JPS632352B2 - - Google Patents
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- JPS632352B2 JPS632352B2 JP3811081A JP3811081A JPS632352B2 JP S632352 B2 JPS632352 B2 JP S632352B2 JP 3811081 A JP3811081 A JP 3811081A JP 3811081 A JP3811081 A JP 3811081A JP S632352 B2 JPS632352 B2 JP S632352B2
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- JP
- Japan
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- circuit
- time interval
- triangular wave
- capacitor
- signal
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- 238000007600 charging Methods 0.000 claims description 17
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 description 5
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
- G04F10/00—Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、一定周期で繰返して発生する一対の
パルスの時間間隔又は一定周期で繰返して発生す
る単一パルスの時間幅を複数回の測定の平均で求
める平均時間間隔測定装置に関するものである。
パルスの時間間隔又は一定周期で繰返して発生す
る単一パルスの時間幅を複数回の測定の平均で求
める平均時間間隔測定装置に関するものである。
従来、この種の測定は、第1図及び第2図に示
す方式によつて行われていた。即ち、第2図Bに
示す第1のパルス(スタートパルス)と第2図C
に示す第2のパルス(ストツプパルス)との時間
間隔TXを測定する場合には、まずパルス発生回
路1より、第2図B,Cに示す第1及び第2のパ
ルスを一定周期TAで繰返し発生させ、第1のパ
ルスをフリツプフロツプ2のセツト端子に供給
し、第2のパルスをフリツプフロツプ2のリセツ
ト端子に供給する。これにより、被測定時間間隔
TXの第1及び第2のパルスから成る時間間隔信
号が第2図Dに示す時間間隔パルス信号に変換さ
れる。フリツプフロツプ2のQ出力端子から得ら
れるパルス信号がANDゲート3に供給されると、
これに応答してゲートが通過可能となり、クロツ
ク発振器4から周期T0で発生している第2図A
のクロツク信号がゲート3を通過する。一方、測
定回数Nを決定するために、フリツプフロツプ2
のQ出力が分周器から成るゲート制御回路5によ
つて分周され、第2図Eに示す如くt1で立上つて
t7で立下る分周出力となる。ANDゲート3の出
力にはもう一つのANDゲート6が設けられ、こ
れが分周器から成るゲート制御回路5の出力で制
御されるので、ANDゲート6の出力にはt1〜t7期
間の中の第2図Dのパルス信号が発生している期
間に於いて第2図Fに示す如くクロツク信号が現
われる。ANDゲート6の出力にはカウンタ7が
結合されているので、カウンタ7はN回の測定即
ちTA×N時間に於いて発生したクロツク信号を
計数する。今、このカウンタ7による総計数値を
NTとすれば、TX=NT×T0/Nで平均時間間隔
TXを求めることが出来る。
す方式によつて行われていた。即ち、第2図Bに
示す第1のパルス(スタートパルス)と第2図C
に示す第2のパルス(ストツプパルス)との時間
間隔TXを測定する場合には、まずパルス発生回
路1より、第2図B,Cに示す第1及び第2のパ
ルスを一定周期TAで繰返し発生させ、第1のパ
ルスをフリツプフロツプ2のセツト端子に供給
し、第2のパルスをフリツプフロツプ2のリセツ
ト端子に供給する。これにより、被測定時間間隔
TXの第1及び第2のパルスから成る時間間隔信
号が第2図Dに示す時間間隔パルス信号に変換さ
れる。フリツプフロツプ2のQ出力端子から得ら
れるパルス信号がANDゲート3に供給されると、
これに応答してゲートが通過可能となり、クロツ
ク発振器4から周期T0で発生している第2図A
のクロツク信号がゲート3を通過する。一方、測
定回数Nを決定するために、フリツプフロツプ2
のQ出力が分周器から成るゲート制御回路5によ
つて分周され、第2図Eに示す如くt1で立上つて
t7で立下る分周出力となる。ANDゲート3の出
力にはもう一つのANDゲート6が設けられ、こ
れが分周器から成るゲート制御回路5の出力で制
御されるので、ANDゲート6の出力にはt1〜t7期
間の中の第2図Dのパルス信号が発生している期
間に於いて第2図Fに示す如くクロツク信号が現
われる。ANDゲート6の出力にはカウンタ7が
結合されているので、カウンタ7はN回の測定即
ちTA×N時間に於いて発生したクロツク信号を
計数する。今、このカウンタ7による総計数値を
NTとすれば、TX=NT×T0/Nで平均時間間隔
TXを求めることが出来る。
ところが、夫々の測定即ちt1〜t2、t3〜t4で示
すような各時間間隔に於いて±1クロツクの誤差
が生じ、t1〜t7期間でこの誤差が加算され、例え
ば10回測定すれば最大±10クロツクとなる。従つ
て測定回数を増やしても、測定精度を上げること
が出来ない。
すような各時間間隔に於いて±1クロツクの誤差
が生じ、t1〜t7期間でこの誤差が加算され、例え
ば10回測定すれば最大±10クロツクとなる。従つ
て測定回数を増やしても、測定精度を上げること
が出来ない。
そこで、この種の欠点を解決するために、本願
発明者は、特願昭54−106056号に関連して第3図
及び第4図に示す方式を開発した。この方式で
は、パルス発生回路11から第4図Aに示す第1
のパルス(スタートパルス)と第4図Bに示す第
2のパルス(ストツプパルス)とを時間間隔TX
で発生させる。第1のパルス送出ライン12は
RSフリツプフロツプ14のセツト端子に結合さ
れ、第2のパルス送出ライン13はフリツプフロ
ツプ14のリセツト端子に結合されているので、
フリツプフロツプ14のQ出力端子には第4図C
に示すパルスが得られる。即ち第1及び第2のパ
ルスから成る時間間隔信号が単一の時間間隔パル
ス信号に変換される。フリツプフロツプ14のQ
出力が結合された分周器から成るゲート制御回路
15は測定回数N即ち測定時間TA×Nを決定す
るものであり、第4図Dに示す如く例えばt1〜t13
で示す時間幅の分周出力を発生する。
発明者は、特願昭54−106056号に関連して第3図
及び第4図に示す方式を開発した。この方式で
は、パルス発生回路11から第4図Aに示す第1
のパルス(スタートパルス)と第4図Bに示す第
2のパルス(ストツプパルス)とを時間間隔TX
で発生させる。第1のパルス送出ライン12は
RSフリツプフロツプ14のセツト端子に結合さ
れ、第2のパルス送出ライン13はフリツプフロ
ツプ14のリセツト端子に結合されているので、
フリツプフロツプ14のQ出力端子には第4図C
に示すパルスが得られる。即ち第1及び第2のパ
ルスから成る時間間隔信号が単一の時間間隔パル
ス信号に変換される。フリツプフロツプ14のQ
出力が結合された分周器から成るゲート制御回路
15は測定回数N即ち測定時間TA×Nを決定す
るものであり、第4図Dに示す如く例えばt1〜t13
で示す時間幅の分周出力を発生する。
フリツプフロツプ14のQ出力は点線で囲んで
示す位相保持可能な積分型発振器16にも結合さ
れているので、発振器16は時間間隔信号即ち時
間間隔パルス信号に応答して動作する。この発振
器16は、充放電制御回路による制御で三角波を
発生するためのコンデンサ17を含み、このコン
デンサ17に充電制御するための第1のスイツチ
回路18を介して第1の定電流電源回路19が結
合され、また放電を制御するための第2のスイツ
チ回路20を介して第2の定電流電源回路21が
接続されている。第1の定電流電源回路19は正
の電源22に接続され、矢印23で示すコンデン
サ17の充電方向2I(A)の定電流を供給するように
形成されている。一方、負の電源24に接続され
た第2の定電流電源回路21は矢印25で示すコ
ンデンサ17の放電方向にI(A)の定電流を流すよ
うに構成されている。従つて、第1のスイツチ回
路18と第2のスイツチ回路20との両方がオン
の期間には、2I−I=I(A)の電流でコンデンサ1
7が充電され、第1のスイツチ回路18がオフで
第2のスイツチ回路20のみがオンの時には電流
I(A)でコンデンサ17が放電される。第1のスイ
ツチ回路18はNANDゲート26の低レベル出
力に応答してオンになり、高レベル出力に応答し
てオフになるように形成され、また第2のスイツ
チ回路20はフリツプフロツプ14のQ出力が高
レベルの時にオンになり、低レベルの時にオフに
なるように形成されている。
示す位相保持可能な積分型発振器16にも結合さ
れているので、発振器16は時間間隔信号即ち時
間間隔パルス信号に応答して動作する。この発振
器16は、充放電制御回路による制御で三角波を
発生するためのコンデンサ17を含み、このコン
デンサ17に充電制御するための第1のスイツチ
回路18を介して第1の定電流電源回路19が結
合され、また放電を制御するための第2のスイツ
チ回路20を介して第2の定電流電源回路21が
接続されている。第1の定電流電源回路19は正
の電源22に接続され、矢印23で示すコンデン
サ17の充電方向2I(A)の定電流を供給するように
形成されている。一方、負の電源24に接続され
た第2の定電流電源回路21は矢印25で示すコ
ンデンサ17の放電方向にI(A)の定電流を流すよ
うに構成されている。従つて、第1のスイツチ回
路18と第2のスイツチ回路20との両方がオン
の期間には、2I−I=I(A)の電流でコンデンサ1
7が充電され、第1のスイツチ回路18がオフで
第2のスイツチ回路20のみがオンの時には電流
I(A)でコンデンサ17が放電される。第1のスイ
ツチ回路18はNANDゲート26の低レベル出
力に応答してオンになり、高レベル出力に応答し
てオフになるように形成され、また第2のスイツ
チ回路20はフリツプフロツプ14のQ出力が高
レベルの時にオンになり、低レベルの時にオフに
なるように形成されている。
コンデンサ17に結合されたシユミツトトリガ
回路27は第4図Eに示すように第1の基準電圧
V1即ち第1のトリガレベルと第2の基準電圧V2
即ち第2のトリガレベルとを有してヒステリシス
動作するように構成され、例えばコンデンサ17
の充電がt1時点で開始されて、t2時点で第1の基
準電圧V1に達すると、出力が高レベルから低レ
ベルに反転し、しかる後コンデンサ17が放電し
て例えばt3時点で第2の基準電圧V2になると出力
が低レベルから高レベルに反転するように構成さ
れている。
回路27は第4図Eに示すように第1の基準電圧
V1即ち第1のトリガレベルと第2の基準電圧V2
即ち第2のトリガレベルとを有してヒステリシス
動作するように構成され、例えばコンデンサ17
の充電がt1時点で開始されて、t2時点で第1の基
準電圧V1に達すると、出力が高レベルから低レ
ベルに反転し、しかる後コンデンサ17が放電し
て例えばt3時点で第2の基準電圧V2になると出力
が低レベルから高レベルに反転するように構成さ
れている。
シユミツトトリガ回路27の出力ライン28
は、NANDゲート26の一方の入力端子に結合
され、このNANDゲート26の他方の入力端子
にはフリツプフロツプ14のQ出力が結合されて
いるので、両入力が高レベルの時にのみNAND
ゲート26の出力は低レベルとなる。従つて、第
4図Cに示す高レベルの時間間隔パルス信号が発
生している期間t1〜t6等にシユミツトトリガ回路
27の出力が高レベルになると、NANDゲート
26の低レベル出力で第1のスイツチ回路18が
オンになる。また第4図Cに示す高レベルの時間
間隔パルス信号が発生している期間には第2のス
イツチ回路20がオンに保たれる。このため、第
1及び第2のスイツチ回路18,20がオンのt1
〜t2期間でコンデンサ17が2I−I=I(A)で充電さ
れ、t2時間でシユミツトトリガ回路27の出力が
低レベルに転換すると、第1のスイツチ回路18
がオフになり、第1のスイツチ回路20を通して
−I(A)の電流が流れてコンデンサ17は放電する。
t3時点になつてシユミツトトリガ回路27の出力
が高レベルになると、第1のスイツチ回路18が
再びオンになり、2I−I=I(A)の充電が開始する。
この結果、コンデンサ17の出力端子間には第4
図Eに示す三角波発振出力が得られる。
は、NANDゲート26の一方の入力端子に結合
され、このNANDゲート26の他方の入力端子
にはフリツプフロツプ14のQ出力が結合されて
いるので、両入力が高レベルの時にのみNAND
ゲート26の出力は低レベルとなる。従つて、第
4図Cに示す高レベルの時間間隔パルス信号が発
生している期間t1〜t6等にシユミツトトリガ回路
27の出力が高レベルになると、NANDゲート
26の低レベル出力で第1のスイツチ回路18が
オンになる。また第4図Cに示す高レベルの時間
間隔パルス信号が発生している期間には第2のス
イツチ回路20がオンに保たれる。このため、第
1及び第2のスイツチ回路18,20がオンのt1
〜t2期間でコンデンサ17が2I−I=I(A)で充電さ
れ、t2時間でシユミツトトリガ回路27の出力が
低レベルに転換すると、第1のスイツチ回路18
がオフになり、第1のスイツチ回路20を通して
−I(A)の電流が流れてコンデンサ17は放電する。
t3時点になつてシユミツトトリガ回路27の出力
が高レベルになると、第1のスイツチ回路18が
再びオンになり、2I−I=I(A)の充電が開始する。
この結果、コンデンサ17の出力端子間には第4
図Eに示す三角波発振出力が得られる。
ところで、t6時点になつて、第4図Cに示すフ
リツプフロツプ14の出力が低レベルに転換する
と、第1及び第2のスイツチ回路18,20が共
にオフになる。従つて、コンデンサ17の電圧は
第4図Eに示す如くt6時点から一定電圧値に保持
された状態となる。しかる後、t7時点でフリツプ
フロツプ14の出力が再び高レベルになると、第
1及び第2のスイツチ回路18,20がオンにな
り、コンデンサ17の定電流充電が開始される。
この時、コンデンサ17は保持時間前と同じ電流
値で充電(又は放電)されるので、保持時間前の
位相即ちt6時点の三角波の位相に継続した状態で
発振を開始する。このため、t4時点から位相保持
開始時点t6までの時間TH1と位相保持終了時点t7
からt8時間までの時時間TH2との和(TH1+TH2)
は、三角波発振の周期THと等しくなる。これに
より、被測定時間間隔t1〜t6、t7〜t9、t11〜t12等
に於ける三角波発振パルス数を合計しても誤差が
加算されず、平均時間間隔を正確に求めることが
出来る。
リツプフロツプ14の出力が低レベルに転換する
と、第1及び第2のスイツチ回路18,20が共
にオフになる。従つて、コンデンサ17の電圧は
第4図Eに示す如くt6時点から一定電圧値に保持
された状態となる。しかる後、t7時点でフリツプ
フロツプ14の出力が再び高レベルになると、第
1及び第2のスイツチ回路18,20がオンにな
り、コンデンサ17の定電流充電が開始される。
この時、コンデンサ17は保持時間前と同じ電流
値で充電(又は放電)されるので、保持時間前の
位相即ちt6時点の三角波の位相に継続した状態で
発振を開始する。このため、t4時点から位相保持
開始時点t6までの時間TH1と位相保持終了時点t7
からt8時間までの時時間TH2との和(TH1+TH2)
は、三角波発振の周期THと等しくなる。これに
より、被測定時間間隔t1〜t6、t7〜t9、t11〜t12等
に於ける三角波発振パルス数を合計しても誤差が
加算されず、平均時間間隔を正確に求めることが
出来る。
第3図では平均時間間隔を容易に測定するため
に、ANDゲート29の一方の入力端子に分周器
から成るゲート制御回路15の出力が結合され、
その他方の入力端子にシユミツトトリガ回路27
の出力ライン28が結合され、ANDゲート29
の出力端子はカウンタ30の入力に結合されてい
る。従つて、第4図Dに示すt1〜t13期間の高レベ
ル信号でANDゲート29が導通している状態に
於いて、シユミツトトリガ回路27から発生する
三角波に対応した第4図Fの矩形波パルスが
ANDゲート29を通過してカウンタ30に入力
し、カウンタ30によつて第4図Fのt1〜t13期間
のパルス数が計数される。分周器から成るゲート
制御回路15の出力端子に結合されている制御回
路としての単安定マルチバイブレータ31は、分
周器から成るゲート制御回路15の最初の高レベ
ル出力が終了するt13時点に同期してトリガされ、
所定時間だけ制御パルスを発生し、これに制御さ
れて、カウンタ30の最終計数値が演算回路32
に送られ、演算回路32では、TX=NMTH/Nの演 算を行う。但し上記式で、NMはカウンタ30の
計数値、THは三角波の周期、Nは測定回数であ
る。演算回路32には表示器33が結合されてい
るので、演算結果はここに表示される。尚、一般
には、THを固定し、Nを10の倍数とするので、
Nによる割り算は小数点の移動だけですむ。従つ
てこの場合には、マイクロプロセツサ等を使用し
ないで、暗算でTXを求めることが出来る。
に、ANDゲート29の一方の入力端子に分周器
から成るゲート制御回路15の出力が結合され、
その他方の入力端子にシユミツトトリガ回路27
の出力ライン28が結合され、ANDゲート29
の出力端子はカウンタ30の入力に結合されてい
る。従つて、第4図Dに示すt1〜t13期間の高レベ
ル信号でANDゲート29が導通している状態に
於いて、シユミツトトリガ回路27から発生する
三角波に対応した第4図Fの矩形波パルスが
ANDゲート29を通過してカウンタ30に入力
し、カウンタ30によつて第4図Fのt1〜t13期間
のパルス数が計数される。分周器から成るゲート
制御回路15の出力端子に結合されている制御回
路としての単安定マルチバイブレータ31は、分
周器から成るゲート制御回路15の最初の高レベ
ル出力が終了するt13時点に同期してトリガされ、
所定時間だけ制御パルスを発生し、これに制御さ
れて、カウンタ30の最終計数値が演算回路32
に送られ、演算回路32では、TX=NMTH/Nの演 算を行う。但し上記式で、NMはカウンタ30の
計数値、THは三角波の周期、Nは測定回数であ
る。演算回路32には表示器33が結合されてい
るので、演算結果はここに表示される。尚、一般
には、THを固定し、Nを10の倍数とするので、
Nによる割り算は小数点の移動だけですむ。従つ
てこの場合には、マイクロプロセツサ等を使用し
ないで、暗算でTXを求めることが出来る。
上記第3図の方式によれば、第1図の方式に比
較して、大幅に測定精度を向上させることが可能
であるが、しかし、シユミツトトリガ回路27の
出力の反転からスイツチ回路18がオンあるいは
オフになるまでの動作遅れ時間に基づいて誤差が
生じる場合がある。第5図は第4図のt9時点近傍
を拡大図示したものであり、Aはフリツプフロツ
プ14の出力、Bはコンデンサ17の電圧、Cは
シユミツトトリガ回路27の出力を示す。コンデ
ンサ17の電圧が第1の基準電圧V1をt1時点で横
切つてシユミツトトリガ回路27の出力がCに示
すように低レベルに転換しても、第1のスイツチ
回路18がオフになるまでには遅れ時間td1があ
る。このため、コンデンサ7の充電はt1で終了せ
ずに遅れ時間td1だけ継続しようとする。ところ
が、この遅れ時間td1の期間又はこの直前に第5
図Aに示すようにフリツプフロツプ14の出力が
低レベルになり、第1及び第2のスイツチ回路1
8,20が遅れ時間td1の間にオフになると、コ
ンデンサ17が最高電圧に充電される前に保持状
態となる。そして、t3時点で保持が解除されて
も、シユミツトトリガ回路27の出力が第5図C
に示す如く既に低レベルに転換しているので、第
1のスイツチ回路18がオフに保たれ、コンデン
サ17が最高電圧まで充電されず、直ちに放電状
態となる。このため、位相を継続させるように一
点鎖線で示す如くコンデンサ17の電圧が変化し
てほしいところが、実線で示す変化となり、時間
td2だけの誤差が生じる。このtd2は微小であるの
で、例えば1ns以下の精度が要求されない場合に
は、実質上問題とならないが、高精度の測定が要
求される場合には問題となる。
較して、大幅に測定精度を向上させることが可能
であるが、しかし、シユミツトトリガ回路27の
出力の反転からスイツチ回路18がオンあるいは
オフになるまでの動作遅れ時間に基づいて誤差が
生じる場合がある。第5図は第4図のt9時点近傍
を拡大図示したものであり、Aはフリツプフロツ
プ14の出力、Bはコンデンサ17の電圧、Cは
シユミツトトリガ回路27の出力を示す。コンデ
ンサ17の電圧が第1の基準電圧V1をt1時点で横
切つてシユミツトトリガ回路27の出力がCに示
すように低レベルに転換しても、第1のスイツチ
回路18がオフになるまでには遅れ時間td1があ
る。このため、コンデンサ7の充電はt1で終了せ
ずに遅れ時間td1だけ継続しようとする。ところ
が、この遅れ時間td1の期間又はこの直前に第5
図Aに示すようにフリツプフロツプ14の出力が
低レベルになり、第1及び第2のスイツチ回路1
8,20が遅れ時間td1の間にオフになると、コ
ンデンサ17が最高電圧に充電される前に保持状
態となる。そして、t3時点で保持が解除されて
も、シユミツトトリガ回路27の出力が第5図C
に示す如く既に低レベルに転換しているので、第
1のスイツチ回路18がオフに保たれ、コンデン
サ17が最高電圧まで充電されず、直ちに放電状
態となる。このため、位相を継続させるように一
点鎖線で示す如くコンデンサ17の電圧が変化し
てほしいところが、実線で示す変化となり、時間
td2だけの誤差が生じる。このtd2は微小であるの
で、例えば1ns以下の精度が要求されない場合に
は、実質上問題とならないが、高精度の測定が要
求される場合には問題となる。
そこで、本発明の目的は、極めて高精度に平均
時間間隔を測定することが可能な測定装置を提供
することにある。
時間間隔を測定することが可能な測定装置を提供
することにある。
上記目的を達成するための本発明は、実施例を
示す図面の符号を参照して説明すると、被測定時
間間隔(Tx)を示す時間間隔信号を一定周期
(TA)で繰返して供給する時間間隔信号供給回路
と、三角波発生用コンデンサ17と、前記コンデ
ンサ17と後記のシユミツトトリガ回路27と後
記の三角波発生制御回路とに接続されており、前
記時間間隔信号の周期(TA)よりも短い周期
(TH)で三角波電圧が前記コンデンサ17から繰
返して得られるように前記コンデンサ17の充電
及び放電を制御する充放電制御回路と、前記コン
デンサ17に接続されており、前記コンデンサ1
7の電圧が第1の基準電圧V1になつた時に第1
の出力状態から第2の出力状態に転換して前記コ
ンデンサ17が充電状態から放電状態に転換する
ように前記充放電制御回路を制御し、且つ前記コ
ンデンサ17の電圧が前記第1の基準電圧V1よ
りも低い第2の基準電圧V2になつた時に前記第
2の出力状態から前記第1の出力状態に転換して
前記コンデンサ17が放電状態から充電状態に転
換するように前記充放電制御回路を制御するシユ
ミツトトリガ回路27と、前記コンデンサ17に
接続されており、後記の三角波発生制御回路によ
る位相保持制御動作を禁止させるための禁止信号
を前記三角波電圧の頂点及びこの近傍を含む時間
範囲に対応して発生する禁止信号形成回路34
と、前記コンデンサ17の充放電に基づいて前記
三角波電圧を発生させる期間を示す第1の電圧レ
ベルと前記三角波電圧を発生させずに前記三角波
電圧の位相を保持させる期間を示す第2の電圧レ
ベルとから成る充放電制御信号を発生するもので
あり、前記時間間隔信号供給回路と前記禁止信号
形成回路34と後記の第2のカウンタ回路とに接
続されており、前記被測定時間間隔(Tx)の終
了時点が前記禁止信号の発生期間に含まれていな
い場合には、前記被測定時間間隔(Tx)内で前
記三角波電圧を発生させ、且つ前記被測定時間間
隔(Tx)の終了時点の前記三角波電圧の位相を
次の被測定時間間隔(Tx)の開始時点まで保持
させ、次の被測定時間間隔(Tx)において前記
三角波電圧を前記保持させた位相に継続させて発
生させるように前記充放電制御回路を制御し、前
記被測定時間間隔(Tx)の終了時点が前記禁止
信号の発生期間に含まれている場合には、前記被
測定時間間隔(Tx)内で前記三角波電圧を発生
させ、前記被測定時間間隔(Tx)の終了時点の
前記三角波電圧の位相の保持を行わずに前記被測
定時間間隔(Tx)の相互間においても前記三角
波電圧を連続的に発生させるように前記充放電制
御回路を制御する三角波発生制御回路と、前記時
間間隔信号供給回路から供給される前記時間間隔
信号に基づいてN個(但しNは2以上の整数)の
前記被測定時間間隔を含む所定測定時間を示す信
号を形成する測定時間信号形成回路と、前記シユ
ミツトトリガ回路27と前記測定時間信号形成回
路とに接続されており、前記所定測定時間のみ前
記シユミツトトリガ回路27の出力パルスの数
(NM)を計数する第1のカウンタ回路と、前記三
角波発生制御回路と前記測定時間信号形成回路と
に接続されており、前記所定測定時間における前
記充放電制御信号の前記第1の電圧レベルの発生
回数(Nc)を計数する第2のカウンタ回路と、
前記第1及び第2のカウンタ回路に接続されてお
り、前記測定時間信号形成回路で予め決められた
前記測定時間に含まれている前記被測定時間間隔
の数(N)と、前記第1のカウンタ回路から得ら
れる前記シユミツトトリガ回路27の出力パルス
数(NM)と、前記第2のカウンタ回路から得ら
れる前記第1の電圧レベルの発生回数(Nc)と、
予め決められた前記時間間隔信号の周期(TA)
と、予め決められた前記三角波電圧の周期(TH)
とに基づいて Tx=NMTH−(N−Nc)TA/Nc の演算を行つて被測定時間間隔(Tx)を求める
演算回路32とからなる平均時間間隔測定装置に
係わるものである。なお、上記発明における各構
成要件と実施例を示す第6図の各部との対応関係
は次の通りである。前記時間間隔信号供給回路は
パルス発生回路11とフリツプフロツプ14とか
ら成る回路部分に対応し、前記充放電制御回路は
スイツチ18,20、定電流源回路19,21、
電源22,24、ANDゲート26から成る回路
部分に対応し、三角波発生制御回路はDフリツプ
フロツプ35に対応し、測定時間信号形成回路は
ゲート制御回路15に対応し、第1のカウンタ回
路はANDゲート29とカウンタ30とから成る
回路部分に対応し、第2のカウンタ回路はAND
ゲート36とカウンタ37とから成る回路部分に
対応している。
示す図面の符号を参照して説明すると、被測定時
間間隔(Tx)を示す時間間隔信号を一定周期
(TA)で繰返して供給する時間間隔信号供給回路
と、三角波発生用コンデンサ17と、前記コンデ
ンサ17と後記のシユミツトトリガ回路27と後
記の三角波発生制御回路とに接続されており、前
記時間間隔信号の周期(TA)よりも短い周期
(TH)で三角波電圧が前記コンデンサ17から繰
返して得られるように前記コンデンサ17の充電
及び放電を制御する充放電制御回路と、前記コン
デンサ17に接続されており、前記コンデンサ1
7の電圧が第1の基準電圧V1になつた時に第1
の出力状態から第2の出力状態に転換して前記コ
ンデンサ17が充電状態から放電状態に転換する
ように前記充放電制御回路を制御し、且つ前記コ
ンデンサ17の電圧が前記第1の基準電圧V1よ
りも低い第2の基準電圧V2になつた時に前記第
2の出力状態から前記第1の出力状態に転換して
前記コンデンサ17が放電状態から充電状態に転
換するように前記充放電制御回路を制御するシユ
ミツトトリガ回路27と、前記コンデンサ17に
接続されており、後記の三角波発生制御回路によ
る位相保持制御動作を禁止させるための禁止信号
を前記三角波電圧の頂点及びこの近傍を含む時間
範囲に対応して発生する禁止信号形成回路34
と、前記コンデンサ17の充放電に基づいて前記
三角波電圧を発生させる期間を示す第1の電圧レ
ベルと前記三角波電圧を発生させずに前記三角波
電圧の位相を保持させる期間を示す第2の電圧レ
ベルとから成る充放電制御信号を発生するもので
あり、前記時間間隔信号供給回路と前記禁止信号
形成回路34と後記の第2のカウンタ回路とに接
続されており、前記被測定時間間隔(Tx)の終
了時点が前記禁止信号の発生期間に含まれていな
い場合には、前記被測定時間間隔(Tx)内で前
記三角波電圧を発生させ、且つ前記被測定時間間
隔(Tx)の終了時点の前記三角波電圧の位相を
次の被測定時間間隔(Tx)の開始時点まで保持
させ、次の被測定時間間隔(Tx)において前記
三角波電圧を前記保持させた位相に継続させて発
生させるように前記充放電制御回路を制御し、前
記被測定時間間隔(Tx)の終了時点が前記禁止
信号の発生期間に含まれている場合には、前記被
測定時間間隔(Tx)内で前記三角波電圧を発生
させ、前記被測定時間間隔(Tx)の終了時点の
前記三角波電圧の位相の保持を行わずに前記被測
定時間間隔(Tx)の相互間においても前記三角
波電圧を連続的に発生させるように前記充放電制
御回路を制御する三角波発生制御回路と、前記時
間間隔信号供給回路から供給される前記時間間隔
信号に基づいてN個(但しNは2以上の整数)の
前記被測定時間間隔を含む所定測定時間を示す信
号を形成する測定時間信号形成回路と、前記シユ
ミツトトリガ回路27と前記測定時間信号形成回
路とに接続されており、前記所定測定時間のみ前
記シユミツトトリガ回路27の出力パルスの数
(NM)を計数する第1のカウンタ回路と、前記三
角波発生制御回路と前記測定時間信号形成回路と
に接続されており、前記所定測定時間における前
記充放電制御信号の前記第1の電圧レベルの発生
回数(Nc)を計数する第2のカウンタ回路と、
前記第1及び第2のカウンタ回路に接続されてお
り、前記測定時間信号形成回路で予め決められた
前記測定時間に含まれている前記被測定時間間隔
の数(N)と、前記第1のカウンタ回路から得ら
れる前記シユミツトトリガ回路27の出力パルス
数(NM)と、前記第2のカウンタ回路から得ら
れる前記第1の電圧レベルの発生回数(Nc)と、
予め決められた前記時間間隔信号の周期(TA)
と、予め決められた前記三角波電圧の周期(TH)
とに基づいて Tx=NMTH−(N−Nc)TA/Nc の演算を行つて被測定時間間隔(Tx)を求める
演算回路32とからなる平均時間間隔測定装置に
係わるものである。なお、上記発明における各構
成要件と実施例を示す第6図の各部との対応関係
は次の通りである。前記時間間隔信号供給回路は
パルス発生回路11とフリツプフロツプ14とか
ら成る回路部分に対応し、前記充放電制御回路は
スイツチ18,20、定電流源回路19,21、
電源22,24、ANDゲート26から成る回路
部分に対応し、三角波発生制御回路はDフリツプ
フロツプ35に対応し、測定時間信号形成回路は
ゲート制御回路15に対応し、第1のカウンタ回
路はANDゲート29とカウンタ30とから成る
回路部分に対応し、第2のカウンタ回路はAND
ゲート36とカウンタ37とから成る回路部分に
対応している。
上記本発明によれば、三角波の頂点近傍での位
相保持が禁止されるので、三角波の位相の継続を
確実に達成することが可能になり、高精度な平均
時間間隔の測定が可能になる。
相保持が禁止されるので、三角波の位相の継続を
確実に達成することが可能になり、高精度な平均
時間間隔の測定が可能になる。
以下、第6図〜第9図を参照して本発明の実施
例について述べる。但し、第6図及び第8図に於
いて符号11〜33で示すものは、第3図で同一
符号で示したものと実質的に同一であり、且つ第
7図でA〜Fで示すものは第4図でA〜Fで示す
ものと実質的に同一であるので、その説明を省略
する。
例について述べる。但し、第6図及び第8図に於
いて符号11〜33で示すものは、第3図で同一
符号で示したものと実質的に同一であり、且つ第
7図でA〜Fで示すものは第4図でA〜Fで示す
ものと実質的に同一であるので、その説明を省略
する。
第6図に於いては、新しく、禁止信号形成回路
34がコンデンサ17に結合されている。またこ
の禁止信号形成回路34の出力に基づいて時間間
隔信号の入力を禁止制御するための制御回路とし
てDタイプフリツプフロツプ35が設けられてい
る。更に詳細には、Dフリツプフロツプ35のセ
ツト端子Sは第1のパルス送出ライン12に結合
され、クロツク端子CPは第2のパルス送出ライ
ン13に結合され、データ入力端子Dは禁止信号
形成回路34の出力に結合され、Q出力端子が発
振器16に結合されている。従つて、禁止信号が
発生しないと仮定すれば、第7図Aに示す第1の
パルスでフリツプフロツプ35はセツトされ、ク
ロツク端子CPに第7図Bに示す第2のパルスが
入力した時にリセツトされる。このため、Q出力
端子に第7図Hのt1〜t6で示すような出力が得ら
れる。しかし、第2のパルスが発生する時点t6,
t9,t12等に於いて、データ入力端子Dが禁止信号
のために高レベルであれば、リセツトされずに高
レベルのままに保たれる。第7図に於いては、t9
時点で第7図Gに示す禁止信号が発生しているの
で、第7図Bに示す第2のパルスが発生したにも
拘らず、フリツプフロツプ35はリセツトされな
いで、セツト状態に保たれている。
34がコンデンサ17に結合されている。またこ
の禁止信号形成回路34の出力に基づいて時間間
隔信号の入力を禁止制御するための制御回路とし
てDタイプフリツプフロツプ35が設けられてい
る。更に詳細には、Dフリツプフロツプ35のセ
ツト端子Sは第1のパルス送出ライン12に結合
され、クロツク端子CPは第2のパルス送出ライ
ン13に結合され、データ入力端子Dは禁止信号
形成回路34の出力に結合され、Q出力端子が発
振器16に結合されている。従つて、禁止信号が
発生しないと仮定すれば、第7図Aに示す第1の
パルスでフリツプフロツプ35はセツトされ、ク
ロツク端子CPに第7図Bに示す第2のパルスが
入力した時にリセツトされる。このため、Q出力
端子に第7図Hのt1〜t6で示すような出力が得ら
れる。しかし、第2のパルスが発生する時点t6,
t9,t12等に於いて、データ入力端子Dが禁止信号
のために高レベルであれば、リセツトされずに高
レベルのままに保たれる。第7図に於いては、t9
時点で第7図Gに示す禁止信号が発生しているの
で、第7図Bに示す第2のパルスが発生したにも
拘らず、フリツプフロツプ35はリセツトされな
いで、セツト状態に保たれている。
禁止信号形成回路34は、第7図Eに示す第1
の基準電圧V1よりも少し低い第3の基準電圧V3
以上にコンデンサ17の電圧がなつた時に高レベ
ル出力を発生する第1の電圧コンパレータと、第
2の基準電圧V2よりも少し高い第4の基準電圧
V4になつた時に高レベル出力を発生する第2の
電圧コンパレータとによつて構成され、三角波の
頂点で微小時間幅のパルスを第7図Gに示すよう
に発生するものである。尚禁止信号のパルス幅
は、シユミツトトリガ回路27の出力が反転して
から第1のスイツチ回路18がオフになるまでの
遅れ時間td1以上に設定する。
の基準電圧V1よりも少し低い第3の基準電圧V3
以上にコンデンサ17の電圧がなつた時に高レベ
ル出力を発生する第1の電圧コンパレータと、第
2の基準電圧V2よりも少し高い第4の基準電圧
V4になつた時に高レベル出力を発生する第2の
電圧コンパレータとによつて構成され、三角波の
頂点で微小時間幅のパルスを第7図Gに示すよう
に発生するものである。尚禁止信号のパルス幅
は、シユミツトトリガ回路27の出力が反転して
から第1のスイツチ回路18がオフになるまでの
遅れ時間td1以上に設定する。
フリツプフロツプ35の出力には実際の測定回
数NCに等しい数のパルスが発生する。そこで、
この測定回数NCをカウントするため、ANDゲー
ト36とカウンタ37とが設けられ、ANDゲー
ト36の一方の入力端子がフリツプフロツプ35
のQ出力に結合され、他方の入力端子が分周器か
ら成るゲート制御回路15の出力に結合されてい
る。従つて、分周器から成るゲート制御回路15
で決定される見掛上の測定回数N即ち時間間隔信
号の入力回数Nに対応する時間t1〜t13中の実際の
測定回数NCがANDゲート36から出力され、カ
ウンタ37でカウントされる。
数NCに等しい数のパルスが発生する。そこで、
この測定回数NCをカウントするため、ANDゲー
ト36とカウンタ37とが設けられ、ANDゲー
ト36の一方の入力端子がフリツプフロツプ35
のQ出力に結合され、他方の入力端子が分周器か
ら成るゲート制御回路15の出力に結合されてい
る。従つて、分周器から成るゲート制御回路15
で決定される見掛上の測定回数N即ち時間間隔信
号の入力回数Nに対応する時間t1〜t13中の実際の
測定回数NCがANDゲート36から出力され、カ
ウンタ37でカウントされる。
また、t1〜t13の時間を測定するために、AND
ゲート38とカウンタ39とが設けられ、AND
ゲート38の一方の入力端子はクロツク発振器4
0に結合され、他方の入力端子は分周器から成る
ゲート制御回路15に結合されている。従つて、
第7図Iに示すように周期tsのクロツクパルスが
t1〜t13期間だけANDゲート38を通してカウン
タ39に送られる。
ゲート38とカウンタ39とが設けられ、AND
ゲート38の一方の入力端子はクロツク発振器4
0に結合され、他方の入力端子は分周器から成る
ゲート制御回路15に結合されている。従つて、
第7図Iに示すように周期tsのクロツクパルスが
t1〜t13期間だけANDゲート38を通してカウン
タ39に送られる。
第8図は第6図に示す積分型発振器16と禁止
信号形成回路34とを詳しく示すものであり、第
9図はシユミツトトリガ回路27と禁止信号形成
回路34の動作を説明するための波形図である。
シユミツトトリガ回路27は第1のコンパレータ
41と第2のコンパレータ42とフリツプフロツ
プ43とから成り、第1のコンパレータ41の非
反転入力端子(+)がコンデンサ17に接続さ
れ、その反転入力端子(−)が第1の基準電圧
V1即ち上限トリガレベルを与える基準電圧源4
4に接続され、その出力端子がフリツプフロツプ
43のセツト端子Sに接続されているので、第9
図Aでコンデンサ17の電圧がコンパレータのし
きい値である第1の基準電圧V1以上になる期間t6
〜t7に対応して第9図Bに示す幅taパルスが得ら
れ、これによりフリツプフロツプ43がセツトさ
れ、その出力端子が低レベルになる。一方、第
2のコンパレータ42の反転入力端子(−)がコ
ンデンサ17に接続され、その非反転入力端子
(+)が第2の基準電圧V2即ち下限トリガレベル
を与える基準電圧源45に接続され、その出力端
子はフリツプフロツプ43のリセツト端子Rに接
続されているので、例えば第9図のt2〜t3期間で
第2の基準電圧V2よりもコンデンサ17の電圧
が低くなると、第2のコンパレータ42から第9
図Cに示すようにパルス幅ta2のパルスが発生し、
これによりフリツプフロツプ43がリセツトされ
てそのQ出力端子は高レベルになる。
信号形成回路34とを詳しく示すものであり、第
9図はシユミツトトリガ回路27と禁止信号形成
回路34の動作を説明するための波形図である。
シユミツトトリガ回路27は第1のコンパレータ
41と第2のコンパレータ42とフリツプフロツ
プ43とから成り、第1のコンパレータ41の非
反転入力端子(+)がコンデンサ17に接続さ
れ、その反転入力端子(−)が第1の基準電圧
V1即ち上限トリガレベルを与える基準電圧源4
4に接続され、その出力端子がフリツプフロツプ
43のセツト端子Sに接続されているので、第9
図Aでコンデンサ17の電圧がコンパレータのし
きい値である第1の基準電圧V1以上になる期間t6
〜t7に対応して第9図Bに示す幅taパルスが得ら
れ、これによりフリツプフロツプ43がセツトさ
れ、その出力端子が低レベルになる。一方、第
2のコンパレータ42の反転入力端子(−)がコ
ンデンサ17に接続され、その非反転入力端子
(+)が第2の基準電圧V2即ち下限トリガレベル
を与える基準電圧源45に接続され、その出力端
子はフリツプフロツプ43のリセツト端子Rに接
続されているので、例えば第9図のt2〜t3期間で
第2の基準電圧V2よりもコンデンサ17の電圧
が低くなると、第2のコンパレータ42から第9
図Cに示すようにパルス幅ta2のパルスが発生し、
これによりフリツプフロツプ43がリセツトされ
てそのQ出力端子は高レベルになる。
禁止信号形成回路34は、第3のコンパレータ
46と第4のコンパレータ47とORゲート48
とから成る。第3のコンパレータ46の非反転入
力端子(+)はコンデンサ17に接続され、その
反転入力端子(−)はしきい値として第3の基準
電圧V3を与える基準電圧源49に接続されてい
るので、コンデンサ17の電圧が、例えば第9図
のt5〜t8期間で第1の基準電圧V1よりも少し低い
第3の基準電圧V3以上になると第9図Eに示す
如くパルス幅ta′1の高レベルの出力を発生する。
一方、第4のコンパレータ47の反転入力端子
(−)はコンデンサ17に接続され、その非反転
入力端子(+)はしきい値として第4の基準電圧
V4を与える電圧源50に接続されているので、
コンデンサ17の電圧が、例えば第9図のt1〜t4
期間でV2より少し高いV4以下になるとパルス幅
ta′2のパルスが第9図Fに示す如く発生する。2
つのコンパレータ46,47の出力はORゲート
48に入力するので、ORゲート48の出力には
第9図Gに示すパルスが得られ、これが禁止信号
として第6図のDフリツプフロツプ35のD入力
端子に送られる。
46と第4のコンパレータ47とORゲート48
とから成る。第3のコンパレータ46の非反転入
力端子(+)はコンデンサ17に接続され、その
反転入力端子(−)はしきい値として第3の基準
電圧V3を与える基準電圧源49に接続されてい
るので、コンデンサ17の電圧が、例えば第9図
のt5〜t8期間で第1の基準電圧V1よりも少し低い
第3の基準電圧V3以上になると第9図Eに示す
如くパルス幅ta′1の高レベルの出力を発生する。
一方、第4のコンパレータ47の反転入力端子
(−)はコンデンサ17に接続され、その非反転
入力端子(+)はしきい値として第4の基準電圧
V4を与える電圧源50に接続されているので、
コンデンサ17の電圧が、例えば第9図のt1〜t4
期間でV2より少し高いV4以下になるとパルス幅
ta′2のパルスが第9図Fに示す如く発生する。2
つのコンパレータ46,47の出力はORゲート
48に入力するので、ORゲート48の出力には
第9図Gに示すパルスが得られ、これが禁止信号
として第6図のDフリツプフロツプ35のD入力
端子に送られる。
第8図に於いて、第1の定電流電源回路19
は、正の電源22に抵抗51を介して接続された
fET52と、演算増幅器53とから成り、差動増
幅回路として機能する演算増幅器53の反転入力
端子(−)が抵抗51とFET52との間に接続
され、その非反転入力端子(+)には基準電圧源
54が接続され、その出力端子はFET52のゲ
ートGに接続されているので、演算増幅器53に
制御されて精度の高い定電流2I(A)が得られる。
は、正の電源22に抵抗51を介して接続された
fET52と、演算増幅器53とから成り、差動増
幅回路として機能する演算増幅器53の反転入力
端子(−)が抵抗51とFET52との間に接続
され、その非反転入力端子(+)には基準電圧源
54が接続され、その出力端子はFET52のゲ
ートGに接続されているので、演算増幅器53に
制御されて精度の高い定電流2I(A)が得られる。
第2の定電流電源回路21も、同様に、負の電
源24に抵抗55を介して接続されたFET56
と、これを制御する差動増幅器として働く演算増
幅器57とから成り、演算増幅器57の反転入力
端子(−)はFET56と抵抗55との間に接続
され、その非反転入力端子(+)は基準電圧源5
8に接続され、その出力端はFET56のゲート
Gに接続されているので、高精度で定電流I(A)を
流すことが出来る。
源24に抵抗55を介して接続されたFET56
と、これを制御する差動増幅器として働く演算増
幅器57とから成り、演算増幅器57の反転入力
端子(−)はFET56と抵抗55との間に接続
され、その非反転入力端子(+)は基準電圧源5
8に接続され、その出力端はFET56のゲート
Gに接続されているので、高精度で定電流I(A)を
流すことが出来る。
第1のスイツチ回路18は、FET52とコン
デンサ17との間に接続されたトランジタ59
と、このトランジスタ59に適当なバイアスを与
えるためにトランジスタ59のコレクタと接地ラ
イン60との間に接続されたトランジスタ61と
を含み、トランジスタ59のベースと接地ライン
60との間にはツエナーダイオード62を介して
トランジスタ63が接続され且つトランジスタ5
9のベースは抵抗64を介して正の電源22に接
続されている。またトランジスタ63のベースは
NANDゲート26の出力に結合されている。従
つて、NANDゲート26の出力が低レベルの時
にトランジスタ63及び59がオンになる。尚ト
ランジスタ61のベースには電源22と接地ライ
ン60との間に接続された抵抗65,66の分圧
によつて適当なバイアスを与える。
デンサ17との間に接続されたトランジタ59
と、このトランジスタ59に適当なバイアスを与
えるためにトランジスタ59のコレクタと接地ラ
イン60との間に接続されたトランジスタ61と
を含み、トランジスタ59のベースと接地ライン
60との間にはツエナーダイオード62を介して
トランジスタ63が接続され且つトランジスタ5
9のベースは抵抗64を介して正の電源22に接
続されている。またトランジスタ63のベースは
NANDゲート26の出力に結合されている。従
つて、NANDゲート26の出力が低レベルの時
にトランジスタ63及び59がオンになる。尚ト
ランジスタ61のベースには電源22と接地ライ
ン60との間に接続された抵抗65,66の分圧
によつて適当なバイアスを与える。
第2のスイツチ回路20は、コンデンサ17と
FET56との間に接続されたトランジスタ67
と、これに適当なバイアスを与えるためにこのエ
ミツタと接地ライン60との間に接続されたトラ
ンジスタ68とを含み、トランジスタ67のベー
スはツエナーダイオード69とトランジスタ70
と抵抗71とを介して正の電源端子(+V)に接
続され、また抵抗72を介して負の電源24に接
続されている。トランジスタ70のベースが、第
6図のフリツプフロツプ35のQ出力に接続され
る端子73に接続されているので、フリツプフロ
ツプ35の高レベル出力に応答してトランジスタ
70,67がオンになる。尚トランジスタ68の
ベースに適当なバイアスを与えるために接地ライ
ン60と負の電源24との間に抵抗74,75が
接続され、この分圧点がトランジスタ68のベー
スに接続されている。
FET56との間に接続されたトランジスタ67
と、これに適当なバイアスを与えるためにこのエ
ミツタと接地ライン60との間に接続されたトラ
ンジスタ68とを含み、トランジスタ67のベー
スはツエナーダイオード69とトランジスタ70
と抵抗71とを介して正の電源端子(+V)に接
続され、また抵抗72を介して負の電源24に接
続されている。トランジスタ70のベースが、第
6図のフリツプフロツプ35のQ出力に接続され
る端子73に接続されているので、フリツプフロ
ツプ35の高レベル出力に応答してトランジスタ
70,67がオンになる。尚トランジスタ68の
ベースに適当なバイアスを与えるために接地ライ
ン60と負の電源24との間に抵抗74,75が
接続され、この分圧点がトランジスタ68のベー
スに接続されている。
次に、第6図の装置で第7図の時間間隔TXを
測定する際の演算について述べる。第7図に於け
るt1〜t13期間は、周期TAで時間間隔信号をN回
供給する時間であるので、TANで表わすことが
出来る。この測定時間TANは、三角波発振時間
と位相保持時間との合計である。三角波発振時間
は、第7図Kに示すパルス数NM即ちカウンタ3
0のカウント値とこの三角波の周期THとの積NM
×THで表わされる。また位相保持時間は実際の
測定回数NCと第7図に示す一周期TAから被測定
時間間隔TXを差引いた隣接時間TYとの積NC×TY
で表わされる。そして、NC×TYはNC(TA−TX)
で表わされる。従つて、NMTH+NC(TA−TX)=
TANの式が成立する。そして、この式からTXを
求めると次式となる。
測定する際の演算について述べる。第7図に於け
るt1〜t13期間は、周期TAで時間間隔信号をN回
供給する時間であるので、TANで表わすことが
出来る。この測定時間TANは、三角波発振時間
と位相保持時間との合計である。三角波発振時間
は、第7図Kに示すパルス数NM即ちカウンタ3
0のカウント値とこの三角波の周期THとの積NM
×THで表わされる。また位相保持時間は実際の
測定回数NCと第7図に示す一周期TAから被測定
時間間隔TXを差引いた隣接時間TYとの積NC×TY
で表わされる。そして、NC×TYはNC(TA−TX)
で表わされる。従つて、NMTH+NC(TA−TX)=
TANの式が成立する。そして、この式からTXを
求めると次式となる。
TX=NMTH−(N−NC)TA/NC ……(1)
またN−NCは位相保持禁止回数であるので、
これをNSとすれば、(1)式を次式とすることが出
来る。
これをNSとすれば、(1)式を次式とすることが出
来る。
TX=NMTH−NSTA/NC ……(2)
尚TAは第7図に示すクロツクパルスの総数
NPとこのクロツクパルスの周期tsとの積NPtsを、
見掛上の測定回数即ち被測定時間間隔信号の供給
回数Nで割つたものと等しいので、TXを次式で
示すことも出来る。
NPとこのクロツクパルスの周期tsとの積NPtsを、
見掛上の測定回数即ち被測定時間間隔信号の供給
回数Nで割つたものと等しいので、TXを次式で
示すことも出来る。
(3)式に於いて、Nを予め決定しておくか又は分
周器から成るゲート制御回路15の設定によつて
知り、これを演算回路32のメモリに記憶させて
おき、TH及びtsも予め測定して演算回路32のメ
モリに記憶させておけば、NM、NC、NPの測定に
よつてTXを求めることが出来る。第6図で第1
のカウンタ30はNMをカウントし、第2のカウ
ンタ37はNCをカウントし、第3のカウンタ3
9はNPをカウントするので、第6図のt13時点以
後に、制御回路として働く単安定マルチバイブレ
ータ31の制御に基づいて、カウンタ30,3
7,39の内容を演算回路32に転送し、ここで
(2)式の演算を行うことによつて直ちにTXを求め
ることが出来る。
周器から成るゲート制御回路15の設定によつて
知り、これを演算回路32のメモリに記憶させて
おき、TH及びtsも予め測定して演算回路32のメ
モリに記憶させておけば、NM、NC、NPの測定に
よつてTXを求めることが出来る。第6図で第1
のカウンタ30はNMをカウントし、第2のカウ
ンタ37はNCをカウントし、第3のカウンタ3
9はNPをカウントするので、第6図のt13時点以
後に、制御回路として働く単安定マルチバイブレ
ータ31の制御に基づいて、カウンタ30,3
7,39の内容を演算回路32に転送し、ここで
(2)式の演算を行うことによつて直ちにTXを求め
ることが出来る。
上述から明らかなように、第6図の方式では、
三角波の頂点近傍での位相保持を禁止するので、
第5図で説明したような誤差時間td2に相当する
ものが発生せず、1ns以下の精度の測定が可能に
なる。
三角波の頂点近傍での位相保持を禁止するので、
第5図で説明したような誤差時間td2に相当する
ものが発生せず、1ns以下の精度の測定が可能に
なる。
以上本発明の実施例について述べたが、本発明
はこれに限定されるものではなく、本発明の要旨
を逸脱しない範囲で種々変形可能なものである。
例えば、第6図のDフリツプフロツプ35の代り
に、第10図に示す如く、禁止ゲート回路として
一対のANDゲート76,77を設け、一方のゲ
ート76には第1のパルス送出ライン12を接続
すると共に禁止信号形成回路34の出力ラインに
インバータ78を介して接続し、また他方のゲー
ト77には第2のパルス送出ライン13とインバ
ータ78の出力とを接続し、ゲート76の出力を
RSフリツプフロツプ79のセツト端子Sに、ゲ
ート77の出力をリセツト端子Rに接続し、Q出
力端子から禁止後の時間間隔パルス信号を取り出
してもよい。
はこれに限定されるものではなく、本発明の要旨
を逸脱しない範囲で種々変形可能なものである。
例えば、第6図のDフリツプフロツプ35の代り
に、第10図に示す如く、禁止ゲート回路として
一対のANDゲート76,77を設け、一方のゲ
ート76には第1のパルス送出ライン12を接続
すると共に禁止信号形成回路34の出力ラインに
インバータ78を介して接続し、また他方のゲー
ト77には第2のパルス送出ライン13とインバ
ータ78の出力とを接続し、ゲート76の出力を
RSフリツプフロツプ79のセツト端子Sに、ゲ
ート77の出力をリセツト端子Rに接続し、Q出
力端子から禁止後の時間間隔パルス信号を取り出
してもよい。
また実施例では被測定時間間隔TXに於いて三
角波を発生させ、隣接時間TYにて位相を保持し
たが、TXにて位相を保持し、TYにて三角波を発
生させてもよい。この場合にはTYを被測定時間
と考えることによつて(3)式でTYを求めることが
出来る。尚、TXかTYのいずれか一方を被測定時
間間隔として求めることによつて、TX+TY=TA
の関係から、両方を容易に求めることが出来る。
角波を発生させ、隣接時間TYにて位相を保持し
たが、TXにて位相を保持し、TYにて三角波を発
生させてもよい。この場合にはTYを被測定時間
と考えることによつて(3)式でTYを求めることが
出来る。尚、TXかTYのいずれか一方を被測定時
間間隔として求めることによつて、TX+TY=TA
の関係から、両方を容易に求めることが出来る。
また実施例では、シユミツトトリガ回路27を
2つのコンパレータ41,42とフリツプフロツ
プ43とで構成したが、1つの演算増幅器に帰還
回路を設け、上限トリガポイントと下限トリガポ
イントとを有してヒステリシス動作するコンパレ
ータでシユミツトトリガ回路としてもよい。
2つのコンパレータ41,42とフリツプフロツ
プ43とで構成したが、1つの演算増幅器に帰還
回路を設け、上限トリガポイントと下限トリガポ
イントとを有してヒステリシス動作するコンパレ
ータでシユミツトトリガ回路としてもよい。
また実施例では第1の基準電圧V1と第2の基
準電圧V2との両方の三角波頂点で禁止信号を発
生させているが、測定精度が少し悪くても良い場
合には三角波の一方の頂点のみで禁止信号を発生
させてもよい。また分周器から成るゲート制御回
路15によつて測定時間を決定する代りに、パル
ス発生回路11から予め決められた時間のみパル
スを発生させてもよい。
準電圧V2との両方の三角波頂点で禁止信号を発
生させているが、測定精度が少し悪くても良い場
合には三角波の一方の頂点のみで禁止信号を発生
させてもよい。また分周器から成るゲート制御回
路15によつて測定時間を決定する代りに、パル
ス発生回路11から予め決められた時間のみパル
スを発生させてもよい。
また第1及び第2のパルスを発生させる代り
に、第7図Cに示すような信号を発生させ、この
パルス幅又は休止期間を測定してもよい。
に、第7図Cに示すような信号を発生させ、この
パルス幅又は休止期間を測定してもよい。
また実施例では、コンデンサ17の充放電制御
回路を、第1及び第2のスイツチ回路18,2
0、第1及び第2の定電流電源回路19,21、
NANDゲート26、正及び負の電源22,24
で構成したが、これに限ることなく、三角波を発
生させることが可能な種々の回路構成に置き換え
てもよい。例えば、第1のスイツチ回路18と
MANDゲート26の代りに、第1の定電流電源
回路19に直列に2つのスイツチを接続し、一方
のスイツチをフリツプフロツプ35の出力で制御
し、他方のスイツチをシユミツトトリガ回路27
の出力で制御するようにしてもよい。
回路を、第1及び第2のスイツチ回路18,2
0、第1及び第2の定電流電源回路19,21、
NANDゲート26、正及び負の電源22,24
で構成したが、これに限ることなく、三角波を発
生させることが可能な種々の回路構成に置き換え
てもよい。例えば、第1のスイツチ回路18と
MANDゲート26の代りに、第1の定電流電源
回路19に直列に2つのスイツチを接続し、一方
のスイツチをフリツプフロツプ35の出力で制御
し、他方のスイツチをシユミツトトリガ回路27
の出力で制御するようにしてもよい。
またN回測定時間(t1〜t13)が予め判つている
場合には、カウンタ39でクロツクパルスをカウ
ントすることを省いてもよい。またN−NCで禁
止回数NSを求めないで、フリツプフロツプ14
から得られる第7図Cの信号と、フリツプフロツ
プ35から得られる第7図Hの信号との差の信号
によつて電気回路的に禁止回数NSを求めてもよ
い。
場合には、カウンタ39でクロツクパルスをカウ
ントすることを省いてもよい。またN−NCで禁
止回数NSを求めないで、フリツプフロツプ14
から得られる第7図Cの信号と、フリツプフロツ
プ35から得られる第7図Hの信号との差の信号
によつて電気回路的に禁止回数NSを求めてもよ
い。
また、演算回路32を設けないで、カウンタ3
0,37,39の出力に基づく計算によつて手動
的にTXを求めてもよい。
0,37,39の出力に基づく計算によつて手動
的にTXを求めてもよい。
また、ゲート制御回路15の出力から最初の高
レベル又は低レベル区間の信号のみを抽出する回
路を設けてもよい。またゲート制御回路15以外
の分周回路によつてゲート制御回路を構成しても
よい。
レベル又は低レベル区間の信号のみを抽出する回
路を設けてもよい。またゲート制御回路15以外
の分周回路によつてゲート制御回路を構成しても
よい。
第1図は従来の平均時間測定方式を示すブロツ
ク図、第2図は第1図の各部の状態を示す波形
図、第3図は本発明の実施例の基礎となる平均時
間間隔測定回路を示すブロツク図、第4図は第3
図の各部の状態を示す電圧波形図、第5図は第4
図の一部を拡大して示す波形図、第6図は本発明
の実施例に係わる平均時間間隔測定回路を示すブ
ロツク図、第7図は第6図の各部の状態を示す電
圧波形図、第8図は第6図の積分型発振器及び禁
止信号形成回路を詳しく示す回路図、第9図は第
8図の各部の状態を示す電圧波形図、第10図は
禁止制御回路の変形例を示すブロツク図である。 尚図面に用いられている符号に於いて、11は
パルス発生回路、14はフリツプフロツプ、15
は分周器から成るゲート制御回路、16は積分型
発振器、17はコンデンサ、27はシユミツトト
リガ回路、34は禁止信号形成回路、35は禁止
制御用フリツプフロツプである。
ク図、第2図は第1図の各部の状態を示す波形
図、第3図は本発明の実施例の基礎となる平均時
間間隔測定回路を示すブロツク図、第4図は第3
図の各部の状態を示す電圧波形図、第5図は第4
図の一部を拡大して示す波形図、第6図は本発明
の実施例に係わる平均時間間隔測定回路を示すブ
ロツク図、第7図は第6図の各部の状態を示す電
圧波形図、第8図は第6図の積分型発振器及び禁
止信号形成回路を詳しく示す回路図、第9図は第
8図の各部の状態を示す電圧波形図、第10図は
禁止制御回路の変形例を示すブロツク図である。 尚図面に用いられている符号に於いて、11は
パルス発生回路、14はフリツプフロツプ、15
は分周器から成るゲート制御回路、16は積分型
発振器、17はコンデンサ、27はシユミツトト
リガ回路、34は禁止信号形成回路、35は禁止
制御用フリツプフロツプである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被測定時間間隔(Tx)を示す時間間隔信号
を一定周期(TA)で繰返して供給する時間間隔
信号供給回路と、 三角波発生用コンデンサ17と、 前記コンデンサ17と後記のシユミツトトリガ
回路27と後記の三角波発生制御回路とに接続さ
れており、前記時間間隔信号の周期(TA)より
も短い周期(TH)で三角波電圧が前記コンデン
サ17から繰返して得られるように前記コンデン
サ17の充電及び放電を制御する充放電制御回路
と、 前記コンデンサ17に接続されており、前記コ
ンデンサ17の電圧が第1の基準電圧V1になつ
た時に第1の出力状態から第2の出力状態に転換
し前記コンデンサ17が充電状態から放電状態に
転換するように前記充放電制御回路を制御し、且
つ前記コンデンサ17の電圧が前記第1の基準電
圧V1よりも低い第2の基準電圧V2になつた時に
前記第2の出力状態から前記第1の出力状態に転
換して前記コンデンサ17が放電状態から充電状
態に転換するように前記充放電制御回路を制御す
るシユミツトトリガ回路27と、 前記コンデンサ17に接続されており、後記の
三角波発生制御回路による位相保持制御動作を禁
止させるための禁止信号を前記三角波電圧の頂点
及びこの近傍を含む時間範囲に対応して発生する
禁止信号形成回路34と、 前記コンデンサ17の充放電に基づいて前記三
角波電圧を発生させる期間を示す第1の電圧レベ
ルと前記三角波電圧を発生させずに前記三角波電
圧の位相を保持させる期間を示す第2の電圧レベ
ルとから成る充放電制御信号を発生するものであ
り、前記時間間隔信号供給回路と前記禁止信号形
成回路34と後記の第2のカウンタ回路とに接続
されており、前記被測定時間間隔(Tx)の終了
時点が前記禁止信号の発生期間に含まれていない
場合には、前記被測定時間間隔(Tx)内で前記
三角波電圧を発生させ、且つ前記被測定時間間隔
(Tx)の終了時点の前記三角波電圧の位相を次の
被測定時間間隔(Tx)の開始時点まで保持させ、
次の被測定時間間隔(Tx)において前記三角波
電圧を前記保持させた位相に継続させて発生させ
るように前記前記充放電制御回路を制御し、前記
被測定時間間隔(Tx)の終了時点が前記禁止信
号の発生期間に含まれているる場合には、前記被
測定時間間隔(Tx)内で前記三角波電圧を発生
させ、前記被測定時間間隔(Tx)の終了時点の
前記三角波電圧の位相の保持を行わずに前記被測
定時間間隔(Tx)の相互間においても前記三角
波電圧を連続的に発生させるように前記充放電制
御回路を制御する三角波発生制御回路と、 前記時間間隔信号供給回路から供給される前記
時間間隔信号に基づいてN個(但しNは2以上の
整数)の前記被測定時間間隔を含む所定測定時間
を示す信号を形成する測定時間信号形成回路と、 前記シユミツトトリガ回路27と前記測定時間
信号形成回路とに接続されており、前記所定測定
時間のみ前記シユミツトトリガ回路27の出力パ
ルスの数(NM)を計数する第1のカウンタ回路
と、 前記三角波発生制御回路と前記測定時間信号形
成回路とに接続されており、前記所定測定時間に
おける前記充放電制御信号の前記第1の電圧レベ
ルの発生回数(Nc)を計数する第2のカウンタ
回路と、 前記第1及び第2のカウンタ回路に接続されて
おり、前記測定時間信号形成回路で予め決められ
た前記測定時間に含まれている前記被測定時間間
隔の数(N)と、前記第1のカウンタ回路から得
られる前記シユミツトトリガ回路27の出力パル
ス数(NM)と、前記第2のカウンタ回路から得
られる前記第1の電圧レベルの発生回数(Nc)
と、予め決められた前記時間間隔信号の周期
(TA)と、予め決められた前記三角波電圧の周期
(TH)とに基づいて Tx=NMTH−(N−Nc)TA/Nc の演算を行つて被測定時間間隔(Tx)を求める
演算回路32と から成る平均時間間隔測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3811081A JPS57153295A (en) | 1981-03-17 | 1981-03-17 | Measuring method for average interval of time |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3811081A JPS57153295A (en) | 1981-03-17 | 1981-03-17 | Measuring method for average interval of time |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57153295A JPS57153295A (en) | 1982-09-21 |
| JPS632352B2 true JPS632352B2 (ja) | 1988-01-18 |
Family
ID=12516329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3811081A Granted JPS57153295A (en) | 1981-03-17 | 1981-03-17 | Measuring method for average interval of time |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57153295A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61149888A (ja) * | 1984-12-24 | 1986-07-08 | Meisei Electric Co Ltd | 時間計数装置 |
| JPS63252287A (ja) * | 1987-04-09 | 1988-10-19 | Yokogawa Electric Corp | 時間間隔測定装置 |
-
1981
- 1981-03-17 JP JP3811081A patent/JPS57153295A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57153295A (en) | 1982-09-21 |
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