JPH02306592A - 薄膜el素子の製造法 - Google Patents
薄膜el素子の製造法Info
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- JPH02306592A JPH02306592A JP1128418A JP12841889A JPH02306592A JP H02306592 A JPH02306592 A JP H02306592A JP 1128418 A JP1128418 A JP 1128418A JP 12841889 A JP12841889 A JP 12841889A JP H02306592 A JPH02306592 A JP H02306592A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、薄膜ET、素子の製造法に関する。
従来、透明導電膜、必要に応じ第1の絶縁層。
発光層、第2の絶縁層及び導電膜を順次積層してなる薄
膜EL素子において該薄膜F: L素子の発光輝度を向
上させるために通常、その製造工程において、一般的に
は発光層の形成後基板を真空下、500〜600℃で1
〜2時間程度加熱する熱処理が行われている(日経エレ
ク1−ロニクス1979年4月号)。
膜EL素子において該薄膜F: L素子の発光輝度を向
上させるために通常、その製造工程において、一般的に
は発光層の形成後基板を真空下、500〜600℃で1
〜2時間程度加熱する熱処理が行われている(日経エレ
ク1−ロニクス1979年4月号)。
前記従来の薄膜EL素子において発光層としてMnを少
量添加したZ rrs発光層を用いたものであって第1
及び第2の絶縁層を有するものが、現在、最も高い発光
輝度を示すものとされている。
量添加したZ rrs発光層を用いたものであって第1
及び第2の絶縁層を有するものが、現在、最も高い発光
輝度を示すものとされている。
し・かじ、この薄膜E L素子においても、フレーム周
波数が数十Hzである線順次走査による発光時の輝度は
20〜30フートランバートであり、(′:。
波数が数十Hzである線順次走査による発光時の輝度は
20〜30フートランバートであり、(′:。
RT(カソード・レイ・チューブ)などと比へろと実用
的なディスプレイパネルとするには、木だ、発光輝度が
不充分である。
的なディスプレイパネルとするには、木だ、発光輝度が
不充分である。
本発明は、透光性基材上に、透明導電膜、発光層及び導
電膜を順次積層し、これらの層間のうち少なくとも一つ
の層間に絶R層を形成する薄膜EL素子の製造法におい
て、上記発光層を母材物質であるII A族又はJIB
族の元素とVIB族元素(ただし、酸素を除く)とから
構成される化合物であって酸素を含むものからなるター
ゲットを蒸発源として用いて成膜することにより形成す
ることを特徴とする薄膜El、素子の製造法に関する。
電膜を順次積層し、これらの層間のうち少なくとも一つ
の層間に絶R層を形成する薄膜EL素子の製造法におい
て、上記発光層を母材物質であるII A族又はJIB
族の元素とVIB族元素(ただし、酸素を除く)とから
構成される化合物であって酸素を含むものからなるター
ゲットを蒸発源として用いて成膜することにより形成す
ることを特徴とする薄膜El、素子の製造法に関する。
□
上記発光層は、Mn、Tb、Eu、Ce等の遷移金属、
希土類からなる発光性付活元素(発光中心)を含むZn
S、CaS、SrS、Zn5e等の母材物質からなる螢
光体からなり酸素を含むものである。形成方法としては
、電子ビーム蒸着法、抵抗加熱蒸着法、スパッタリング
法等が用いられる。このうち、得られる発光層の結晶性
に優れ、蒸着時の真空度を1.X10−!′〜lXl0
−’と高くできるため不純物の混入を防ぐことができこ
とから電子ビーム蒸着法及び抵抗加熱蒸着法が好ましい
。これらの方法において、ターゲットとしては、上記の
母材物質又は上記の発光中心を添加(トープ)した」1
記母材物質であって、酸素を含むものが使用される。発
光中心を添加(ドープ)していない母材物質をターゲッ
トとして用いるときは、Mn5o4.MnO,MnS、
MnCQ2等の発光性付活元素の化合物を上記ターゲラ
1−とは別に使用する。発光中心を添加(ドープ)した
母材物質を用いるとき発光中心は母料物質に対して0゜
00 ]、−10重量%添加されているのが好ましい。
希土類からなる発光性付活元素(発光中心)を含むZn
S、CaS、SrS、Zn5e等の母材物質からなる螢
光体からなり酸素を含むものである。形成方法としては
、電子ビーム蒸着法、抵抗加熱蒸着法、スパッタリング
法等が用いられる。このうち、得られる発光層の結晶性
に優れ、蒸着時の真空度を1.X10−!′〜lXl0
−’と高くできるため不純物の混入を防ぐことができこ
とから電子ビーム蒸着法及び抵抗加熱蒸着法が好ましい
。これらの方法において、ターゲットとしては、上記の
母材物質又は上記の発光中心を添加(トープ)した」1
記母材物質であって、酸素を含むものが使用される。発
光中心を添加(ドープ)していない母材物質をターゲッ
トとして用いるときは、Mn5o4.MnO,MnS、
MnCQ2等の発光性付活元素の化合物を上記ターゲラ
1−とは別に使用する。発光中心を添加(ドープ)した
母材物質を用いるとき発光中心は母料物質に対して0゜
00 ]、−10重量%添加されているのが好ましい。
上記において酸素を含むとは、母材物質の71〜リツク
スに酸素が固溶していること及び/又は酸素が母材物質
のマトリックス中のIt A族又はII 13族元素に
結合していることを意味する□、上記ターゲラ1〜中の
酸素含有量は0.91〜10重量%が好ましい。
スに酸素が固溶していること及び/又は酸素が母材物質
のマトリックス中のIt A族又はII 13族元素に
結合していることを意味する□、上記ターゲラ1〜中の
酸素含有量は0.91〜10重量%が好ましい。
このようなターゲットは、−り記した発光中心が添加(
ドープ)されている又はされていない母材物質を酸化処
理することにより作製することかできる。
ドープ)されている又はされていない母材物質を酸化処
理することにより作製することかできる。
酸化処理の方法としては、母材物質を酸素を含む雰囲気
下に100〜800℃、特に好ましくは300〜800
℃で加熱処理する方法、母材物質を酸素を含む雰囲気の
プラズマに曝す方法、母材物質を水蒸気を含む雰囲気下
で30℃以上の温度に加熱する方法などが主な方法とし
てあり、他に、母材物質をオゾン雰囲気下に曝す方法、
母材物質に酸素イオンガンにより酸素を打ち込む方法な
どがある。上記において、酸素を含む雰囲気とは、酸素
を0.05%〜数士容量%、特に好ましくは0.1〜1
0%含む雰囲気であり、他に、Ar。
下に100〜800℃、特に好ましくは300〜800
℃で加熱処理する方法、母材物質を酸素を含む雰囲気の
プラズマに曝す方法、母材物質を水蒸気を含む雰囲気下
で30℃以上の温度に加熱する方法などが主な方法とし
てあり、他に、母材物質をオゾン雰囲気下に曝す方法、
母材物質に酸素イオンガンにより酸素を打ち込む方法な
どがある。上記において、酸素を含む雰囲気とは、酸素
を0.05%〜数士容量%、特に好ましくは0.1〜1
0%含む雰囲気であり、他に、Ar。
N2等の不活性ガスを含むものが好ましい。
前記酸化処理は、酸化物、炭酸塩及び硫酸塩からなる群
から選ばれる少なくとも一つの化合物並びに上記母体物
質を含む成型体を焼結することによっても行うことがで
きる。
から選ばれる少なくとも一つの化合物並びに上記母体物
質を含む成型体を焼結することによっても行うことがで
きる。
上記した酸化物、炭酸塩又は硫酸塩としては、ZnO,
ZnCO3t Z n S O4、M n○、Ce2O
3゜Cab、CaC0,、Ca5O,等があり、II’
A族若しくはnB族又は発光性付活元素の酸化物。
ZnCO3t Z n S O4、M n○、Ce2O
3゜Cab、CaC0,、Ca5O,等があり、II’
A族若しくはnB族又は発光性付活元素の酸化物。
炭酸塩又は硫酸塩が好ましく、これらは、前記ノひ体物
質に対して0.001 〜10重量%の範囲で使用され
るのが好ましい。
質に対して0.001 〜10重量%の範囲で使用され
るのが好ましい。
上記した酸化物、炭酸塩及び硫酸塩並びに前記母体物質
は粉末状で使用されるのが好ましく、該酸化物、炭酸塩
及び硫酸塩としては、/iJ体物質自体又は発光性付活
元素若しくはドープのために使用される発光性付活元素
の化合物がこれを構成する元素の酸化物、炭酸塩又は硫
酸塩を含む場合には、このような酸化物、炭酸塩又は硫
酸塩として使用してもよい。
は粉末状で使用されるのが好ましく、該酸化物、炭酸塩
及び硫酸塩としては、/iJ体物質自体又は発光性付活
元素若しくはドープのために使用される発光性付活元素
の化合物がこれを構成する元素の酸化物、炭酸塩又は硫
酸塩を含む場合には、このような酸化物、炭酸塩又は硫
酸塩として使用してもよい。
上記した酸化物、炭酸塩又は硫酸塩及び前記母体物質は
混合され、成型用治具等を用いてプレス機等により、円
筒形等に成型される。この場合成型しやすいように少量
の水を加えてもよい。得られる成型体は焼結される。焼
結体とすることにより単なる成型体であることに比べて
、粒子状の飛散物が少なくなり、安定した発光層を得る
ことができる。この焼結において、雰囲気をAr、He
ガス等からなる中性雰囲気、A rガス等の不活性ガス
中に酸素を20%以下の範囲で含むような弱い酸化性の
雰囲気、Ar、Heガス等の不活性ガスと硫化水素等の
VIB族元素を含む反応性ガスとの混合ガスからなる雰
囲気等とし、焼成温度は、好ましくは700〜1200
℃とし焼結時間、温度。
混合され、成型用治具等を用いてプレス機等により、円
筒形等に成型される。この場合成型しやすいように少量
の水を加えてもよい。得られる成型体は焼結される。焼
結体とすることにより単なる成型体であることに比べて
、粒子状の飛散物が少なくなり、安定した発光層を得る
ことができる。この焼結において、雰囲気をAr、He
ガス等からなる中性雰囲気、A rガス等の不活性ガス
中に酸素を20%以下の範囲で含むような弱い酸化性の
雰囲気、Ar、Heガス等の不活性ガスと硫化水素等の
VIB族元素を含む反応性ガスとの混合ガスからなる雰
囲気等とし、焼成温度は、好ましくは700〜1200
℃とし焼結時間、温度。
酸化物、炭酸塩又は硫酸塩の量を適当に制御して得られ
るターゲット中の酸素含有量を好ましくは0.01〜1
0重量%の範囲に調整される。
るターゲット中の酸素含有量を好ましくは0.01〜1
0重量%の範囲に調整される。
本発明におけるターゲットは、母材物質が硫化物である
場合、IrA族又はIIB族の元素の酸化物、炭酸塩又
は硫酸塩を含有する成形体を硫化性雰囲気下に焼成して
作製することができる。
場合、IrA族又はIIB族の元素の酸化物、炭酸塩又
は硫酸塩を含有する成形体を硫化性雰囲気下に焼成して
作製することができる。
上記成形体は、Zn○+ ZnC0,、ZnSO4、C
a○+ CaC01,Ca5O,、等の酸化物、戻酸塩
若しくは硫酸塩をそのまま又はこれらのうち一種と発光
性付活剤を混合し、成型用治具等を用いてプレス機等に
より、円筒形等に成型することによって製造することが
できる。この場合、成型しやすいように少量の水を加え
てもよい。発光外付活剤としては、Mn So、、、M
nO2,MnS。
a○+ CaC01,Ca5O,、等の酸化物、戻酸塩
若しくは硫酸塩をそのまま又はこれらのうち一種と発光
性付活剤を混合し、成型用治具等を用いてプレス機等に
より、円筒形等に成型することによって製造することが
できる。この場合、成型しやすいように少量の水を加え
てもよい。発光外付活剤としては、Mn So、、、M
nO2,MnS。
M n CΩ2等がある。発光性付活剤は、発光性付活
元素が得られるターゲット中の母体物質に刻して好まし
くは0.001〜10重景%にな重量うに使用される。
元素が得られるターゲット中の母体物質に刻して好まし
くは0.001〜10重景%にな重量うに使用される。
このような成型体は、次いで焼成されるが、この場合、
雰囲気はH2S ガスを含む雰囲気とされる。この雰囲
気は、Arガス等の不活性ガスと混合されていてもよい
が、l−l2S ガスが50容量%以上であるのが好ま
しい。
雰囲気はH2S ガスを含む雰囲気とされる。この雰囲
気は、Arガス等の不活性ガスと混合されていてもよい
が、l−l2S ガスが50容量%以上であるのが好ま
しい。
また、焼成温度は700〜1200℃が好ましい。この
焼成により、酸素の一部がイオウと置き換わった(硫化
反応した)ターゲットが得られる。
焼成により、酸素の一部がイオウと置き換わった(硫化
反応した)ターゲットが得られる。
ターゲットの組成は、雰囲気組成、焼成温度、焼成時間
等を制御して行なうことができる。
等を制御して行なうことができる。
本発明におけるターゲット中に、酸素がどの程度台まれ
ているかは、X線回折法、オージェ電子分光法、燃焼法
等により確認することができる。
ているかは、X線回折法、オージェ電子分光法、燃焼法
等により確認することができる。
本発明におけるターゲット中の母料物質は、全体組成と
して、ZQxQy[ただし、ZはIT A族又はIIB
族の元素であり、QはVl、B族元素(ただし、酸素は
除<)x+yはほぼ1であり、かつ0.001≦y≦0
.2である〕ものが好ましい。ここで、yの値が小さい
と酸素はZQマトリックス(2及びQは、前記に同じ)
中に固溶しており、yの値が大きくなるとZ(Zは、前
記に同じ)に結合している酸素も存在する。
して、ZQxQy[ただし、ZはIT A族又はIIB
族の元素であり、QはVl、B族元素(ただし、酸素は
除<)x+yはほぼ1であり、かつ0.001≦y≦0
.2である〕ものが好ましい。ここで、yの値が小さい
と酸素はZQマトリックス(2及びQは、前記に同じ)
中に固溶しており、yの値が大きくなるとZ(Zは、前
記に同じ)に結合している酸素も存在する。
このようにして作成される発光層には、酸素が導入され
ており、この酸素が発光層のVIB族元素の欠陥を埋め
る役目を果たすためと考えられるが、結果セして発光輝
度が向上する。
ており、この酸素が発光層のVIB族元素の欠陥を埋め
る役目を果たすためと考えられるが、結果セして発光輝
度が向上する。
本発明における透光性基材としてはガラス板等が使用さ
れる。
れる。
透明導電膜は、SnO□、In2O3、インジウムスズ
オキサイド(ITO)等からなり、電子ビーム蒸着法、
真空蒸着法、スパッタリング法、CV D (Chem
ical Vapor Deposition)法、プ
ラズマCVD法等によって形成される。
オキサイド(ITO)等からなり、電子ビーム蒸着法、
真空蒸着法、スパッタリング法、CV D (Chem
ical Vapor Deposition)法、プ
ラズマCVD法等によって形成される。
もう一つの導電膜は、透明導電膜と同様のものでもよく
、アルミニウム、クロム、金等の金属からなるものであ
ってもよい。
、アルミニウム、クロム、金等の金属からなるものであ
ってもよい。
前i上絶縁層は、Ta2O,、Y2O,、SiO2゜A
n203.Si3N4.AMN、5rTiO,等からな
り、これらの層を2周基上積層して#IA縁層縁周ても
よい。これらの層の形成方法は、透明導電膜の形成方法
と同様である。
n203.Si3N4.AMN、5rTiO,等からな
り、これらの層を2周基上積層して#IA縁層縁周ても
よい。これらの層の形成方法は、透明導電膜の形成方法
と同様である。
本発明において、絶縁層は、前記透明導電膜と前記発光
層の間に及び/又は前記発光層と前記導電膜の間に積層
される。以下、前記透明導電膜と前記発光Rりの間の絶
縁JQを第1の絶縁層と及び前記発光層と前記導電膜の
間を第2の#!!縁層縁周う。
層の間に及び/又は前記発光層と前記導電膜の間に積層
される。以下、前記透明導電膜と前記発光Rりの間の絶
縁JQを第1の絶縁層と及び前記発光層と前記導電膜の
間を第2の#!!縁層縁周う。
本発明において、透明導電膜、第1の絶縁層。
発光層、第2の絶縁層及び導電膜(背面電極)が。
この順序で、基材上に順次形成される。ただし、第1及
び第2の絶縁層のうちどちらか一つはなくてもよい。ま
た、発光層を形成後前記と同様の絶縁層を積層し、さら
に発光層を形成してもよい。
び第2の絶縁層のうちどちらか一つはなくてもよい。ま
た、発光層を形成後前記と同様の絶縁層を積層し、さら
に発光層を形成してもよい。
本発明においては、これらの工程中発光層の形成後に、
真空下又はAr、N2等の不活性ガス雰囲気下に200
〜650℃で加熱処理をしてもよい。
真空下又はAr、N2等の不活性ガス雰囲気下に200
〜650℃で加熱処理をしてもよい。
本発明を図面を用いて説明する。第1図は本発明により
得られる薄膜EL素子の一例を示す断面図であり、基板
1の上に透明導電膜(透明電極)2、第1の絶縁層32
発光層4.第2の絶縁M5及びもう−っの導電膜(背面
電極)6をこの順に積層して作製したものである。
得られる薄膜EL素子の一例を示す断面図であり、基板
1の上に透明導電膜(透明電極)2、第1の絶縁層32
発光層4.第2の絶縁M5及びもう−っの導電膜(背面
電極)6をこの順に積層して作製したものである。
実施例1
第1図に示すような構造の薄膜EL素子を作成した。
基材1としてのホウケイ酸ガラス上にITO膜をスパッ
タリング法で形成し、これをエツチングして透明導電膜
2としてのストライブ状ITO透明電極(膜厚0’、2
7zm、幅0 、1.5 mn+ 、電極間隔0.1n
wn)320本を形成した。この上に、第1の絶縁層3
としてSi3N、、膜プラズマCVD法で0.22μm
の厚さに形成し、さらに、発光層4として電子ビーム蒸
着法によりマンガン付活硫化亜鉛(z’nS :Mn)
層を基板温度200℃、成膜速度60nm/分の条件で
0.6μmの厚さに形成した。ターゲラ1へとしてはM
nをZ r+ Sに刻して0.5重量%添加したZ
n Sペレットを空気中で550℃、30分間加熱して
酸化処理したもの(酸素含有率約2重量%)を使用し、
電子ビーム蒸着槽内をlXl0−71−−ルまで減圧し
た後発光層の形成を行った。次いで、第2の絶B/P1
5としてSi3N4膜をスパッタリング法で0.22μ
mの厚さに形成した。最後に、電子ビーム蒸着法でAf
f層を形成し、エツチングして導電膜6としてのス1−
ライブ状A D、の背面電極(膜厚0.2μm。
タリング法で形成し、これをエツチングして透明導電膜
2としてのストライブ状ITO透明電極(膜厚0’、2
7zm、幅0 、1.5 mn+ 、電極間隔0.1n
wn)320本を形成した。この上に、第1の絶縁層3
としてSi3N、、膜プラズマCVD法で0.22μm
の厚さに形成し、さらに、発光層4として電子ビーム蒸
着法によりマンガン付活硫化亜鉛(z’nS :Mn)
層を基板温度200℃、成膜速度60nm/分の条件で
0.6μmの厚さに形成した。ターゲラ1へとしてはM
nをZ r+ Sに刻して0.5重量%添加したZ
n Sペレットを空気中で550℃、30分間加熱して
酸化処理したもの(酸素含有率約2重量%)を使用し、
電子ビーム蒸着槽内をlXl0−71−−ルまで減圧し
た後発光層の形成を行った。次いで、第2の絶B/P1
5としてSi3N4膜をスパッタリング法で0.22μ
mの厚さに形成した。最後に、電子ビーム蒸着法でAf
f層を形成し、エツチングして導電膜6としてのス1−
ライブ状A D、の背面電極(膜厚0.2μm。
@ O、’ 15 m 、電極間隔0.1mn1)を2
00本、ITo透明電極と直交するように形成した。得
られた薄膜EL素子を試料Aとした。
00本、ITo透明電極と直交するように形成した。得
られた薄膜EL素子を試料Aとした。
比較例1
実施例1において、ターゲットとしてMnをZnsに対
して0.5重量%添加したZnSペレットを使用するこ
と以外は、実施例1に準じて、薄膜EL素子を得た。得
られた薄膜E L素子を試料Bとした。
して0.5重量%添加したZnSペレットを使用するこ
と以外は、実施例1に準じて、薄膜EL素子を得た。得
られた薄膜E L素子を試料Bとした。
前記で得られた試料A及び試料Bを周波数15OHzの
余弦波電圧を用いて駆動し、透明電極と背面電極の間に
印加する邪動電圧(vl−帽)と発光輝度の関係(印加
電圧−発光輝度特性)を求めた。
余弦波電圧を用いて駆動し、透明電極と背面電極の間に
印加する邪動電圧(vl−帽)と発光輝度の関係(印加
電圧−発光輝度特性)を求めた。
第2図はこの結果を示す。第2図中、グラフ7は試料A
についての及びグラフ8は試料Bについての結果である
。
についての及びグラフ8は試料Bについての結果である
。
これらの結果から明らかであるように、発光開始電圧よ
り30V高い印加電圧において、発光輝度は試料Aでは
380ca/nf (176Vにおいて)及び試料Bで
は230cd/rrf (174Vにおいて)であった
。
り30V高い印加電圧において、発光輝度は試料Aでは
380ca/nf (176Vにおいて)及び試料Bで
は230cd/rrf (174Vにおいて)であった
。
実施例2
実施例1において発光層を、抵抗加熱蒸着法によりマン
ガン付活硫化亜鉛(ZnS:Mn)層を 、0.6μm
の厚さに形成した〔ただし、ターゲットとしては、Zn
Sペレットを空気中で550 ℃、30分間加熱して酸
化処理したもの(酸素含有率約2重量%)及びM n
Sを使用し、これらを異なるタングステンるつぼヒータ
ーから同時に蒸発させた。基板温度は200℃とし、成
膜速度は6゜nm7分で、M n Sの蒸発速度は膜中
のM nが0゜5重量%となるように制御した。蒸着槽
内は、一旦1xlO−7トールまで減圧した。〕こと以
外は、実施例1に準じて、薄膜EL素子を得た。得られ
た薄膜EL素子を試料Cとした。
ガン付活硫化亜鉛(ZnS:Mn)層を 、0.6μm
の厚さに形成した〔ただし、ターゲットとしては、Zn
Sペレットを空気中で550 ℃、30分間加熱して酸
化処理したもの(酸素含有率約2重量%)及びM n
Sを使用し、これらを異なるタングステンるつぼヒータ
ーから同時に蒸発させた。基板温度は200℃とし、成
膜速度は6゜nm7分で、M n Sの蒸発速度は膜中
のM nが0゜5重量%となるように制御した。蒸着槽
内は、一旦1xlO−7トールまで減圧した。〕こと以
外は、実施例1に準じて、薄膜EL素子を得た。得られ
た薄膜EL素子を試料Cとした。
比較例2
実施例2において、ターゲットとしてのZnSを酸化処
理しないで使用すること以外は、実施例2に準じて、薄
膜EL素子を得た。得られた薄膜EL素子を試料りとし
た。
理しないで使用すること以外は、実施例2に準じて、薄
膜EL素子を得た。得られた薄膜EL素子を試料りとし
た。
前記で得られた試料C及び試料りの印加電圧−発光輝度
特性を前記と同様にして求めた。この結果1発光開始電
圧より30V高い印加電圧において、試料Cは試料りの
1.6倍の発光輝度を示した。
特性を前記と同様にして求めた。この結果1発光開始電
圧より30V高い印加電圧において、試料Cは試料りの
1.6倍の発光輝度を示した。
実施例3
母体のZnSにMnを添加した粉末(MnはZnに対し
て1.2mo1%)20gにZn○粉末3.0g を加
えて十分混合した。この混合物中。
て1.2mo1%)20gにZn○粉末3.0g を加
えて十分混合した。この混合物中。
MnはZnに対して、1 、1 mo、]%含まれる。
該混金物に成型するに足る最小限の純水を加えたものを
円筒型に成型できる成型治具にいれて円柱の高さ方向に
プレス機を用いて約400 k g/alの圧力を加え
成型を行った。その成型体を石英ボートに入れてA r
雰囲気下の石英管中で焼結した発光層形成用ターゲット
を得た。焼結条件−は、焼結温度1000℃、Ar流量
3000cc/分で焼結時間30分とした。得られたタ
ーゲットを燃焼法を用いて分析したところ、酸素含有量
は約5%弱であった。
円筒型に成型できる成型治具にいれて円柱の高さ方向に
プレス機を用いて約400 k g/alの圧力を加え
成型を行った。その成型体を石英ボートに入れてA r
雰囲気下の石英管中で焼結した発光層形成用ターゲット
を得た。焼結条件−は、焼結温度1000℃、Ar流量
3000cc/分で焼結時間30分とした。得られたタ
ーゲットを燃焼法を用いて分析したところ、酸素含有量
は約5%弱であった。
次にガラス基板(34mm角、厚さ1.1+m+)上に
ITOからなる透明電極(厚さ200nm、電極幅1.
.5nxn)を電子ビーム蒸着法で成膜し、さらに、S
jNからなる第1絶縁層(厚さ2200nm)をプラズ
マCVD法で成膜した。この−に部に上記で得られたタ
ーゲットを用いて蒸着法で発光層(厚さ600nmを成
膜した。さらにその上部にSiNからなる第2絶縁層を
プラズマCVD法で成膜し、アルミ電極(厚さ200
n m 、電極幅1.51町)を電子ビーム蒸着法で成
膜して薄膜EL素子を得た。この薄膜E L素子を試料
Eとした。。
ITOからなる透明電極(厚さ200nm、電極幅1.
.5nxn)を電子ビーム蒸着法で成膜し、さらに、S
jNからなる第1絶縁層(厚さ2200nm)をプラズ
マCVD法で成膜した。この−に部に上記で得られたタ
ーゲットを用いて蒸着法で発光層(厚さ600nmを成
膜した。さらにその上部にSiNからなる第2絶縁層を
プラズマCVD法で成膜し、アルミ電極(厚さ200
n m 、電極幅1.51町)を電子ビーム蒸着法で成
膜して薄膜EL素子を得た。この薄膜E L素子を試料
Eとした。。
実施例4
ZnS粉末20.0g にMnS○4粉末0.382g
及びZnO粉末2.Og(全体のM n :a度はZn
原子に対して1 、1 mo1%)を加え十分混合した
。
及びZnO粉末2.Og(全体のM n :a度はZn
原子に対して1 、1 mo1%)を加え十分混合した
。
この混合物を実施例3の方法と同様に成型し、焼結して
ターゲットを得た。このターゲットを用いて、実施例3
に準じて薄膜E L素子の作成及び輝度−電圧特性の測
定を行なった。得られた薄膜p:L素子を試料Fとした
。
ターゲットを得た。このターゲットを用いて、実施例3
に準じて薄膜E L素子の作成及び輝度−電圧特性の測
定を行なった。得られた薄膜p:L素子を試料Fとした
。
比較例3
実施例3において、ZnO粉末を使用しないこと以外実
施例3に準じてターゲットの作製、薄膜EL素子の作製
及び輝度−電圧特性の測定を行なった。得られた薄膜E
L素子を試料Gとした。
施例3に準じてターゲットの作製、薄膜EL素子の作製
及び輝度−電圧特性の測定を行なった。得られた薄膜E
L素子を試料Gとした。
前記で得られた試料E、試料F及び試料Gの印加電圧−
発光輝度特性の測定のの結果、発光開始電圧より30V
高い印加電圧において、試料E及び試料Fは試料Gの約
1.6倍の発光輝度を示した。
発光輝度特性の測定のの結果、発光開始電圧より30V
高い印加電圧において、試料E及び試料Fは試料Gの約
1.6倍の発光輝度を示した。
実施例5
高純度ZnO粉末14,000gと高純度M n S○
。
。
−H20粉末0.28578 g (M nはZnJM
子に対して1 、1 mo]%)とを乾式で均一に混合
し、この混合物を成型治具に入れて円筒の高さ方向に約
20kg/a#の圧力を加え円筒型に成型した。次に、
この成型体を石英製のボートに入れてH,S ガスに1
0容量%のArガスを混合したガスを流しつつ石英管中
で焼成した。焼成温度700℃、上記のガスの流量20
0cc/分、焼成時間30分間とした。このようにして
作製したターゲット中のS及び0を燃焼法で分析した結
果、Zn5xOyで規定されるX及びyがx=0.95
.y”0.05であった。また、得られたターゲットは
黄色であった。 次にガラス基板(34m角、厚さ1.
1nwn)上にITOからなる透明電極(厚さ200n
m。
子に対して1 、1 mo]%)とを乾式で均一に混合
し、この混合物を成型治具に入れて円筒の高さ方向に約
20kg/a#の圧力を加え円筒型に成型した。次に、
この成型体を石英製のボートに入れてH,S ガスに1
0容量%のArガスを混合したガスを流しつつ石英管中
で焼成した。焼成温度700℃、上記のガスの流量20
0cc/分、焼成時間30分間とした。このようにして
作製したターゲット中のS及び0を燃焼法で分析した結
果、Zn5xOyで規定されるX及びyがx=0.95
.y”0.05であった。また、得られたターゲットは
黄色であった。 次にガラス基板(34m角、厚さ1.
1nwn)上にITOからなる透明電極(厚さ200n
m。
電極@1.5+nm)を電子ビーム蒸着法で成膜し、さ
らに、SiNからなる第1絶縁層を(厚さ2200nm
)をプラズマCVD法で成膜した。この上部に上記製法
で得たMnを添加したZn5xOy発光層用ターゲット
を用いて電子ビーム蒸着法により発光層を成膜した。さ
らに、その上部にS iNからなる第2絶縁層(厚さ2
2000m)をプラズマCVD法で成膜し、アルミ電極
(厚さ2000n m 、電極@1.5nwn)を電子
ビーt1蒸着法で成膜して薄膜EL素子を得た。得られ
た薄膜l・:1.素子を試料Hとした。
らに、SiNからなる第1絶縁層を(厚さ2200nm
)をプラズマCVD法で成膜した。この上部に上記製法
で得たMnを添加したZn5xOy発光層用ターゲット
を用いて電子ビーム蒸着法により発光層を成膜した。さ
らに、その上部にS iNからなる第2絶縁層(厚さ2
2000m)をプラズマCVD法で成膜し、アルミ電極
(厚さ2000n m 、電極@1.5nwn)を電子
ビーt1蒸着法で成膜して薄膜EL素子を得た。得られ
た薄膜l・:1.素子を試料Hとした。
実施例6
Mnを添加したZnS粉末20.0g(Mn濃度はZn
に対して1 、1 mo1%)を空気中、550℃で2
0分間焼結した。この粉末を燃焼法により分析したとこ
ろ、酸素が約3重量%含まれていた。
に対して1 、1 mo1%)を空気中、550℃で2
0分間焼結した。この粉末を燃焼法により分析したとこ
ろ、酸素が約3重量%含まれていた。
すなわち、Mnを添加したZnS粉末で一部分が酸化さ
れているものくすなわち、ZnOを含むもの)が得られ
た。次にこの粉末を実施例5で述べた方法と同様に円筒
状に成型し、焼成して発光層形成用ターゲットを得た。
れているものくすなわち、ZnOを含むもの)が得られ
た。次にこの粉末を実施例5で述べた方法と同様に円筒
状に成型し、焼成して発光層形成用ターゲットを得た。
このようにして作製したターゲット中のS及び0を燃焼
法で分析した結果、Zn5xOyで規定されるX及びy
がx=0.88、y=0.10であった。このターゲッ
トを用いて、実施例5に準じて薄膜E L素子の作成及
び印加電圧−発光特性を測定した。得られた薄膜EL素
子を試料工とした。
法で分析した結果、Zn5xOyで規定されるX及びy
がx=0.88、y=0.10であった。このターゲッ
トを用いて、実施例5に準じて薄膜E L素子の作成及
び印加電圧−発光特性を測定した。得られた薄膜EL素
子を試料工とした。
比較例4
実施例5しこおいて、雰囲気としてH2S ガス100
%、焼成温度1000℃、焼成時間2時間としたこと以
外は実施例5に準じて行ない、Zn5xOyで規定され
るXびyがx=1.y=0のターゲットを得た。このタ
ーゲットは白色であった。このターゲットを用い実施例
5に準じて薄膜EL素子の作製及び印加電圧−発光特性
を測定した。得られた薄膜EL素子を試料Jとした。
%、焼成温度1000℃、焼成時間2時間としたこと以
外は実施例5に準じて行ない、Zn5xOyで規定され
るXびyがx=1.y=0のターゲットを得た。このタ
ーゲットは白色であった。このターゲットを用い実施例
5に準じて薄膜EL素子の作製及び印加電圧−発光特性
を測定した。得られた薄膜EL素子を試料Jとした。
前記で得られた試料H1試料■及び試料、工の印加電圧
−発光輝度特性の測定のの結果、発光開始電圧より30
V高い印加電圧において、試料H及び試料Iは試料Jの
約1,6倍の発光輝度を示した。
−発光輝度特性の測定のの結果、発光開始電圧より30
V高い印加電圧において、試料H及び試料Iは試料Jの
約1,6倍の発光輝度を示した。
本発明によれば、発光輝度の優れた薄膜EL素子を容易
に製造することができる。
に製造することができる。
第1図は本発明に係る薄膜ET、素子の断面図及び第2
図は実施例1及び比較例1で得られた薄膜EL素子の印
加電圧−発光輝度特性を示すグラフである。 1・・・基材、2・・透明導電膜、3・・第1の絶縁層
、4・・発光層、5・・第2の絶縁膜、6・・・導電膜
(背面電極)、7・・・実施例1の結果を示すグラフ、
8・・・比較例1の結果を示すグラフ。
図は実施例1及び比較例1で得られた薄膜EL素子の印
加電圧−発光輝度特性を示すグラフである。 1・・・基材、2・・透明導電膜、3・・第1の絶縁層
、4・・発光層、5・・第2の絶縁膜、6・・・導電膜
(背面電極)、7・・・実施例1の結果を示すグラフ、
8・・・比較例1の結果を示すグラフ。
Claims (2)
- 1.透光性基材上に、透明導電膜、発光層及び導電膜
を順次積層し、これらの層間のうち少なくとも一つの層
間に絶縁層を形成する薄膜EL素子の製造法において、
上記発光層を母材物質であるIIA族又はIIB族の元素と
VIB族元素(ただし、酸素を除く)とから構成される化
合物であって酸素を含むものからなるターゲットを蒸発
源として用いて成膜することにより形成することを特徴
とする薄膜EL素子の製造法。 - 2.請求項1に記載のターゲットを蒸発源として電子
ビーム蒸着法又は抵抗加熱蒸着法によって成膜すること
により発光層を形成する請求項1に記載の薄膜EL素子
の製造法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1128418A JPH02306592A (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 薄膜el素子の製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1128418A JPH02306592A (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 薄膜el素子の製造法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02306592A true JPH02306592A (ja) | 1990-12-19 |
Family
ID=14984270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1128418A Pending JPH02306592A (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 薄膜el素子の製造法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02306592A (ja) |
-
1989
- 1989-05-22 JP JP1128418A patent/JPH02306592A/ja active Pending
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