JPH02298864A - 超音波探傷器のゲート回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、物体の内部の検査や表面形状の探査等を行な
う場合に用いられる超音波探傷器のゲート回路に関する
。

〔従来の技術〕

超音波探傷器は、物体内部の傷の存在の有無を当該物体
を破壊することなく検査し、又は物体表面の形状等を調
査する装置として良く知られている。この超音波探傷器
を図により説明する。

第６図は従来の超音波探傷器のブロック図である。図で
、１は被検査物体、ｉｆは被検査物体１内に存在する欠
陥を示す。２は被検査物体１内に超音波を放射するとと
もに、反射してきた超音波に比例した電気信号を出力す
る探触子である。３は探傷器本体であり、超音波探触子
２に対して超音波発生パルスを出力し、かつ、探触子２
からの信号を受信し、この信号の波形を表示する。

超音波探傷器本体３は次の各要素で構成されている。即
ち、４は超音波探傷器本体３の動作に時間的規制を与え
る信号電圧を発生する同期回路、５は同期回路４の信号
により探触子２に超音波発生のためのパルスを出力する
送信部である。６は探触子２からの信号を受信する受信
部であり、抵抗器で構成される分圧器の組合せより成る
減衰回路６ａ、および増幅回路６ｂで構成される。７は
増幅回路６ｂからの信号を整流する検波回路、８は垂直
軸増幅回路である。

９は同期回路４からの同期信号により三角波を発生する
掃引回路、１０は掃引回路９の三角波信号を増幅する増
幅回路である。１１は探触子２からの信号波形を表示す
る表示部であり、横軸は増幅回路１０から出力される三
角波で定まる時間軸とされ、縦軸は垂直軸増幅回路８か
ら出力される信号の大きさとされる。表示部１１として
は陰極線管が用いられ、その表面にはスケールが表示さ
れている。１２は被検査物体ｌにおいて、その表面から
の検査すべき範囲（ｉｊｌ定範囲）を設定する測定範囲
設定部である。１３は掃引開始信号に遅れ時間をもたせ
て表示部１１に表示される波形の位置を平行移動させる
遅延時間設定部である。

次に、上記従来の超音波探傷器の動作の概略を説明する
。同期回路４からの信号電圧により送信部５からパルス
が出力されると、探触子２はこのパルスにより励既され
て被検査物体ｌに対して超音波を放射する。放射された
超音波の一部は被検査物体ｌの表面から直ちに探触子２
に戻り、他は被検査物体ｌ内を伝播し、破（仝査吻体１
の底部に達し、ここで反射されて探触子２に戻る。一方
、被検査物体１に欠陥１ｒが存在すると、超音波は当該
欠陥１［；Ｚおいても反射されて探触子２に戻る。これ
ら探触子２に戻った超音波は探触子２をその大きさに比
例して４劾起し、探触子２からはこれに応じた電気信号
（工：１−信号）が出力される。

このエコー信号は減衰回路６ａに入力され、処理に適し
た大きさに調節され、増幅回路６ｂを径て検波回路７Ｇ
こ入力される。検波回路７は表示部１１の表示を片振り
指示とするため、入力１３号を整流する。検波回路７の
出力信号は垂直軸増幅回路８を経て表示部１１に入力さ
れ、その大きさが表示部１１の縦軸に表される。一方、
掃引回路９は同期回路４の同期信号により三角波電圧を
発生し、この電圧は増幅回路１０を経て表示部１１（陰
極線管）の偏向電極に印加され、電子ビームを掃引する
。この掃引と前記垂直軸増幅回路８からの入力信号によ
り、表示部１１には探触子２に戻った反射波の波形が表
示される。

次に、この反射波の波形、即ちエコー信号の波形につい
て説明する。第７図は被検材内部の欠陥の位置および大
きさを示す図である０図で、１は被検材、２は探触子で
第６図に示すものと同じである。Ｓは被検材１の表面、
ｂは被検材１の底面、ｆ、、ｆｔ、ｆ、は被検材１の内
部の欠陥を示す。

欠陥ｆ、と欠陥ｆ２とは、欠陥の大きさは同じであるが
、表面Ｓからの位置は欠陥ｆ、より欠陥ｆｔの方が深い
、又、欠陥ｆ２と欠陥ｆ、とは、表面Ｓからの位置は同
じであるが、欠陥ｆ、の方が欠陥の大きさが大である。

第８図（ａ）〜（ｃ）は第７図に示す各欠陥ｆ１〜ｆ、
のエコー信号の波形図である。各図はそれぞれ探触子２
を矢印方向に移動させ、各欠陥ｆ、、ｆ２．ｆ、の真上
に位置せしめたときの波形図で、Ｔは送信パルス、Ｂは
底面すからの反射パルス、Ｆ、、Ｆ、、Ｆ、はそれぞれ
欠陥ｆ１゜ｒ２．ｒ、からのエコー信号の波形を示す。

又、各図は横軸に時間、縦軸に信号レベルがとってあり
、ｔ、は送信パルスＴから反射パルスＢの発生までの時
間、Ｌ＋　、ｔｚ　＋　　ｔｔ　（ｔ３　＝ｔｚ）は送
信パルスＴから各エコー信号Ｆ、、Ｆ、、Ｆ、の発生ま
での時間、）’ｌ　、　　ｙｚ　（Ｙｚ＝ｙ＋）　、ｙ
３はは各エコーＦ＋　、Ｆｚ、Ｆ：ｌの信号レベルの大
きさを示す。

但し、被検材ｌは鋼材の様に均質な材質で、厚さも数１
０ｍｍ程度であり、減衰率は極微小であるとする。

今、被検材１内の音速をＶｌ、被検材１の厚みを！。と
すると、時間ｔ、は次式で表わされる。

■。

（１）式から明らかなようにエコーが探触子２に戻るま
での時間は超音波の反射位置に比例し、かつ、その位置
は値■４．１゜が既知であれば求めることができる。実
際上、表示部１１に表れた第８図（ａ）の波形から欠陥
ｆｌの位置１１を知るには、時間Ｌｌ＋　　ｔｌ　と既
知の値１０から次式に・より計算される。

１゜ １、＝　　−Ｘｆｏ　　・・・・・・・・・（２）欠陥
ｆ、、ｆ、の各位置Ａ、、１３も（２）式と同様の計算
により求めることができる。

又、被検材１と同一材料を用いて予め既知の大きさの人
工欠陥を作り、そのエコーの信号レベルｙを測定してお
けば、第８図（ａ）〜（ｃ）の表示波形の各エコー信号
Ｆ、〜Ｆ、の信号レベルｙ、〜ｙ、の大きさをそれぞれ
信号レベルｙと比較することにより、各欠陥「１〜ｆ、
の大きさを知ることができる。これらのことから、欠陥
ｆ。

〜ｆ、がさきに説明した態様のものである場合には、エ
コー信号Ｆｌ、Ｆｔの大きさがほぼ等しく、又、エコー
信号Ｆｚ、Ｆｚが同一表示位置に現れることが判る。

以上述べたのは被検材１の内部の欠陥の検査例であるが
、超音波探傷器はそれ以外に、被検材の表面形状の検査
にも用いられる。第９図は被検材の表面形状の測定を示
す図である。図で、１′は被検材、２は探触子、Ｗは被
検材１′と探触子２との間に介在せしめられた水である
。探触子２から放射された超音波は被検材１′の表面で
反射して探触子２に戻る。したがって、表示部１１には
そのエコー信号波形が表示される。

第１０図（ａ）、　　（ｂ）は被検材１′の表面の反射
エコー信号の波形図である。図で、横軸には時間、縦軸
には信号レベルがとってあり、Ｔは送信パルス、Ｓ＋、
Ｓｔはそれぞれある位置および他の位置のエコー信号、
Ｌｓｌ、ｊＳ□は各エコー信号Ｓ＋、Ｓｇの発生時間を
示す。今、ある位置での探触子２と被検材１′表面との
距離を１１１．水中の音速をｖｗとすると、距離１−は
次式により求めることができる。

又、他の位置の距離ｒ。も（３）式と同様の計算により
求めることができる。そして、探触子２の矢印方向の移
動を小さなピッチで行ない、各ピッチ毎に１％られたエ
コー信号を綜合することにより被検材１′の表面形状を
検査することができる。

なお、測定範囲設定部は波形の拡張２縮小を行なう手段
、遅延時間設定部１３は波形の移動（スクロール）を行
なう手段であり、いずれもより−ｊｌｉｍ察を容易にす
るためのものである。

〔発明が解決しようとする課題〕 上記のような被検材の検査におい°Ｃ１例えば第７図に
示す内部欠陥の検査には、表示部１１に表示された領域
Ａ９内に存在するエコー信号、第９図に示す表面形状の
検査には、領域Ａｇ’内に存在するエコー信号の信号波
形に基づいて検査が行なわれる。しかしながら、その検
査は、表示部１１に表示されるそれぞれの波形について
検査員がスケールにより発信パルスＴとエコー信号Ｆ、
〜Ｆ１＋Ｓ　Ｉ　＋　　Ｓ　Ｚの発生位置との間隔を測
定しなければならず極めて面倒で手間と時間を要するば
かりでなく、その測定は人間により行なわれるので掘め
て不正確である。特に、第７図に示す内部欠陥の検査の
場合は、さらにエコー信号Ｆ、〜Ｆ、の大きさの測定も
必要となり、より以上の手間と時間を要し、測定も又不
正確となる。

本発明の目的は、上記従来技術における課題を解決し、
迅速かつ正確に検査を行なうことができる超音波探傷器
のゲート回路を提供するにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記の目的を達成するため、本発明は、探触子を励振さ
せるパルスを出力する送信部と、前記探触子からの超音
波反射信号を受信検波する受信検波部とを備え、この受
信検波部の検波信号に基づいて被検材の検査を行なう超
音波探傷器において、前記被検材の検査対象領域を設定
する設定手段と、この設定手段により設定された前記検
査対象領域の検波信号のみを出力するゲート手段と、こ
のゲート手段から出力された信号の最大値を順次保持し
てゆく最大値検出手段と、前記ゲート手段の出力信号が
増大から減少へ変化したときラッチ信号を出力する微分
回路と、前記パルス出力と同時にカウントを開始するカ
ウンタと、前記ラッチ信号により前記カウンタのカウン
ト値をラッチするラッチ手段とを設けたことを特徴とす
る。

〔作用〕

被検材の検査対象領域を設定するとともに、ゲート手段
により当該検査対象領域内に存在する検波信号のみ出力
させる。又、前記ゲート手段から出力された検波信号の
最大値を順次保持してゆく最大値検出手段によりエコー
信号の最大値を検出する。この検出された最大値により
欠陥等の大きさが判る。そして、出力された前記検波信
号が増加から減少に変化したとき、探触子の励振と同時
にカウントを開始しているカウンタのその時点でのカウ
ント値をラッチする。このラッチされたカウント値によ
り欠陥等、の位置が判る。

〔実施例〕

以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。

第１図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のゲート回
路のブロック図である。図で、第６図に示す部分と同一
部分には同一符号を付して説明を省略する。２０はゲー
ト回路を示す。このゲート回路２０は以Ｆの構成を有す
る。即ら、２１はヰ★波回路７の検波信号の入出力を行
なうバッファ、２２はバッファ２１から出力された検波
信号のうちの最大値を検出するピークデテクタ、２３は
ピークデテクタ２２で検出された最大値をディジタル値
に変換するＡ／Ｄ変換器である。２４はゲート信号発生
器である。このデー１−信号発生器２４の構成について
は第２図を用いて後述する。２５はクロック信号を出力
する発振器、２６は後述するゲート信号発生器２４内の
カウンタのカウント値をラッチするゲート用ラッチであ
る。２８うまバッファ２１から出力される検波信号を微
分する微分回路、２９はインタフェースである。３０は
以上の構成よりなるゲート回路２０を制御するとともに
他の種々の制御や演算を行なうＣＰＵ　（中央処理装置
）である。

第２図は第１図に示すゲート信号発生器２４のブロック
図である。図で、第１図に示す部分と同一部分には同一
符号を付して説明を省略する。２４ａ、２４ｂはそれぞ
れゲート開始点設定器およびゲート終了点設定器であり
、ゲート（第７図および第９図に示す領域Ａ、、Ａ、’
に相当する）の初めと終りの時間（位りが設定される。

２４Ｃは発振器２５によりカウントが進められるカウン
タ、２４ｄｉ、２４ｄｚはコンパレータ、２４ｅはコン
パレータ２４ｄ＋、２４ｄｚの出力信号により制御され
るフリップフロップ回路である。

次に、本実施例の動作を第３図（ａ）〜（ｆ”）に示す
タイムチャートおよび第４図（ａ）〜（ｄ）に示す信号
波形図に基づいて説明する。最初、ゲート開始点設定器
２４ａにゲート開始時間ｔ１に相当する値（カウンタ２
４ｃのカウント値に対応せしめられたカウント値）Ｃ１
が、又ゲート終了点設定器２４ｂにゲート終了時間ｔ、
に相当する値（カウント値）Ｃ５が設定される。これら
の設定はＣＰＵ３０への入力によりなされる。即ち、値
Ｃ，，Ｃ，は、発振器２５のクロック信号の周期をｒ。

とするとＣＰＵ３０において、Ｃ，＝ｔ。

／τ。＊　　Ｃｂ　””　ｂ　／τ。の演算を行なうこ
とにより求められる。なお、上式で値Ｃ，，Ｃｂが整数
でない場合には整数化がなされる。

同期回路４からは第３図（ａ）に示ずように周期Ｔ０の
トリガ信号が出力される。この周ＭＴ。

は被検材１の材質および探傷のサイクルタイムにより決
定される。即ち、被検材ｌの材質が超音波の減衰の度合
が小さいものであれば、エコーが充分減衰されないうち
に次の超音波が送信されて互いに干渉を生じるし、又、
必要とする探傷サイクルタイムより極度に短かくすれば
上記干渉が生しなくても電力消耗が不必要に大きくなる
。したがって、トリガ信号の周期Ｔ０はこれらを考慮し
て決定される。同期回路４のトリガ信号により送信部５
からパルスが出力されて探触子を励振するとともに、カ
ウンタ２４Ｃおよびゲート用ラッチ２６を０にリセット
する。カウンタ２４ｃはその直後、第３図（ｃ）に示す
ように発振器２５のクロック信号により改めてカウント
を開始し、そのカウント値は増加してゆく。一方、探触
子２には被検材１からのエコーが戻り、そのエコー信号
は受信部６で増幅され、検波回路７で検波される。検波
回路７からの検波信号はバッファ２１に人力されるが、
最初バッファ２１は遮断状態にあるので、入力された検
波信号はバッファ２１から出力されない。

カウンタ２４ｃのカウント値は常にコンパレータ２４ｄ
、、２４ｄ２に出力され、それぞれゲート開始点設定器
２４ａに設定された値Ｃ１およびゲート終了点設定器２
４ｂに設定された値Ｃｂと比較されている。そして、カ
ウンタ２４Ｃのカウント値が第３図（Ｃ）に示すように
値Ｃ１と一敗するど、コンパレーク２４ｄ、から第３図
（ｄ）に示すようにセット信号が出力されフリップフロ
ップ回路２４ｅをセット状態として第３図（ｆ）に示す
ゲートタイミング信号（高レベル）の出力を開始する。

このゲートタイミング信号はバッファ２１に印加され、
バッファ２１を導通状態とするので、以後、検波回路７
から出力される検波信号はそのままバッファ２１の出力
信号となる。カウンタ２４ｃのカウント値が第３図（ｃ
）に示すように設定値Ｃ１に達すると、第３図（ｅ）に
示すようにコンパレータ２４ｄ２からリセット信号が出
力され、フリップフロップ回路２４ｅをリセットする。

これによりゲートタイミング信号は停止され、バッファ
２１は再び遮断状態に戻る。即ち、第３図（ｆ）に示す
ように、ゲートタイミング信号が高レベルの期間（ゲー
ト間の期間）だけバッファ２１から検波信号が出力され
ることになる。

この状態が第４図（ａ）、　　（ｂ）に示されている。

即ち、検波回路７から出力される第４図（ａ）に示すよ
うな検波信号のうち、バッファ２１から出力されるのは
第４図（ｂ）に示すようにゲート開の期間ｔ、〜１．間
に存在する欠陥からのエコー信号Ｆのみである。なお、
第４図（ｂ）では時間軸および信号の大きさのいずれも
が拡大されて描かれている。このようにゲートを設ける
ことにより、仮に、第４図（ａ）に示すような検査に不
要なノイズＮｒ　、Ｎｔが存在してもこれらはゲート開
によって除外される。

一方、ゲート開の＃Ａ間にバッファ２１から出力される
検波信号は、ピークデテクタ２２および微分回路２８に
入力される。ピークデテクタ２２に入力された検波信号
は、第４図（ｂ）に実線で示すように入力された検波信
号の最大値を検出する。

第４図（ｂ）に点線で示すエコー信号波形の場合、最初
のピークまでは検出値は波形どうりに増加し、最初のピ
ークから低下したときはそのピーク値を保持し、再び次
のピークまで増加してゆき、結局２つ目のピークの値が
最大値として保持される。

このピーク値は欠陥の大きさを判断する重要なデータで
あるので、ＣＰＵ３０で解析を行なうために、Ａ／Ｄ変
換器２３でディジタル値に変換してＣＰＵ３０に入力さ
れる。ＣＰＬ１３０は、記憶されている手順にしたがっ
て、この最大値を解析する。またピークデテクタ２２は
ＣＰＵ３０の指令によってＡ／Ｄ変換処理後、図示しな
いリセット信号によってリセットされる。

一方、微分回路２８に入力された検波信号は、微分回路
２８により微分され、その結果第４図（ｂ）に示す時間
１．い　ｔ、！で増加から減少に変化する状態が生じた
とき、微分回路２８から第４図（Ｃ）に示す高レベルの
ラッチ信号り、、Ｌｔが出力される。これらのラッチ信
号はそれぞれゲート用ラッチ２６に印加され、それらの
時点においてカウンタ２４ｃから入力されているカウン
ト値Ｃ１１１＋　　Ｃ，ｔを第４図（ｄ）に示すように
ラッチする。

ここで、微分回路２８の具体的回路およびその動作を説
明する。第５図（ａ）、（ｂ）はそれぞれ微分回路の第
１．第２の具体例の回路図である。

第５図（ａ）で、Ｄはダイオード、ＰＤフォトダイオー
ド、ＰＴはフォトトランジスタ、ｃ’、、ｃ。

はコンデンサ、Ｒは抵抗、ＩＮはインバータ回路、ＩＴ
、ＯＴはそれぞれ微分回路２８の入力端子および出力端
子を示す。

入力端子ＩＴにバッファ２１から第４図（ｂ）に破線で
示す欠陥信号Ｆが入力すると、この信号はダイオードＤ
を経てコンデンサＣ３を充電する。

第４図（ｂ）に示す時間ｔ、Ｉ以前において、Ａ点とＢ
点は同電位にあるが、時間ｔ’１１を過ぎると信号Ｆの
電圧は低下してゆ（のでＢ点の電位が高くなり、コンデ
ンサＣ９の電荷はフォトダイオードＰＤおよびＡ点を通
って放電される。これによりフォトダイオードＰＤは発
光する。フォトトランジスタＰＴはこの発光を受光して
導通状態となり、それまでコンデンサＣ２に蓄積されて
いた電荷は放電される。これにより、それまでは当該電
荷により高レベルにあったインバータ回路ＩＮの入力端
電位は低レベルとなり、インバータ回路ＩＮからは（即
ち微分回路２８の出力端子ＯＴからは）第４図（ｃ）に
示すように高レベル信号であるラッチ信号Ｌ＋が出力さ
れる。このラッチ信号Ｌ１の立上りによりゲート用ラッ
チ２６のカウント値Ｃ９１が第４図（ｄ）に示すように
ラッチされる。

時間ｔ９□が経過した直後においても、上記と全く同じ
動作により第４図（ｃ）に示すラッチ信号Ｌ２が微分回
路２８から出力され、そのときのカラントイ直Ｃｇ！が
ラッチされる。

次に、第５図（ｂ）に示す第２の具体例について説明す
る。図で、第５図（ａ）に示す部分と同−又は等価な部
分には同一符号を付して説明を省略する−　’Ｉ’＋　
、Ｔｚはトランジスタである。入力端子ＩＴから欠陥信
号Ｆが入力し、時間Ｌ９１が過ぎるとＡ点の電位は低下
してゆく。これにより、コンデンサＣＩの電荷がトラン
ジスタＴ、のエミッタおよびＡ点を通って放電され、ト
ランジスタＴ、が導通し、この導通によりトランジスタ
Ｔ２も導通する。この結果、コンデンサｃ２の電荷も放
電し、それまで高レベルにあったインバータ回路ＩＮの
入力を低レベルとする。したがって、出力端子ＯＴから
のラッチ信号Ｌ２は高レベルとなり、その立上りにより
ゲート用ラッチ２６にそのときのカウント値Ｃ１１がラ
ッチされる０時間ｔｇ２においても全く同様にしてラッ
チ信号Ｌｔによりそのときのカウント値Ｃ１２がラッチ
される。

以上の微分回路２８の動作により、検波信号のピーク毎
にカウント値がラッチされることになる。

ＣＰＵ３０は、微分回路２８からのラッチ信号がインタ
ーフェース２９介して入力される毎に、ピークデテクタ
２２で得られたピーク値とゲート用ラッチ２６にラッチ
されたカウント値をとり込み、図示しない記憶部に記憶
させ、最後に、最も大きいピーク値（Ｊｌｌ価値とこれ
に対応するカウント値をとり出し、このカウント（ＩＥ
に基づいて欠陥（又は表面）までの距離を演算する。、
欠陥までの距離ｌは、 ・・・・・・・・・（４） で求めることができる。なお、第９図に示す表面の場合
、その距離１ｗｌは、時間をｔｇ、カウント値をＣ１と
すると、 ・・・・・・・・・（５） で求めることができる。

このように、本実施例では、ゲート回路’２０ｔ−設け
て欠陥等の位置および大きさを数値として求めるように
したので、何等の手間や時間を要することなく容易、か
つ、迅速に検査を行なうことができる。又、検出される
欠陥の位置はエコー信号の最大値に対応する位置である
ので、正確な欠陥位置を得ることができる。

ここで、例えば被検材１が鋼材でその音速■。

が５９００ｍ／ｓ、発振器２５の周波数が２０ＭＨｚ（
周期τ。が５０ｎｓ）とすると、カウンタ２４Ｃのカウ
ント値の１ビツトあたりの分解能は０．１５ｍｍ　（５
，９Ｘ　１０”　Ｘ　１０”’Ｘ５０／２）となる、こ
の分解能で１０例えばカウント値に８ビツトを用いれば
約４０ｍｍ相当の厚さ、１６ビツトであれば約１０ｍ相
当の厚さの被検材１の検査が可能となる。

なお、上記実施例の説明では、オシログラフによる波形
表示については触れなかったが、これを共用してもよい
のは当然である。又、同期回路の周期はＣＰＵにより設
定することができる。さらに、同期回廊のクロック信号
源として発振器を共用することができる。

〔発明の効果〕

以上述べたように、本発明では、検波信号に対してゲー
トを設け、ゲート内の検波信号の最大値を検出するとと
もに、横波信号を微分回路で微分し、横波信号が増加か
ら減少に転じたときカウンタのカウント値をラッチする
ようにしたので、スケールをもって表示波形を測定する
という手間と時間を必要とせず、容易、迅速、かつ、正
確に検査を行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のゲート回
路のブロック図、第２図は第１図に示すゲート信号発生
器のブロック図、第３図（ａ）〜（ｆ）は第１図に示す
ゲート回路の動作を説明するタイムチャート、第４図（
ａ）〜（ｄ）は各部の信号の波形図、第５図（ａ）、　
　（ｂ）は第１図に示す微分回路の具体例の回路図、第
６図は従来の超音波探傷器のブロック図、第７図は被検
材の欠陥を示す図、第８図（ａ）〜（ｃ）は第７図に示
す欠陥に対応するエコー信号の波形図、第９図。 は被検材の表面形状を示す図、第１０図（ａ）。 （ｂ）は第９図に示す表面のエコー信号の波形図である
。 ２・・・・・・・・・探触子、４・・・・・・・・・同
期回路、５・・・・・・・・・送信部、６・・・・・・
・・・受信部、７・・・・・・・・・検波回路、２゜・
・・・・・・・・ゲート回路、２１・・・・・・・・・
バッファ、２２・・・・・・・・・ピークデテクタ、２
３・・・・旧・・Ａ／Ｄ変換器、２４・・・・・・・・
・ゲート信号発生器、２４ａ・・・・・・・・・ゲート
開始点設定器、２４ｂ・・・・・・・・・ゲート終了点
設定器、２４ｃ・・・・・・・・・カウンタ、２４ｄ＋
　、２４ｄｚ・・・・・・・・・コンパレータ、２５・
・・・・・・・・発振！、２６・・・・・・・・・ゲー
ト用ラッチ、２８・・・・・・・・・微分回路、３０・
・・・・・・・・ｃｐｕ。 郊３　図 ＞、：　４− ５′：Ｊ５図 （ａ）

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 探触子を励振させるパルスを出力する送信部と、前記探
   触子からの超音波反射信号を受信検波する受信検波部と
   を備え、この受信検波部の検波信号に基づいて被検材の
   検査を行なう超音波探傷器において、前記被検材の検査
   対象領域を設定する設定手段と、この設定手段により設
   定された前記検査対象領域の検波信号のみを出力するゲ
   ート手段と、このゲート手段から出力された信号の最大
   値を順次保持してゆく最大値検出手段と、前記ゲート手
   段の出力信号が増大から減少へ変化したときラッチ信号
   を出力する微分回路と、前記パルス出力と同時にカウン
   トを開始するカウンタと、前記ラッチ信号により前記カ
   ウンタのカウント値をラッチするラッチ手段とを設けた
   ことを特徴とする超音波探傷器のゲート回路。