JPH02281678A - コヒーレント高エネルギ連続波レーザ・ビームを多重化する装置と方法 - Google Patents

コヒーレント高エネルギ連続波レーザ・ビームを多重化する装置と方法

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JPH02281678A
JPH02281678A JP2064522A JP6452290A JPH02281678A JP H02281678 A JPH02281678 A JP H02281678A JP 2064522 A JP2064522 A JP 2064522A JP 6452290 A JP6452290 A JP 6452290A JP H02281678 A JPH02281678 A JP H02281678A
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path
transmitting
galvanometer
mirror
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Jr Angel L Ortiz
エンジェル・ルイス・オーティズ・ジュニア
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General Electric Co
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 この発明は高エネルギφレーザ・ビームを共用する装置
と方法、更に具体的に云えば、工業的なプロセスを実施
する為に使われるこの様な装置と方法に関する。
X軸及びy軸ガルバノメータを使って、高エネルギ・レ
ーザ・ビームの方向を変え、こうして光ファイバの2次
元配列のどの1つが入力端にレーザ・ビームを受取るか
を選択することにより、パルス形レーザを多重化するこ
とが知られている。
ファイバの第2の端は夫々の工作場所の近くに配置され
、工業的なプロセス、例えば切削、確実加工等を実施す
る。ガルバノメータは、パルスの合間、即ち、光が存在
しない時にだけ、レーザ・ビームの方向を変える。この
様な多重化器が米国特許第4.739,162号、19
86年12月22日出願の係属中の米国特許出願通し番
号第944,771号及びカリフォルニア州のロボレー
ズ・システムズ・インコーポレーテット社によって製造
される装置に示されている。然し、例えばはんだ付けの
様なあるプロセスは、ピーク・エネルギが大きく、パル
スの持続時間の短いことによって、はんだが蒸発し、そ
の為、はんだ付けすべき材料がはんだ付けされない為、
高エネルギのパルス形レーザを用いては実施することが
出来ない。
その為、はんだ付けには高エネルギ連続波(CW)レー
ザが必要である。高エネルギCWレーザと共に従来の多
重化装置を使うと、ファイバの入力端にある被覆が、ガ
ルバノメータに対するアドレスが変更される時に損傷さ
れる。これは、ガルバノメータがビームを走査する時、
ビームの運動により、ビームがファイバの被覆を焼き始
めるからである。
従って、この発明の目的は、光ファイバの被覆を損傷し
ない様な、高エネルギCWレーザに用いる多重化装置及
び方法を提供することである。
発明の要約 第1の通路を持つコヒーレント高エネルギ連続波レーザ
ービームを多重化する装置が、第1の通路に沿った光ビ
ームの伝搬を中断する手段と、該中断する手段により後
で前記第1の通路内に配置されていて、レーザ・ビーム
の少なくとも一部分の方向を第2の通路に変更するそら
せ手段とを有し、該そらせ手段は中断する手段がレーザ
・ビームの伝搬を中断している時にだけ、第2の通路の
方向を変え、更に、第2の通路内に配置されていて第1
の焦点平面を有する第1の集束手段と、レーザ・ビーム
を伝達する第1の複数個の手段とを有し、該複数個の手
段の各々の端が第1の焦点平面内に配置されている。
コヒーレント連続波レーザ・ビームを多重化する方法が
、第1の通路に沿ったレーザ・ビームの伝搬を中断し、
ビームの少なくとも一部分を第2の通路にそらせ、ビー
ムが中断されている時だけ、第2の通路の方向を変え、
第2の通路にあるレーザ・ビームを集束し、集束された
レーザ・ビームを伝達することを含む。
詳しい説明 第1図に高エネルギCWレーザ10を示す。これは典型
的にはNd n YAG形であるが、紫外線(193n
m)乃至近赤外線(2μm)の範囲で動作する任意の高
エネルギ固体又はガス・レーザであり、典型的には、そ
らせてない時の第1の通路を持つビーム12で示す様に
、1.06μmで約0.5乃至1.5キロワツトのコヒ
ーレント光を発生する。ビーム12に隣接して、放出鏡
14及び放出ガルバノメータ16の様な中断手段がある
鏡を取付けた回転ソレノイドの様な機械的なビームそら
せ装置を使ってもよいが、(これから説明する)アドレ
ス動作は回折も遅く、鏡のリンギングが起る。ガルバノ
メータは典型的には20ミリ秒未満でずっと速く、これ
が負帰還回路の一部分であるから、リンギングがなくな
り、温度に対して位置が安定する。鏡14の側面17に
全(100%)反射被覆があり、2つの位置の間で回転
する様に、マサチューセッツ州のゼネラル・スキャンニ
ング・インコーボレーテット社によって製造されるモデ
ルXY3035の様なガルバノメータ16に取付けられ
ている。第1の位置(実線で示す)はビーム12をそら
せないが、第2の位置(破線で示す)はビームの方向を
別のそらせ通路18へ変える。この通路は、カリフォル
ニア州のコヒーレント・インコーポレーテット社によっ
て製造されるモデル213エネルギ計の様なビーム放出
部20で終端する。−殻内に、その被覆の損傷を防止す
る為に光ファイバのアドレスを変える時(後で説明する
)、必要なファイバの露出時間が過ぎた時、エネルギ測
定が必要な時、又は緊急事態が起った時(後で説明する
)、鏡14は第2の位置にある。
レーザ・ビーム12をそらせない場合、レーザ・ビーム
は、第1のアドレス用鏡22及び第1のアドレス用ガル
バノメータ24の様なそらせ手段に達するまで、そのま
−進み続ける。鏡22はその前側側面26に部分反射、
例えば50%反射の被覆を持ち、裏側側面28に反射防
止被覆を有する。典型的には、鏡22は第1図に示す4
5°の中心位置から光学的に±16a (入射角が反射
角に等しいから、機械的には±8″)回転することが出
来る。ビーム12の第1の部分が透過し、第2の部分が
鏡22によって第2の通路30へ反射させられる。通路
30に第1の焦点平面34を有する反射防止被覆をした
第1の平凸レンズ又はその他の形式のレンズ32の様な
第1の集束手段が配置されている。光ファイバ36の様
に、レーザ・ビームを透過させる第1の複数個の手段の
夫々の入力端38が、好ましくは米国特許第4,744
.627号に記載される様なホルダに入れて、焦点平面
34に配置される。ファイバ36の出力端(図に示して
ない)が夫々の作業ステーション(図に示してない)に
配置される。
−膜内に、ファイバの直径が小さければ小さい程、可撓
性が大きく、曲げ半径が小さい。その為、ファイバ36
の出力端は工作物の届き難い場所にも一層容易に位置ぎ
めすることか出来る。更に、ファイバの直径が小さいと
、ビームの品質が良好である。他方、注入されるレーザ
・ビームのスポット寸法が、ファイバの損傷を防ぐ為に
ファイバの直径より小さくなければならないから、小さ
過ぎる直径を使うことが出来ない。典型的にきは、約1
00乃至1,000μmのファイバの直径を使うことが
出来る。
レーザ・ビーム12の第1の部分が、やはり第1の通路
12に沿って鏡22を通過し、第2の焦点平面42を持
つ第2の反射防止被覆をした平凸又はその他の形式のレ
ンズ40の様な第2の集束手段に入射する。鏡14.2
2及びレンズ32゜40はニュー・メキシコ州のCVI
レーザ・コーポレーションから購入することが出来る。
光ファイバ44の様なレーザ・ビームを透過する第2の
複数個の手段の入力端46が平面42内に配置され、出
力端(図に示してない)が夫々の作業ステーション(図
に示してない)に配置される。ファイバ36.44の入
力端38.46及び出力端は、米国特許第4,676.
586号及び同第4.681.396号に記載される様
に調製して、注入され或いは放出される高エネルギのレ
ーザ・ビームによってファイバ36.44の被覆が損傷
されない様にすることが好ましい。
アドレス用鏡22の回転により、平面34,42内での
焦点が変化し、従って、どの1つのファイバ36並びに
どの1つのファイバ44がアドレスされるか、即ちレー
ザ・ビームがそれに注入されるかV変わる。どんな時も
、−度に1対のファイバ、即ちファイバ36の内の1本
及びファイバ44の内の1本がアドレスされるから、フ
ァイバの対は同じ所要のアドレス時間を持つ様に選ばれ
る。作業ステーションの数に対してファイバ36の数が
十分であれば、鏡22が全反射であって、レンズ40及
びファイバ44を省略してもよい。
第2図にはIBM  PC/ATの様なコンピュータ2
00が示されており、これが母線202によって、マサ
チューセッツ州のメトラバイト・インコーポレーテット
社によって製造されるモデルDDA−06の様な24ビ
ツト入出力ボード204に接続される。ボード204が
、ガルバノメータ16.24を位置ぎめする16ビツト
のアドレス信号を母線206に発生すると共に、何時ガ
ルバノメータ16,24が移動の指令を受けたか(論理
レベルがOから1に変化する)並びに何時その移動が完
了したか(論理Oへの復帰)に関する情報を伝える1ビ
ツトの位置確認信号(POSACK)を線208から受
取る。ボード204は1ビツト線210にストローブA
(アドレス)信号をも発生して、ガルバノメータ24の
移動を開始すると共に、ガルバノメータ16の移動を開
始するストローブD(放出)信号を1ビツト線212に
発生し、レーザ10の動作を停止する緊急E−STOP
 (緊急停止)信号を1ビツト線214に発生する。こ
れらの信号が、テキサス州のテキサス・インスツルメン
ツ社によって製造されるLS244形非反転バッファの
様な信号条件づけ装置216との間でやり取りされる。
条件づけ装置216からの1つの出力信号が線218に
印加され、そこからレーザ動作停止回路(図面に示して
ない)、例えば、シャッタ、Qスイッチ、電源遮断回路
、レーザ制御回路等に送られる。アドレス信号が16ビ
ツト母線220に印加され、1ビツト線222からPO
SACK信号を受取り、1ビツト母線224にストロー
ブA信号を供給し、1ビツト母線226にストローブD
信号を供給し、これらの相手は何れもガルバノメータ駆
動回路228であり、これはゼネラル・スキャンニング
・カンパニイによって製造されるものである。駆動回路
228がケーブル230,232を介して、ガルバノメ
ータ16.24にアナログそらせ信号を供給すると共に
、位置センサ(図面に示してない)及び加熱用ブランケ
ット(図面に示してない)に対する電力を供給する。ガ
ルバノメータ16゜24が夫々ケーブル234,236
を介して、位置信号、自動利得制御(AGC)信号及び
夫々ガルバノメータ16.24内に取付けられたサーミ
スタ(図に示してない)からの温度信号を供給する。
第3図はコンピュータ200に使われるプログラムのフ
ローチャートである。端のブロック300はプログラム
の初めを表わし、これはプロセス・ブロック302で示
す様に、放出アドレスを発生させる。ストローブD信号
を発生する前、POSACK信号は論理0である。次に
プロセス・ブロック304で示す様に、ストローブD信
号が発生され、これはPOSACK信号を1にして、ガ
ルバノメータ16が移動していることを示す。これが判
定ブロック306で検査される。POSACKが1でな
く、例えば、ガルバノメータ16或いはその駆動回路2
28が不良であるか、或いは何かVその回転を妨げてい
る場合、プロセス・ブロック308で示す様に、E−3
TOP信号が発生されて、レーザの動作を停止する。P
OSACKが1であれば、即ち、ガルバノメータ16が
正しく動いていれば、判定ブロック310で示す様に、
POSACKが0に復帰したかどうか、即ち、ガルバノ
メータ16が放出アドレスにあるかどうかV検査される
。なければ、その検査が繰返される。
POSACKがOに復帰し、ガルバノメータ16及び鏡
14が放出位置にあることを示す時、プロセス・ブロッ
ク312で示す様に、ファイバ・アドレスが発生される
。プロセス・ブロック314で示す様に、ストローブA
が発生される。判定ブロック316で示す様に、POS
ACKが1でなければ、E−STOP信号が発生される
(ブロック308)。POSACKが1であれば、判定
ブロック318で示す様に、POSACKが0に復帰し
たかどうかを検査する。復帰していなければ、検査を復
帰し、答がイエスであれば、ガルバノメータ24及び鏡
22が、ブロック320で示す様に、選ばれたアドレス
にあることを意味する。
その時、プロセス・ブロック322で示す様に、アドレ
スされたファイバの対に、ユーザが特定した持続時間又
は期間の間、注入が行なわれる。その後、プロセス・ブ
ロック302で示す様に、放出アドレスが発生され、こ
のプロセス全体が次のファイバの対のアドレスに対して
繰返される。
上に述べた第1の実施例は、ガルバノメータ16.24
の角変位並びにレンズ32.40の直径の制約の為に、
アドレスすることが出来るファイバの対の数が制限され
ている。第4図、第5図及び第6図に示す第2の実施例
を使って、更に多くのファイバをアドレスすることが出
来る。第4図に示した第2の実施例は、第1の通路12
の中に、その前側52に部分反射、例えば50%の反射
をする被覆を持ち、後側54に反射防止被覆を持つ固定
鏡50の様なそらせ手段が配置されている点で、第1図
の実施例と異なる。ビーム12の第3の部分が第3の通
路56に反射されて、前側60に部分反射、例えば50
%の被覆、そして裏側62に反射防止被覆を持つ第2の
アドレス用鏡58の様なそらせ手段に入射する。鏡58
が第2のアドレス用ガルバノメータ63に装着されてい
る。
通路56にあるビーAの一部分が第4の通路64に反射
され、その後筒3の焦点平面68を持っ平凸レンズ66
の様な第3の集束手段に反射されて、第3のffjfi
個の光ファイバ70の様に、レーザ・ビームを透過する
第3の手段の端69に集束される。入力端69が平面6
8内に配置される。同様に、ビーム56の内、鏡58に
よってそらされなかった透過レーザ・ビームである一部
分は、第4の焦点平面73を持つ平凸レンズ72の様な
第4の集束手段に向い、第4の複数個の光ファイバ76
の様なレーザ・ビームを透過する第4の手段の入力端7
4に集束される。入力端74が平面73内に配置される
。レンズ66.72は反射防止被覆を持っている。光フ
ァイバ70.76の他端が別のはんだ付は作業ステーシ
ョンに送られる。
第2の実施例に対する第5図に示した制御装置のブロッ
ク図は、1ビツト線500が、ガルバノメータ16から
の位置確認(POSACK  1)信号をボード204
に伝え、1ビツト線502がガルバノメータ24.63
からの位置確認(POSACK  2)信号をボード2
04に伝え、1ビツト線504がガルバノメータ63に
対するストローブA信号を条件づけ装置216に供給し
、1ビツト線506がガルバノメータ24に対するスト
ローブBを条件づけ装置216に供給する点で、第2図
と異なっている。
更にガルバノメータ16はストローブ動作をせず、その
代り、ボード204が、ゼネラル・スキャンニング・イ
ンコーポレーテット社によって製造されるモデルCX6
60の様なガルバノメータ駆動回路510対し、線50
8を介して両極性アナログ駆動信号を供給する。ガルバ
ノメータ16はゼネラル・スキャンニング・インコーボ
レーテット社によって製造されるモデルG350DTで
あってよい。ガルバノメータ16が線512から制御信
号を受取り、帰還信号を線514を介して回路510に
供給する。線512の制御信号及び電力信号は、第2図
に関連して線230及び232の信号について述べた所
と同様であり、線514の帰還信号は第2図の線234
,236の信号と同様である。
信号条件づけ装置216が条件づけ装置228から1ビ
ツト線516を介してPOSACK  2信号を受取り
、この条件づけ装置に対し、1ビツト線518のストロ
ーブA信号及び1ビツト線520のストローブB信号を
供給する。更に、条件づけ装置216が駆動回路510
から線522を介してPOSACK  1信号を受取る
。他の線は、第2図の対応する番号の線と同じ信号を伝
える。
第6図は第4図のコンピュータ200のフローチャート
である。端のブロック300はプログラムの初めを示し
、これがプロセス−ブロック302で示す様に、線50
8(第5図)にアナログ放出アドレスを発生させる。次
に、判定ブロック600で示す様に、POSACK  
1信号が発生されたか、即ち論理1であるかどうかを検
査する。
発生されていなければ、プロセス・ブロック308で示
す様に、E−STOP (緊急停止)信号が発生される
。POSACK、1が発生され〜ば、判定ブロック60
2で示す様に、ファイバ・アドレスの変化がガルバノメ
ータ63に対して要求されるかどうかを検査する。要求
されなければ、プログラムは判定ブロック604に進む
イエスであれば、ガルバノメータ63のアドレスが、プ
ロセス・ブロック606で示す様に発生される。次に、
ストローブA信号が発生される(プロセス・ブロック6
08)。次に判定ブロック610で示す様に、POSA
CK  2が論理1であるかどうかを検査する。そうで
なければ、E−STOP信号が発生される(プロセス・
ブロック308)。イエスであれは、判定ブロック61
2で示す様に、論理Oに復帰したかどうかを検査する。
復帰していなければ、この検査を繰返す。
イエスであれば、これはガルバノメータ63及び鏡58
の向きが正しいことを意味し、これはブロック614に
示す通りである。その後、判定ブロック604で示す様
に、ガルバノメータ24に対するアドレスの変更が必要
であるかどうかを検査する。この検査は、ガルバノメー
タ63に対するアドレスの変更が必要でない場合にも行
なわれる(ブロック602)。必要でなければ、ユーザ
が特定した期間の間、全ての光ファイバ36,40゜7
0.76(14図)に注入が行なわれ、プログラムが初
め(ブロック302)に戻り、次のアドレスに対して繰
返される。
判定ブロック604の答がイエスである場合、ガルバノ
メータ24に対するアドレスが発生される(プロセス・
ブロック616)。その後、ストローブB信号が発生さ
れる(プロセス・ブロック618)。次に、判定ブロッ
ク620で示す様に、PO3ACK  2が論理1であ
るかどうかを検査する。そうでなければ、E−STOP
 (緊急停止)が発生される(プロセス・ブロック30
8)。イエスであれば、判定ブロック622に示す様に
、PO3ACK  2が論理Oに戻ったかどうかを検査
する。戻っていなければ、検査を繰返す。イエスであれ
ば、ガルバノメータ24及び鏡22の向きが正しくなっ
ている。その時、ファイバに注入を行ない(プロセス・
ブロック322)、プログラムはブロック302に戻る
この発明の範囲内でこの他のいろいろな実施例が考えら
れることは云うまでもない。例えば、放出ガルバノメー
タ16及び放出鏡14を使う代りに、中断手段は、レー
ザ動作を開始及び停止する為に、レーザ10の空洞の内
側に設けたQスイッチで構成してもよい。この様なレー
ザもCWと見なされ、例えば閃光管からの励振エネルギ
が、緊急停止が要求される場合を除いて、連続的に存在
している限り、パルス形レーザとは考えられない。
更に、ビーム分割器、鏡及びガルバノメータを使って、
更に多数の光ファイバをアドレスすることが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の第1の実施例の略図、第2図は第1
図の実施例に対する制御装置のブロック図、 第3図は第2図のコンピュータに使われるプログラムの
フローチャート、 第4図はこの発明の第2の実施例の略図、第5図は第4
図の実施例に対する制御装置のブロック図、 第6図は第5図のコンピュータに使われるプログラムの
フローチャートである。 主な符号の説明 12:通路 14.22:鏡 16.24:ガルバノメータ 32:レンズ 36:光ファイバ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、第1の通路を持つコヒーレント高エネルギ連続波レ
    ーザ・ビームを多重化する装置に於て、前記第1の通路
    に沿った光ビームの伝搬を中断する手段と、 該中断する手段より後で前記第1の通路内に配置されて
    いて、前記レーザ・ビームの少なくとも一部分の方向を
    第2の通路に変えるそらせ手段とを有し、該そらせ手段
    は前記中断する手段がレーザ・ビームの伝搬を中断して
    いる時だけ、前記通路の方向を変え、更に、 前記第2の通路内に配置されていて第1の焦点平面を持
    つ第1の集束手段と、 レーザ・ビームを伝達する第1の複数個の手段とを有し
    、該複数個の手段の各々の入力端が前記第1の焦点平面
    内に配置されている装置。 2、前記コヒーレント光ビームを発生するレーザ手段を
    有する請求項1記載の装置。 3、前記レーザ手段がNd:YAGレーザで構成される
    請求項2記載の装置。 4、前記中断する手段が、ガルバノメータ、並びに該ガ
    ルバノメータに取付けられていてレーザ・ビームを別の
    通路へそらせる鏡で構成されている請求項1記載の装置
    。 5、前記別の通路内に配置されたビーム放出部を有する
    請求項4記載の装置る 6、前記ビーム放出部がエネルギ計を有する請求項5記
    載の装置。 7、前記そらせ手段が、第1のアドレス用ガルバノメー
    タ、及び該ガルバノメータに取付けられた第1のアドレ
    ス用鏡で構成される請求項1記載の装置。 8、前記鏡が部分反射して、前記レーザ・ビームの一部
    分を透過させ、更に、 該透過する部分の通路内に配置されていて第2の焦点平
    面を持つ第2の集束手段と、 レーザ・ビームを伝達する第2の複数個の手段とを有し
    、該第2の複数個の手段の各々の入力端が前記第2の焦
    点平面内に配置されている請求項7記載の装置。 9、前記集束手段がレンズで構成される請求項1記載の
    装置。 10、前記レンズが平凸形である請求項9記載の装置。 11、レーザ・ビームを伝達する前記第1の複数個の手
    段が光ファイバで構成される請求項1記載の装置。 12、前記中断する手段及び前記そらせ手段の間で前記
    第1の通路内に配置されていて、レーザ・ビームの一部
    分を第3の通路に沿って供給する固定の部分反射鏡と、 第2のアドレス用ガルバノメータと、 前記第3の通路内に配置されていて前記第2のガルバノ
    メータに取付けられ、入射するレーザ・ビームの一部分
    の方向を第4の通路に変える第2のアドレス用部分反射
    鏡とを有し、該第2のアドレス用鏡及び前記第2のアド
    レス用ガルバノメータは、前記中断する手段がレーザ・
    ビームを中断している時だけ、前記第4の通路の方向を
    変え、前記第2のアドレス用鏡は入射するレーザ・ビー
    ムの別の一部分を前記第3の通路に伝達し、更に、前記
    第3及び第4の通路内に夫々配置されていて、夫々第3
    及び第4の焦点平面を持つ第3及び第4の集束手段と、 レーザ・ビームを伝達すると共に、夫々前記第3及び第
    4の焦点平面内に端が配置されている第3及び第4の複
    数個の手段とを有する請求項8記載の装置。 13、コヒーレント連続波レーザ・ビームを多重化する
    方法に於て、 第1の通路に沿ったレーザ・ビームの伝搬を中断し、 該ビームの少なくとも一部分を第2の通路にそらせ、 レーザ・ビームが中断されている時だけ、前記第2の通
    路の方向を変え、 前記第2の通路にあるレーザ・ビームを集束し、集束さ
    れた光を伝達する工程を含む方法。 14、中断されたレーザ・ビームのエネルギを測定する
    ことを含む請求項13記載の方法。 15、前記そらせる工程より後で、前記第1の通路内に
    あるレーザ・ビームの一部分を伝達し、伝達した部分を
    集束し、集束されたレーザ・ビームを第1の通路に伝達
    することを含む請求項13記載の方法。 16、中断されたレーザ・ビームを第3の通路へ部分的
    に反射し、 部分的に反射されたレーザ・ビームの一部分を第4の通
    路へそらせ、 レーザ・ビームが中断されている時だけ、前記第4の通
    路の方向を変え、 該第4の通路にあるレーザ・ビームを集束し、該第4の
    通路にある集束されたレーザ・ビームを伝達し、 前記そらせる工程より後で前記第3の通路にあるレーザ
    ・ビームの一部分を伝達し、 伝達した部分を集束し、 第3の通路にある集束されたレーザ・ビームを伝達する
    ことを含む請求項15記載の方法。
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