JPS63252287A - 時間間隔測定装置 - Google Patents
時間間隔測定装置Info
- Publication number
- JPS63252287A JPS63252287A JP8754987A JP8754987A JPS63252287A JP S63252287 A JPS63252287 A JP S63252287A JP 8754987 A JP8754987 A JP 8754987A JP 8754987 A JP8754987 A JP 8754987A JP S63252287 A JPS63252287 A JP S63252287A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- signal
- outputs
- pulse
- measuring
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- Pending
Links
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 61
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、時間間隔測定装置に関するものであり、詳し
くは、繰返し信号が持つ時間ジッタの測定に有効な装置
に関するものである。
くは、繰返し信号が持つ時間ジッタの測定に有効な装置
に関するものである。
（従来の技術）
例えばクロックパルスなどの時間の精成が要求される信
号について、その短時間安定度を示すパラメータとして
、ジッタの大小が論じられることがある。
号について、その短時間安定度を示すパラメータとして
、ジッタの大小が論じられることがある。
このような時間のジッタは、表現を変えると位相のドリ
フトということができるが、この場合には単位時間当た
りのドリフト量が重要である。例えば、ｌｎｓの間にド
リフトする大きさは１０ｎＳの間にドリフトする大きさ
と異なるのが一般的であり、１０ｎｓの間のドリフトの
大きさの１／１０になるとは限らない。
フトということができるが、この場合には単位時間当た
りのドリフト量が重要である。例えば、ｌｎｓの間にド
リフトする大きさは１０ｎＳの間にドリフトする大きさ
と異なるのが一般的であり、１０ｎｓの間のドリフトの
大きさの１／１０になるとは限らない。
ところで、従来、このようなジッタの測定にあたっては
、例えば周波数が測定信号と完全に等しくかつ測定信号
に比べて充分に安定した比較基準信号を用いてオシロス
コープなどで目視測定したり、タイムインターバルカウ
ンタを用いて測定信号の周期測定を複数回繰返してそれ
らの測定結果の分散を求めることなどが行われている。
、例えば周波数が測定信号と完全に等しくかつ測定信号
に比べて充分に安定した比較基準信号を用いてオシロス
コープなどで目視測定したり、タイムインターバルカウ
ンタを用いて測定信号の周期測定を複数回繰返してそれ
らの測定結果の分散を求めることなどが行われている。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、前者の方法によれば、必要とする時間内に生じ
るジッタの測定は不可能であり、輝線のブレから読み取
られる値は極めて定性的なものといえる。
るジッタの測定は不可能であり、輝線のブレから読み取
られる値は極めて定性的なものといえる。
また、後者の方法の場合も、必要とする時間内に生じる
ジッタの測定は困難である。これは、現状のタイムイン
ターバルカウンタは、１周期測定またはゲート時間を設
定することによって平均周期を測定する機能しか持って
いないことによる。
ジッタの測定は困難である。これは、現状のタイムイン
ターバルカウンタは、１周期測定またはゲート時間を設
定することによって平均周期を測定する機能しか持って
いないことによる。
すなわち、１周１１ｍ定では連続した周期の測定を行う
ことはできないし、ゲート時間を設定した場合であって
ちジッタが１周期以上あるとゲート時間内に測定する周
期数がわからないとジッタを求めることはできない。
ことはできないし、ゲート時間を設定した場合であって
ちジッタが１周期以上あるとゲート時間内に測定する周
期数がわからないとジッタを求めることはできない。
本発明は、このような点に着目したものであって、その
目的は、連続した複数周期の時間ジッタを精度よく測定
できる時間間隔測定装置を提供することにある。
目的は、連続した複数周期の時間ジッタを精度よく測定
できる時間間隔測定装置を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
本発明の時間間隔測定装置は、
測定信号に関連した測定パルスを出力する測定パルス発
生部と、 測定開始信号が加えられた直後の測定パルスの立ち上が
りにより立ら上がり、設定周期測定完了信号が加えられ
た直後の測定パルスの立ち下がりにより立ち下がるゲー
ト信号を出力するゲート信号発生部と、 このゲート信号に応じて加えられる測定パルスを予め設
定された測定周期数だけカウントし、カウント値Ｎを演
算部に出力し、カウント終了信号をゲート信号発生部に
出力するパルス数カウンタと、 前記ゲート信号に応じて加えられるクロックをカウント
し、カウント値ｔを演算部に出力する時間カウンタと、 前記ゲート信号のパルス数を予め設定された測定回数だ
けカウントし、カウント値Ｍおよびカウント終了信号を
演算部に出力する測定回数カウンタと、 前記各カウンタから加えられるカウントｉｌＮ。
生部と、 測定開始信号が加えられた直後の測定パルスの立ち上が
りにより立ら上がり、設定周期測定完了信号が加えられ
た直後の測定パルスの立ち下がりにより立ち下がるゲー
ト信号を出力するゲート信号発生部と、 このゲート信号に応じて加えられる測定パルスを予め設
定された測定周期数だけカウントし、カウント値Ｎを演
算部に出力し、カウント終了信号をゲート信号発生部に
出力するパルス数カウンタと、 前記ゲート信号に応じて加えられるクロックをカウント
し、カウント値ｔを演算部に出力する時間カウンタと、 前記ゲート信号のパルス数を予め設定された測定回数だ
けカウントし、カウント値Ｍおよびカウント終了信号を
演算部に出力する測定回数カウンタと、 前記各カウンタから加えられるカウントｉｌＮ。
ｔ、Ｍおよびクロックの周波数ｆに基づいてゲート信号
の時ＩＩＴを演算するとともに時間Ｔの分散を演睦する
演算部、 とで構成されたことを特徴とする。
の時ＩＩＴを演算するとともに時間Ｔの分散を演睦する
演算部、 とで構成されたことを特徴とする。
（実施例）
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。
第１図において、１は測定信号Ｓｍに関連した測定パル
スＳｐを出力する測定パルス発生部であり、本実施例で
はコンパレータを用いている。このコンパレータの一方
の入力端子には測定信号３ｍが加えられ、他方の入力端
子には所望のトリガレベルを持つ基準信号Ｓｒが加えら
れている。２はゲート信号発生部である。このゲート信
号発生部２は、測定開始信号Ｓ＋が加えられた直後の測
定パルスＳｐの立ち上がりにより立ち上がり、設定周期
測定完了信号Ｓ２が加えられた直後の測定パルスＳｐの
立ち下がりにより立ち下がるゲート信号Ｓ９を出力する
。３はパルス数カウンタであり、ゲート信号Ｓ９に応じ
てアンドゲート４を介して加えられる測定パルスＳｐを
予め設定された測定周期数だけカウントし、カウント値
Ｎを演算部９に出力し、カウント終了信号Ｓ２をゲート
信号発生部２に出力する。５は時間カウンタであり、ゲ
ート信号Ｓ９に応じてアンドゲート６を介してクロック
発生器７から加えられるクロックＣＬをカウントし、カ
ウント値ｔを演算部９に出力する。８は測定回数カウン
タであり、ゲート信号Ｓｑのパルス数を予め設定された
測定回数だ番プカウントし、カウントｍＭおよびカウン
ト終了信号Ｓｓを演算部９に出力する。演算部９は、各
カウンタ３，５．８から加えられるカウント値Ｎ。
スＳｐを出力する測定パルス発生部であり、本実施例で
はコンパレータを用いている。このコンパレータの一方
の入力端子には測定信号３ｍが加えられ、他方の入力端
子には所望のトリガレベルを持つ基準信号Ｓｒが加えら
れている。２はゲート信号発生部である。このゲート信
号発生部２は、測定開始信号Ｓ＋が加えられた直後の測
定パルスＳｐの立ち上がりにより立ち上がり、設定周期
測定完了信号Ｓ２が加えられた直後の測定パルスＳｐの
立ち下がりにより立ち下がるゲート信号Ｓ９を出力する
。３はパルス数カウンタであり、ゲート信号Ｓ９に応じ
てアンドゲート４を介して加えられる測定パルスＳｐを
予め設定された測定周期数だけカウントし、カウント値
Ｎを演算部９に出力し、カウント終了信号Ｓ２をゲート
信号発生部２に出力する。５は時間カウンタであり、ゲ
ート信号Ｓ９に応じてアンドゲート６を介してクロック
発生器７から加えられるクロックＣＬをカウントし、カ
ウント値ｔを演算部９に出力する。８は測定回数カウン
タであり、ゲート信号Ｓｑのパルス数を予め設定された
測定回数だ番プカウントし、カウントｍＭおよびカウン
ト終了信号Ｓｓを演算部９に出力する。演算部９は、各
カウンタ３，５．８から加えられるカウント値Ｎ。
ｔ、ＭおよびクロックＣＬの周波数ｆに基づいて測定信
号ＳｍのＮ周期に対応したゲート信＠Ｓｇの時１１Ｔを
Ｔ−ｔ／ｆに基づいて演算するとともに、このようにし
て演算される時間Ｔを洞室回数Ｍ個求めてそれらの分散
を演算する。
号ＳｍのＮ周期に対応したゲート信＠Ｓｇの時１１Ｔを
Ｔ−ｔ／ｆに基づいて演算するとともに、このようにし
て演算される時間Ｔを洞室回数Ｍ個求めてそれらの分散
を演算する。
第２図は、このような装置の動作を説明するためのタイ
ミングチャートである。第２図において、（ａ＞は測定
パルス発生部１に入力される測定信号Ｓｍを示し、＜ｂ
）は測定パルス発生部１から出力される測定パルスＳｐ
を示し、（Ｃ）はクロック発生器７から出力されるクロ
ックＣＬを示し、（ｄ）はゲート信号発生部２に加えら
れる測定開始信号Ｓ１を示し、（ｅ）はゲート信号・発
生部２から出力されるゲート信号Ｓｇを示し、（ｆ）は
アンドゲート４からパルス数カウンタ３に入力される測
定パルスＳｐ−を示し、（ｇ）はアンドゲート６から時
間カウンタ５に入力されるクロックＯＬ−を示し、（ｈ
）はゲート信号発生部２から測定回数カウンタ８に加え
られるゲート信号パルス８９′を示し、（＋）は測定回
数カウンタ８から出力される測定終了信号Ｓ３を示して
いる。
ミングチャートである。第２図において、（ａ＞は測定
パルス発生部１に入力される測定信号Ｓｍを示し、＜ｂ
）は測定パルス発生部１から出力される測定パルスＳｐ
を示し、（Ｃ）はクロック発生器７から出力されるクロ
ックＣＬを示し、（ｄ）はゲート信号発生部２に加えら
れる測定開始信号Ｓ１を示し、（ｅ）はゲート信号・発
生部２から出力されるゲート信号Ｓｇを示し、（ｆ）は
アンドゲート４からパルス数カウンタ３に入力される測
定パルスＳｐ−を示し、（ｇ）はアンドゲート６から時
間カウンタ５に入力されるクロックＯＬ−を示し、（ｈ
）はゲート信号発生部２から測定回数カウンタ８に加え
られるゲート信号パルス８９′を示し、（＋）は測定回
数カウンタ８から出力される測定終了信号Ｓ３を示して
いる。
測定開始に先立って、パルス数カウンタ３に測定周期数
Ｎが設定され、測定回数カウンタ８に測定回数Ｍが設定
される。第２図では、測定周期数Ｎとして３を設定し、
測定回数Ｍとして２を設定する例を示している。このよ
うにしてＮ、Ｍの値が設定された後、ゲート信号発生部
２は、測定開始信号Ｓ１を検出した後の最初の測定パル
スＳｐの立ち上がりを検出してゲート信号ＳＱを立ち上
げ、３周期を測定することによりパルス数カウンタ３か
ら出力されるカウント終了信号Ｓ２を検出した後の最初
の測定パルスＳｐの立ち上がりを検出してゲート信＠Ｓ
Ｑを立ち下げる。なお、パルス数カウンタ３にはアンド
ゲート４を介して測定パルスＳｐとゲート信号ＳＱの論
理積信号である測定パルスＳｐ′が入力され、時間カウ
ンタ５にはアンドゲート６を介してクロックＣＬとゲー
ト信号Ｓ９の論理積信号であるクロックＣＬ′が入力さ
れ、測定回数カウンタ８にはゲート信号の立ち下がりを
検出して生成されるゲート信号パルスＳＱ＝が入力され
る。測定回数カウンタ８は、ゲート信号パルスＳｏ−を
２個カウントした後に測定終了信号Ｓ３を演算部９など
に出力する。演算部９は、測定終了信号Ｓコを検出した
後、前述のような時間ジッタを求めるための演算処理を
実行し、演算結果を出力する。
Ｎが設定され、測定回数カウンタ８に測定回数Ｍが設定
される。第２図では、測定周期数Ｎとして３を設定し、
測定回数Ｍとして２を設定する例を示している。このよ
うにしてＮ、Ｍの値が設定された後、ゲート信号発生部
２は、測定開始信号Ｓ１を検出した後の最初の測定パル
スＳｐの立ち上がりを検出してゲート信号ＳＱを立ち上
げ、３周期を測定することによりパルス数カウンタ３か
ら出力されるカウント終了信号Ｓ２を検出した後の最初
の測定パルスＳｐの立ち上がりを検出してゲート信＠Ｓ
Ｑを立ち下げる。なお、パルス数カウンタ３にはアンド
ゲート４を介して測定パルスＳｐとゲート信号ＳＱの論
理積信号である測定パルスＳｐ′が入力され、時間カウ
ンタ５にはアンドゲート６を介してクロックＣＬとゲー
ト信号Ｓ９の論理積信号であるクロックＣＬ′が入力さ
れ、測定回数カウンタ８にはゲート信号の立ち下がりを
検出して生成されるゲート信号パルスＳＱ＝が入力され
る。測定回数カウンタ８は、ゲート信号パルスＳｏ−を
２個カウントした後に測定終了信号Ｓ３を演算部９など
に出力する。演算部９は、測定終了信号Ｓコを検出した
後、前述のような時間ジッタを求めるための演算処理を
実行し、演算結果を出力する。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、従来の方法では
求めることができなかった連続した複数周期の時間ジッ
タを高精度で測定できる時間開隔測定装置が実現でき、
各種の繰返し信号の短期周波数安定度の測定に好適であ
る。
求めることができなかった連続した複数周期の時間ジッ
タを高精度で測定できる時間開隔測定装置が実現でき、
各種の繰返し信号の短期周波数安定度の測定に好適であ
る。
第１図は本発明の一実論例を示すブロック図、第２図は
第１図の動作を説明するためのタイミングチャートであ
る。
第１図の動作を説明するためのタイミングチャートであ
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 測定信号に関連した測定パルスを出力する測定パルス
発生部と、 測定開始信号が加えられた直後の測定パルスの立ち上が
りにより立ち上がり、設定周期測定完了信号が加えられ
た直後の測定パルスの立ち下がりにより立ち下がるゲー
ト信号を出力するゲート信号発生部と、 このゲート信号に応じて加えられる測定パルスを予め設
定された測定周期数だけカウントし、カウント値Ｎを演
算部に出力し、カウント終了信号をゲート信号発生部に
出力するパルス数カウンタと、 前記ゲート信号に応じて加えられるクロックをカウント
し、カウント値ｔを演算部に出力する時間カウンタと、 前記ゲート信号のパルス数を予め設定された測定回数だ
けカウントし、カウント値Ｍおよびカウント終了信号を
演算部に出力する測定回数カウンタと、 前記各カウンタから加えられるカウント値Ｎ、ｔ、Ｍお
よびクロックの周波数ｆに基づいてゲート信号の時間Ｔ
を演算するとともに時間Ｔの分散を演算する演算部、 とで構成されたことを特徴とする時間間隔測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8754987A JPS63252287A (ja) | 1987-04-09 | 1987-04-09 | 時間間隔測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8754987A JPS63252287A (ja) | 1987-04-09 | 1987-04-09 | 時間間隔測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63252287A true JPS63252287A (ja) | 1988-10-19 |
Family
ID=13918067
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8754987A Pending JPS63252287A (ja) | 1987-04-09 | 1987-04-09 | 時間間隔測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63252287A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011154009A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Advantest Corp | 試験装置、測定装置および電子デバイス |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5630674A (en) * | 1979-08-22 | 1981-03-27 | Iwatsu Electric Co Ltd | Average time interval measuring circuit |
| JPS57153295A (en) * | 1981-03-17 | 1982-09-21 | Iwatsu Electric Co Ltd | Measuring method for average interval of time |
-
1987
- 1987-04-09 JP JP8754987A patent/JPS63252287A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5630674A (en) * | 1979-08-22 | 1981-03-27 | Iwatsu Electric Co Ltd | Average time interval measuring circuit |
| JPS57153295A (en) * | 1981-03-17 | 1982-09-21 | Iwatsu Electric Co Ltd | Measuring method for average interval of time |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011154009A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Advantest Corp | 試験装置、測定装置および電子デバイス |
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