JPH0241046B2 - - Google Patents

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JPH0241046B2
JPH0241046B2 JP56060130A JP6013081A JPH0241046B2 JP H0241046 B2 JPH0241046 B2 JP H0241046B2 JP 56060130 A JP56060130 A JP 56060130A JP 6013081 A JP6013081 A JP 6013081A JP H0241046 B2 JPH0241046 B2 JP H0241046B2
Authority
JP
Japan
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input
signal
register
input signal
data
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP56060130A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57174722A (en
Inventor
Mutsuo Sugawara
Yukiharu Takahashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP56060130A priority Critical patent/JPS57174722A/ja
Publication of JPS57174722A publication Critical patent/JPS57174722A/ja
Publication of JPH0241046B2 publication Critical patent/JPH0241046B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/02Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
    • G01R29/027Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values
    • G01R29/0273Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values the pulse characteristic being duration, i.e. width (indicating that frequency of pulses is above or below a certain limit)

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は時間測定装置としての機能を有し、1
チツプマイクロコンピユータとして適するデータ
処理装置に関する。
第1図は一つのオート・セーブ・レジスタを用
いて、イベント(事象)発生時刻を検出する従来
のブロツク図を示し、第2図はその動作を説明す
るタイミングチヤートを示す。ここでCKはクロ
ツクパルスで、これは例えば一定繰返し周期が
1MHzである。フリーランカウンタ(タイマ)1
は、上記クロツクパルスが入力される毎に記憶内
容を+1(インクリメント)するnビツトカウン
タである。OVFはカウンタ1がオーバーフロー
した時出力されるパルス信号である。INはイベ
ント時刻測定対象の入力信号である。オート・セ
ーブ・レジスタ2は入力INの例えば立上り変化
時(IN1,IN2,…)にカウンタ1の内容(n1
n2,…)を取込む(ラツチする)nビツトのレジ
スタである。バツフア3,4は、レジスタ2の記
憶内容ASR、カウンタ1の記憶内容CTRを、リ
ードコントロール信号RD1,RD2でデータバ
スbusに出力するためのゲート回路である。演算
処理部5はCPUに相当する部分で、図示しない
記憶部等と共に1チツプマイクロコンピユータ6
が形成されている。
第1図の構成によれば、第2図の動作説明図か
らも分るように演算処理部5は、プログラムでイ
ベント発生(INの立上り)時点のCTRの内容
(時刻)を、あとでゆつくりレジスタ2から取出
して上記イベント発生時刻を精度良く知ることが
できる。また演算処理部5は、各イベント発生時
刻の差を調べることにより、信号INの繰返し周
期、周波数の測定も行なえる。また上記信号
OVF,INはCPU5の割込み入力として扱わられ
ることにより、CPU5が信号CTR及びINの状態
をプログラムによつて常時ながめる必要性を省い
ている。
上記第1図の構成では、入力INの立上りイベ
ント発生時刻は調べられるが、立下りイベント発
生時刻は調べられず、従つて例えば入力INのパ
ルス幅の測定は行なえない。そこでこの測定が行
なえるように第1図の構成の一部を変形し、IN
のパルス幅を測定できるようにした構成を第3図
に、その動作を示すタイミングチヤートを第4図
に示す。ここで11はオート・セーブ・レジスタ
2のロード信号L1の立上りによつて反転するフ
リツプフロツプ、12はこのフリツプフロツプ1
1の出力FFを一定時間tdだけ遅延させた信号FFd
を得る遅延回路、13は排他的論理和ゲートであ
る。上記信号L1,ASR,FF等は第1図のCPU5
に入力されるが、カウンタ1等と同様に図示を省
略してある。
第3図の構成では、第4図の動作説明図からも
分るように信号L1はフリツプフロツプ11、遅
延回路12、ゲート13の働きにより、入力IN
の立上り時及び立下り時に発生するパルス信号で
ある。即ちINの立上りつまり“1”とFFd
“0”によりL1が立上り、遅延回路12の遅延時
間td後L1が立下る。またINの立下りつまり“0”
とFFdの“1”によりL1が立上り、上記td後L
1が立下るものである。この信号L1によりCPU
5は入力INの立上り、立下り発生を知り、また
フリツプフロツプ出力FFを読取ることによりIN
の立上りか立下りかが調べられる。従つてこれら
の情報とレジスタ2の記憶データとにより、入力
INのパルス幅測定が可能となる。
ところで第1図において、信号IN1のパルス発
生からCPU5がレジスタ2のデータを読取るま
での時間Tは、処理プログラムの内容及びその動
作状態によつて変化する。従つて上記時間Tより
も短いINのパルス幅測定は第3図の構成ではで
きない。更にこの時間Tを小さくすることは、一
般に処理プログラムに制限を与えることになり、
イベント発生時刻をイベント発生直後に読取る必
要性をゆるめている本来のオート・セーブ・レジ
スタ2の効果が小さくなつてしまう。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、一
つの入力端子の信号の立上り時刻と立上り時刻を
それぞれ記憶する二つの記憶部を設けることによ
り、従来のイベント発生時点の測定機能を損うこ
となく、短い入力パルス幅の測定も可能とし、ま
た1チツプマイクロコンピユータとして適し、ま
た各記憶部に少々の切換え手段を付加するだけ
で、入力パルスの論理レベルの変化の各種時間間
隔がはかれるデータ処理装置を提供しようとする
ものである。
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明す
る。まず同実施例の全体構成の説明の前に、同構
成の要部を第5図により説明する。なお第6図は
その動作を示すタイミングチヤートであるが、第
5図、第6図は前記従来のものと対応させた場合
の例であるから、対応箇所には同一符号を付して
説明を省略し、特徴とする点を説明する。図中2
,22は前記二つの記憶部としてのオート・セー
ブ・レジスタであり、このレジスタ21は入力端
子21からの信号INをロード信号としてその立
上り時点でカウンタ1の内容CTRをラツチし、
レジスタ22はインバータ22で信号INを反転し
たものをロード信号としてその立上り時点でカウ
ンタ内容CTRをラツチする。バツフア41,42
リード・コントロール信号RD11,RD12が高レベ
ルのとき、レジスタ内容ASR1,ASR2をデー
タバスusに出力する。ここで割込要求INTはイ
ンバータ22の出力端からCPU5に出力される。
しかしてオート・セーブ・レジスタ21は、入
力INの立上り時点におけるカウンタ1の内容n1
をラツチし、レジスタ22はインバータ22によ
り、入力INの立下り時点におけるカウンタの内
容n2をラツチする。CPU5は、信号INTの立上
り時に、例えばこの信号を割込み入力とすること
により、二つのレジスタ21,22がデータを取込
んだことを検知して、これら各レジスタの内容
ASR1,ASR2を読込み、これらの値を演算す
ることにより入力INのパルス幅を知ることがで
きる。カウンタ1のオーバーフロー信号OVFは
CPU5に出力され、入力INの立上り、立下り測
定の間にカウンタ1がオーバーフローし回数を
CPU5に知らせるものである。
第5図の構成によれば、従来のオート・セー
ブ・レジスタ機能(ゆつくりとイベント発生時点
を測定する)を損わずに、狭いパルス幅も測定可
能である。また入力ピンとして従来の端子21を
そのまま使用すればよく、入力ピンの増加がなく
て1チツプマイクロコンピユータに適するもので
ある。
第7図は本発明の実施例の全体的構成図で、第
5図の機能に他の機能を追加している。ここでモ
ードレジスタ31はライトコントロール信号WD
が高レベルの時バスbusの内容をラツチするもの
で、その出力であるモード信号MD1,MD2は
排他的論理和ゲート32,33の各入力となる。
上記信号MD1は入力INを反転させるかさせな
いかの指定を行なうためのもので、これによりレ
ジスタ21,22のラツチ動作が決められる。例え
ばMD1が“0”の時、レジスタ21は入力INの
立上りでラツチし、レジスタ22は入力INの立下
りでラツチする。MD1が“1”の時、レジスタ
1は入力INの立下りでラツチし、レジスタ22
は入力INの立上りでラツチする。また、上記信
号MD2はレジスタ21にデータロード時とレジ
スタ22にデータロード時のどちらで割込み要求
を出すかの指定を行なうためのものである。その
具体的動作は第8図の図表に示される。この図で
“L”はラツチ、つまりカウンタ1からレジスタ
1または22に時刻データがとり込まれることを
意味し、“−”はレジスタ21または22の保持デ
ータに変化が生じないことを意味し、また入力
INの欄で上向きの矢印は立上り波形を、下向き
の矢印は立下り波形を意味し、また信号INTの
欄で、上向きの矢印は割込し要求をすることを意
味し、下向きの矢印は何もしないことを意味する
ものである。
以上の事項をふまえて、第7図では次のことが
行なえる。
入力端子21,排他的論理和ゲート32を介
してL1に正転信号が与えられると、該信号の
立上りから立下りまで、つまりパルス幅が測定
できる。このことは第5図の場合と同様であ
る。
次に入力端子21,ゲート32を介してL1
に反転信号が与えられると、上記正転信号の先
行パルスの立下りから後続パルスの立上りまで
の間隔が測定できる。このことは、レジスタ2
,22がそれぞれL1,L2の立上りでラツチする
ものだから当然である。
次にL1の正転信号が立上つて後、ゲート3
3の割込みで上記正転信号をゲート32で反転
させると、上記正転信号の先行パルスの立上り
から後続パルスの立上りまでの間隔が測定でき
る。
次にL1の正転信号を、ゲート32であらか
じめ反転状態にしておいて、上記正転信号の先
行パルスが立下つてから、ゲート33の割込み
で上記反転状態をゲート32で再度反転すると
(正転にもどる)、上記正転信号の先行パルスの
立下りから後続パルスの立下りまでの間隔が測
定できる。
なお本発明は実施例のみに限られず、種々の応
用が可能である。例えばレジスタ21,22に入力
INの立上りでラツチするものを用いたが、立下
りでラツチするものを用いてもよい。
以上説明した如く本発明によれば、従来のイベ
ント発生時点の測定機能を損うことなく短い入力
パルス幅の測定が可能であり、また入力ピンの増
加もないから1チツプマイクロコンピユーに適
し、また切換手段により記憶部の選択、割込要求
時点の選択が可能であり、また記憶部に少々の切
換え手段等を付加するだけで、入力パルスの論理
レベルの各種時間間隔がはかれる等の利点を有し
たデータ処理装置が提供できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はイベント発生時点検出を行なう従来の
データ処理装置の構成図、第2図は同構成の作用
を示すタイミングチヤート、第3図は第1図の変
形例を示す構成図、第4図は同構成の作用を示す
タイミングチヤート、第5図は本発明の一実施例
の要部の構成説明図、第6図は同構成の作用を示
すタイミングチヤート、第7図は本発明の上記実
施例の全体的構成図、第8図は同構成の作用を示
す図表である。 1…カウンタ(タイマ)、21,22…オート・
セーブ・レジスタ(記憶部)、3,41,42…バ
ツフア、5…演算処理部、6…1チツプマイクロ
コンピユータ、21…入力端子、22…インバー
タ、31…モードレジスタ、32,33…排他的
論理和ゲート(切換え手段)。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 外部から入力信号を取込む入力端子と、前記
    入力信号が第1の論理レベル変化をした時の時刻
    データを蓄える第1の記憶部と、前記入力信号が
    第2の論理レベル変化をした時の時刻データを蓄
    える第2の記憶部と、前記入力信号が第1の論理
    レベル変化をしたことを前記第1の記憶部へ知ら
    せる第1の手段と、前記入力信号が第2の論理レ
    ベル変化をしたことを前記第2の記憶部へ知らせ
    る第2の手段と、指定の記憶部に時刻データが格
    納されたら割込み要求を受け、前記第1,第2の
    記憶部のデータにより演算処理を行なう演算処理
    部と、前記入力端子から取込まれた入力信号を反
    転するか否かを決める第1の切換え手段と、前記
    第1の記憶部にデータをロードした時と前記第2
    の記憶部にデータをロードした時とのいずれで割
    込み要求を出すかを決める第2の切換え手段とを
    具備したことを特徴とするデータ処理装置。
JP56060130A 1981-04-21 1981-04-21 Data processor Granted JPS57174722A (en)

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JPS57174722A JPS57174722A (en) 1982-10-27
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