JPH02297021A - 物理量測定装置 - Google Patents

物理量測定装置

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JPH02297021A
JPH02297021A JP1119267A JP11926789A JPH02297021A JP H02297021 A JPH02297021 A JP H02297021A JP 1119267 A JP1119267 A JP 1119267A JP 11926789 A JP11926789 A JP 11926789A JP H02297021 A JPH02297021 A JP H02297021A
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JP
Japan
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capacitor
time
output
voltage
control means
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Application number
JP1119267A
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English (en)
Inventor
Keiichi Sakai
圭一 酒井
Harutsugu Fukumoto
晴継 福本
Hiroyuki Sakakibara
啓之 榊原
Muneaki Matsumoto
宗昭 松本
Yoshio Hirano
吉男 平野
Yoshikazu Mizuno
水野 芳和
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Denso Corp
Soken Inc
Original Assignee
Nippon Soken Inc
NipponDenso Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G04HOROLOGY
    • G04FTIME-INTERVAL MEASURING
    • G04F10/00Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means
    • G04F10/10Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means by measuring electric or magnetic quantities changing in proportion to time
    • G04F10/105Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means by measuring electric or magnetic quantities changing in proportion to time with conversion of the time-intervals

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は検出対象である物理量を、その物理量に対応し
た時間に変換し、この変換された時間に基づいて上記物
理量を測定する物理量測定装置に関し、特に本装置はパ
ルスレーザ光の発光からその反射光を受光するまでの遅
延時間から、物標までの距離を測定する装置に用いて有
効なものである。
〔従来の技術〕
従来、例えば特開昭59−203975号公報には、路
面とほぼ平行にビーム状光信号を送光し、その反射光信
号を受光するまでの伝播遅延時間から対象物体までの距
離を検出する車両用光レーダ装置において、上記のビー
ム状光信号の走光方向を路面に平行に回動させることに
より、最大検知距離を延長させ、またカーブ地点におけ
る先行車の見落としを防止させるようにした車両用光レ
−ダ装置が示されている。
上記車両用光レーダ装置の距離検出回路は、ビーム状光
信号の送信信号によってセットされ、かつ受信信号によ
ってリセットされるRSフリップフロップと、高周波パ
ルス列を出力する高周波発振器と、RSフリップフロッ
プの出力と高周波発振器の出力とを入力とするANDゲ
ートと、このANDゲートを介して供給される高周波パ
ルス列のパルス数をカウントする高速カウンタとから構
成されている。そして、RSフリップフロップの出力に
よって、ANDゲートが送信信号と受信信号との時間差
(伝播遅延時間)の期間だけ開かれて、高周波パルス列
が高速カウンタへ供給される。
これりより、高速カウンタからは上記時間差に対応する
計算値データ、すなわち距離データが出力される。
〔発明が解決しようとする課題〕
ここで上記従来例のように、ビーム状光信号の伝播遅延
時間から距離を演算する場合、伝播遅延時間をT、距離
をLとすると、 T−2L/C(C:光速) という関係式が成り立つ。上式から距離りの1m当たり
の伝播遅延時間Tは6.67nsとなり、検出距離に関
して1mの分解能を得ようとすると、上記高周波発振器
の発振周波数を150MHzにする必要がある。そして
、上記高速カウンタは、このような非常に高い周波数を
計測しなければならないため、高価なE CL (E耐
tter Cou−pled Logic)によるカウ
ンタ等を用いる必要がある。また、さらに検出距離の分
解能を向上させようとした場合、発振周波数をより高く
すれば良いわけであるが、発振周波数を無限に高くする
ことは不可能であり、おのずと検出距離の分解能も制限
されてしまう。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、検出対象で
ある物理量をその物理量に対応した時間に変換し、この
変換された時間に基づいて物理量を測定する物理量測定
装置において、物理量に対応した時間を所定の倍率で拡
大し、この拡大された時間から物理量を演算することに
よって、任意の検出分解能を得ることが可能な物理量測
定装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、本発明の物理量測定装置は
、 検出対象である物理量をその物理量に対応した時間に変
換し、この時間中に第1のデジタル信号を出力する出力
手段、 前記出力手段が出力する第1のデジタル信号を受けて、
前記第1のデジタル信号が出力された時間を所定の倍率
で拡大して、この拡大された時間中に第2のデジタル信
号を出力する拡大手段、および 前記拡大手段によって前記第2のデジタル信号が出力さ
れた時間に基づいて、前記検出対象である物理量を演算
する演算手段から構成される。
〔作用〕 上記のように構成された物理量測定装置によれば、出力
手段によって物理量がその物理量に対応した時間に変換
され、この時間型に第1のデジタル信号が出力される。
拡大手段は、第1のデジタル信号が出力された時間を所
定の倍率で拡大して、この拡大した時間中に第2のデジ
タル信号を出力する。この第2のデジタル信号が出力さ
れた時間に基づいて物理量を演算することにより、物理
量を演算する際のデータとなる時間を実際の時間よりも
見かけ上長くすることができる。このように、第1のデ
ジタル信号が出力された時間を所定の倍率で拡大してい
るため、この拡大する倍率に応じて、検出分解能は任意
に設定することが可能となる。
〔実施例〕
以下、本発明の第1実施例を図面に基づいて説明する。
第1実施例では、パルスレーザ光を発光してからその反
射光を受光するまでの遅延時間に相当するパルス幅を持
ったパルス信号T i hを作成する。
そして、コンデンサと抵抗とを用いた充放電回路におい
て、充電時の時定数と放電時の時定数とを変えることに
より、上記パルス信号T i nのパルス幅を任意の倍
率(時定数の比)で拡大して、物理量として物標までの
距離を測定するものである。
第1実施例の構成を第1図に示す。第1図において、パ
ルス信号作成部lはパルスレーザ光を発光する発光部2
、パルスレーザ光の発光タイミングを検出する発光検出
部3、物標によって反射されたパルスレーザ光を受光し
て、受光タイミングを検出する受光検出部4、及びパル
スレーザ光の発光タイミングと受光タイミングとから、
パルスレーザ光の発光から受光までの遅延時間に相当す
るパルス幅を持ったパルス信号T i nを出力する出
力部5から構成される。
発光部2では、T r i g信号がHiレベルとなっ
たときトランジスタがON状態となり、コンデンサに蓄
えられていた高電圧の電荷がレーザダイオード2aに供
給されて、レーザダイオード2aからレーザ光が発光さ
れる。
発光検出部3では、受光部3aのホトダイオード3a+
が、発光部2のレーザダイオード2aから発光されたパ
ルスレーザ光を直接受光する。このパルスレーザ光の受
光によりホトダイオード3a、に生じた電圧は、増幅部
3bの演算増幅器3b、によって増幅される。比較部3
cでは、演算増幅器3b+によって増幅された電圧と2
つの抵抗によって設定される基準電圧とが比較され、増
幅された電圧が基準電圧よりも大きくなると、コンパレ
ータ3c、からHiレベルの信号が出力される。信号出
力部3dでは、コンパレータ3c+の出力信号がHiレ
ベルに立ち上がった時に単安定マルチバイブレータ3d
+がトリガされて、所定のパルス信号Ttえが出力され
る。すなわち発光検出部3は、発光部2のレーザダイオ
ード2aからパルスレーザ光が発光されたときに、パル
ス信号Ttxが出力されるように構成されている。この
ため、パルス信号Ttxはパルスレーザ光の発光タイミ
ングを示す信号となる。受光検出部4の構成及び作動は
、基本的に発光検出部3と同様であるため説明を省略す
るが、発光検出部3ではレーザダイオード2aから発光
されたパルスレーザ光を直接受光してパルス信号Ttx
を出力するのに対し、受光検出部4では物標によって反
射されたパルスレーザ光を受光してパルス信号TRXを
出力する点が異なる。
出力部5では、発光検出部3から出力されたパルス信号
Ttxと受光検出部4から出力されたパルス信号TII
XとがORゲート6に入力される。このためORゲート
6の出力から、パルス信号T LXとパルス信号TRX
とが連続して出力されるようになる。このORゲート6
の出力は、Dフリップフロップ7のクロックパルスとし
て用いられ、パルス信号Ttxが入力したときにHiレ
ベルとなり、パルス信号TNXが入力したときにLoレ
ベルとなるパルス信号T i *がDフリップフロップ
7から出力される。ここで、パルス信号TtX、TRx
は、それぞれパルスレーザ光の発光タイミングと受光タ
イミングとを示す信号であるため、Dフリップフロップ
7から出力されるパルス信号T i nは、パルスレー
ザ光の発光から受光までの遅延時間に相当するパルス幅
を持つことになる。 。
パルス信号作成部1によって作成されたパルス信号Ti
nのパルス幅は、パルス幅拡大回路9によって任意の倍
率で拡大される。このパルス幅拡大回路9は、コンデン
サの充電時の時定数と放電時の時定数とが異なるように
構成された充放電回路10、放電が行われた後のコンデ
ンサの端子電圧(初期電圧)VLを記憶する電圧記憶回
路16、放電後のコンデンサの初期電圧V、を考慮して
放電時にコンデンサに印加されていた基準電圧V。
に相当する電圧を設定し、この電圧をコンデンサの充電
時に印加する電圧設定回路22、及び放電時にコンデン
サに印加されていた基準電圧v7と充電時のコンデンサ
の端子電圧とを比較する比較回路31から構成される。
充放電回路10は、Dフリップフロップ7からのパルス
信号T i nを人力とするインバータ11、インバー
タ11の出力端子に接続された1にΩの抵抗値を有する
金属皮膜抵抗12、アナログスインチ30を介して電圧
設定回路22に接続された75にΩの抵抗値を有する金
属皮膜抵抗14、及び抵抗14を介して充電され、かつ
抵抗12を介して放電するコンデンサ13とから構成さ
れる。
なおコンデンサ13は、リセット信号RESETによっ
てアナログスイッチ29が導通されたときに、放電時の
端子電圧として基準電圧V、が供給される。電圧記憶回
路16は、演算増幅器17゜21を有しており、アナロ
グスイッチ18の導通のもと、演算増幅器17はバッフ
ァ機能を果たし、抵抗19(抵抗値1にΩ)を介してコ
ンデンサ13の端子電圧をコンデンサ20に付与してこ
れを充電する。また、演算増幅器21はバ・ンファ機能
を果たすもので、コンデンサ20の端子電圧を電圧設定
回路22に出力する。電圧設定回路22は、オフセット
電圧発生回路15を備え、このオフセット電圧発生回路
15はインバータ11の入出力間の電位差■、。に相当
する電圧を発生する回路であり、本実施例においては0
,4Vの電圧を発生するように構成されている。ざらに
電圧設定回路22は、演算増幅器28と5つの抵抗23
〜27とを備え、公知の加減算回路を構゛成している。
この加減算回路は、放電後のコンデンサ13の初期電圧
■、を考慮しつつ、放電時にコンデンサ13に印加され
ていた基準電圧V。に相当する大きさの電圧を出力する
回路である。なお、この加減算回路を構成する5つの抵
抗23〜27の抵抗値は、全て10にΩに設定されてい
る。この電圧設定回路22から出力される電圧は、スイ
ッチ信号SWによってアナログスイッチ30が導通され
たときに抵抗14を介してコンデンサ13に印加され、
コンデンサ13を充電する。
比較回路31は演算増幅器32を有し、この演算増幅器
32の非反転入力端子には電圧■、が印加され、反転入
力端子にはコンデンサ13の端子電圧が印加されている
。演算増幅器32の出力端子は、ANDゲート33の一
方の入力端子に接続されており、ANDゲート33の他
方の入力端子にはスイッチ信号SWが入力される。この
演算増幅器32の出力とスイッチ信号SWとがともにH
iレベルとなったとき、ANDゲート33から拡大され
たパルス幅を持ったパルス信号T o u tが出力さ
れる。なお、35は基準電圧V、を出力する電源回路で
あり、本実施例においては、基準電圧■。
とじて5■を出力するように構成されている。また、3
4は入出力レベルの整合をとるバッファ機能を有する変
換回路である。
距離計測部36は、ANDゲート37を有し、このAN
Dゲート37はパルス幅拡大回路9から出力されたパル
ス信号T。U、を一方の入力とし、8MHzのクロック
信号を他方の入力としている。
従って、パルス信号T o u &のパルス幅に応じた
個数のクロック信号がANDゲート37から出力される
。このANDゲート37の出力はカウンタ38に与えら
れ、カウンタ38は与えられたクロック信号の個数を計
数する。また、カウンタ38はリセット信号RESET
によってリセットされ、初期状態にもどる。カウンタ3
8によって計数されたクロック信号の個数は、ラッチ信
号LATCHが与えられたときにラッチ39に記憶され
、このラッチ39に記憶された値が距離計測部36の出
力となる。
パルス幅拡大回路9および距離計測部36に与えられる
スイッチ信号SWやリセット信号RESET等の制御信
号は、第2図に示す制御信号発生回路によって作成され
る。第2図において、制御信号発生回路は、カウンタ4
0を有し、このカウンタ40はクロック端子に16MH
zのクロック信号が入力されるとともに、15ビツトの
出力端子Q1%Q14を備えている。そして、このカウ
ンタ40の出力端子哨からは8MHzの周波数を持った
パルス信号が出力されるとともに、上位10ビツトの出
力端子Q、〜Q + aは、EPROM50のアドレス
端子A0〜Agoに接続されている。そして、EPRO
M50はカウンタ40の出力によってアドレスが指定さ
れて、その指定されたアドレスに記憶されているデータ
を5ビツトの出力端子Q0〜Q、から出力する。ここで
、第3図に示すような制御信号がEPROM50のそれ
ぞれの出力端子Q0〜Q4から出力されるように、予め
所定のアドレスに各制御信号を出力するためのデータが
格納されている。EPROM50の5ビツトの出力端子
Q0〜Q4は、ラッチ60の入力端子り、〜D4に接続
され、さらにラッチ60のクロック端子には、カウンタ
40の出力端子Q4から出力されるIMHzの周波数を
持ったパルス信号が入力されている。ここで、EPRO
M50が、カウンタ40によって指定されたアドレスに
記憶されているデータを出力するとき、カウンタ40の
カウントが継続しているため、EPROM50から出力
されるデータは不安定となる。ラッチ60は、上記のよ
うなことを防止し、カウンタ40の出力が完全に切り替
わったときにEPROM50から出力されるデータを記
憶し、安定したデータを出力するためのものである。そ
して、このラッチ6005つの出力端子Q0〜Q4から
、ラッチ信号LATCH,リセット信号RESET、ス
イッチ信号SW、サンプルホールド信号SH,l−リガ
信号T r i sがそれぞれ出力され、これらの制御
信号は1kHzの周期で、制御信号発生回路から繰り返
し出力される。
上記のように構成された本実施例の作用を、第1図の回
路図および第3図のタイミングチャートを用いて説明す
る。
第1図および第3図において、制御信号発生回路から出
力されたリセット信号RESETのHiレベルに応答し
て、アナログスイッチ29が導通ずることにより、コン
デンサ13の端子電圧■。
は基準電圧■8になる。そして、リセット信号RESE
TがLoレベルになると同時に出力されるトリガ信号T
□、のHiレベルに応答して、パルス信号作成部1の発
光部2は、パルスレーザ光を発光する。このパルスレー
ザ光の発光タイミングが発光検出部3によって検出され
るとともに、パルスレーザ光の反射光の受光タイミング
が受光検出部4によって検出される。この発光タイミン
グと受光タイミングとから、パルスレーザ光の発光から
受光までの遅延時間に相当するパルス幅ΔTllを持つ
パルス信号T = Rが、出力部5から出力される。こ
のパルス信号T i nがHtレベルになると、インバ
ータ11の出力はLoレベルとなり、コンデンサ13は
抵抗12、インバータ11を介して放電する。この放電
により、コンデンサ13の端子電圧■。は基準電圧■、
からパルス信号Tiriのパルス幅ΔT11に応じた初
期電圧VLとなる。ここで、コンデンサ13の放電が行
われた後の初期電圧■、は以下の式で表わされる。
ただし、Rat:抵抗12の抵抗値、cll:コンデン
サ13の容量値 しかし、実際にはインバータ11を介して放電させるた
め、インバータ11における降下電圧(インバータ11
の入出方間電位差)■工。を考慮すると、コンデンサ1
3の放電時の端子電圧V。
は基準電圧V、−降下電圧V i oであるため、(1
)式は(2)式のようになる。
そして、トリガ信号T r i gがLOレベルになる
と同時に、出力されるサンプルホールド信号SHのHi
レベルに応答してアナログスイッチ18が導通されると
、コンデンサ13の初期電圧V、は電圧記憶回路16の
コンデンサ20に記憶される。
電圧設定回路22は公知の加減算回路であり、コンデン
サ20に記憶された初期電圧vLと基準電圧V、とを加
算するとともに、上記加算電圧(VL+V、)からイン
バータ11における降下電圧v1゜を減算したものをコ
ンデンサ13の充電電圧VH(VW=VL+V、Vi、
)(!:して出力し、放電時と同じ電圧を印加してコン
デンサ13を充電する。
電圧設定回路22から出力される充電電圧■8は、サン
プルホールド信号SHがLOレベルになると同時に発生
するスイッチ信号SWによってアナログスイッチ30が
導通されるため、抵抗14を介して初期電圧■、を持つ
コンデンサ13に付与され、コンデンサ13は充電電圧
■8で充電される。この充電時のコンデンサ13の端子
電圧VC″;!(3)*O* ’l K ft 6・ 
    −ふ■。==vL+ (v、−v、o)  ・
(1−e Fb′4)・・・・・・・・・(3) RI4:抵抗14の抵抗値 電圧比較回路31は、コンデンサ13の端子電圧■、と
基準電圧■、を常時比較するとともに、スイッチ信号S
WがHiレベルになったときから端子電圧veと基準電
圧■、とが実質的に同じ大きさになるときまでHiレベ
ルとなるパルス信号T。uLを出力する。
このように、コンデンサ13の充放電時の端子電圧■、
を等しく(基準電圧■、−降下電圧V、0)したうえで
、同じ電圧を充放電するときに要する時間がそれぞれの
パルス信号T ill + ’routのパルス幅で表
わされている。このため、パルス信号T3,1のパルス
幅ΔT11とパルス信号T o u tのパルス幅ΔT
1□との関係は、(4)式のようになる。
ΔTIz/ΔT 1t = R+ a / R+ z 
= K  = ・・・・・・(4)(K:定数) 距離計測部13では、パルス信号T、□のパルス幅ΔT
、zで規定される時間中に、カウンタ38で計測される
クロックパルスの個数に基づいて物標までの距離りを演
算計測する。このカウンタ38からの出力は、ラッチ信
号LATCHによりラッチ39に記憶されるとともに、
このラッチ信号LATCHにより出力部5のDフリップ
フロップ7がクリアされる。ここで、距離りとパルス幅
ΔT11の関係は以下のようになる。
ΔT++=2L/C・・・・・・・・・(5)C=3X
10” m:光速 (5)式より距離L=1m当りのパルス幅はΔTl1=
6.67nsとなり、従来のように発光から受光までの
遅延時間を直接計測する場合にIrnの分解能を得よう
とすると、クロックパルスの周波数f。
とじて150MHzが必要となる。しかし、本実施例に
おいては抵抗12を1にΩ、抵抗14を75にΩとして
、(4)式で示される倍率Kを75としているため、ク
ロックパルスの周波数f0を8MHzとしているのにも
かかわらず、0.25 mの分解能が得られる。
なお、本発明では(2)式、(3)式に示したように、
コンデンサ13の初期電圧vLを考慮して充放電時にコ
ンデンサ13に印加電圧を等しくしているため、コンデ
ンサ13の充放電時間比が(4)式のように抵抗12.
14の抵抗値の比のみで定まる。
このため、抵抗12.14に温度係数が等しい同種類の
ものを用いれば、充放電時間比は温度による影響を受け
ないという特徴を持つ。
また、本実施例ではパルス信号Tム7のパルス幅ΔTl
+に応じてコンデンサ13を放電させ、コンデンサ13
の充電時に拡大されたパルス幅ΔTI2をもったパルス
信号T o u &を作成していたが、パルス信号T、
、、によってコンデンサ13を充電し、コンデンサ13
の放電時にパルス信号T。utを作成しても良い。
次に、本発明の第2実施例について、第4図および第5
図に基づいて説明する。
第2実施例においては、2つの異なる容量のコンデンサ
を同様の定電流で充電したときに、2つのコンデンサの
端子電圧が所定の電圧に達するまでの充電時間の差異に
基づいて、パルス信号のパルス幅を任意の倍率で拡大す
るものである。
第2実施例においては、パルス幅拡大回路を除く他の構
成が、第1実施例と同様であるため、第2実施例のパル
ス幅拡大回路についてのみ説明する。
第4図は、第2実施例のパルス幅拡大回路の構成を示し
た回路図である。第4図において、定電流発生部101
は、2つの電界効果トランジスタ(FET)Q+ 、Q
!と抵抗Rとによって公知のカレントミラー回路を構成
している。なお、2つのFETQ、、Q、のソースは、
図示しない電源に接続されている。この定電流発生部1
01によって発生された定電流は、充電スイッチング部
104の2つのF E T Q3 、 Qaのドレイン
に与えられる。なお、この2つのF E T Qz 、
 Qaは、同一の電流容量を備えるように構成されてい
る。
FETQ3のゲートは入力端子Aに接続されており、パ
ルス信号作成回路から出力されるパルス信号Tiはこの
入力端子Aに与えられる。そして、F E T Q s
 ハパルス信号Th−がHiレベルとなったときにオン
状態となり、定電流発生部101が発生した定電流によ
り基準コンデンサC8を充電する。一方FETQ、のゲ
ートは、ANDゲートA、の出力端子に接続されている
。このANDゲートA、の一方の入力端子は、インバー
タX1を介して入力端子Aに接続されており、他方の入
力端子は出力端子Bに接続されている。そして、AND
ゲー1−Atの2つの入力信号がともにHiレベルにな
ったときFETQ、がオン状態となり、比較コンデンサ
C!を定電流発生部101が発生する定電流により充電
する。コンパレータ103は、基準コンデンサC+の端
子電圧と比較コンデンサC2の端子電圧とを比較するも
ので、基準コンデンサC1の端子電圧が大きいときには
Hiレベルの信号を出力し、比較コンデンサC8の端・
予電圧が大きいときにはLoレベルの信号を出力する。
放電スイッチング部102は、3つのF E T Qs
 、 Qa 。
Q、から構成されており、これらのF E T Qs 
Q、、Q、は、基準コンデンサC3および比較コンデン
サC2に充電された電圧を放電させるためのものである
。エツジ検出部105は、NORゲー) N rを備え
、このNORゲートN1の一方の入力端子にはコンパレ
ータ103の出力端子が直接接続され、他方の入力端子
にはインバータX2およびCR回路C3,R1を介して
コンパレータ103の出力端子が接続されている。この
エツジ検出部105は、コンパレータ103から出力さ
れるパルス幅の拡大されたパルス信号T。□がり。
レベルとなったことを検出するとともに、検出した時点
からCR回路C,、R,の時定数によって定まるパルス
幅を持ったパルス信号を放電スイッチング部106の各
F E T Qs 、 Q= 、 Q?のゲートに与え
るものである。
上記のように構成されたパルス幅拡大回路の作用を、第
4図の回路図および第5図のタイミングチャートを用い
て説明する。
第4図および第5図において、パルス信号T i nが
Loレベルであるとき、充電スイッチング部104の2
つのF E T Q3 、  Qaはともにオフ状態に
あるため、基準コンデンサC1および比較コンデンサC
tの端子電圧”CI+  VC2はほぼ零となっている
この状態で第5図に示すパルス信号T i nが入力端
子Aに入力されると、FETQ3がオン状態となり、定
電流発生部101の定電流により基準コンデンサCIが
充電される。この充電によって、基準コンデンサC2の
端子電圧Vclが高くなり、コンパレータ103はHi
レベルの信号を出力する。基準コンデンサC,は、パル
ス信号T1がHiレベルである間は充電が継続され、パ
ルス信号T i nがLoレベルとなった時点で充電が
終了される。
すなわち、基準コンデンサC3の端子電圧VCIはパル
ス信号Tinのパルス幅ΔToに比例した値になる。
そして、パルス信号Ti1lがLoレベルになると、F
ETQ、がオフ状態になるとともに、ANDゲートA 
+からHiレベルの信号が出力されて、FETQ、がオ
ン状態となる。すると、基準コンデンサの端子電圧VC
Iは充電された電位に保たれたまま、比較コンデンサC
tが基準コンデンサCIが充電された電流と同じ電流で
充電されはじめる。
この比較コンデンサC2の充電は比較コンデンサC!の
端子電圧vexが基準コンデシサC1の端子電圧VCI
よりも太き(なり、コンパレータ103がらLoレベル
の信号が出力されるまで継続される。
ここで、本実施例においては、基準コンデンサCの容量
CI+に対して比較コンデンサCtの容量C2□がC+
+: Czz=1 : nとなるよう構成している。
このため、両コンデンサC,,C,を同じ定電流によっ
て充電すると、両コンデンサC,,C,の端子電圧■C
1+  ”C!が同じ電圧となるまでには、比較コンデ
ンサC2は基準コンデンサC1のn倍の時間を要する。
本実施例においては、基準コンデンサC1が充電され始
めた時点でコンパレータ103よりパルス信号T o 
u Lを出力し、かつ基準コンデンサC1の充電が終了
した時点で比較コンデンサC8の充電を開始するように
構成している。
さらに、比較コンデンサC2の端子電圧VC2が基準コ
ンデンサCIの端子電圧■。、に実質的に等しくなった
時点で、パルス信号T。。、の出力を終了するように構
成している。このため、入力端子Aから入力されたパル
ス信号T、。のパルス幅ΔT2□に対して、出力端子B
から出力されるパルス信号T o u tのパルス幅Δ
T21は、以下の式で表わされる関係となる。
ΔTzI   n+1 =n+ 1  ・・・・・・・・・(6)ΔT2□  
    1 コンパレータ103から出力されるパルス信号T o 
u tがLoレベルとなると、エツジ検出部105から
コンデンサC3と抵抗R7との時定数に応じたパルス幅
を持ったパルス信号V rasが出力される。このパル
ス信号V、。1は放電スイッチング部106の各FET
Q& 、Qt 、Q!+のゲートに与えられて、各FE
TQ& 、Qv 、Q@はそれぞれオン状態となる。こ
れにより、両コンデンサCITC2がFETQ= 、Q
4 、Qsを介して放電され、両コンデンサC,,C,
の端子電圧VCL+  ”C□はほぼ零となる。ここで
、本実施例ではFETQIを設けているために、基準コ
ンデンサC8および比較コンデンサC2の放電後の端子
電圧■。I+VC□をほぼ等しくすることができ、この
放電後の電圧の違いによる誤差を低減することができる
なお、本実施例においては、2゛つのコンデンサを所定
の電圧まで充電するときの充電時間の相違からパルス幅
を拡大していたが、同じ電圧を放電するように構成して
、その放電時間の相違からパルス幅を拡大するようにし
ても良い。
次に、本発明の第3実施例について第6図および第7図
を用いて説明する。
第3実施例では、コンデンサを充電する電流値と放電す
る電流値とを変えることにより、所定の電圧を充電ある
いは放電させる時間を異ならせ、この充放電時の時間の
相違に基づいてパルス信号のパルス幅を任意の倍率で拡
大するものである。
第3実施例においても、第2実施例と同様にパルス幅拡
大回路を除いて第1実施例と同様に構成されるため、こ
こでは第3実施例のパルス幅拡大回路についてのみ説明
する。
第6図は、第3実施例のパルス幅拡大回路の構成を示す
回路図である。第6図において、定電流発生部201は
、2つの電界効果トランジスタ(FET)Qz、QCs
と抵抗RIIとによって公知のカレントミラー回路を構
成している。さらに、定電流発生部201にはFETQ
I2が設けられ、このFETQI3のドレインおよびゲ
ートは、FETQl□のソースに接続されている。なお
、2つのFETQz、QCsのソースは、図示しない電
源に接続されている。また、充放電部203のFETQ
 + sのソースもF E T Q++、QCsと同様
の電源に接続され、かつゲートが抵抗R11に接続され
ている。これらのFETQ、、、Q、□+Q+sは、同
一のトランジスタサイズ(チャネル幅W/チャネル長し
)を有するPチャネルFETである。このように、各F
 E T Qlr、Qt2.QISに関してトランジス
タサイズおよびゲートのバイアス電圧が等しいために、
各F ETQII、Qt2.Qt5には同じ値の電流が
流れる。また、充放電部203のFETQlkのドレイ
ンはFETQzsのドレインに接続され、かつゲートが
FETQI3のゲートに接続されている。そして、充放
電部203のF E T Q +sのドレインとFET
Qlkのドレインとを接続する接続線に、コンパレータ
205の反転端子とコンデンサ204の一端が接続され
ている。゛コンパレータ205の非反転端子には、図示
しない電源電圧よりも僅かに小さく設定された基準電圧
V ratが印加されている。すなわち、コンパレータ
205はコンデンサ204の端子電圧と基準電圧V r
afとを比較して、コンデンサ204の端子電圧が基準
電圧V rafよりも大きくなるまで、Hiレベルの信
号を出力端子Eから出力する。なおコンデンサ204の
他端は接地されている。FETQI3とFET Q l
 &のゲートは、ともに放電スイッチング部202のF
ETQI4のドレインに接続され、このFETQ、、の
ゲートはインバータX3を介して入力端子Cに接続され
、さらにFETQ、、のソースは接地されている。ここ
で、FETQI3.QIa、Qt6はそれぞれNチャネ
ルFETであり、特にFETQ I 3は、Pチャネル
FETQz、Q+’z、QCsと同じ値の電流が流れる
ように、またFETQ、、はFETQ、、の0倍の電流
が流れるように、それぞれトランジスタサイズが設定さ
れている。
以上のように構成されたパルス幅拡大回路の作用を、第
6図の回路図および第7図のタイミングチャートに基づ
いて説明する。
パルス信号作成部によってパルス信号T i nが作成
される以前には、入力端子CにLOレベルの信号が入力
されるので、インバータX3によってFE T Q +
 aはオン状態となる。このため、定電流発生部201
によって発生された定電流はFETQI4を介して流゛
れ、F E T Q13.  Q+bはオフ状態を維持
する。このとき、コンデンサ204はFETQ6.によ
って充電され、コンデンサ204の端子電圧は、第7図
に示すように、図示しない電源電圧によって初期電圧■
oまで上昇する。このような状態でパルス信号Tinが
入力されると、F E T Q r aがオフ状態とな
るためF E T QCs、 QI&がオン状態となり
、コンデンサ204はF E T Q13. Q+。
を介して放電される。このコンデンサ204の放電時に
も、FETQ、□およびFETQ、、を電流が流れるた
め、F ETQ13.QI&にはFETQ、z。
Q + sからの電流とコンデンサ204からの電流が
流れることになる。このときFETQ、3にはFET 
QCs 、 QCsと同じ値の電流が流れ、FETQI
6にはF ETQ+z 、 QCsのn倍の値の電流が
流れる。
このため、放電時にコンデンサ204から流れる電流は
FETQ+z 、Qlsのn−1倍となる。この放電に
よって、コンデンサ204の端子電圧が基準電圧V r
@fよりも低くなると、第7図に示すように、出力端子
Eからパルス信号T o u Lが出力される。
そして、パルス信号T i nが再びLOレベルになる
と、FETQ、、がオン状態となるため、FETQ+f
f、QCsはオフ状態となる。このため、コンデンサ2
04はFETQ、、を流れる電流によって充電され始め
る。このときにFETQ+sを介してコンデンサ204
に与えられる電流は、放電時の電流の1/(n−1)で
あるため、コンデンサ204の端子電圧が基準電圧vr
、fよりも大きくなるには、放電にかかった時間のn−
1倍の時間を要する。そして、コンデンサ204の端子
電圧が基準電圧V r*fよりも大きくなった時点でコ
ンパレータ205の出力信号は、LOレベルとなる。す
なわち、コンパレータ205からHiレベルの信号が出
力されている時間は、第7図に示すようにパルス信号T
inのパルス幅のn倍となる。
なお、本実施例においては、パルス信号T i nが入
力されていないときにコンデンサ204を充電し、パル
ス信号T i nの入力時にコンデンサ204を放電す
る。このコンデンサ204の放電時に、NチャネルF 
E T Q13.Q10をを介して放電を行っているた
め、本実施例のパルス幅拡大回路をIC化した場合、充
放電部203の総面積を小さくすることができる。これ
は、同じトランジスタサイズを有する場合、Pチャネル
FETに比較してNチャネルFETの方が、キャリアの
移動度が約2.5倍程大きいため、大きな電流を流すこ
とができるためである。また、本実施例においては定電
流発生部201にFETQ13を設けているため、放電
スイッチング部202のFETQ14のオン状態、オフ
状態にかかわらず、定電流発生部201から常に一定の
電流が発生される。また、第3実施例においては、パル
ス信号T i nが入力されたときにコンデンサ204
を放電していたが、パルス信号T!、、が入力されたと
きにコンデンサ204を充電するようにしても良い。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、検出対象である物
理量をその物理量に対応した時間に変換し、この変換さ
れた時間を所定の倍率で拡大している。そして、この拡
大された時間から物理量を測定しているので、任意の検
出分解能を得ることができる。また、時間を拡大してい
るために、この時間の計測に高価なカウンタを用いる必
要がな(なり、コストを低減をすることもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例の構成を示す回路ず、第2
図は第1図に示した回路の制御信号を作成する制御信号
作成回路の回路図、第3図は制御信号および第1図の回
路各部の動作波形を示したタイミングチャート、第4図
は本発明の第2実施例の構成を示す回路図、第5図は第
2実施例の動作を説明するタイミングチャート、第6図
は本発明の第3実施例の構成を示す回路図、第7図は第
3実施例の動作を説明するタイミングチャートである。 1・・・パルス信号作成部、2・・・発光部、3・・・
発光検出部、4・・・受光検出部、5・・・出力部、9
・・・パルス幅拡大回路、10・・・充放電回路、16
・・・電圧記憶回路、22・・・電圧設定回路、31・
・・比較回路。 36・・・距離計測部。 代理人弁理士  岡 部   隆 (ほか1名)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)検出対象である物理量をその物理量に対応した時
    間に変換し、この時間中に第1のデジタル信号を出力す
    る出力手段、 前記出力手段が出力する第1のデジタル信号を受けて、
    前記第1のデジタル信号が出力された時間を所定の倍率
    で拡大して、この拡大された時間中に第2のデジタル信
    号を出力する拡大手段、および 前記拡大手段によって前記第2のデジタル信号が出力さ
    れた時間に基ずいて、前記検出対象である物理量を演算
    する演算手段を備える物理量測定装置。
  2. (2)前記拡大手段は、 コンデンサと、 前記コンデンサの放電時に接続され、所定の抵抗値を有
    する第1の抵抗と、 前記コンデンサの充電時に接続され、前記第1の抵抗の
    抵抗値とは異なる抵抗値を有する第2の抵抗と、 前記コンデンサに対して充電か放電のどちらか一方を、
    所定の電圧を印加して、かつ前記第1のデジタル信号の
    出力された時間に応じて実行させる第1制御手段と、 前記第1制御手段によって充電か放電のどちらか一方が
    行われた後の前記コンデンサの初期電圧を考慮して、前
    記第1制御手段によって印加された所定の電圧と等しい
    電圧を印加し、前記コンデンサに対して充電か放電の残
    りの一方を実行させる第2制御手段と、 前記第1制御手段によって実行される充電か放電のどち
    らか一方の開始時の前記コンデンサの端子電圧を基準電
    圧として、この基準電圧と前記コンデンサの端子電圧と
    を比較する比較手段と、少なくとも前記第2制御手段に
    よって充電か放電の残りの一方が実行されたときに、前
    記比較手段によって前記コンデンサの端子電圧が前記基
    準電圧に実質的に等しくなったことが検出されるまで、
    前記第2のデジタル信号を出力する信号出力手段とを備
    え、 前記コンデンサと前記第1の抵抗とによる放電時の時定
    数と、前記コンデンサと前記第2の抵抗とによる充電時
    の時定数との相違に基づいて、前記第1のデジタル信号
    が出力された時間を所定の倍率で拡大し、この拡大され
    た時間中に前記第2のデジタル信号を出力することを特
    徴とする請求項1記載の物理量測定装置。
  3. (3)前記拡大手段は、 第1のコンデンサと、 前記第1のコンデンサに対して所定の電流値で充電か放
    電のどちらか一方を、前記第1のデジタル信号の出力さ
    れた時間に応じて実行させる第1制御手段と、 第2のコンデンサと、 前記第2のコンデンサに対して所定の電流値で前記第1
    制御手段が実行する充電か放電のどちらか一方と同じ方
    を実行させる第2制御手段と、前記第1のコンデンサの
    端子電圧と前記第2のコンデンサの端子電圧とを比較す
    る比較手段と、前記第2制御手段によって充電か放電の
    どちらか一方が実行されたときに、前記比較手段によっ
    て前記第2のコンデンサの端子電圧が前記第1のコンデ
    ンサの端子電圧に実質的に等しくなったことが検出され
    るまで、前記第2のデジタル信号を出力する信号出力手
    段とを備え、 充電あるいは放電時に前記第1及び第2のコンデンサが
    実質的に同じ端子電圧に達するまでに要する時間が、前
    記第1のコンデンサに比較して前記第2のコンデンサの
    方が長くなるように、前記第1制御手段による所定の電
    流値と前記第1のコンデンサの容量との組合せと前記第
    2制御手段による所定の電流値と前記第2のコンデンサ
    の容量との組合せとが設定された請求項1記載の物理量
    測定装置。
  4. (4)前記拡大手段は、 コンデンサと、 前記第1のデジタル信号が出力された時間に応じて、前
    記コンデンサに対して所定の電流値で充電か放電のどち
    らか一方を実行させる第1制御手段と、 前記第1制御手段によって充電か放電のどちらか一方が
    行われた後に、前記第1制御手段による所定の電流値よ
    りも小さな電流値で前記コンデンサに対して充電か放電
    の残りの一方を実行させる第2制御手段と、 前記第1制御手段によって実行される充電か放電のどち
    らか一方の開始後の前記コンデンサの端子電圧を基準電
    圧として、この基準電圧と前記コンデンサの端子電圧と
    を比較する比較手段と、少なくとも前記第2制御手段に
    よって充電か放電の残りの一方が実行されたときに、前
    記コンデンサの端子電圧が前記比較手段によって前記基
    準電圧に実質的に等しくなったことが検出されるまで、
    前記第2のデジタル信号を出力する信号出力手段とを備
    える請求項1記載の物理量測定装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0688872A (ja) * 1991-06-03 1994-03-29 Kengen Sai 目標の距離を測定する装置

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5130955A (en) * 1990-12-11 1992-07-14 Dean Luerker Athletic timer correction system
US6327223B1 (en) 1996-06-14 2001-12-04 Brian P. Elfman Subnanosecond timekeeper system
JP4046905B2 (ja) * 1999-08-27 2008-02-13 本田技研工業株式会社 車間距離計測装置
US7330803B2 (en) * 2005-06-22 2008-02-12 Ametek, Inc. High resolution time interval measurement apparatus and method
US7551703B2 (en) * 2006-01-30 2009-06-23 Mcewan Technologies, Llc Rate locked loop radar timing system
US7446699B2 (en) * 2006-03-10 2008-11-04 Mcewan Thomas Edward Error corrector for radar timing systems
US7642754B2 (en) * 2006-06-08 2010-01-05 Semiconductor Components Industries, L.L.C. Method of forming a voltage regulator and structure therefor

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5488164A (en) * 1977-12-26 1979-07-13 Takeda Riken Ind Co Ltd Time measuring device
JPS59188513A (ja) * 1983-04-12 1984-10-25 Marine Instr Co Ltd 超音波の伝播時間を測定する装置
JPS62288597A (ja) * 1986-06-06 1987-12-15 Yokogawa Electric Corp 時間計測装置
JPS63163119A (ja) * 1986-12-25 1988-07-06 Fuji Electric Co Ltd フオトセンサの受光強度測定装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3564284A (en) * 1969-02-14 1971-02-16 Bruce H Kamens Time interval comparison system
US3582678A (en) * 1969-08-06 1971-06-01 Sperry Rand Corp Pulse interval measurement apparatus
DE2049133A1 (de) * 1970-10-07 1972-04-13 Bosch Gmbh Robert Schaltungsanordnung zur Messung von Impulsen
US4002979A (en) * 1973-04-20 1977-01-11 Electro Sciences For Medicine, Inc. Pulse comparator
JPS5051752A (ja) * 1973-09-07 1975-05-08
US3983481A (en) * 1975-08-04 1976-09-28 Ortec Incorporated Digital intervalometer
US4339712A (en) * 1980-05-01 1982-07-13 The Boeing Company Method and system for measuring width and amplitude of current pulse
FR2493553A1 (fr) * 1980-10-31 1982-05-07 Dassault Electronique Appareillage pour la datation precise d'un evenement par rapport a une reference de temps
US4504155A (en) * 1984-03-01 1985-03-12 Chip Supply Time-to-voltage converter

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5488164A (en) * 1977-12-26 1979-07-13 Takeda Riken Ind Co Ltd Time measuring device
JPS59188513A (ja) * 1983-04-12 1984-10-25 Marine Instr Co Ltd 超音波の伝播時間を測定する装置
JPS62288597A (ja) * 1986-06-06 1987-12-15 Yokogawa Electric Corp 時間計測装置
JPS63163119A (ja) * 1986-12-25 1988-07-06 Fuji Electric Co Ltd フオトセンサの受光強度測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0688872A (ja) * 1991-06-03 1994-03-29 Kengen Sai 目標の距離を測定する装置

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