST Q4及びQ5の電流能力を、MOST Q
3より充分大きくとることにより節点2は低レベ
ルに抑えられる。節点4はOEに追随して上昇し、
MOST Q2により節点1が放電されるため、
MOST Q3は非導通になり、節点2は大地電位
となる。節点4及び節点2をプツシユプル
MOST(P・P−OUT)(図示せず)で受けて、
高レベルデータ出力が得られる。前述(1)〜(3)の対
応動作は次のようになる。がより先に
リセツトされる場合について、まずCASが低レ
ベルに移行し、次にYPが上昇する。OEは、第2
図の従来例と同様とは関係なく、に同
期するように構成されるタイミングである。YP
の上昇を受け、節点7及び節点10が共に大地電
位になりMOST Q4及びQ7が非導通になる。
節点1及び節点6のレベルはそのまま高レベルは
高インピーダンス状態で低レベルは大地電位に維
持され、節点2及び節点4には、MOST Q3及
びQ6により支えられたまま、読み出しデータレ
ベルが残ることになる。アーリイ・ライト・サイ
クル及びリード(モデイフアイ)・ライト・サイ
クルでのデータ出力の条件は、アーリイ・ライ
ト・サイクルでのみ活性化されるタイミング
EWOFFを用い、MOST Q19及びQ20によ
りそれぞれ節点1及び節点6を放電するだけで満
たされる。アーリイ・ライト・サイクルでは、
EWOFFがOEより先に上昇し、MOST Q3及び
Q6が非導通になり、節点2及び節点4は高イン
ピーダンス状態の低レベルとなる。これは従来と
同様の動作であるが、節点2及び節点4を
EWOFFにより、大地電位に置くことができる。
即ち、EWOFFは、アーリイ・ライト・サイクル
でのみ上昇するので節点2及び節点4の抑えとし
ても使用できる。リード(モデイフアイ)・ライ
トサイクルではEWOFFは低レベルに保たれ、
OEの活性化により節点2及び節点4に読み出し
データ・レベルが生じる。IO、がそれぞれ高
レベル、低レベルにあるとし、この後逆データが
書き込まれるとすると、IOは高レベルから低レ
ベルに、は低レベルから高レベルに変化する。
MOST Q15は導通から非導通になり、節点1
0はMOST Q15及びQ16を通し、に連が
つて大地電位にあつたのがレベルはそのまま高イ
ンピーダンス状態に移行する。MOST Q13は
非導通から導通になり、MOST Q13及びQ1
4を通して、節点7の高インピーダンス状態で維
持された充電電荷がIOに向かい放電され、節点
7は大地電位となる。従つてMOST Q7は非導
通のまま、MOST Q4も非導通になつて、節点
2及び節点4には読み出しデータレベルがそのま
ま残る。EWOFFは上昇しないため、節点1及び
節点6では読み出し時のレベルが維持され、節点
2及び節点4のレベルは、MOST Q3及びQ6
により支えられる。第5図の出力バツフア回路
は、IO、が介在節点がなく直接入力となり、
且つトランスフアMOSTも含まれず、高速に動
作する。節点2及び節点4の充電も、MOST Q
3及びQ6のそれぞれ1個のMOSTで行なわれ
るため、充電能力も大きくとることができる。(1)
〜(3)についてデータ出力を決める節点2及び節点
4のレベルはすべて高インピーダンス状態でな
く、安定に維持される。即ち、がより
先にリセツトされた場合、及びリード(モデイフ
アイ)・ライト・サイクルでの読み出しデータ出
力は、MOST Q3及びQ6によりそれぞれ節点
2及び節点4のレベルが支えられ、安定となる。
アーリイ・ライト・サイクルでは、節点2及び節
点4がEWOFFにより大地電位に置かれて出力は
高インピーダンス状態になる。
本発明を用いた具体的な実施例を第7図1〜3
に示す。第7図1は、第5図に示す本発明の基本
回路を具体化したものであり、第7図2はアーリ
イ・ライト・サイクルでのみ活性化されるタイミ
ングEWOFFの発生回路及びが高レベル即ち
非活性の期間、出力即ちDATA OUTを高イン
ピーダンス状態にするタイミングCASOFFの発
生回路を示し、第7図3はとは切り離され
て、に同期して動作し、がより先
にリセツトされても、高レベルを維持し、
がリセツトされてから低レベルに移行する出力バ
ツフア活性化タイミングOEの発生回路である。
CASが低レベルに移行して活性期間に入ると、
まず、CASが上昇し、これに追随して、節点2、
節点8及び節点10が上昇し、出力バツフア回路
のプリチヤージ動作が行なわれる。データ入出力
バスIO、に選択メモリセルの読み出しデータ
があらわれてから、DEを上昇させると、データ
アンプが活性化され、IO、の一方がタイミン
グIOPによるプリチヤージ・レベルのまま、他方
は大地電位に移行する。同時に、節点1が放電さ
れて大地電位になり、節点2、節点8及び節点1
0は高インピーダンス状態のプリチヤージ・レベ
ルとなる。IOが高レベル、が低レベルの場合
を考えると、MOST Q20が導通し、MOST
Q20及びQ22を通して直ちに、節点8が放電
され、大地電位に移行する。一方、MOST Q2
3は非導通になり、節点10のレベルはそのまま
維持される。DEの上昇を受けて第7図(3)の回路
により、OEが上昇すると、MOST Q10及び
Q15を通して、それぞれ節点3及び節点4が追
随しようとするが、MOST Q16及びQ17は
導通しており、この2個の直列MOSTの電流能
力をMOST Q15より充分大きくすることによ
り、節点4は低レベルに維時される。MOST Q
11及びQ12は非導通で、節点3はOEに追随
して上昇し、MOST Q14及びQ17Aによ
り、節点4は大地電位になる。このようにして、
DATA OUTに高レベル読出しデータ出力が得
られる。この後、がより先に、リセツ
トされると、第7図1の回路で、まずCASが低
レベルに移行し、MOST Q22及びQ25が非
導通になつて、IOと節点10及びと節点8が
切り離される。次にYPが上昇し、節点8及び節
点10が大地電位に移行して、MOST Q11及
びQ16が非導通になり、節点3及び節点4のレ
ベルはIO、とは切り離され、そのまま残され
る。節点3及び節点4Pのレベルもそのまま維持
され、MOST Q10及びQ15により、節点3
及び節点4のレベルが支えられて、読み出しデー
タ出力が安定に保たれる。アーリイ・ライト・サ
イクルでは、書き込みタイミングクロツクW1
が、OEより充分前に上昇し、第7図2の回路で、
節点14を大地電位にしてMOST Q43及びQ
45は非導通になり、EWOFFがW1を受け
MOST Q36及びQ44を通して上昇する。第
7図1で節点1、節点2、節点3P及び節点4P
が放電され、出力バツフアのプリチヤージ電荷が
すべて放電されると共に、節点3及び節点4もそ
れぞれMOST Q28及びQ30により大地電位
に置かれる。後でOEが上昇しても、MOST Q
10及びQ15は非導通であるから、節点3及び
節点4には影響しない。従つて、出力は高インピ
ーダンス状態となり、EWOFFはがリセツト
されるまで高レベルにあるので、サイクルを通し
て安定に維持される。リード(モデイフアイ)・
ライト・サイクルではW1はOEより遅れて上昇
し、第7図2でMOST Q36が非導通になり節
点12は上昇せず、EWOFFは低レベルに保たれ
る。第7図1では出力に読み出しデータが生じて
から、IO、に新しい書き込みが入ることにな
る。IOが高レベル、が低レベルで高レベル読
み出しデータがあらわれてから、逆データの書き
込みが行なわれる場合を考えると、IOが高レベ
ルから低レベル、が低レベルから高レベルに
変化する。MOST Q20は導通から非導通にな
り、節点8は高インピーダンス状態の低レベルに
なる。一方、MOST Q23は、非導通から導通
になり、節点10はMOST Q23及びQ25を
通してIOに、充電電荷が放電され、大地電位に
移行する。従つて、MOST Q11及びQ16共
に非導通となり、節点3及び節点4のレベルはそ
のまま残される。節点3P及び節点4Pのレベル
も変化なくMOST Q10及びQ15により、節
点3及び節点4のレベルが支えられ、読み出しデ
ータ出力は安定に維持される。
に示す。第7図1は、第5図に示す本発明の基本
回路を具体化したものであり、第7図2はアーリ
イ・ライト・サイクルでのみ活性化されるタイミ
ングEWOFFの発生回路及びが高レベル即ち
非活性の期間、出力即ちDATA OUTを高イン
ピーダンス状態にするタイミングCASOFFの発
生回路を示し、第7図3はとは切り離され
て、に同期して動作し、がより先
にリセツトされても、高レベルを維持し、
がリセツトされてから低レベルに移行する出力バ
ツフア活性化タイミングOEの発生回路である。
CASが低レベルに移行して活性期間に入ると、
まず、CASが上昇し、これに追随して、節点2、
節点8及び節点10が上昇し、出力バツフア回路
のプリチヤージ動作が行なわれる。データ入出力
バスIO、に選択メモリセルの読み出しデータ
があらわれてから、DEを上昇させると、データ
アンプが活性化され、IO、の一方がタイミン
グIOPによるプリチヤージ・レベルのまま、他方
は大地電位に移行する。同時に、節点1が放電さ
れて大地電位になり、節点2、節点8及び節点1
0は高インピーダンス状態のプリチヤージ・レベ
ルとなる。IOが高レベル、が低レベルの場合
を考えると、MOST Q20が導通し、MOST
Q20及びQ22を通して直ちに、節点8が放電
され、大地電位に移行する。一方、MOST Q2
3は非導通になり、節点10のレベルはそのまま
維持される。DEの上昇を受けて第7図(3)の回路
により、OEが上昇すると、MOST Q10及び
Q15を通して、それぞれ節点3及び節点4が追
随しようとするが、MOST Q16及びQ17は
導通しており、この2個の直列MOSTの電流能
力をMOST Q15より充分大きくすることによ
り、節点4は低レベルに維時される。MOST Q
11及びQ12は非導通で、節点3はOEに追随
して上昇し、MOST Q14及びQ17Aによ
り、節点4は大地電位になる。このようにして、
DATA OUTに高レベル読出しデータ出力が得
られる。この後、がより先に、リセツ
トされると、第7図1の回路で、まずCASが低
レベルに移行し、MOST Q22及びQ25が非
導通になつて、IOと節点10及びと節点8が
切り離される。次にYPが上昇し、節点8及び節
点10が大地電位に移行して、MOST Q11及
びQ16が非導通になり、節点3及び節点4のレ
ベルはIO、とは切り離され、そのまま残され
る。節点3及び節点4Pのレベルもそのまま維持
され、MOST Q10及びQ15により、節点3
及び節点4のレベルが支えられて、読み出しデー
タ出力が安定に保たれる。アーリイ・ライト・サ
イクルでは、書き込みタイミングクロツクW1
が、OEより充分前に上昇し、第7図2の回路で、
節点14を大地電位にしてMOST Q43及びQ
45は非導通になり、EWOFFがW1を受け
MOST Q36及びQ44を通して上昇する。第
7図1で節点1、節点2、節点3P及び節点4P
が放電され、出力バツフアのプリチヤージ電荷が
すべて放電されると共に、節点3及び節点4もそ
れぞれMOST Q28及びQ30により大地電位
に置かれる。後でOEが上昇しても、MOST Q
10及びQ15は非導通であるから、節点3及び
節点4には影響しない。従つて、出力は高インピ
ーダンス状態となり、EWOFFはがリセツト
されるまで高レベルにあるので、サイクルを通し
て安定に維持される。リード(モデイフアイ)・
ライト・サイクルではW1はOEより遅れて上昇
し、第7図2でMOST Q36が非導通になり節
点12は上昇せず、EWOFFは低レベルに保たれ
る。第7図1では出力に読み出しデータが生じて
から、IO、に新しい書き込みが入ることにな
る。IOが高レベル、が低レベルで高レベル読
み出しデータがあらわれてから、逆データの書き
込みが行なわれる場合を考えると、IOが高レベ
ルから低レベル、が低レベルから高レベルに
変化する。MOST Q20は導通から非導通にな
り、節点8は高インピーダンス状態の低レベルに
なる。一方、MOST Q23は、非導通から導通
になり、節点10はMOST Q23及びQ25を
通してIOに、充電電荷が放電され、大地電位に
移行する。従つて、MOST Q11及びQ16共
に非導通となり、節点3及び節点4のレベルはそ
のまま残される。節点3P及び節点4Pのレベル
も変化なくMOST Q10及びQ15により、節
点3及び節点4のレベルが支えられ、読み出しデ
ータ出力は安定に維持される。
以上述べたように本発明によると、入出力バス
との間に介在節点がなく、入出力バスを直接受
け、及び、トランスフアMOSTを必要としない
ことから、高速に動作し、且つリード・サイク
ル、アーリイ・ライト・サイクル及びリード(モ
デイフアイ)・ライト・サイクルにおける出力状
態の維持について、出力段プツシユ・プル
MOSTのゲート節点を高インピーダンス状態で
なく、電気的にレベルを保証することにより安定
化できるという出力バツフア回路が得られ、2ク
ロツク系MOSダイナミツクRAMの性能向上に有
効である。
との間に介在節点がなく、入出力バスを直接受
け、及び、トランスフアMOSTを必要としない
ことから、高速に動作し、且つリード・サイク
ル、アーリイ・ライト・サイクル及びリード(モ
デイフアイ)・ライト・サイクルにおける出力状
態の維持について、出力段プツシユ・プル
MOSTのゲート節点を高インピーダンス状態で
なく、電気的にレベルを保証することにより安定
化できるという出力バツフア回路が得られ、2ク
ロツク系MOSダイナミツクRAMの性能向上に有
効である。
第1図A〜Cは、2クロツク系MOSダイナミ
ツクRAMにおいてデータ出力に要求される条件
を示す図、第2図は、2クロツク系MOSダイナ
ミツクRAMの出力バツフア回路の第1の従来例
を示す図、第3図は同じく第2の従来例を示す
図、第4図は同じく第3の従来例を示す図、第5
図は本発明による出力バツフア回路の基本構成を
示す図、第6図は第5図のクロツクタイミング及
び主要節点の波形を示す図、第7図1〜3は本発
明の具体的な実施例を示すそれぞれ回路図であ
る。 Q1〜Q62……MOSTトランジスタ、1〜
18,3P,4P……節点、S・A……センスア
ンプ、D・A……データアンプ。
ツクRAMにおいてデータ出力に要求される条件
を示す図、第2図は、2クロツク系MOSダイナ
ミツクRAMの出力バツフア回路の第1の従来例
を示す図、第3図は同じく第2の従来例を示す
図、第4図は同じく第3の従来例を示す図、第5
図は本発明による出力バツフア回路の基本構成を
示す図、第6図は第5図のクロツクタイミング及
び主要節点の波形を示す図、第7図1〜3は本発
明の具体的な実施例を示すそれぞれ回路図であ
る。 Q1〜Q62……MOSTトランジスタ、1〜
18,3P,4P……節点、S・A……センスア
ンプ、D・A……データアンプ。
Claims (1)
- 1 ゲートが真入力節点に接続される第1の絶縁
ゲート型電界効果トランジスタと、前記第1のト
ランジスタと並列に接続されゲートが補入力節点
に接続される第2の絶縁ゲート型電界効果トラン
ジスタと、第1節点と前記第1のトランジスタと
の間に接続されゲートが第2節点に接続される第
3の絶縁ゲート型電界効果トランジスタと、第3
節点と前記第2のトランジスタとの間に接続され
ゲートが第4節点に接続される第4の絶縁ゲート
型電界効果トランジスタと、前記第1節点を駆動
する第1の駆動手段と、前記第3節点を駆動する
第2の駆動手段と、前記真入力節点と前記第2節
点との間に接続されゲートが補入力節点に接続さ
れる第5の絶縁ゲート型電界効果トランジスタ
と、前記補入力節点と前記第4接点との間に接続
されゲートが真入力節点に接続される第6の絶縁
ゲート型電界効果トランジスタと、前記第2節点
をプリチヤージする第1の充電手段と、前記第4
節点をプリチヤージする第2の充電手段とを含
み、前記第3節点に真出力、第1節点に補出力を
発生することを特徴とする半導体回路。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP437780A JPS56101694A (en) | 1980-01-18 | 1980-01-18 | Semiconductor circuit |
GB8101350A GB2071445B (en) | 1980-01-18 | 1981-01-16 | Output circuits |
DE8181100358T DE3171161D1 (en) | 1980-01-18 | 1981-01-19 | Output circuit |
EP81100358A EP0033861B1 (en) | 1980-01-18 | 1981-01-19 | Output circuit |
US06/225,600 US4397000A (en) | 1980-01-18 | 1981-01-19 | Output circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP437780A JPS56101694A (en) | 1980-01-18 | 1980-01-18 | Semiconductor circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56101694A JPS56101694A (en) | 1981-08-14 |
JPH0241109B2 true JPH0241109B2 (ja) | 1990-09-14 |
Family
ID=11582665
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP437780A Granted JPS56101694A (en) | 1980-01-18 | 1980-01-18 | Semiconductor circuit |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4397000A (ja) |
EP (1) | EP0033861B1 (ja) |
JP (1) | JPS56101694A (ja) |
DE (1) | DE3171161D1 (ja) |
GB (1) | GB2071445B (ja) |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57199330A (en) * | 1981-06-01 | 1982-12-07 | Mitsubishi Electric Corp | Mos output driving circuit |
JPS58128089A (ja) * | 1981-12-26 | 1983-07-30 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS58133024A (ja) * | 1982-02-03 | 1983-08-08 | Nec Corp | バツフア回路 |
JPS5942690A (ja) * | 1982-09-03 | 1984-03-09 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
DE3243496A1 (de) * | 1982-11-24 | 1984-05-24 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Integrierte halbleiterschaltung mit einem dynamischen schreib-lese-speicher |
EP0125699A3 (en) * | 1983-05-17 | 1986-10-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Data output circuit for dynamic memory device |
JPS60115092A (ja) * | 1983-11-28 | 1985-06-21 | Nec Corp | 半導体記憶回路 |
JPS60117492A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-24 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS60119698A (ja) * | 1983-12-01 | 1985-06-27 | Fujitsu Ltd | 半導体メモリ |
JPS61110399A (ja) * | 1984-11-05 | 1986-05-28 | Toshiba Corp | ダイナミツクメモリのデ−タ出力回路 |
US4952826A (en) * | 1985-07-05 | 1990-08-28 | Nec Corporation | Signal input circuit utilizing flip-flop circuit |
JPS62270098A (ja) * | 1986-05-19 | 1987-11-24 | Toshiba Corp | 半導体センス回路 |
JPH0810550B2 (ja) * | 1986-09-09 | 1996-01-31 | 日本電気株式会社 | バツフア回路 |
NL8800872A (nl) * | 1988-04-06 | 1989-11-01 | Philips Nv | Geintegreerde schakeling. |
JPH03219495A (ja) * | 1990-01-24 | 1991-09-26 | Sony Corp | 出力回路 |
US5122985A (en) * | 1990-04-16 | 1992-06-16 | Giovani Santin | Circuit and method for erasing eeprom memory arrays to prevent over-erased cells |
DE69015371T2 (de) * | 1990-05-17 | 1995-07-13 | Ibm | Lese-/schreibe-/wiederherstellungsschaltung für speichermatrizen. |
KR950006352B1 (ko) * | 1992-12-31 | 1995-06-14 | 삼성전자주식회사 | 정류성 전송 게이트와 그 응용회로 |
US5469385A (en) * | 1993-05-11 | 1995-11-21 | Texas Instruments Incorporated | Output buffer with boost from voltage supplies |
US5914627A (en) * | 1997-10-09 | 1999-06-22 | Exar Corporation | Isolation circuit for I/O terminal |
US5905684A (en) * | 1997-11-03 | 1999-05-18 | Arm Limited | Memory bit line output buffer |
RS54024B1 (en) | 2012-10-12 | 2015-10-30 | Omya International Ag | GASTRORETENCY FORMULATION OF MEDICINES AND SYSTEMS FOR DELIVERY AND METHODS OF THEIR PREPARATION USING FUNCTIONALIZED CALCIUM CARBONATE |
CN107957963B (zh) * | 2016-10-18 | 2021-04-20 | 佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司 | Io输出端口扩展电路和家用电器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55113192A (en) * | 1979-02-23 | 1980-09-01 | Hitachi Ltd | Dynamic mis amplifier driver circuit |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3678473A (en) * | 1970-06-04 | 1972-07-18 | Shell Oil Co | Read-write circuit for capacitive memory arrays |
US3959781A (en) * | 1974-11-04 | 1976-05-25 | Intel Corporation | Semiconductor random access memory |
US3938109A (en) * | 1975-02-19 | 1976-02-10 | Intel Corporation | High speed ECL compatible MOS-Ram |
US3993917A (en) * | 1975-05-29 | 1976-11-23 | International Business Machines Corporation | Parameter independent FET sense amplifier |
US4045783A (en) * | 1976-04-12 | 1977-08-30 | Standard Microsystems Corporation | Mos one transistor cell ram having divided and balanced bit lines, coupled by regenerative flip-flop sense amplifiers, and balanced access circuitry |
US4144590A (en) * | 1976-12-29 | 1979-03-13 | Texas Instruments Incorporated | Intermediate output buffer circuit for semiconductor memory device |
JPS538528A (en) * | 1976-07-12 | 1978-01-26 | Nec Corp | Memory circuit |
JPS6012717B2 (ja) * | 1976-09-10 | 1985-04-03 | 日本電気株式会社 | 絶縁ゲ−ト型電界効果トランジスタを用いた半導体回路 |
JPS53134337A (en) * | 1977-03-25 | 1978-11-22 | Hitachi Ltd | Sense circuit |
JPS5625290A (en) * | 1979-08-07 | 1981-03-11 | Nec Corp | Semiconductor circuit |
-
1980
- 1980-01-18 JP JP437780A patent/JPS56101694A/ja active Granted
-
1981
- 1981-01-16 GB GB8101350A patent/GB2071445B/en not_active Expired
- 1981-01-19 DE DE8181100358T patent/DE3171161D1/de not_active Expired
- 1981-01-19 EP EP81100358A patent/EP0033861B1/en not_active Expired
- 1981-01-19 US US06/225,600 patent/US4397000A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55113192A (en) * | 1979-02-23 | 1980-09-01 | Hitachi Ltd | Dynamic mis amplifier driver circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56101694A (en) | 1981-08-14 |
US4397000A (en) | 1983-08-02 |
EP0033861B1 (en) | 1985-07-03 |
EP0033861A3 (en) | 1981-08-26 |
EP0033861A2 (en) | 1981-08-19 |
DE3171161D1 (en) | 1985-08-08 |
GB2071445A (en) | 1981-09-16 |
GB2071445B (en) | 1984-05-23 |
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