JPH0238741U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0238741U JPH0238741U JP11761888U JP11761888U JPH0238741U JP H0238741 U JPH0238741 U JP H0238741U JP 11761888 U JP11761888 U JP 11761888U JP 11761888 U JP11761888 U JP 11761888U JP H0238741 U JPH0238741 U JP H0238741U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- impurity concentration
- inversion
- semiconductor substrate
- semiconductor device
- explanatory diagram
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 6
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- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Local Oxidation Of Silicon (AREA)
- Element Separation (AREA)
Description
第1図は本考案の一実施例の構成説明図、第2
図は本考案の一実施例の製造工程説明図、第3図
は本考案の他の実施例の構成説明図、第4図は本
考案の他の実施例の製造工程説明図、第5図は寄
生チヤネル反転層の説明図、第6図は従来例の構
成説明図、第7図は従来例の製造工程説明図、第
8図は接合耐圧と寄生トランジスタのしきい値電
圧と反転防止層の不純物濃度の関係図を示す。 1……半導体基板、2……ソース領域、3……
ドレン領域、4……ゲート酸化膜、5……ゲート
電極、5′……ポリシリコン層、6……フイール
ド酸化膜、7……反転層、8,8′,80……反
転防止層。
図は本考案の一実施例の製造工程説明図、第3図
は本考案の他の実施例の構成説明図、第4図は本
考案の他の実施例の製造工程説明図、第5図は寄
生チヤネル反転層の説明図、第6図は従来例の構
成説明図、第7図は従来例の製造工程説明図、第
8図は接合耐圧と寄生トランジスタのしきい値電
圧と反転防止層の不純物濃度の関係図を示す。 1……半導体基板、2……ソース領域、3……
ドレン領域、4……ゲート酸化膜、5……ゲート
電極、5′……ポリシリコン層、6……フイール
ド酸化膜、7……反転層、8,8′,80……反
転防止層。
Claims (1)
- 半導体素子分離用絶縁膜の直下で、かつ半導体
基板中に該半導体基板よりも不純物濃度が高い反
転防止層を有する半導体装置において、高不純物
濃度の素子領域近傍で該反転防止層の不純物濃度
が低く、高不純物濃度の素子領域から離れた領域
で該反転防止層の不純物濃度が高くなるように構
成することを特徴とするMOS型半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11761888U JPH0238741U (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11761888U JPH0238741U (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0238741U true JPH0238741U (ja) | 1990-03-15 |
Family
ID=31361236
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11761888U Pending JPH0238741U (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0238741U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014045219A (ja) * | 2007-06-04 | 2014-03-13 | Sony Corp | 固体撮像装置 |
-
1988
- 1988-09-07 JP JP11761888U patent/JPH0238741U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014045219A (ja) * | 2007-06-04 | 2014-03-13 | Sony Corp | 固体撮像装置 |